JPH0755502Y2 - パワートランジスタ保護装置 - Google Patents

パワートランジスタ保護装置

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JPH0755502Y2
JPH0755502Y2 JP1985078671U JP7867185U JPH0755502Y2 JP H0755502 Y2 JPH0755502 Y2 JP H0755502Y2 JP 1985078671 U JP1985078671 U JP 1985078671U JP 7867185 U JP7867185 U JP 7867185U JP H0755502 Y2 JPH0755502 Y2 JP H0755502Y2
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JP
Japan
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power transistor
conductor
resistance
low resistance
transistor
Prior art date
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Application number
JP1985078671U
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JPS61193379U (ja
Inventor
勝比古 東山
泰造 大濱
友和 高見
和洋 山根
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Description

【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 本考案は高熱伝導基板の銅箔パターン又はアルミ箔パタ
ーンの長さと巾をコントロールすることにより形成した
導体低抵抗を電流検出抵抗として構成したパワートラン
ジスタ保護装置に関する。
従来の技術 近年、大電力増幅回路の保護装置として、電流検出装置
がさまざまな形で利用されている。
以下に従来の電流検出装置について説明する。第4図
は、従来の電流検出装置の一例を示すものである。第4
図において、1は信号入力端、2はドライブトランジス
タ、3はパワートランジスタ、4は電源端、6は電流検
出トランジスタ、7は出力端、8は高熱伝導基板、12は
セラミックチップ低抵抗である。
以上のように構成された電流検出装置について、以下そ
の動作について説明する。
まず信号入力端1に信号が印加されると、ドライブトラ
ンジスタ2と、パワートランジスタ3で電流増幅された
信号が出力端7に出力され、出力端7とグランドに接続
された負荷に電力を供給することができる。そこで負荷
が異常に低インピーダンスになったとき、あるいは出力
端が短絡された場合、異常に大きな電流が、パワートラ
ンジスタ3や、セラミックチップ低抵抗12上を流れる。
このときセラミックチップ低抵抗12で生じた電圧降下が
電流検出トランジスタ6のしきい値を越えると、電流検
出トランジスタ6がオンし、ドライブトランジスタ2と
パワートランジスタ3は遮断状態となり、異常状態から
も回路の破壊を防ぐことができる。
考案が解決しようとする問題点 しかしながら上記のような構成では、抵抵抗器をチップ
実装あるいは、厚膜、薄膜による低抵抗体を形成しなけ
ればならず、また許容電流が大きい必要がある為、低抵
抗器又は低抵抗体自体も高価で大きなものになり、高熱
伝導基板に占める面積が大きくなり、高密度化が困難で
あるという問題があった。
問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するために本考案のパワートランジス
タ保護装置は、良熱伝導性金属板上に良熱伝送の接着性
絶縁物を介して被覆した銅箔またはアルミ箔をエッチン
グして、配線パターンとともに、長さ及び幅がコントロ
ールされた導体低抵抗パターンを、当該導体低抵抗パタ
ーンの一端が出力端に接続された状態に形成した高熱伝
導基板を構成し、この高熱伝導基板上に、上記導体低抵
抗の他端に接続した出力パワートランジスタ部と、この
出力パワートランジスタ部に流れる電流による上記導体
低抵抗の電圧降下を検出し、異常電流が検出されると上
記出力パワートランジスタを遮断するように作動する電
流検出部とを設けたものである。
作用 高熱伝導基板に形成した銅箔パターン又はアルミ箔パタ
ーンの導体低抵抗を利用することにより、低抵抗器又は
導電性ペースト及びメッキ・蒸着等の低抵抗体を廃止す
ることが可能になり、より高密度が可能になる。また低
抵抗値精度は、主としてパターンのエッチング精度のみ
に依存するため、バラツキの少ない抵抗値を達成するこ
とができる。また抵抗体の接続部は連続したパターンに
て実現できるので、接触抵抗や電流集中の発生がなくな
り安定した品質を得ることができる。
実施例 以下本考案の一実施例のパワートランジスタ保護装置に
ついて、図面を参照しながら説明する。
第1図は本考案の一実施例におけるパワートランジスタ
保護装置を示すものであり、第1図(a)は平面図、
(b)はその回路図である。
図において、1は信号入力端、2はドライブトランジス
タ、3はパワートランジスタ、4は電源端、5は導体低
抵抗、6は電流検出トランジスタ、7は出力端、8は良
熱伝導性金属板よりなる高熱伝導基板であり、以上の構
成のうち、入力端1,電源端4,出力端7及び導体低抵抗5
