JPH0760580A - Faシステム - Google Patents

Faシステム

Info

Publication number
JPH0760580A
JPH0760580A JP5237284A JP23728493A JPH0760580A JP H0760580 A JPH0760580 A JP H0760580A JP 5237284 A JP5237284 A JP 5237284A JP 23728493 A JP23728493 A JP 23728493A JP H0760580 A JPH0760580 A JP H0760580A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
information
radio
memory
radio wave
tag
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5237284A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuma Sekiya
一馬 関家
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Abrasive Systems Ltd filed Critical Disco Abrasive Systems Ltd
Priority to JP5237284A priority Critical patent/JPH0760580A/ja
Publication of JPH0760580A publication Critical patent/JPH0760580A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2223/00Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
    • H01L2223/544Marks applied to semiconductor devices or parts
    • H01L2223/54493Peripheral marks on wafers, e.g. orientation flats, notches, lot number
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/02Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]

Landscapes

  • General Factory Administration (AREA)
  • Dicing (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 バーコード表示物の表面汚れや傷等に起因し
てIDの誤認が生じないようにした、ダイシング装置等
加工装置のFAシステムを得る。 【構成】 被加工物の加工条件等の情報の全部又は一部
を記録するメモリーと、このメモリーの情報を電波に変
換する回路とから成る電波式タグが、被加工物毎にフレ
ーム等を介して装着されており、その電波式タグが発生
する電波を電波リーダーが受信して加工装置の制御を行
うようにする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ダイシング装置等加工
装置のFAシステムに関する。
【0002】
【従来の技術】例えばダイシング装置で半導体ウェーハ
を切削するFAシステムにおいては、半導体ウェーハを
保持するフレームの要所に半導体ウェーハのID(身分
証明)を示す識別表示を付しておき、切削加工の際にそ
の識別表示を検出手段により読み取って制御装置に入力
し、その情報信号に対応させて指令信号(予めホストコ
ンピューターに記憶させてある)をダイシング装置に出
力し、これにより半導体ウェーハを自動的に切削出来る
ようにしてある(例えば、特公昭64−12094号公
報)。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】前記FAシステムの識
別表示手段としては例えばバーコードが用いられ、その
バーコード表示物をフレームの端部等に貼着し、周知の
バーコードリーダーで読み取るが、表示物の表面が汚れ
ていたり傷が付いていたりすると正しく読み取れずに誤
認が生じる恐れがある。又、バーコード表示物をフレー
ムに貼着しないで、紐等で結び付ける等の取り付け方も
あるが、前工程等で邪魔になり、脱落したり或は破損し
たりして読み取り不能になることがある。本発明は、こ
のような従来の問題点を解決するためになされ、バーコ
ード表示物の汚れや破損等に起因して半導体ウェーハの
IDの誤認が生じないように改良した、ダイシング装置
等加工装置のFAシステムを提供することを課題とした
ものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】前記課題を技術的に解決
するための手段として、本発明は、被加工物の加工条件
等の情報の全部又は一部を記録するメモリーと、このメ
モリーの情報を電波に変換する回路とから成る電波式タ
グが、被加工物毎にフレーム等を介して装着されてお
り、その電波式タグが発生する電波をリーダーが受信し
て加工装置の制御を行うようにしたFAシステムを要旨
とするものである。
【0005】
【作 用】被加工物のID表示を電波式タグに置き替
