JPS60128304A - 溶接機計測ヘツド - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は＃接剤ロボットにおいて、作業対象物の溶接
部分の形状およびそのロボットに対する位置を計測する
ためのシ接機計側ヘッドに関する。 〈従来技術〉 従来のアーク溶接を自動的に行うためのセンサとしては
、第１図に示すように溶接されるべき鉄板ｍ１．！２の
板面が交差して設けられ、その交差線１３を溶接する場
合に、その鉄板１１．１２間に溶接トーチ１４が配され
、トーチ１４に鉄板１１．１２側にそれぞれ延長された
磁気センサ１５゜１６が取付けられ、磁気センサ１５，
１６で鉄板１１．１２の板面位置を検出しながら溶接を
進めていた。 第２図に示すように溶接トーチ１４を鉄板１１゜１２に
交互に近ずくように振夛動かし、溶接トーチ１４が鉄板
１１．１２に対して第２図Ａに示すように丁度中央位置
にあれば、トーチ１４が鉄板１１側に向いたときと、鉄
、＆１２側−向いたときとＫおける各アーク電流、電圧
が同形になる。しかし第２図Ｂに示すようにトーチ１４
が一方の鉄板１１側にずれている場合はトーチ１４が鉄
板側に向いた時と、鉄板１２側に向いた時とでアーク電
流、電圧波形が異る。これらアーク電流、電圧波形の差
を検出して溶接トーチ１４を正しい位置に調整しつつ溶
接を進める〇 これら第１図、第２図に示した各方法は溶接部分の形状
や溶接部分に対する位置を数値としてめるものではなく
精度がよくない〇 第３図に示すように投光器１７から板状光１８を溶接さ
れる鉄板１１．１２上に投射し、そｄ時化ずる輝線１９
をイメージカメラ２１で撮像し、その写像から溶接線１
３をめ、溶接トーチ１４を溶接線１３に祝ってたどるよ
う制御する方法がある。この方法においては溶接アーク
光が雑音先生なり、溶接線１３が精度よくめられないこ
と、および画像の処理が面倒であシ、溶接部分の形状を
２次元的にめるだけならよいが、高低をめるＫは異る位
置よ）みた２枚の画像を要し、画像処理址も大きくなる
欠点があった。 〈発明の概要〉 この発明の目的は溶接アーク光に影舎されることなく、
溶接部分の形状、そのロボツ）４Ｃ対する位置を高い精
度で計測することができる溶接機計測ヘッドを提供する
ととＫある〇 この発明によれば投光器と受光器とからなる光学系が一
平面内に形成され、その投光器からのレーザ光ビームを
一定角度内に振らせ、作業対象物上に生じたレーザ光ビ
ームの輝点を一定間隔で順次に前記受光器の受光素子ア
レー上忙補えて前記輝点の位置を順次に三角測量し、前
記投光器、受光器を結ぶ線及びこれと直角な線を基準線
とする輝点の座標をめ一羞〇 このためこの発、！８１ＪＶｃかかる溶接機計測ヘッド
の構成は、つぎの通シである。溶接機計測ヘッドの本体
に、一定距離を隔てて前記投光器と受光器とが設けられ
、投光器にはレーザ光源が設けられ、そのレーザ光源か
らレーザ光ビームが作業対象物体面の測定点に照射され
、その照射によシ生じた輝点は受光器の集光レシズによ
シ受光アレー素子上に結像される。レーザ光ビームは波
長帯域でみた光出力が箔、接アーク光のスペクトル分布
に対し、検出可能な出力をもつ赤色ないし近赤外の波長
のものが好ましく、光強度変調が加えられている。 受光器の受光アレー素子の出力よシ前記光強度変調成分
を取出す帯域ｒ波器が設けられる。受光素子アレーは例
えはフォトダイオードを集積化した小型軽量のものが好
ましい。 一般Ｋ　２　ｍ　／分程度の溶接速度で作業が行われる
アーク溶接中のオンライン計測を可能とするために１前
記レーザ光ビームを揺動型ミラ（あるいは回転型ミラ）
などを用いて前記同一平面内で、かつ溶接線と直角方向
に高速で振る機能空前記投光器に付加される。従って前
記作業対象物体面にはレーザ光ビームによる輝線が形成
される。 受光器では輝線を定間隔に分割して輝点とし、その各輝
点について受光素子の受光状態から受光器よシセの輝点
に対する角度θｎをめ、またその輝点像が得られた時の
光ビームの振り角度０Ｌとから輝点の座標を演算する手
段が設けられる。必要に応じてその得られた各輝点位置
と、あらかじめ設定された走査パターン位置との差を算
出して溶接時の開先形状、溶接材の肉盛シ状況、物体の
突き合せ部の位置を得る０更に溶接線をセンシングする
ため、トーチを含む溶接ヘッドとこの計測ヘッドとを連
動して、レーザ光ビームを物体に垂直走食させて物体形
状を３次元的に観測することを可能とする。 この発明の計測ヘッドによシアーク溶接において浴接部
分における溶融池の散乱面を含む溶接点の極〈近くまで
測定できる。 〈実施例〉 以下この発明の一実施例を第４図以下の図面にもとづい
て詳細に説明するＯ 第４図はこの発明による計測原理の説明図で、この発明
Ｋかかる計測ヘッドは投光器２２と一定距離ｄを隔てて
一平面内に受光器２３とが設けられる。投光器２２から
作業対象物体２４へレーザ光ビーム２５が発射され、そ
のレーザ５光ビーム２５は前記一平面内で一定角ψＬに
振られる。作業対象物体２４上に入射されたレーザ光ビ
ーム２５の輝点２６からの反射光ビーム２７＃；ｉ受光
器２３の受光レンズ２８によシ、一定間隔で配列された
受光素子アレー２９上に集光結像される。その受光−素
子アレ−２９上の輝点２６の映像位置から輝点２６を順
次に三角測量して、輝点２６から投光器２２゜受光器２
３を結ぶ基準線３１に対下した垂線の交点Ｈ１輝点２６
及び基準ｆｉ！３１間の高さｈｔ−順次にめ、光ビーム
２５による作業対象体２４を切る輝線を捕え、投光器２
２．受光器２３と作業対象体２４とを、光ビーム２５２
反射光ビーム２７を含む′面とを直角方向く相対的に移
動させることＫよシ、溶接線の位置、突合せ形状、溶接
材の肉盛シ状態等を３次元的にオンラインで計測処理す
る。レーザ光ビｉム２５及び反射光ビーム２７の基準線
３１に対する投光角θＬ及び受光角θＲＫより点線図示
のとおシレーザ光ビーム２５，２７６！変化−し、受光
素子アレー２９上の輝点像の変化として輝点２６の位置
を捕える仁とができる。 第５図はこの発明の一実施例である計測ヘッドの構造を
示す。直方体状匣体３２内の下部に投光器２２及び受光
器２３が一定距離ｄを隔てて配置される。投光器２２に
おいてレーザダイオード３３はケーブル３４を通じて駆
動回路３５によシ駆動、される０駆動回路３５はアルミ
ニウムでシールドされている。レーザダイオード３３よ
シの光ビームは光源レンズ３６によシ集光される。光源
レンズ３６の焦点位ｆＲ線矢印で示すように微調機構３
７によシレーザダイオード３３に対し前後させることが
できる。光源レンズ３６よシ、出射したレーザ光ビーム
は揺動ミラ３８に入射され、その反射光は匣体３２の底
板３２ｂに形成された窓３９を通じて外部のレーザ光ビ
ーム２５として放射される。窓３９は溶接火花の影智を
防止するための遮断ガラス４１で塞さがれている。ミラ
３８の振動によシレーザ光ビーム２５は図において左右
に振られ、その測定範囲端を検出するため左端検出セン
サ４２．右端検出センサ４３が窓３９の左右方向の内端
にそれぞれ取付けられである。揺動ミラ３８は例えばガ
フルバノメータと同様の原理によシ駆動電流値と対応し
た角度回動するように構成される０受光器２３１１ｔｌ
において匣体３２の底板３２ｂＫ取付孔が形成され、そ
の取付孔に受光レンズ４４が取付けられる。受光レンズ
４４の外端に雑音の影響を除くためのカバーガラス４５
及び光フィルタ４６が取付けられている。輝点がら反射
されたレーザ光ビーム２７は受光レンズ４４で受光され
匣体３２の内部に設けた受光素子アレー２９に結像され
る。レーザ光ビーム２７を受光素子アレー２９に正確に
集光させるために受光レンズ４４の焦点と受光素子アレ
ー２９とを矢印方向に微調整すΣ機構４７が設けられる
。 受光素子アレー２９の各素子に接続されたリード線はコ
ネクタ４８を通して、回路基板４９に結合され、この基
板４９上には以下に説明する計測制御に必要な回路が構
成され、またその他の計測゛　に必要な回路が収納され
ている。匣体３２の上板３２ｕに制御線コネクタ端子５
１．検出信号端子５２、カウンタ入力端子５３．変調入
力端子５４及びｉｌｊ詠コネクタ端子５５が設けられ、
後述するプロセス処理装置と結合される。 この実施例の計測ヘッドの制御回路の構成を第６図に示
す。発振器５６から作られたレーザ光変ＦＪＭ信号ｆＭ
が駆動回路３５を通じてレーザダイオード３３に供給さ
れ、これを強反変調する。このレーザ光変調信号ｆｕは
クロックカウンタ５７にも加えられる。レーザダイオー
ド３３をオンオフ光強度変調する変調信号ｆＭは雑音光
の影響が々い周波数領域、例えは１〜５　ＭＩ（ｚ　ｆ
ａ度に選定される。クロックカウンタ５７は入力された
レーザ光変調信号ｆＭを分周して遍尚な周波数の各種の
クロックを作り、これらをミラ駆動信号回路５゛８．走
査制御カウンタ５９．測定制御ｍ理回路６１及び走査カ
ウンタ６２へ供給する。ミラ駆動信号回路５８はクロッ
クカウンタ５７から第４図ＡＫ示す矩形波のビーム移動
方向指示信号ＤＩを入力して三角波発生回路によシ、第
７図ＢＫ示す三″角波電流のミラ駆動信号ｆｔを作シ、
このミラ駆動信号ｆ！を揺動ミラ３ＢＫ供給してレーザ
光ビーム２５を任意の計測角（投射角θＬ）だけ一定速
度で往復回転させる。この場合、ミラ３８の揺動は露１
測範囲で良好な直線性を得るため、左端及び右端検出セ