は配線パターンとともに高熱伝導基板8に形成され、当
該基板8上にトランジスタ2,3,6が設けられた構成とな
っている。なお、(b)図中9は負荷である。
ここで、導体低抵抗5は、良熱伝導性金属板上に良熱伝
導の接着性絶縁物を介して被覆した銅箔またはアルミ箔
をエッチングして、配線パターンとともに、長さ及び幅
がコントロールされた導体低抵抗パターンとして形成さ
れたものであり、当該導体低抵抗の一端は出力端7に接
続し、他端はパワートランジスタ3のエミッタに接続さ
れている。
以上のように構成されたパワートランジスタ保護装置に
ついて、以下その動作を説明する。
まず信号入力端1に信号が印加されると、ドライブトラ
ンジスタ2と、パワートランジスタ3で電流増幅された
信号が出力端7に出力され、出力端7とグランドに接続
された負荷9に電力を供給することができる。そこで負
荷9が異常に低インピーダンスになったとき、あるい
は、出力端が短絡された場合、異常に大きな電流がパワ
ートランジスタ3や、導体低抵抗5を流れる。このとき
導体低抵抗5で生じた電圧降下が電流検出トランジスタ
6のしきい値を越えると、電流検出トランジスタ6がオ
ンし、ドライブトランジスタ2とパワートランジスタ3
は遮断状態となる。このとき導体低抵抗5がパワートラ
ンジスタ3の供給電流に耐え得る以上の導体巾を有して
おれば、回路が破壊されることがない。
第2図は本考案の第2の実施例のパワートランジスタ保
護装置の平面図である。第2図のうち、5は無誘導型導
体低抵抗であり、それ以外は第1図と同一である。無誘
導型導体低抵抗5は導体抵抗値を大きく設定する場合、
抵抗長が長くなりそれに伴いインダクタンスが増大す
る。そこでいわゆる無誘導型パターンにして抵抗長にて
発生する磁界を各成分にて互いにキャンセルすることに
より、極めてインダクタンスの小さい理想的な低抵抗を
実現することができる。
第3図は本考案の第3の実施例のパワートランジスタ保
護装置の回路構成を示す。第3図において、1は信号入
力端、2はドライブトランジスタ、3は、パワートラン
ジスタ、4は電源端、5は導体低抵抗、6は電流検出ト
ランジスタ、7は出力端、9は負荷、10,11は導体低抵
抗5と負荷9とで構成されるブリッジ回路のそれぞれ第
1の抵抗と第2の抵抗である。
以上のように構成されたパワートランジスタ保護装置に
ついてその動作を説明する。
まず信号入力端1に信号が印加されると、ドライブトラ
ンジスタ2とパワートランジスタ3で電流増幅された信
号が出力端7に出力され、出力端7とグランドに接続さ
れた負荷9に電力を供給することができる。異常時に電
流検出トランジスタが動作する条件は、ブリッジ検出条
件で決定される。すなわち負荷9の抵抗値が、ブリッジ
回路の第1の抵抗値R10と第2の抵抗値R11との比に導体
低抵抗5の抵抗値R5を掛け合わせた抵抗値以下にならな
いと動作しない。すなわち 上記の式が負荷インピーダンス拘束条件となる。
(1)式をみたす負荷に対し、パワートランジスタ3の
供給電流により導体低抵抗5で発生した電圧降下が電流
検出トランジスタ6のしきい値を越えると、電流検出ト
ランジスタ6はオンし、ドライブトランジスタ2とパワ
ートランジスタ3は遮断状態となり、回路の破壊を防ぐ
ことができる。
なお、第1の実施例において、ドライブトランジスタ,
パワートランジスタや電流検出トランジスタをNPNトラ
ンジスタで構成したが、PNPトランジスタで構成しても
よい。
考案の効果 以上のように、本考案パワートランジスタ保護装置は、
良熱伝導性金属板上に良熱伝導の接着性絶縁物を介して
被覆した銅箔またはアルミ箔をエッチングして、配線パ
ターンとともに、長さ及び幅がコントロールされた導体
低抵抗パターンを、当該導体低抵抗パターンの一端が出
力端に接続された状態に形成した高熱伝導基板を構成
し、この高熱伝導基板上に、上記導体低抵抗の他端に接
続した出力パワートランジスタ部と、この出力パワート
ランジスタ部に流れる電流による上記導体低抵抗の電圧
降下を検出し、異常電流が検出されると上記出力パワー
トランジスタを遮断するように作動する電流検出部とを
設けたものであり、導体低抵抗を電流検出抵抗として使
用することにより、配線パターンとともに形成でき、安
価であり、かつ精度もよく、品質の安定性をも達成でき
うるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)は本考案の第1の実施例におけるパワート
ランジスタ保護装置の平面図、第1図(b)は第1図
(a)の回路構成図、第2図は本考案の第2の実施例に
おける電流検出装置の平面図、第3図は本考案の第3の
実施例におけるパワートランジスタ保護装置の回路構成
図、第4図は従来の電流検出装置の平面図である。 1……信号入力端、2……ドライブトランジスタ、3…
…パワートランジスタ、4……電源端、5……導体低抵
抗、7……出力端、8……高熱伝導基板、9……負荷、
10……ブリッジ回路の第1の抵抗、11……ブリッジ回路
の第2の抵抗。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 高見 友和 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)考案者 山根 和洋 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (56)参考文献 実開 昭52−40770(JP,U) 実開 昭54−147648(JP,U) 電子材料編集部編「最新プリント配線板 技術」4版(1985−1−10)(株)工業調 査会PP.48−51