え、非接触でIDを確認出来るようにしたので汚れや傷
による誤認がなくなり、又電波式タグのメモリーに記憶
されている情報を読み取ってホストコンピューターを介
さずに直接加工装置を制御することが出来る。
【0006】
【実施例】以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて
詳説する。図1において、1は被加工物たる半導体ウェ
ーハであり、ほぼリング状のフレーム2の中央部に合成
樹脂製の薄い粘着テープ3を介して保持されている。
【0007】4はカプセル等に封入して形成された電波
式タグであり、前記フレーム2の要所(図例では半導体
ウェーハ1のオリフラ部1aに近い切り欠き端部2aの
内側部分であるが、粘着テープ3上でも良い)に貼着さ
れる。この電波式タグ4は図2に示すように、情報の全
部又は一部を記録するメモリー4aと、このメモリーの
情報を電波に変換する回路4bとコイル4cとを有し、
少なくとも前記半導体ウェーハ1に関するID情報を登
録してある。
【0008】前記電波式タグ4のメモリー4aにはID
情報の外に、例えば半導体ウェーハ1のキーパターン情
報、x軸、y軸のストリート間隔情報、ストリート幅情
報、不良チップ情報、チップの機能、性質に関する情
報、ウェーハ径、厚さ等の形状に関する情報、生産工
程、生産工場等のヒストリー情報といった従来はホスト
コンピューターに登録すべき種々の情報を工程毎に書き
込むことが出来、更に加工結果の書き込み等も可能であ
る。尚、IDのみをメモリー4aに記録しておき、他の
情報はホストコンピューターに記録しておくことも勿論
可能である。
【0009】このようにして、フレーム2に電波式タグ
4の貼着された半導体ウェーハ1は、ダイシング装置で
切削加工(ダイシング)されるが、この切削加工時に電
波式タグ4から発する電波をアンテナを備えた電波リー
ダーで受信し、少なくともメモリー4aに記憶されてい
るID情報や加工情報を得てダイシング装置を制御し、
半導体ウェーハ1のストリートに沿って的確に切削する
ことが出来る。従来のバーコードとは異なって非接触で
あり、汚れや傷等による誤認が生じることはない。
【0010】図3は複数のダイシング装置と搬送路とを
組み合わせたダイシングシステムに適用した実施例を示
すもので、被加工物である半導体ウェーハを載置したフ
レームを搬出手段にて搬送路に搬出し、所要のダイシン
グ装置のところまで搬送させたらそのフレームをウェー
ハ移行手段によりピックアップしてダイシング装置に供
給し、このダイシング装置での切削処理後に先のウェー
ハ移行手段によりフレームを再び搬送路に戻し、この搬
送路によってフレームを次の工程に搬送するように構成
したものである。
【0011】このダイシングシステムを更に詳しく説明
すると、図3のように第1のダイシング装置10と第2
のダイシング装置11とが適宜の間隔をあけて並設さ
れ、複数のベルトコンベアーにより形成された搬送路1
2に沿って搬送された前記フレーム2を、第1の電波リ
ーダー13で電波式タグ4の情報を受信し、第1のダイ
シング装置10で処理すべきものは第1のストッパー手
段14で停止させ、第1の移行手段15により第1のダ
イシング装置10に供給する一方、第1のダイシング装
置10で処理しないものはそのまま通過させる。
【0012】通過したフレームは、第2の電波リーダー
16で電波式タグの情報が受信され、前記と同様に第2
のストッパー手段17で停止させ、第2の移行手段18
により第2のダイシング装置11に供給して加工処理さ
れる。加工処理後は再び搬走路12に戻されて次の工程
に搬送される。19は被加工物である半導体ウェーハ1
を載置したフレーム2を供給するための供給部、20は
ダイシング処理後のフレームを受け取るための受取部で
ある。
【0013】このようにして、搬送路により一定速度で
送られてくるフレームを、電波リーダーで電波式タグの
情報を受信すると共に、処理すべきダイシング装置に振
り分けて供給し、所定の加工処理を能率良く且つ円滑に
遂行することが出来る。この場合、2台のダイシング装
置の例を説明したがこれに限定されず、もっと多くのダ
イシング装置を組み込んで実施することも可能である。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ダイシング装置等加工装置のFAシステムにおいて、被
加工物のID表示を電波式タグに置き替え非接触でID
を確認出来るようにしたので、従来のようなバーコード
表示物の汚れや傷に起因するIDの誤認問題がなくな
り、且つ電波式タグのメモリーに記憶されている情報を
読み取ってホストコンピューターを介さずに直接加工装
置を制御出来る等の優れた効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る電波式タグを、半導体ウェーハ
を保持するフレームに取り付けた状態を示す平面図であ
る。
【図2】 電波式タグの構成を示す説明図である。
【図3】 本発明のFAシステムの実施例を示す説明図
である。
【符号の説明】
1…半導体ウェーハ 1a…オリフラ部 2…フレ
ーム 2a…切り欠き端部 3…粘着テープ 4
…電波式タグ 4a…メモリー 4b…回路 4
c…コイル 10…第1のダイシング装置 11…第2のダイシン
グ装置 12…搬送路 13…第1の電波リーダー
14…第1のストッパー手段 15…第1の移行
手段 16…第2の電波リーダー 17…第2のス
トッパー手段 18…第2の移行手段 19…供給部 20…受取