ンサ４２゜４３からの各レーザ光ビーム検出パルス（第
７図Ｃ，Ｄ）は、それぞれレーザ光ビーム２５の方向の
切替点、即ち第７図ミラ駆動係号ｆｔの最小点及び最大
点の内側て得られるように検出センサ４２゜４３が設け
られ、方向切替で生ずる過渡応答の部分は計測に利用し
ないように配慮しである。即ち左端と右端の検出センサ
４２，４３の出力は測定制御論理回路６１に入力され、
その出力として第７図Ｅに示す掬定範−信号が得られ、
その測定範囲信号の間走査制御カウンタ５９はクロック
カウンタ５７よシのクロックＣＬｓを引数する０この計
数値はビーム角度信号ＢＡ（第７図Ｆ）として出力され
る。第６図の例では走査制御カウンタ５９はクロックＣ
Ｌ１の周波数を６４分の１とするカウンタ５９゛ａと、
その分周出力を計数するカウンタ５９ｂとよシなシ、カ
ウンタ５９ｂのカウント数でビーム角度信号ＢＡを表わ
し、その最大値は２５６とした場合である０カウンタ５
９ｂの各１カウントの間に走査カウンタ６２はクロック
ＣＬｌを計数する。走査カウンタ６２はその引数値に応
じて切替スイッチ回路６３を制御して受光素子アレー２
９中の１素子の出力を順次選択して増幅器６４へ供給す
る０走査制御カウンタ５９．走査カウンタ６２のリセッ
トはレーザ光ビーム２５の往復回転の切替点、即ち第７
図Ｂのミラ駆動信号の最小源に第７図ＧＫ示すようにク
ロックカウンタ５７からリセットパルスを発生して行う
。またミラ３８の回転方向が切替るごとに指示信号ＤＩ
・（第７図Ａ）が走査カラン６２へ供給される。 従ってミラ３８は走査制御カウンタ５９内のカウンタ５
９ａの出力をカウンタ５９ｂが２５６計数する間に左端
、右端検出センサ４２．４３の一方から他方量でレーザ
光ビーム２５を変位し、カウンタ５９ｂが１計数を進め
る内に走査カウンタ６２はクロックＣＬ１を６４計数し
て、受光素子アレー２９の各素子を１回走査する。なお
測定制御論理回路６１は例えば第８図に示すように端子
６５゜６６．６７にそれぞれビーム移動方向指示信号Ｄ
Ｉ（第す図Ａ）、左端検出センサ４２の出力（第７図Ｃ
）、右端検出センサ（第７図Ｄ）が入力される。ビーム
移動方向指示信号ＤＩが論理１１＃の時にセンサ４２の
出力パルスが得られると、ＡＮＤゲ゛−卜６８からパル
スが出力され、そのパルスは０Ｒゲート６９を通じてフ
、リップフロップ７１をセットし、その出力つｔ　Ｊ）
　ｍ＋＋定範囲信号（第７図Ｅ）が論理＠ｌ”になる。 この状態で端子６７にセンナ４３からパルスが入力され
ると、ＡＮＤゲート７２からパルスが出力され、そのパ
ルスによシＯＲゲート７３を通じてアリツブフロップ７
１がリセットされて測定範囲信号は論理″″Ｏ’になる
〇端子６５のビーム移動方向指示信号ＤＩが論理″″０
＃にある時に１端子６７にセンナからのパルスが入力さ
れると、ＡＮＤゲート７４からパルスが出力され、その
パルスはＯＲゲー′トロ９を通じてフリップフロップ７
１をセットし、測定範囲信号は論理１１”になシ、この
状態で端子６６にセンサ４２からパルスが入力されると
、ＡＮＤゲー゛ドア５が％　ａ＜　、ｓｙ　ｘ　ｄＥ□
カあわ、ヤ。Ａ　＃　ｘ　Ｆ、。８ヶ−）７３を通じて
フリップフロップ７１をリセットして測定範囲信号は論
理＠０”になる。 ミラ３８の往復回転動作が定速で誤差がなけれは、右端
検出センサ４３の検出で走査制御カウンタ５９の中のカ
ウンタ５９ｂがカウントを開始（第７図時点ｔりシて、
左端検出センサ４２の検出（第７図時点ｔり、あるいは
これと反対に左端検出センサ４２の検出から右端検出セ
ンサ４３の検出時に、カウンタ５９ｂは所定数ｎＬｏ　
（この例で１１２５６）を計数するよう忙設定される０
しがしミラ３８の駆動電流の変動勢にょシ、これら２つ
のタイミング、即ちミラ３８の回動終端検出と、カウン
タ５９ｂの所定カウント終了との間に時間差が生ずるこ
とがある。この時間差社誤差の原因となる。この誤差を
訂正するために角度誤差補正回路７６が設けられる。 角度誤差補正回路７６は例えＩｄＭ９図に示すように構
成される。その動作タイムチャートを第１０図に示す。 第１０図ＡＫ示すようにビーム移動方向指示信号ＤＩが
論理″１”となシミラ３８が回動してレーザ光ビーム２
５が最初の検出センサ４３を過ぎ、第１０図ＢＫ示すよ
うにパルスが時点１゜で発生すると、この時点から計画
範囲であることを指示する測定範囲信号ＭＡが第１０図
りに示すように″ｌ”になシ、これが１Ｒ６図中の測定
制御論理回路６１から端子７７に入力される。測定範囲
信号ＭＡが＠１”になると誤差検出論理回路７８内の７
リツプフロツプ（図示せず）の出力が＠ｌ”となって端
子７９からゲート信号ＣＡを＠１”として出力し、この
ゲート信号ＣＡはゲ−）８１．８２に与えられる。ゲ−
）８１．８２には第６図中のクロックカウンタ５７から
の制御クロックＣＬＩも入力され、更にゲート制御フリ
ップフロッグ８４のＱ、Ｑ出力がそれぞれ入力されてい
る。初期状態で第１０図Ｅに示すようにゲート制御フリ
ップフロップ８４はリセットされてあシ、従って時点ｔ
１でゲート８２が開らかれる０制御クロツクＣＬＩはゲ
ート８２を介してカウンタ８５でカウントされる。この
カウント数がメモリカウンタ８６の記憶値と同じになぁ
と一致回路８７よシ一致出力が生じ、その一致出力によ
シゲート制御フリップフロップ８４が第１０図Ｅに示す
ようにセットされる。よってゲート８２は閉じ、ゲート
８１が開き、この時点ｔ２から制御クロックＣＬｔはゲ
ート８１を介してカウンタ５９ａにあたえられて第１０
図Ｆに示すようにカウントされる。この例ではカウンタ
５９ａは６ビツトで構成されてあシ、６４個の入力で状
態が一巡する。この最後のカウント状態がデコーダ８８
１Ｃｊｊ！＋検出され、その検出出力省よシゲート制御
用フリップフロップ８４はリセットされ、またカウンタ
５９ａの最初のカウント状態がデコーダ８８で検出され
、その検出力にょシカウンタ８５がリセットされる。フ
リップフロップ８４がリセットされた時点ｔ３から再び
カウンタ８５はカウントを開始する。このよう圧してカ
ウンタ８５と５９ａとは第１０図の例では制御クロック
ＣＬＩの８カウントと６４カウントとの交互動作を繰返
す。第１０図Ｇはゲート８２を通過するクロックＣＬＩ
を示す。カウンタ５９ａの出力は角度信号カウンタ５９
ｂｌＣあたえられ、このカウント状態がビーム角度信号
ＢＡとなる。角度信号カウンタ５９ｂは例えば８ビツト
で構成され、角度信号ＢＡは第１０図Ｈに示すように０
〜２５５の状態を示し、カウンタ５（）ｂのカウント動
作子を第１０図ＩＫ＠ｌ”として示す。 つぎに端検出センサ４２からレーザ光ビーム２５がｊｇ
ｌＯ図ＣＫ示すよう忙検出されると、その時点ｔ４に測
定範囲信号ＭＡが第一１０図りに示すように″０”とな
シ、との′０”になった時点ｔ４と角度信号カウンタ５
９ｂの動作終了時点１．との時間差Δｔは論理回路７８
で例えば第１０図りの信号ＭＡと第１０図Ｉの信号との
排他的論理和をとって検出される。ｍ１０図の例では、
ミラ３８が回動による端検出センサ４２の検出の方がカ
ウンタ５９ｂの動作終了よシ早い場合を示し、測定範囲
信号風の終了（立下υ）よシ、第１０図Ｉのカウント動
作の終了（立下シ）が遅れているＯこの測定範囲信号Ｍ
Ａとカウンタ動作終了との時間差ｄｔＯ間ゲート信号（
第１０図Ｊ）でゲート８９を開き、ゲート８９を通過し
た制御クロックＣＬＩをメモリカ６ンタ８６で計数する
。この時メモリカウンタ８６に測定範囲信号ＭＡを制御
端子Ｕ／Ｄに与え、測定範囲信号ＭＡが１１”の時にア
ップカウント、＠０＃の時はダウンカウントに制御する
。この例ではメモリカウンタ８６ＩＩ′ｉ、ダウンカウ
ント状態とされて、ゲート８７を通過したクロック（第
１０図Ｋ）がダウンカウントされ、メモリカウンタ８６
の内容は６になる。 メモリカウンタ８６は初期状態では基準カウントにセッ
トされ、第１０図の例では８にされ、第１０図の例のよ
うにカウンタ５９ｂのカウンタ゛動作の方がミラ３８の
動作よシ遅い場合にはメモリカウンタ８６は減算動作状
態になシ、この時間Δｔに応−じたクロックＣＬ１の数
だけメモリカウンタ８６を減少させる。以上の動作がミ
ラ動作の在復周期の前半の終りで行われたとすれは、ミ
ラ動作の周期の後半においてはカウンタ８５の計数値が
新たにメモリカウンタ８６にセットされた数、この例で
は６で一致出力を生じるため、カウンタ５９ａ。 ８５の繰返し動作杜短縮され、角度信号ガクンタ５９ｂ
の動作も速く終了する０′ つぎにミラ動作が周期後半から次の周期の前半へ移る場
合も動作は同じであシ、逆にカウンタ動作の方がミラ動
作よシも速い場合にはメモリカウンタ８６がクロックＣ
Ｌ１を計数する時には、その制御端子Ｕ／ＤＫ″″１＃
が与えられているため、メモリカウンタ８６の値を増加
させる。このためカウンタ５９ａ　、８５の繰返し動作
は遅＜表シ、角度信号カウンタ５９ｂの動作も遅く終了
するようになる。このようにして時間差Δｔが生じない
値にメモリカウンタ８６の計数値はミラ３８の振動の半
周期ごとに自動的゛に再設定される。 つぎに第６図にもどって説明すると、カウンタ５９ａの
入力クロックＣＬｍは走査カウンタ６２にも供給され、
走査カウンタ６２の出力によシ切替スイッチ回′路６３
のアナログスイッチが順次導通され一定間隔に配置され
た受光素子アレー２９の状態が走査される。この走査周
期とレーザ光ビーム２゛５に対する変調周波数との関係
は受光素子ア゛レ−２９の受光素子１個あたシの出力に