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】良熱伝導性金属板上に良熱伝導の接着性絶
    縁物を介して被覆した銅箔またはアルミ箔をエッチング
    して、配線パターンとともに、長さ及び幅がコントロー
    ルされた導体低抵抗パターンを、当該導体低抵抗パター
    ンの一端が出力端に接続された状態に形成した高熱伝導
    基板を構成し、 この高熱伝導基板上に、上記導体低抵抗の他端に接続し
    た出力パワートランジスタ部と、この出力パワートラン
    ジスタ部に流れる電流による上記導体低抵抗の電圧降下
    を検出し、異常電流が検出されると上記出力パワートラ
    ンジスタを遮断するように作動する電流検出部とを設け
    たことを特徴とするパワートランジスタ保護装置。
JP1985078671U 1985-05-27 1985-05-27 パワートランジスタ保護装置 Expired - Lifetime JPH0755502Y2 (ja)

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JP1985078671U JPH0755502Y2 (ja) 1985-05-27 1985-05-27 パワートランジスタ保護装置

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JP1985078671U JPH0755502Y2 (ja) 1985-05-27 1985-05-27 パワートランジスタ保護装置

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Publication Number Publication Date
JPS61193379U JPS61193379U (ja) 1986-12-02
JPH0755502Y2 true JPH0755502Y2 (ja) 1995-12-20

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ID=30622860

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JP1985078671U Expired - Lifetime JPH0755502Y2 (ja) 1985-05-27 1985-05-27 パワートランジスタ保護装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003232814A (ja) * 2002-02-06 2003-08-22 Toshiba Corp 電流検出装置及びインバータ用電流検出装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5240770U (ja) * 1975-09-17 1977-03-23
JPS54147648U (ja) * 1978-04-06 1979-10-13

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
電子材料編集部編「最新プリント配線板技術」4版(1985−1−10)(株)工業調査会PP.48−51

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JPS61193379U (ja) 1986-12-02

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