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被加工物の加工条件等の情報の全部又は
    一部を記録するメモリーと、このメモリーの情報を電波
    に変換する回路とから成る電波式タグが、被加工物毎に
    フレーム等を介して装着されており、その電波式タグが
    発生する電波をリーダーが受信して加工装置の制御を行
    うようにしたFAシステム。
JP5237284A 1993-08-31 1993-08-31 Faシステム Pending JPH0760580A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5237284A JPH0760580A (ja) 1993-08-31 1993-08-31 Faシステム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5237284A JPH0760580A (ja) 1993-08-31 1993-08-31 Faシステム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0760580A true JPH0760580A (ja) 1995-03-07

Family

ID=17013112

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5237284A Pending JPH0760580A (ja) 1993-08-31 1993-08-31 Faシステム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0760580A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007335706A (ja) * 2006-06-16 2007-12-27 Shin Etsu Polymer Co Ltd キャリア治具
JP2008293508A (ja) * 2008-06-13 2008-12-04 Lintec Corp 半導体ウエハの加工方法および半導体ウエハ支持部材
WO2009034496A2 (en) * 2007-09-12 2009-03-19 Nxp B.V. Wafer, method of manufacturing integrated circuits on a wafer, and method of storing data about said circuits

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007335706A (ja) * 2006-06-16 2007-12-27 Shin Etsu Polymer Co Ltd キャリア治具
WO2009034496A2 (en) * 2007-09-12 2009-03-19 Nxp B.V. Wafer, method of manufacturing integrated circuits on a wafer, and method of storing data about said circuits
WO2009034496A3 (en) * 2007-09-12 2009-05-22 Nxp Bv Wafer, method of manufacturing integrated circuits on a wafer, and method of storing data about said circuits
JP2008293508A (ja) * 2008-06-13 2008-12-04 Lintec Corp 半導体ウエハの加工方法および半導体ウエハ支持部材

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4827110A (en) Method and apparatus for monitoring the location of wafer disks
KR100882557B1 (ko) 판형물 지지 방법
US5866024A (en) Probe card identification for computer aided manufacturing
TWI408738B (zh) 半導體晶圓處理膠帶捲裝體及使用該捲裝體之半導體晶圓處理膠帶貼著裝置,以及半導體晶圓加工處理裝置
WO2006055645A2 (en) Rfid tag in a substrate
JPS60100450A (ja) 半導体ウエーハ装着及び切断装置
JP2007048885A (ja) 半導体ウェーハのダイシング用フレーム
JP2000331962A (ja) 半導体ウエハの加工方法および半導体ウエハ支持部材
US20180276432A1 (en) System, method and apparatus for encoding, verifying, and printing of rfid enabled objects
JP2006527922A (ja) エッジをベースにした識別機能を有する半導体ウエハ
US20050280503A1 (en) Semiconductor wafer having identification unit and method of identifying the semiconductor wafer using the identification unit
JPH0760580A (ja) Faシステム
EP1073325A2 (en) Testing and transporting semiconductor chips
JP2006073603A (ja) ウエハのアライメント方法
CN101556903B (zh) 半导体供应链体系的无线射频识别实时共通信息***
JP2004094556A (ja) 検品装置
JPH09306873A (ja) ウェーハの分割システム
EP0488053B1 (en) Method for manufacturing a semiconductor chip
JP2008293508A (ja) 半導体ウエハの加工方法および半導体ウエハ支持部材
JP4792877B2 (ja) 非接触icタグ製造方法とその装置
JP2006040023A (ja) Rfidプリンタおよび制御方法
JPS6357154A (ja) 製品材料に関する工程デ−タの記録方法
KR100253301B1 (ko) 웨이퍼 맵핑장치
JP2005129037A (ja) タグ製造装置およびタグ製造方法
JP3639884B2 (ja) ウエーハのダイシング方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20031127

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20040106