、例えば３波以上の変論波が存在するように選定される
。 これは溶接時の火花その他の雑音による影響を除去し、
信号の立上夛、即ち輝点かもの反射ビーム２７の検出精
度の向上に有効である。 切替スイッチ回路６３の出力として得られた各受光電子
の出力は増幅器６４で適宜の大きさに増幅された後信号
用の狭帯域ｆ波器９１及び雑音用の低帯域ｆ波器９２へ
供給される。増幅器６４の増幅周波数帯社例えば０．１
〜ＩＯＭＨｚとされ、狭帯域ｅ波器９１はレーザ変調信
号周波数ｆＭ−１：ｌΔを通過帯域とし、低帯域Ｐ波器
９２７；ｔ　１００ＫＨｚ〜（九−Δ九）を通過帯−と
する。Ｐ波器９１゜９２の各出力は整流平滑回路９３．
９４によル直流信号化され、これら直流信号は比較回路
９５で比較され、信号光の有無が判定される。レーザ光
ビーム２７の入射がある場合には、狭帯域ｆ波器９１の
通過後の変調周波数ｆｕの成分が、低帯域１波器９２の
雑音検出レベルよυ大きくなり、比較回粋９５の出力は
１１＃となる。比較回路９５の出力はクロックＣＬ２に
対し、その半周期すれた検出クロックＣＬｓでサンプリ
ングされてシフトレジスタ９６に順次記憶される◇レー
ザ光ビーム２７の入射がない場合に＃′ｉ、、周波ａｆ
Ｍの成分が″ｏ′となシ、低帯域Ｐ波器９２の雑音レベ
ルの方が大となシ、比較回路９５の出力レベルは１０″
の状態となる。シフトレジスタ９６で蓄積されたビット
列社例えば８ビツトごとに並列にレジスタに移し、この
８ビツトずつ処理装置９７に取込まれる。処理装置９７
にはビーム移動方向指示信号ＤＩ、ビーム角度信号ＢＡ
、測定ｉ開信号ＭＡもそれぞれ入力され、しかも第４図
において投光器２２からのレーザ光ビＬム２５の投光角
θＬと受光器２３のレーザ光ビーム２７の受光角θＲが
まると、溶接物体２４上の輝点２６までの距ｙＩＩｋｈ
と輝線上の位置ａは次式で計算される０・これら式中の
各信号を第１１図及び第１２図に示す。 暑＝−θＬ十−〇、＝（、ｊニｌ虱巴十−（θムｂ　＋
ｋｔ、θＣ）・・・・・・（１）θＡ「θＡＬ　、、、
、、、、、１８．、（込に、＝　ｎＬ。 卜一θ・＝甲　°°°°°°呻°（３）θｃ　＝　Ｂ　
Ａ・・・・・・・・・・・・ＤＩ＝Ｏ・・・・・・・・
・・・・（４）ＢＡのｎＬｏの稲ｉ　・・・−・Ｄ　Ｉ
　＝　１第１１図及び第１２図で第４図と対応する部分
は同一記号で示し、記号Ａｔ、　ｔ　ＡＲはそれぞれ端
検出センサ４２，４３に対応する溶接面上の輝点の位置
Ｐ、ｆはそれぞれ一定間隔に配置された受光素子アレー
２９の受光素子ピッチと受光素子アレー２９の基準＃３
１からの距離、と第１２図）θＡｌ’＃θ＾Ｌは端検出
センサ４２．４３の検出時の投光角、θｃけ角度信号カ
ウンタ５９ｂの計数値Ｂ　Ａ　Ｎ　ｌ（１は受光器２９
のレンズ２８の中心点と対向する受光素子アレー２９の
素子番号（、第１２図参照）、ｉは輝点２６を検出した
受光素子アレニ２９の素子番号（第１２図参照）、ｎＬ
ｏは投光角の走査範囲のカウンタ５９ｂの全カウント数
、ａは受光器２３から基準＋１！ｉ！３１と垂直に引い
た紛が作業対象物体２４に交わる点Ａｍと輝点２６との
距離である。 ｄ、Ｐ、ｆ、ｔｏ、θＡＲ＊’　”ＡＬ及びｎｌ、Ｏが
構造因子であシ、これらは処理装［９７＾のメモリ９８
に予め記憶しておき、計測時にθＣとｌを得て（１）弐
〜（４）式の演算を行う０例えば１ｇ１３図に示すよう
にステップＳｌで測定範囲信号ＭＡが１″かをチェック
し、左端あるいは右端の検出センサ４２．”４３がレー
ザ光ビーム２５を捉えると、測定範囲信号ＨＡ（第１０
図）が１１＃となり、？、−ｙツブＳ２で処理装置９７
内のにカウンタ９９の内容をに＝０とする。ステップＳ
３でビーム角度信号ＢＡ（８ビツト）、受光復ｌｌ＠侶
号ＤＳ（２５６ビツト）、ビーム移動方向指示信号ＤＩ
の入力を持・つ。これら各信号ＢＡ　、ＤＳ及びＤＩが
入力されると、ステップＳ４で受光復調信号ＤＳから１
（受光菓子アレーの素子番号）を計算し、ステップＳ１
１で一〇肌を計算シテメモシ９８１Ｃ記憶し、ステップ
Ｓ６でビーム移動方向指示信号ＤＩの正、逆（行きと戻
り）を判定し、正の場合はステップＳ７で入力されたビ
ーム角度信号ＢＡをθＣとし、ステップＳ＠　、　Ｓｓ
で逆と判定されると、ステップ８ｇで信号ＢＡのビット
毎の補数をθＣとする。ステラ７　Ｓ　を又はＳｓの次
にステップＳ９で−θｂを計算し、ステップＳＩＯでは
ステップＳｓ　ＩＳｓで得たーθ風−〇Ｌを用いてｈｋ
を計算してメモリ９８に記憶する。またこのｈｋ及び−
〇ＢからステップＳｔｔでａｋを計算し、メモリ９８に
記憶する。−ステップＳ１ｚでｋを＋１し、ステップＳ
ｔａでｋがｎＬｏ　Ｋなったか判定し、ｎＬＯでない場
合にステップＳｓＫ戻る。ステップＳｔＳでに＝ｎＬ（
１の場合前記例でＵｎＬ、ｇ　＝　２５６回と判定され
ると、ステップ８１４でメモリ９８の各ｈｋの値から最
大値、ｈ鯖をめ、−そのに＝Ｍのａの値＆賛をメモリ９
８から得る。ステップＳ１ｓでこれらＩＩＭ　、　ａｄ
をロボット本体に出力してステップＳｘＫ戻る。なおこ
の例は作業対象物２４が第３図に示すようなもので、シ
ー２−ザ光ビーム２５の揺動により輝線１９を溶接線１
３に対し、＃１は直角に形成し、かつ作業対象物２４と
計測ヘッド及び溶接トーチとを溶接線１３ＫＮうように
相対的に移動させる。 第６図において走査制御カウンタ５９としてしＩ　“ バーシプルカクンタを用ｈ１　ビーム移動方向指示信号
ＤＩが′１＃か１０＃かによシ、走査制御カウンタ５９
をアップカウントとダウンカウントに切替えれは角度信
号ＢＡと受光復ｖＡ但号ＤＳとからｈとａがめられる。 その場合の処理装置９７での処理動作例を第１４図に示
し、その説明は省略すも！ｌ るＯ 輝点像が受光素子アレー２９上の素子と素子との中間で
結像した場合の輝点位置は処理装置９７に受光素子アレ
ー２９の素子上で結像した場合の輝点位置の座標（ａ、
ｈ）を順次記憶しておき、複数個の輝点位置の座ｓ＜　
ａ　、　ｈ　＞の回帰曲線からめることができる。処理
装置９７内部で第１５図に示すように輝点像が受光素子
アレー２９の素子上で結像した場合の座標（ａｋ　、　
ｈｋ　）をｆＬ、ｇｌとし、輝点位置のｈが増加傾向を
示すグループｈ〜ｆｎ（ＤＱ帰曲線ｈ　＝　ｆ　（＆）
と、ｈが減少傾向を示すグループｇｌ”−ｇｎの回帰曲
線ｈ　＝　ｇ　（ａ）の２つの曲線をめ、その交点とし
て溶接線のように光切断面での不連続点をあたえている
。この場合輝点位置のｈが増加傾向から減少傾向に、切
シ替る点９輝点（第１５図のｇｉ）を増加傾向グループ
に含めるか、減少傾向グループに含めるかのグループ職
別の問題が生ずる。このグループ識別方法を第１６図及
び第１７図によシ説明する。第１６図は第１５図の輝点
位置りの増加傾向と減少傾向との切シ替る点の拡大説明
図、第１７図はｋとｈｌの関係を示すＯ Ｆｉ接接点点位置ｈの差Δｈｉ　＝ｈｉ−ｈｉ＋１を順
次求め、その値と符号を第１７図のように縦軸Ｋｈｉ。 横軸にｋの値をとり、それを順次起録してゆき、Δｈｔ
の符号が変化した点（ｋ＋２　）をめる。第１７図で位
Δｈｉの符号が負の場合を１１正の場合を０で示してい
る。Δｈｉの符号の変化した点（ｋ＋２）よ多元に戻し
た２つの輝点位置ｋ及びに十１のΔｈ１の差ΔΔｈ１、
や、ｉ；Δｈｋｌｌ−Δｈ、をめる。 Δｈｉの差ΔΔｈｋ＋１を１と比較し、ΔΔｈｋ＋１≦
１　のときは点に＋２の輝点をに＋１側のグループに含
める０Δｌｂｋ＋１　）　ａのときれ、点に＋２の輝点
をに＋３側のグループに含める。ここでａ壬ＡＸｌｓｍ
＃ｌであシθは点ｈｋ＋ｈｋ◆１　の輝点を結んだ直線
と基準！（第４図の線３１）との間の角度である。ｑｈ
左右方向の測定精度であシ、第１７図の例では０．３−
とした。受光器に設置する受光素子アレー２９はその受
光素子を二定間隔に稠密に配置できれば、精度の向上が
はかられるが、受光素子アレー２９の構造上、受光面積
を大きくシ、かつ高密度に実装することは困難であるＯ
この問題を解決するためピッチ分割盤の受光素子アレー
を用いる例を第１゛８図に示すＯ即ちパルスモータ１０
１の回転軸にプーリ１０７が軸着され、またパルスモー
タ１０１の回転角度を検出する千ンコーダ１０３の軸に
プーリ１０４が軸着され、これらプーリ１０２，１０４
間にスチールベルト１０５が架張されている。このスチ
ールベルト１０５により左右（矢印方向）Ｋ往復移動さ
れるキャリッジ１０６が設けられ、キャリッジ１０６は
往復移動時に案内棒１０７．によシ案内される〇案内棒
１０７は一対の支持アーム１０８間に支持される。キャ
リッジ１０６　Ｋｉｄ　ｎｅｏ分割の受光素子アレー１
０９が所要数配置され、各素子は信号線１０９と接続さ
れている。パルスモータ１０１の正転によシ受光素子ア
レー２９を正方向に受光素子ピッチＰだけ移動させると
、パルスモータ。 １０１を逆転して受光素子アレー２９を逆方向に移動さ
せることを繰返す。パルス七−夕１０１が１ステツプず
つ１，２．３・・・・・・・・・ｎ（矢印）と順番に回
動すると第１９図に展開図を示すように、受光素子の位
置１，２．３・・・・・・ｎ５ｔｏが同時に左側に移動
しｍステップで受光素子の１ピッチＰ分移動する。その
１ピッチ分の移動の途中で輝点の像１１１が受光された
場合第１９図に示す例ではモータ１０１が３ステツプ移
動した時に番号２の受光素子に輝点像１１１が受光され
た場合である。 このモータ１０１のステップ数３と受光した素子番号２
とから受光素子２から３Ｐ／ｍだけ受光素子番号３側に
輝点像１１１が位置していることが検出される◎ 先に述べたようにレーザ光ビームに対し１００ＫＨｚ〜
数ＭＨｚのパルス変調をかけている。溶接物体表面は吟
方散乱忙近い反射面であるから、輝点は輝度が小さいが
任意の方向から＃１は同じ強さでその輝点像を捉えるこ
とができる。輝点を受光レンズ２８で見て受光素子アレ
ー２９上に結像させる０受光器２３では光電気変換後、
変調波を復調し、先に述べたよう托して輝点を捕えた受
光素子を見出す０実験によれば溶接アーク光中には数百
ＫＨｚ〜数ＭＨｚの周波数成分はほとんどないから受光
器２３で変調周波数成分を取出すことＫよシアーク光（
雑音）の妨害が除去されることが確認された。 鉄のアーク光の波長は２００〜１５００ｎｍと広範囲に
わたっているが、５５０ｎｍ以上の波長帯ではレーザ光
の波長を通過帯域にもつ光フィルタを用いることＫよシ
、高出力のレーザ光に比し、雑音として入射するアーク
光成分を減殺することができた。またシリ・ンまたはグ
ル〜＝ウム９フォトダイオードは素子そのものの波長特
性が山状になっていてフィルタ作用をもち、５００ｎｍ
以下の光成分に対する感度は十分小さく、通常の場合に
は特に光フィルタを必要としないことを確認した。 つぎにこの発明の針側ヘッドの仕様の例を示すと下表の
とおシである。 針側ヘッドは溶接トーチと連動して第２０図Ａにその動
作軌跡を示すように、これまで説明した三角波による等
速運動によｊｏｏ、１．２・・・・・・５のように溶接
面のアーク前縁をレーザ光ビーム輝点て往復、走査し、
溶接１１１Ｊ１３を監視して進む。例えば輝点の往復走
査の振幅は１２８ｓ＋ｍでこの間を２■ピツチで６４点
の測定全行う′、作業対象物体２４の溶接線１３に８う
移動線輝点の１往復中に４■とされる。第２０図Ｂの場
合祉鋸歯状波で得られるような尋速運動によ、Ｄ、ｏ　
、　１　、１　、２　、２・・曲のようにレーザ光ビー
ム輝点て溶接面のアーク前縁を往復走査し、その往復で
作業対象物体２４の移動は２ｍとし、第２０図Ａの場合
のＨの速度で溶接線を監視する。何れをとるかは作業対
象物２４の種類、大きさ等によって決まる。また同図Ｃ
は作業対象物体２４の溶接点１３がＶ生新面形状をして
いることを示し、レーザ光ビーム２５とその検出左端、
右端の各輝点ＡＲｅ　Ａｔ、の関係を例示しであるＯ いま、アーク溶接時の輝点センシング例として、次の条
件の下での実験例を示す。 被溶接材：造船用鉄板　厚さ１５閣 溶接電流：　ＤＣ３５ＧＡ 投光器２２の光源：レーザダイオード波長０．７８〜１
．３μｍ １ＭＨｚパルス変調　変調出力３．５ｍＷ（電気的に１
０ｄＢ） 受光器２３の受光素子アレー２９：シリコンフォトダイ
オード５ｉＰｉｎＰＤ　（波長１．３μｎｌＤ場合は（
Ｇｅ　−ＡＰＤ　）　（受光径０．１〜０．４　ｍ　）
作業対象物２４と受光器２３との距離：５００ｍ１ｍ＋
溶接アークとセンシング点との距離：１５〜０ｆｉ− 第２１図はこの実験結果の周波数分析の１例で同図Ａは
測定系設定（溶接アークなし）における受光器２３の出
力の周波数特性を、同図Ｂはアーク中においてアτりよ
Ｊ２５ｍ＋離れた輝点を計測したときの受光器２３の出
力の周波数特性をそれぞれ示し、フォトダイオード２９
の電気出力を増幅後、１００ＫＨｚ　〜１０ＭＨｚの間
を３０ＫＨｚの帯域幅で対数掃引したときの周波数応答
である〇両図を比較してみるとアーク光の電気的影響は
２００ＫＨｚ以下で周波数の低下につれて増大するが、
入射光忙比し−６０〜−７０ｄＢ減少する輝点の反射光
（１ＭＨｚ変調波）は伺らスークの影響を受けていない
。この実験において溶接アークとセンシング点との距離
をトーチに邪魔されない１５■まで近接させたが、溶接
のスパッタがレーザ光をよぎる場合を除いて輝点を検出
できた〇溶接スパッタは離散的々現象であるから、受光
のさい変調光を３波以上取込むようにすれは、溶接池の
ごく近く（距離１０観以下）でも、面形状が存続すると
ころのセンシングは十分可能である。 またレーザ光ビームを振ったとき、揺動ミラを１２Ｈｚ
の三角波で定速度駆動させた時の受光素子アレー２９の
１素子のセンシング出力は第２２図のように、変調波の
械絡線が実測される。この波形を帯域ｆ波器を通して復
調し、前記演算処理を行えは、輝点位置はアーク光の中
でも正確に計測することができる０測定条件は第２１図
の場合と同一である０計副ヘツドの分解能には受光レン
ズ２８の倍率と受光素子アレー２９の分割数とが関係す
る。公館４ち村レンズ倍率βが大きく、分割が細かいは
ど向上するが、反面レンズが大きくなること、測定幅が
狭くなるなどの問題がある。高精度が要求される構造で
は受光素子アレー２９を素子のピッチ１／ｍ（ｍ）１）
に相幽する微小量ずつ必要１．左右に動かすパルスモー
タを駆動源に用いた第１８図に示した手法が好適である
。 一般的適用 以上の説明から理解されるようにこの発明は例えば第２
３図に示すように浦定ヘッドの本体３２に投光器２２．
受光器２３を取付け、投光器２２０発する光ビーム２５
を被側定物体２４の表面に投射し、その時生ずる光ビー
ム入射点に生ずる輝点２６を受光器２３でとらえるよう
処し、投光器２２、受光器２３間の距離ｄ、光ヒビ−：
２５の方向θＬ、受光器２３の視線、つまシ受光される
反射光ビーム２７の方向θＲをめそれらを用いて輝点２
６の位置を算出する方法、すなわち三角側量を基本とし
てするものであシ、前記例に限らず各種のものが考えら
れる。よってそれらをまとめて測宇に必要な基本式を示
す。 第２４図においてξ、−Ｑ、ζを計測ヘッド本体３２に
取付けた固定座棒軸とし、光ビー、ムＬｓ２５および視
１１！２７を含む面が、計測ヘッドの正面方向と傾いて
いる場合につき輝点Ａ、（ハ）の位置およびＡｔ　よシ
計測ヘッド正面方向に下した垂線の足ＡＭ　の位置をめ
る式をめる。 （ｉ）θＬ、θＲ１ｄがわかれは次の諸量がめられる。 ｈ　ｓｉ　＝　ＡＭ　Ｈ＝、；１）い、ア（ｉｉ）　ｄ
　、ψｂ、θＬ、θ８がわかれば次の諸量がめられる。 （ｉｉｉ）　ａ　、ψ８．θＬ、θＢがわかれば次の諸
量がめられる。 十−２０Ｌ−ψＲ）＋ 上記と類似の方法ではあるが、第２５図に示す対の受光
器２３ａ　、２３ｂを有し、−それらの光ビ、−Ａ２５
．視線２７ａ　、２７ｂが全て同一平面内にあるように
し、かつ受光器２３　ａ−、２３ｂには直線上に受光素
子を稠密に並べた受光素子アレー２９ａ、２９ｂとレン
ズ２８Ｌ、２８ｂよシなっている、このよう処すればこ
の兜−学系社第２６図のようである。 輝点Ａ０Ｉの像がＪ’　（ｘ’５．　島）　、−ｄｌ“
（ｘ７．ｙ’ｉ）Ｋ結ばれ、像の位置Ｘ’Ｉ、　Ｘ’Ｈ
は輝点Ａを捕えている受光素子の位置からめられる。各
部の座標を第２６図のよう忙示せば、輝点の位置および
結像面の位置は次によシ与えＣ五る。 ア；＝小辷引＝　ξ；−ξτ ｆ（１＋−） ２ａ　、　２ａ ここＫ　ξＨ＝ｘ；　。 ξτ＝ｘ７十ａ　。 ｆ：レンズＬの焦点距離 この場合は受光器２３＆および２３ｂ内の輝点を捕えて
いる受光素子の位置から輝点の位置および結像面の位置
をめることができる。 受光器の受光系について 受光器が被測定物上の輝点の像を結ぶ様子を第２７図に
示す。図においてレンズ２８は座標系ｐ。 ｑ、ｒのｒ軸と光軸を一致させ、ｐ、ｑ軸はレンズ２８
の中心面内にとった。輝点Ａｌの座標をｐｉｎｑｌ、ｒ
ｌ、その倖ｊｔの座標をｐｈｑＩ、ｒＩとすれば、ｔＲ
＝ＯＲＡＩ　＝　、ｒ＝、　（ｐ：　十ｑ？　＋ｒ：　
）＋（９） ここＫ　ｌ　ｒｌ　ｌ　＝ｆ＝レンズの焦点距離光ビー
ムの方向を変えて、輝点Ａ１が物体の表面を移動すれば
、その像Ｊｔは式（９）ｒｃｔ、たがって、移動する。 Ｊｌの検知素子すなわち受光素子Ｓが丁度Ｊ１と同じ位
置にあれば式（９）ＫよＦ）Ａｍおよびφ。 φ′をめることも可能であるが、Ｓを正確に結像位置忙
おぐことはむづかしく、受光素子位置における輝点の像
はばけてくる・この場合、埋けた像の中心をとれは殆ん
ど誤差を生じない。この様子を第２８図に示す。 輝点Ａ１杜受光素子の面Ｓ上で（ｐ十〜ｐ−）にわたシ
はけている。その中心ｐ８はＰｓ＝＋　（ｐ＋＋ｐ−）
となる。ＡｌＯＲの延長と面Ｓとの支点をｐａとする。 すなわちｐａ　Ｏｎが正しい方向である。Ｌｒ１ｏａｐ
ａ＝φａ・ｌｒｇｏａｐａ７φ８　とする。Ｇは絞シ。 ｒ　１　＞＞　ｒ　Ｂ　＞＞　ｒ　／にとっており゛は
月ｐ１ すなわち、絞夛をレンズの中心面に近づけておけば、は
けた輝点偉の中心をとっても、輝点の方向に対する誤差
杜殆んど生じｋい。 また、ｐ軸１１η軸にとれは、 θＢ＝（ｒ軸とξ軸との表す角）±φ′ψ８＝φ 次に受光器の焦点Ｉ！＃！整すなわち結像位置忙受光素
子をもってくる方法について述べる。 ０）焦点調整不充分の１まで輝点測定を行えば、第２４
図の場合でも、第２６図の場合でも一次近似としての輝
点と受光器との距離が得られるので、その値から式（９
）するいは式（８）によシ結像面の位置を算出し、受光
素子をその位置において次の測定をするようＫすれは、
正しい位ｔＫ逐次近づけることができる。実用上は２回
程度の修正で正しい値が得られる。 （ロ）補助光を用いる方法 受光器の受光素子Ｓは、移動する輝点を瞬間的に捕える
だけであるので、その短い時間で受光器の焦点調整を行
なうことは困離である。したが？て、第２９図に示すよ
うに受光器の前に補助光ビームＬ／ＱＣをおき、その方
向を受光器視糾と一致させ、この補助光ビームＬ／ＱＣ
が物体上につくる輝点Ａ／ＱＣに対して焦点調整を行た
うようＫする。 Ａ／ＱＣが受光器内につくる像ｔｉＪｔの位ｉｔＫあシ
、受光素子８をｒ８においたとき８に入る光の強さはｒ
ｅ＝ｒｉで極大となり、ｒｉからずれるとおおよそ１ｒ
ｉｒ、ｐに逆比例的に変化するから、補助光ビーム成分
の出力が極大になるように、Ｓの位置を調整すれはよい
。 補助光ビームＬ／ＱＣとして杜、その波長が信号光ビー
ムと同じで変調が異なるものを用いると都合がよい。な
お、受光器の補助光ビーム対応出力は信号光ビーム対応
成分の検出の比較用標準値として用いると検出精度がよ
くなる。焦点距離の調整法として上記０）、←）の倒れ
を用いるかは、測定に許される時間、実現の難易、経済
性を考慮してきめる。投光器は、鋭い平行光ビームを発
するものを用いるが、若し、その焦点距離調整が必要な
らけ、上記の０）の場合と同様の方法によるのがよい。 ち投光形式を示した。図において光は何れの場合もＯＬ
を中心として放射されている。 図（イ）、単一の光ビームＬａが被測定物表面Ｊ上に投
射して輝点αを生ず゛る場合、 図（ロ）、一点ＯＬを通る複数個の光ビームＬｍ（ｔｌ
）力ぷ、１＋面内において、時間τ毎に、順次一定角だ
け方向をずらして、Ｌｓ（τ１）＋Ｌｓ（τ２）、・・
−・・・Ｌｓ（τｎ）と放射され、表面Ｊ上に順次輝点
ατｌ、ατ２，１１＠１１＋１ατｎを生ずる場合で
ある。 光ビーム系全体を光線配列と称し［Ｌｓ（τ１））で表
わす、輝点ατ１．ατ２．・・・ατｎを輝点自己列
と称し〔ατｉ〕で表わす、 図（ハ）、一点仇を通る複数個の光ビームＬｓ（μｍ）
〃ツ一平面内において、一定角づつ方向を変えて放射さ
れ、これら各党ビームが互に異る変調”　１　＊　ｆｉ
　２＋　＊　＊すｉ、・・・・μｎを受けておシ、表面
Ｊ上に輝点αμｍ、αμ２．・１１αμｎを生ずる計で
ある。　−２−１− 元ビーム系全体を光線配列と称しくＬｓ（μｍ）〕で表
わし、輝点αμ！、αμ２．ａａａαμｎを輝点配列と
称し〔αμｉ〕で表わす。 図に）、点ＯＬを通る光ビームＬｓ（ｔｌが、一平面内
において、その方向を時間の周期関数にしたがって変化
する場合、 光ビームＬｓ（ｔ）が形成する扇形平１面を動光線面と
称しく　Ｌ　５（ｔ））で表わし、ＣＬ　５（ｔｌ　］
が表表面上に描く輝点軌跡を〔αｔ〕で表わす。 図（ホ）、点ＯＬを通Σ光で形成される平面状の光を板
状光と称し［Ｌｓｐｌで表わし、［Ｌｓｐｌが表面Ｊ上
につくる明るい線を輝線と称し、〔αｐ〕で表わす。 第３１図に測定に使用できる受光器の受光形式を示した
。図において、 図（イ）、受光器が被測定物表面上の一点を捕えるよう
にした場合で、受光器をレンズとレンズの軸上に設け７
’ｔ１個の点状受光素子で形成すると、受光素子とレン
ズの中心を結ぶ線が受光器の＋Ａ＠１４となＪＪ、Ｌｒ
と被測定物表面との交点を視点と称しβで表わす。 図（ロ）、点Ｏ鶴を通る複数個の視線Ｌｒ（τｘ）、Ｌ
ｒ（τ２）、・・・Ｌｒ（τｎ）が、一平面内で、その
方向を微小時間τ毎に、方向を一定角づつ変えて順次発
生する場合である。この場合の視線全体を視線配列と称
し〔Ｌｒ（ｒｉ））で表わす、〔Ｌｒ（ｒｉ））と表面
Ｊとの交点を視点配列と称し〔βτｌ〕で表わす。 図（ハ）、視線Ｌｒ（ｔｌを点０Ｒｔ−通シ、一平面内
においてその方向を時間の周期関数に従って変化させる
場合である。この場合の視線の系を動視線面と称し、〔
Ｌｒ（ｔ）〕で表わし、これに対応する視点軌跡を〔β
ｔ〕で表わす。 図に）、受光器の視野が点ＯＲを通る扇形平面である場
合で、この場合の視野を板状視野と称し〔Ｌｒｐ〕で表
わし、これに対応して表面Ｊ上に生ずる明るい線を視野
線と称し〔βｐ〕で表わすＯ 上述の受光形式を実現する方法としては、例えば図（イ
）は第２８図でｒ軸ｒ１の位置に１個の常光素子を設け
て実現され、図（ロ）は第３２図に示すように１個のレ
ンズとｎ個の受光素子を並べて成る受光素子アレーと各
受光素子の出力端子を時間τ毎に順次切換えて取出すこ
とによシ実現される。図（ハ）は図（イ）の受光器全体
を一平面内で０ル金中心として振シ動かすか、あるいは
第２８図で受光素子をｒｉを通りξ軸に垂直な面内で直
線上を振り動かすことによシ得られる。また、第３２図
で受光素子を充分稠密に配列すれば図に）の板状視野が
、得られる。 １個の投光器と１個の受光器を用いる場合、三角測量法
によ〕測定するには、投光器が被測定物表面Ｊ上につく
る輝点（輝点配列、輝点軌跡）あるいは輝線と、受光器
が衣面Ｊ上につくる視点（視点配列、視点揮跡）あるい
は視野線との交点の位置をめることに帰着される。 第３３図に横の行に受光形式を、縦列に投光形式をと、
２て受光器内の結偉面内における受光集子配列と映像と
の関係を示した計測へレドの設計においては受光する部
分と映像とが必ず交わシ、その交点の位置にある受光素
子の出力を用い、その受光素子の位置から、視線方向を
めるか、あるいは受光素子の出力をタイミング信号とし
て用いて光ビームの方向、視線の方向等をめることによ
って被測定物表面での位置を算出することができる。 第３３図において、マトリックスに図１．１゜１．２．
−・ｅ・２．１，２．２．拳・・・５．４なる番号をつ
けて表わすと、図１．１，１．２，２．１，２．２，３
゜１．３．２は受光部分と映像との交点がめにくいので
実用的価値がない。その他のものは適当な構成をとるこ
とによって実用できるものを構成することが可能である
。 次にその例をあげておく。 投光系φ受光系の構成例 前述の考え方にもとづいて、実現可能な投光系、受光系
の組合せの例をあげておく。以下の図において、測定ヘ
ッド本体のξζ軸を含む面を８ｂで示し、ＯＬを通シη
軸ζ軸に平行な軸をηＬ軸、ｃＬ軸、０１％を通る同様
な軸をηル軸、ζル軸とする。 例１．第３４図（第３３図１．１対応）光ビームＬｌｌ
、視線Ｌｒを面ｓｂ内におき、図（イ）Ｌ８まξ軸とし
、輝点αを視点βが追随する。 （口ｌＬｒ上ξ軸とし、視点βを輝点αが追随する。 α、βを追随で重ねていくのは面倒である。 被測定物の断面形状は、計測ヘッドをξ軸のまわシに回
転、または（イ）の場合杜ηＬ軸のまわりに（ロ）の場
合は１７１４軸のまわ・シに回転してめられる。 例２．第３５図（第３３図１．３−）及び第３６図（第
３３Ｎ４．１） 例１で視点（Ｉ！た紘輝点）を輝点（ｔたは視点）で追
随するのは面倒であるから、元ビームＬ８あるい杜視線
Ｌｒの一方の方向をξ軸に対し１足し、他方のξ軸とな
す角を時間の周期関数θｉｔ）にしたがって変化させ、
視点と輝点とが重なったとき受光器よシ生ずる信号をタ
イミング信号にして用いてθ（１）をめる。 視線がξ軸となす角θＲ（ｔｌを変え、θＬ＝Σとした
場合は第３５図の如くであシ、元ビームがξ軸となす角
θＬ　ｔｔ）を変え、θ、＝ｘとした場合２ は第３６図のようになる。被測定物の断面をめるには、
計測ヘッド全体をξ軸のまゎシに回転するか、第３５図
ではηＬ軸のまわシに回すか、第３６図の場合はη几軸
のまわシに回転する。 例３．第３７図（第３３図１．４対応）・光ビームＬｓ
工ξ軸、板状視野（Ｌｒ　ｐ　］を次のようにとる。図
（イ）は〔Ｌｒｐ〕をηａ軸をふくみそのまわシに回転
するようにとる。・φ原理的には第３５図と同じになシ
、測定法もはソ同じでよい。 図（ロ）は［Ｌｒｐ）を６０５面内にとる。θ１は信号
光の出力を生じている受光素子の位置からきめられる。 図（イ）においてＬｒ上ξ軸として、板状光ＩＩ、ａｐ
ｌをηＬ軸のまわシに回転するようにとったもω５第３
８図の場合であシ第３３図５．１に対応する。 例４．第３９図（第３３゛図２．３，３．３対応）動視
線面［Ｌｒ（ｔｌ）および光線配列［Ｌｓ（τｉ））ま
たは〔Ｌａ（μｍ）〕を面ｓｂ内に設け、輝点と視点と
が交わる時のＬｒ（ｔ）の方向θＲ，Ｌ８の方向θＬを
知って、交点の位置を算出する。 〔Ｌａ（τｉ））を用いる時は、時間τの間にＬｒ（ｔ
）が（Ｌｓ　（τｉ）〕の全体を掃引するようにし、τ
ｌよシθＬをめ、受光器の出力を得た時間ｔよ９０幅τ
）ｔ−求める。〔Ｌａ（μｍ）〕を用いる時は、受光器
の出力を復調して得た出力中のμｍからＬａの方向をめ
、Ｌｒ（ｔ）の時間からθＲ（ｔ）をめる。 例５．第４０図（第３３図４．２対応）勤先線面［Ｌｓ
（ｔｌ）と視線配列［Ｌｒ（τｉ））をｓｂ面内に設け
、Ｌｓ（ｔ）が時間τの間に全視点配列を一通シ掃引す
るようにする。τｉよシ視線方向θａをめ、信号出力を
得た時間ｔからθＬ　Ｉｔ）をめて交点の位置を計算す
る。 例６．第４１図（第３３図２．４，３．４対応）板状視
野ＣＬｒ　ｐ　）と光線配列（Ｌｓ（τｌ）〕または〔
Ｌ８（μｍ）〕を用いる場合である。 図（イ）は板状視野（Ｌｒ　ｐ　）と光線配列〔Ｌａ（
τｉ））または〔Ｌａ（μｍ））とを面ｓｂ内に設け、
〔Ｌａ（τｉ））を用いた場合は時間ＴｉからＬａの方
向をめ、時間τｌに信号出力を生じている受光素子の位
置からＬｒの方向をめる。また〔Ｌａ（μｍ）〕を用い
た場合は受光素子出力を復調して、そこに含まれる変調
成分μｌを検出して、Ｌｓの方向θＬをめ、その出力を
生じた受光素子の位置からＬｒの方向θルをめる。この
場合はＳｂ面で被測定物を切った断面形状が得られる。 図（ロ）板状視野（Ｌｒｐ）を軸ηルを含みそのまゎル
に１ｕ転してθルを変えられるようにし、光線配列をη
Ｌを含みそのまわシに回転してθＬを変えられるように
設ける。 この場合は光線配列は各党ビームを持続的に出しておき
１、θ几（またはθＬ）を固定して、θＬ（またはθＲ
）を周期的に変化させ、信号を受信した受光素子の位置
からψルをめ、信号光を受光した時化ずる受光素子出力
をタイミング信号としてθＬ　（ｔｌ　（またはθａｌ
ｔｏ）をめれば、測定している点の位置が算出できる。 この測定ではθａを固定した時は［Ｌｒｐｌによる被測
定物の断面が得られ、θＬを固定した時は光線配列を含
む面による断面形状がめられる。 図（ハ）は板状視野をξ軸を含み、そのまわシに回転で
きるようにし、光線配列をξ軸に垂直に設けた場合であ
る。板状視野［Ｌｒｐ〕の信号光を受光して出力を生じ
た受光素子の位置からθＲをめ、この時の受光４８号を
タイミング信号として用いて、板状視野の回転角ψをめ
れば、被測定物表面の位置が決定される。この場合、光
ビームは常時用しておくようにする。［Ｌｓ（μｍ）〕
を用いる場合は［Ｌｒｐｌの回転角をμｍの検知によ請
求めることができるのでこの性質を用いるのが便利であ
る。 図（ハ）の場合は光線配列面で被測定物を切った断面形
状がめられる。 例７．第４２図（第３３図４．８１対、応）勤先線面［
Ｌａ（ｔｌ）および動視線面［Ｌｒ（ｔｌ）を平面Ｓｂ
内に設けた場合である。光ビームＬ８（ｔ）の方向θＬ
　（ｔ）および視線Ｌ　ａ　（ｔｌの変化周期を例えば
１：ｎに選べば視線が１周期の変化をする間に少くとも
ｎ回の輝点と視点の重なりを生じ、この重なシ点で受光
器から信号が得られるのでこれをタイミング信号として
θＬ　ｌｔｌ　ＩθＲ（ｔｌを読みとるようにすれば、
その点の位置を算出することができる。上記周期を１：
ｎの代、Ｄｎ：１にとっても光ビームと視線の立場が入
れ替わるだけで、少くともｎ個の測定点がめられる。こ
のようにしてめた点はｓｂ面による被測定物切断面にな
る。 例８．第４３図（第３３図４．４対応）−勤先線面［Ｌ
ｓ（ｔｌ〕と板状視野（Ｌｒｐ〕を用いる場合である。 図（イ）は〔Ｌｓ（ｔｌ）［、ｒｐ〕をｓｂ面内に設け
た場合で、適当なタイミングでＬ　ｓ　（ｔｌの方向θ
ｘ、（ｔ）を読みとると共に、同時刻において信号光の
受信出力を出している受光素子の位置を読んでθルをめ
れば、測定点の位置がめられる。 図（ロ）（ハ）は［Ｌｓ（ｔ））及び［Ｌｒｐ：］をそ
れぞれηＬ軸及びηル軸を含み、その軸のまわシに回転
してθＬ　（ｔｌまたはθＲ（ｔ）を変えられるように
設ける。 図（ロ）はθＬを固定して、θａ　（ｔｌを変えて、輝
点と一視野線の交点をめるもので、受光素子の信号。 をタイミング信号としてθａ　（ｔｌをおよびＬ　ＩＩ
　ｉｔ）の方向ψＬ　（ｔ）をめて測定点の位置を算出
するが、あるいはその受光素子の位置からψルをめて、
その点の位置を算出する。この場合は勤先線面で被測定
物体を切断した断面形状を得る。 図（ハ）はθルを同定してθＬ（ｔ）を周期変化させた
場合である。測定法は（ロ）の場合と類似しており、こ
の場合ｔｆ、［Ｌｒｐ］面で被測定物を切断した時の断
面形状がめられる。 図に）は勤先線面［Ｌｇ（ｔ）］をξ軸に垂直、板状視
野［Ｌｒｐ〕をξ軸を含み、そのまわシに回転できる−
ようにとった場合である。この場合は信号光を受信した
受光素子の位置から０１をめ、その時の勤先線の方向ψ
（１）をめれば、測定点の位置が算出できる。この場合
は〔ｉ、ｒｐ）を回転して測定を行なうことにより［Ｌ
ａ（ｔ））で被測定物を切った場合の断面形状がめられ
る。 図（ホ）は板状視野［Ｌｒｐ］をξ軸に垂直にとり、勤
先線画をξ軸を含み、そのまわｐに回転できるようにと
った場合である。この場合は〔Ｌｒｐ〕面で被測定物を
切断した断面が得られる。測定法は前と同様であるから
省略する。 例９．第４４図（第３３図５．２対応）板状光［Ｌｓｐ
）と視線配列［Ｌｒ（ｔｌ）〕をそれぞれ軸ηＬ及びη
鴎を含み、−その軸のまわりに回転できるように設けた
場合である。 （Ｌｓｐ）の方向θＬを一定にとシ、［Ｌｒ（τＩ）〕
の方向θＲ（ｔｌを周期させ、視点と輝線の交点で生ず
る信号をタイミング信号としてＤｎ　（ｔｌをめ、τｉ
よシールをめる。（Ｌｓｐ〕で被測定物を切った断面形
状がめられる。 また〔Ｌｒ（τｉ））の方向θ艦を一定に保ち、（Ｌｓ
ｐ）の方向θＬ　（ｔｌを周期変化させると、この場合
は［Ｌｒ（τｉ）〕面で被測定物を切断した場合の断面
形状がめられる。測定の方法は前と類似しているから省
略する。　” 例１０．第４５図（第３３図５．３対応）板状光［Ｌｓ
ｐ〕と動視線面［Ｌ　ｒ（ｔ））を用いる場合である。 図（イ）及び（ロ）は［Ｌｓ　ｐ）及び［Ｌｒ（ｔ）］
をそれぞれ軸？Ｌ及びηａを含みそのまわシに回転でき
るように設置し、輝線と視点とが交わる特発する受光器
の信号出力をタイミング信号として用いてＬｒ（ｔｌの
方向ψａｔ［Ｌｓｐ〕面の方向θＬあるいは［Ｌｒ（ｔ
ｌ］面の方向、θルをめる。図（イ）は［Ｌｓｐ〕面の
方雌゛θＬを固定して（Ｌｒ（ｔｌ）の方向θｎ　（ｔ
ｌを周期的に変えて測定する場合であ、Ｃ１，［Ｌｓｐ
］面で被測定物を切った断面がめられる。図（ロ）は［
Ｌｒ（ｔ）１面の方向θ１を固定してＣＬｍ　ｐ　）面
の方向θ４（ｔ）を周期的に変えて測定する。場合であ
って、〔Ｌｒ（ｔ）］面で切った断面形状がめられる。 図（ハ）は板状光［Ｌｓｐ）をξ軸に垂直に設け、動視
線面［Ｌ　ｒ（ｔｌ）をξ軸を含みそのまわりに回転で
きるように設けた場合である。（Ｌ　ｒｌｔ）］の回転
角ψ（１）及びＬｒ（ｔ）の方向θａ　（ｔ）を周期的
に変化させ、輝線と視点の交わった時受光器に生ずる信
号出力をタイミング信号として用いて０１％（１）及び
ψ（１）をめれば、測定点の位置がめられる。この場合
は［Ｌｓｐ）面によって被測定物を切った断面形状が得
られる。 例１１．第４６図（第３３図５．４対応）板状光（Ｌｓ
ｐ〕及び板状視野［Ｌｒｐ］を用いる場合である。 図（イ）は［Ｌｓｐ）及び［Ｌｒｐ〕をそれぞれ軸ηＬ
及び１を含み、そのまわシに回転でき−るようほける。 測定は（Ｌｓｐ）の方向θＬを固定し、（Ｌｒｐ〕の方
向θＲ（１）を周期的に変化させる。視野線と輝線とが
交わる点に対応して、受光器の受光素子から信号出力が
得られる。受光素子アレーの端子を掃引して、その素子
の位置を知ることによシ、その視線の方向ψ謁を□め、
その受光素子の出力をタイミング信号として用いてθＲ
１ｔｌをめれば測定点の位置が算出される。この測定か
ら（Ｌ！ＩＰ）面で被測定物を切断した場合の断面形状
が得られる。 次に［Ｌｒｐ〕の方向θルを固定し、（Ｌｓｐ］の方向
θＬ　（ｔ）を周期的に一化させると、前述と同様にし
て測定を行なうことができる。この場合は［Ｌｒｐ］面
で切断した断面形状がめられる。 図（ロ）は板状光（Ｌａｐ）を軸ξに垂直にとルミ板状
視野（Ｌｒｐ）を軸ξを含み、そのまわシに回転できる
ように設けた場合である。［Ｌｒｐ）面の方向ψ（１）
を周期的に変化させ、受光素子アレーの出力端子を周期
的に掃引して、信号出力を生じている受光素子の位置か
らθ龍をめ、その出力をタイミング信号として用いてψ
（１）をめる。これによって測定点゛の位置を算出する
ことができる。この場合は゛（Ｌ　ｓ、　ｐ　）面によ
シ被測定物を切った切断面の形状が得られる。 例１２．第２６図（ペア形） １つの勤先線面（Ｌｓ（ｔｌ〕と一対の板状視野［Ｌｒ
ｐ’）及び［Ｌｒｐ’］とを図のように同一平面ｓｂ内
に設けた場合である。前に詳細に睨明したのでこ＼では
省略する。 受光素子アレー中で信号出力を生じている受光素子の位
置を［Ｌｒｐ’〕と（Ｌｒｐ”ｌとで同時刻にめなけれ
ばならない。このため受光素子アレー中の素子配列め密
度を十分稠密にしてその□素子出力端子を十分速い速度
で掃引してめるかあるいは受光素子アレ二の素子密度が
十分稠密でない時はミ補間法によシ補正してめなければ
ならない。 測定系 測定系の構成、測定方法は前にあげた投光系、受光系の
構成によシ異なるが、その基本的考え方、測定の具体的
方法は類似しているので、以下に例をあげて説明してお
く。 測定回路例１．第４７図 こ＼では第４２図の投光系［Ｌｓ（ｔ））、受光系〔Ｌ
ｒ（ｔ）］を用い、受光器の前には信号光を通す光のバ
ンドパスフィルタをもち、受光器の視線方向に焦点調整
のための補助光Ｌｆｏｃを設け、信号光Ｌｍには変調μ
Ｓを加え、補助光Ｌｆｏｃには変調μｆｏｅを加える。 この場合の測定回路を第４７図に示す。 図において投光器２２でμ８なる変調を加えた光を被測
定物２４０表面に投射し、その方向をθＬ　（ｔｌで周
期的に変える。 受光器２３で光のバンドパスフィルタ、結像用レンズ２
８、受光素子８を有し、その視線と一致する方向に焦点
ｔｌｉＩ整及び比較基準のための補助光Ｌｆｏｃを設け
、Ｌｔｏｃは波長紘投光器の信号光と同じで、信号光と
異なる変調μｆｏｅをうけているとする。かつ受光器全
体はその方向θａ（ｔｌを周期的に変化する。 今、＃ａ（ｔ）とθＬ　ｉｔ）の変化を、例えば〔θＬ
　（ｔ）の周期〕＝　’　（ａ　ａ（ｔ）の周期〕とし
、かつ視点軌跡と輝点軌跡とを、はｙ同じ長さになるよ
うにしておけば、視線の１振幅の間に輝点と視点と線少
くともｎ回重なる。 輝点と視点とが重なった時は受光器受光素子Ｓの出力に
は、 〔信号光Ｌｓ十補助光Ｌｆｏｃ＋アーク雑音光〕の光フ
イルタ通過成分に対応する電気出力が得られ、輝点が視
点に重なっていない時は受光素子Ｓの出力に杜、− 〔補助光Ｌｆｏｃ＋アーク雑音光〕 の光フイルタ通過成分に対応する電気出力が得られる。 　− したがって、Ｓの出力を後調器ＤＥＭで復調すると、ア
ークの雑音成分は殆んどなくなり、変調成分に対応する
Ｖ＃ｓとＶμｆｏｃ−になる。これを分離した後−Ｖμ
Ｕ〜μｆｏｅをめ、 Ｖμｓ／Ｖμｆｏ　≧　に　輝点と視点社重なったＶμ
ｓ／Ｖμｆｏｅ　＜に　輝点と視点は重なっていないＶ
μｓ／Ｖμｆｏｅ　＞になるときはサンプリングパルス
（あるいは夕４ミングパルスという）を生じサンプリン
グ回１１ｒｓＰＲ，ＳＰｂに送シこむ。 回路５ＡＰＲ，５ＡＰＬはそれぞれθル、θＬの値をサ
ンプリングして、その値をディジタル化して処理装置μ
−ＣＯＭＰへ送シとむ。　 図の回路ＤＭＲは受光器２３の方向θ鴎の駆動を行なう
とともにθ島の値をＳＡＰｇへ入力する。回路ＤＭＬは
投光器−２２について同様の役目を果している。 回路ＦＯＣはＶｆｏ−ｃが極大になるように受光素子と
レンズとの距離を調整する焦点調整回路である。 この焦点調整はレンズと表面Ｊとの距離を−の第一次測
定値を用いて、結像位置を算出し、それを用いて調整し
てさらに測定する。つまシ逐次近似法をとることも可能
であるが、この方法拡時間がかかる。 θ〜、０Ｌの値が処理装置μｍＣＯＭＰに入力さ謁と、
この値を用いて測定すべき点の位置が算出される。 測定回路例２゜第４８図 上の例１で補助光Ｌｆｏｃを用いない場合は第４８図の
ような測定回路を用いる。受光器２３の出力を増幅後２
分して、一方をバンドパスフィルタＢＰＦ、検波器ＤＴ
、−低域Ｆ波器ＬＰＦを通して信号光対応出力Ｖｇ（ｔ
）を取出し、他方をバンドエリミネーションフィルタＢ
ＥＦ、検波器ＤＴ１低域Ｆ波器ＬＰＦを通じて、雑音対
応の出力Ｖｎ（ｔｌをめ、さらにＶ　ｓ　（ｔｌ／Ｖ　
ｎ　（ｔ）をめ、Ｖａ（ｔｌ／Ｖｎ（ｔｌ≧　に　輝点
と視点とは重なっているＶａ（ｔ）／Ｖｎ（ｔｌ　＜　
に　無点と視点とは重なっていないＶ　ｔｓ　（ｔ）／
Ｖ　ｎ（ｔｌ≧ｇなる時ａ、Ｓ　Ｕ　Ｂ　回路ｊ　Ｄ　
？　ｙプリングパルスを発生する。このサンプリングパ
ルスによシθル、θＬをサンプリングして、その値をデ
ィジタル化し処理装置μ−ＣＯＭＰへ入力することは例
１と同様である。 焦点調整は第一次のｔＲ，ＬＬを用いて結像位置を算出
し、前述の方法に準じて逐次焦点調整を行なう。 その他のことは省略する。 具体例として、 被溶接物表面の巾２０ｅｒＲを長手方向に測定する場合
をとる、 巾方向の測定間隔０．２　ｃｒＲ，測定点数２０１０．
２＝１００点、 巾２０傭の測定時間０．２就、 光ビームの径０．０２譚、 受光器レンズの焦点距離４ｃｖｔ。 測定ヘッドと被測定物との距離５０６Ｒ。 視点の表面Ｊ上での速度１００　ｃｍ／　ｓｅｅ　、輝
点の表面Ｊ上での速度１０３／ｓｅｘ とすると、 輝点と視点との重なる時間は４．０　μ厩、光ビームの
変調周波数を２．４７５　Ｍｌｌｚ。 とすれば、 輝点と視点とが重なっている時間内に約１０波が含まれ
るので、変調波線十分検出される。 また、処理装置（マイクロコンピュータ）μ−ＣＯＭＰ
に許される一点の計算時間は１．６　Ｘ　１Ｏ−３（６
）であるので十分な計算時間をとれる。 測定回路例３．第４．９図 第２５図（第２６図）に示したペア形計測ヘッドの測定
回路を第４９図に示す元ビームの変調は前の例と同様で
ある。 受光器の出力側は第５０図のように構成され、切換スイ
ッチＳＷは受光素子出力を高速で順次切換えて、その出
力を復調器に入力し、復調出力は識別器ＤＩＳにより、
その中に変調成分があるかないかを識別し一変調成分が
含まれている時にのみサンプリングパルスを発生する。 スイッチコントローラ５Ｗ−ＣＯＮＴは切換スイッチＳ
Ｗの端子切換を制御するとともに、端子番号発生器５Ｗ
−ＮｏにスイッチがＯＮになっていそスイッチＳＷの端
子番号を発生する。。 識別器ＤＩＳが変調成分を検出したとき発生したサンプ
リングパルスは端子番号発生器５Ｗ−Ｎｏよシ、端子番
号をサンプリングして処理装置μｍＣＯＭＰに入力する
。この端子番号は受光素子の位置に対応しているので第
２６図のｘ　１１、Ｘｉ”（またはξｉ′、ξｉ１）に
対応している。 輝点の像が１つの受光素子上を通る間に、切換スイッチ
は落ちなく、それを捕えなければならないので、切換ス
イッチは全受光素子端子を一巡して掃引しなければなら
ない。 さらにまた受光器Ｒ’ｌｌｌと、ＲＩ側とで輝点と視点
の重なシが同時に生ずるとは限らないので、輝点と視点
の毎回の重なシを時間的シーケンスとして処理装置μｍ
ＣＯＭＰに入力し、受光器２３＆、２３ｂとの同時刻に
おける輝点位置を補間してめ、その値を用いてｘＡｔ）
’Ａｔ）’ｉ’を算出し、ｙ　ｌ＋を用いて焦点距離の
自動調整を行、なう。これらは全て処理装置μ−ＣＯＭ
Ｐを用いて行なうものとする。 〈効　果〉 以上にこの発明の詳細な説明したが、その著しい特徴は
次のとおシである。 中　溶接アークの測定妨害を軽減した。 （イ）、溶接アーク光は強いエネルギを持っているが、
光スペクトル分布が非常に広く、かつ比較的一様に分布
しているので、光バンドパスフィルタを用いて信号光の
スペクトル近傍だけを通すようにすれば、アークの光に
よる妨害エネルギが著しく減少する。また信号光附近の
みで受光感度の高い受光素子を用いるようにしてもよい
。 （ロ）、溶接アーク光の時間変動は、溶接機の電気回路
定数にも関係するが、比較的低い周波数成分しか含まな
い。（おおよそ、２００〜３００ＫＨｚ以下）。したが
って測定に用いるし一ザ光ビームを上記よシ高い周波数
、例えば１ＭＨｚで変調し、受光器の電気出力を復調し
てその中に変調成分があるかどうかによシ、受光器が１
δ号光の輝点を捕えたかどうかを判゛　別することによ
り、溶接アーク光による測定妨害門除くことができ□る
。 （ハ）、上記（イ）（ロ）の方法の採用によシ、溶接ア
ーク光による測定妨害はハソ完全に妨止できる。 測定に用いる信号光（レーザビーム）の変調は、アーク
光に含まれない形であればよく、簡単なパルス変調、周
波数変調等いろいろの形式のものが利用できる。 （１１）投光器の投光方向、受光器の受光方向の両方あ
るいは一方を周期的に変化した場合、被測定物表面で輝
点または輝線と視点または視野線とが交わるように構成
し、輝点または輝線と視点または視野線とが交わるたと
き生ずる受光器の出力をタイミング信号として用いて、
三角測量に必要な方向角を測定し、その値をマイクロコ
ンピュータのような電子計算機に入力して測定点の位置
がめられる。 したがって、溶接作業の進行にともなって、被溶接部の
形状を次々と連続的、に行なうことができる。 ｔｍ＋　測定の精度をよくするためには投光器、受光器
の焦点調整が正しく行なわれることが望ましニ。このた
め、次の方法によ多焦点の自動調整を行なう。 （イ）、受光器の視線方向に補助光ビームを放射し、そ
れのつくる補助の輝点を利用して焦点ｘｉを自動的に行
なう。 （ロ）、次々と連続的に測定値がめられるから、測定し
ようとする時の直前の測定値を用いて焦点距離をめ、そ
の値を用いて測定を行なう。（この焦点距離は必ずしも
正確で′はないが物体の表面形状は比較的ゆるやかな曲
面であることが多いので割合によい近似値がめられる）
。 以上をまとめると、この発明は下記の通シである。 （１）計測ヘッドの本体上で一定距離をへだてた２点に
それぞれ投光器及び受光器が設けられ、その投光器は被
溶接物表面へ狭いスペクトル分布をもち、かつ強さを変
調された元ビームを投射して、輝点、輝点配列、輝点軌
跡あるいは輝線をつくるように構成され、上記受光器は
信号光を通過させる元バンドパスフィルタ、受光レンズ
及び受光部を備え、これによって視線ヶ視線配列、動視
線面あるいは板状視＃を形成し、かつ受光器出力側には
受光器出力を復調して変調波成分の存否を識別してその
変調波成分を検出した時のみタイミングパルスを発生す
る回路を備え、このタイミングパルスによって測定に用
いた光ビームの方向、受光器の視線の方向を示す量をサ
ンプリングし、その値をデジタル化して処理装置に入力
し、被溶接物表面の点の位置を三角測量の原理によシ、
予め準備されたプログラムによシ算出する計測ヘッドで
ある。 （２）計測ヘッド本体上に１個の投光器とその両側に一
定距離をへだてて設けた一対の受光器とが設置され、投
光器は被溶接物表面へ狭いスペクトル分布をもち、かつ
強さを変調された光ビームで形成されだ動光線面を投射
するように構成され、上記受光器は上記光ビームを通過
させる光バンドパスフィルタ、受光レンズ及び受光素子
を直線上に稠密にならべてなる受光素子アレーよシな夛
、これによシ視線配列面がつくられ、上記動光線面と一
対の視線配列面とが全て同一平面内に含まれるように構
成され、さらに両受に光ビームの変調成分が含まれるか
どうかが識別され、変調成分が含まれるときはサンプリ
ングパルスを発生して切換スイッチのスイッチング位置
を示す数を打抜いて、その値が処理装置され、あらかじ
め設けられたプログラムによシ被溶接物表面の輝点の位
置及びその輝点の写像位置が算出され、それを用いて受
光器の焦点距離の自動調整が行われるようにされている
。 （３）受光器の視線と一致する方向に、光ビームと同じ
波長で異なる変調を加えた補助光ビームを発射し、その
補助光ビームが被溶接物表面に補助輝点を結ぶようにさ
れ、受光器の電気出力を復調して、その出力を信号光の
変調成分及び補助光の変ｌ！１４成分に分離し、補助光
変調成分が極大になるように受光器の焦点距離の自動調
整を行うようにされている。 （４）　計測された被溶接物表面の位置から受光器内に
おける輝点像の位置を処理装置によって算出し、その値
を用いて受光器の焦点距離の自動調整を行うようにされ
ている。 （５）受光器出力を復調して得られた信号光質調成分段
対応する出力と補助光変調成分に対応する出力との比を
めてこの値が実験的にめられる一定値よシ大きいかどう
かによって、受光器が輝点または輝線をとらえたかどう
かを識別するようにされている。 （６）　投光形式として動光線面、受光形式として動視
線面を用い、前記ｗ、３項あるいは第４項の同一面内に
おける焦点距離自動調整を行うようにされている。

【図面の簡単な説明】

第１図は溶接ロボットにおける従来の磁気センサ法を示
す図、第２図は溶接ロボットにおける従来のライ−ビッ
ク法を示す図、第３図は溶接ロボ。 ットにおける従来の工業用テレビジョンカメラを用いる
方法を示す図、纂４−図りこの発明の測定原理の説明図
、第５図はこの発明の一実施例の計測ヘッドの構造を示
す図、第６図はこの発明の一実施例における計測制御回
路例を示すブロック図、第７図は第６図の回路の検出制
御動作の例を示すタイムチャート図、第８図は第６図中
の測定制御論理回路６１の具体例を示す論理回路図、第
９図は第６図中の角度誤差補正回路７０の一例を示すブ
ロック図、第１０図は第９図の動作例を示すタイムチャ
ート、第１１図は計測ヘッドと測定点ま゛での距離りと
輝線上の位置ａとの関係を示す図、第１２図は第１１図
の受光レンズ２８、受光素子アレー２９附近の拡大図、
第１３図及び第１４図はそれぞれ処理装置９７における
計測される輝点像座標の演算処理動作例を示すフローチ
ャート、第１５図は輝点像が受光素子アレーの素子上に
ないときの輝点像をめる説明に供する輝点列を示す図、
第１６図は輝点位置信号の増加傾向と減少傾向との切替
る点の拡大説明図、第１７図は第１６図の各輝点゛位置
の変差と、極性との関係を示す図、第１８図は受光素子
アレーの素子ビーチ間に生じる輝点像の検出手段の例を
示す斜視図、！１９図は第１８図におけるモータ回転位
置と各素子の移動位置と輝点像との関係を示す図、ｌ１
ｇ２０図は輝点の軌跡及び作業対象物体の断面を示す図
、第２１図はこの発明による計測ヘッドを用いた実験結
果であって溶接アークが存在しないｉ及び存在する時の
受光器出力の周波数分析例を示す図、第２２図は端検出
センサの出力波形の一例を示す図、第２３図はこの発明
の計測ヘッドによる測定原理を一般化した例を示す図、
第２４図は第２３図の測定原理を説明するため６図、第
２５図は受光器を二つ用いる場合のとの発明の計測ヘッ
ドの例を示す図、第２６図は第２５図の測定原理を説明
するための図、第２７図は受光器の結像原理を説明する
ための図、第２８図は受光器の焦点調整不完全な時の結
像状態を示す図、第２９図線補助光による焦点調整原理
を示す図、第３０図は投光器の投光形式の各種例を示す
図、第３１図は受光器２３の受光形式の各種例を示す図
、第３２図は受光器２３の視線配列の構成例を示す図、
第３３図は投光形式と受光形式の各種組合せ例を示す図
、第３４図〜第４６図はそれぞれ投光形式と受光形式と
の組合せの実施例を示す図、第４７〜第５０図はそれぞ
れ測定回路系の実施例を示すブロック図である。 ２２：投光器、２３：受光器、２４：作業対象物体（被
溶接機）’、２５：照射レーザ光ビーム、・２６：輝度
、２７：反射のレーザ光ビーム、２８：受光レンズ、２
９：受光素子アレー、３３：レーザダイオード、３５：
レーザダイオードの駆動回路、３８ニーミラー、４２，
４３：端検出センサ、５７：クロックカウンタ、５８：
實゛、ラー駆動信号回路、５９、：走査制御カウンタ、
６１：測定制御論理回路、６２：走査カウンタ、６３：
切替スイッチ回路、７６：角度誤差補正回路、９１：狭
帯域Ｆ波°器、９２：低帯域ろ波器、９５：比較回路、
９６：シフトレジスタ、９７：処理装置。 特許出願人　日本通信技術株式会社 代理人草野　卓 ＄１　図 寸３　図 オ　２　図 ７４　図 ７１５図 ｈ ７ｉ７１６図 ７１７図 第１８図 ０９ ７ｉ７１９図 第２２図 しＤ　ＲＤ　１０ｍ５／ｄｉｒ ７２０図 ＩＪ　ｚ４ 第２１　図 タ寸℃ｌ畢引周シ皮査文 ヌ’ｔｑ舅シ弓１μ町ン契沓！ ７２３図 ７２４図 第２５図 ・７１７２７図 ２８１ ７３４図 ７３５図　第３６図 ４゜ ′７３７図 ７３８図 で。 ρ 第３９図　７４０図 （：１−） ｆｌｊ＋ａｏｌＪｌ　くｃ’Ａ（ｔ）ａＡＥ′ＷＭ二５
、（ｆ、−Ｑ） 先シー。−５゜ 井４５図 乙 ７（ □□＝二ニ ７４６図 板状光を回転 Ｌ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）同一平面内で一定距離隔てて葆持された投光器及
   び嗅光器と、その投光器に設けられたレーザ光源と、そ
   のレーザ光源よシのレーザ光ビームを上記向一平面間で
   揺動させて被溶接物体表面上に照射してそのウー表面上
   に輝度を順次形成させる揺動手段と、そのレーザ光ビー
   ムに光強度変調を掛ける変調手段と、上記受光器に設け
   ら−れた受光素子アレーと、その受光素子アレー上に上
   記物体表面上の輝点を結像させる受光レンズと、その受
   光総子アレーを上記レーザ光ビームの揺動速度よシも高
   速度で順次切替える切替スイッチ回路と、その切替スイ
   ッチ回路の出力から上記強度変調成分を取出しそ受光素
   子アレーの各素子の受光、非受光状態を示す信号を得る
   手段と、上記揺動手段によるレーザ光ビームの揺動角度
   位置−を示すビーム角度信号を発生する手段と、少く°
   とも上記受光。 非受光状態を示す信号、上記ビーム角度信号を入力して
   その受光、非受光状態信号から、上記受光された輝点に
   対する受光ビームの角度を検出し、輝度が受光された時
   の、上記ビーム角度信号からレーザ光ビームの投光角を
   得て、これら同角度から受光された輝点の位置を演算す
   る処理装置とを具（２）上記受光、非受光状態信号を得
   る手段は上記光強度変調成分を取出す狭帯−ｒ波器と、
   その狭帯域ｒ波器の通過帯域よシも低い周波数帯を通過
   帯域として雑音成分を取出す低帯域ｆ波器と、これら取
   出された変調成分と雑音成分とを比較する比較器とよシ
   なり、上記切替スイッチ回路の１素子切替え周期中に上
   記変調波が３波以上得られるように切替スイッチ回路の
   切替速度と変調周波数との関係が選定されている特許請
   求の範囲第１項記載の溶接機針側ヘッド。′ （３）上記被溶接物−とこれを溶接する溶接機トーチと
   が継接！１　Ｋ　Ｇって相対的に移動され、この溶接機
   トーチにこの計測ヘッドが連動され、上記し−ザ光ビー
   ムの輝点の移動が上記溶接線と交叉する方向とされ、か
   つその移動の少くとも一方は等速運動となるように上記
   揺動手段が構成されている特許請求の範囲第１項記載の
   溶接機計測ヘッド。 （４）上記受光素子アレーはその素子配列方向に１少く
   ともその素子ピッ≠の分だけ変位することができ、受光
   された素子と受光された時の受光素子アレーの変位とか
   ら上記レーザ光ビーム受光角度を得る特許請求の範囲第
   １項記載の溶接機計測ヘッド。 （５）上記揺動手段はクロック計数することを繰返すク
   ロックカウンタと、そのクロックカウンタの出力によシ
   得られた駆動信号によシ駆動され、上記レーザ光ビーム
   が入射される揺動ミラとよシなシ、上記ビーム角度信号
   を発生する手段は上記クロックカウンタの計数値と対応
   した信号をビーム角度信号として発生する手段であシ、
   上記切替スイッチ回路の切替え手段は上記クロックカウ
   ンタと同期した走査カウンタにより行われる手段である
   ＠許鮪求の範囲第１項記載の溶接機計測ヘッド。 （６）上記ゼーム角度信号を得る手段は上記クロックカ
   ウンタから得られるクロックを計数してビーム角度信号
   を計数値として出力する角度信号カウンタと、上記クロ
   ックを補正値だけ計数する補正用カウンタと、これら角
   度信号カウンタと補正用カウンタとを交互に動作させる
   手段と、上記レーザ光ビームの揺動範囲内の測定範囲を
   決める１端から上記角度信号カウンタと補正用カウンタ
   との交互動作を開始させ、上記沖」定範囲の他端でその
   交互動作で停止させる手段と、その停止時にこれと上記
   角度信号カウンタが特定の計数値になった時との時間差
   を検出してその時間差に対応して上記補正値を増減させ
   る手段とよ）なる特許請求の範囲第５項記載の溶接機計
   沖」ヘッド。 （７）上記受光素子アレーの素子上に結像した輝点像に
   対する輝点の座標の複数個からその座標が増加傾向にあ
   る回帰曲線と、減少傾向にある回帰曲線とをめて上記座
   標変化の変曲点をめる手段が上記処理装置に設けられ、
   上記隣接した輝点座標の差分を得る手段、その差分の符
   号変化点をめる手段、その符号変化点のその前の二つの
   差分の差をめる手段、その差から上記符号変化点の輝点
   を上記回帰曲線増加傾向を示すグループに含めるか減少
   傾向を示すグループに含めるかを判定する手段が設けら
   れている特許請求の範囲第１項記載の溶接機計測ヘッド
   。