JPH07504787A - フラット回路ユニットの機能調整装置および方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 フラット回路ユニットの機能調整装置および方法本発明は、請求項１および請求 項７の上位概念記載のフラット回路ユニットの機能調整装置および方法に関する 。

フラット回路ユニット、例えばプリント配線板の製造の際に、まず、単純なフラ ット回路ユニット上に、導体路パターンが形成される。それに続く実装過程にお いて、導体路パターンの前以て決められた実装点に、例えば抵抗、コンデンサ、 集積回路等のような電子素子が取り付けられる。

このようにして形成されたフラット回路ユニットは、例えばパーソナルコンピュ ータ、電話機、画像および／または音響受信機などのような多数の電気装置にお いて使用される。その際この種のフラット回路ユニットを相応の電気装置に使用 するのは、専ら既存の回路、すなわち導体路パターンおよび電子素子に従ってい るフラット回路ユニットが相応の装置に使用される前に、フラット回路ユニット はさらに品質検査が行われる。その際品質検査は、出来るだけ簡単な取り扱いを 保証するために、間断なく続けられる検査ライン、所謂インラインの検査ライン において行われる。この品賀検査では、製造ラインから到来する、その上に取り 付けられている電子素子を備えたフラット回路ユニットが例えば回路検査され（ インサーキット試験）、機能検査されかつ調整される。

ヨーロッパ特許出願公開第０２２９４８６号公報および特開平３−２１９６８８ 号公報、英文抄録、Ｅ−１１４７，１９９１年１２月１８日、Ｖｏｌ、１５゜Ｎ ｏ、５０２からそれぞれ、調整を行う調整装置がカメラを用いてめられた位置座 標に従ってこの調整のために位置決めされる、フラット回路ユニットに対する自 動調整装置が公知である。

電子素子を備えたフラット回路ユニットの機能調整のために、印刷物“ｃｌｅｋ ｌ＋ｏ−ｘｎｘｅｉｇｅｒ：第４５回年報・Ｎｏ、５．１９９２年５月９日、第 ８４頁および第８５頁”によれば、検流計光学系を有する卓上レーザトリマーが 使用される。このレーザトリムシステムは、機能調整のために、位置決め装置を 有しており、この位置決め装置は、電子素子をフラット回路ユニット上に、例え ば抵抗、電荷等のような素子固有の物理的な回路機能変数、例えば電圧、電流、 周波数等のような回路機能の走査および変化のために、レーザの放出光ビームに おいて位置決めする。レーザトリムシステムはさらに、回路機能値を測定し、こ れらを前身て決められた調整値と比較しかつ循環的な調整プロシージャを制御す るためにレーザ並びに位置決め装置に接続さ特表平７−５０４７８７　（３） れている測定／評価装置を有している。ｐ＋整プロシージャのそれぞれのサイク ルにおいて、走査された電子素子は素子固有の物理的な回路機能変数の変化のた めに、レーザによって加工処理されかつ回路機能変数の一炭化から生じた回路機 能値が測定されかつ調整値と比較される。

本発明の課題は、フラット回路ユニットに取り付けられている電子素子が簡単に 自動的に機能調整されるように、フラット回路ユニットの機能調整装置および方 法を構成することもしくは提供することである。

この課題は、１つには、請求項１の上位概念に記載の装置から出発して、請求項 １の特徴部分に記載の構成によって解決されかつ１つには、請求項７の上位概念 に記載の方法から出発して、請求項７の特徴部分に記載の構成によって解決され る。

本発明の解決法によって、例えば電圧、電流、周波数等のような回路機能の調整 の際のフラット回路ユニットの取り扱いが改善される。

その際走査および加工処理装置はレーザとして構成されており、レーザを用いて 機能調整のために例えば抵抗の抵抗値を光カッティングによって変化可能である （素子固有の回路変数の非可逆的な変化）。

これに対して選択的に、レーザを用いてフラット回路ユニットの電子素子の位置 座標をめかつ加工処理および調整装置に転送することもできる。したがって、位 置座標の、加工処理および調整装置へのこの転送によって、素子固有の回路変数 に関連して可逆的に変化可能である、フラット回路ユニットの素子も機能調整可 能である。

その際加工処理および調整装置を１機能調整のために、例えば可変コンデンサの 容量およびポテンショメータの抵抗を変化可能である（素子固有の回路変数の可 逆的な変化）ねじ凹しとすることができる。

本発明の有利な実施例はその他の請求項に記載されている。

次に本発明の実施例を第１図ないし第３図を用いて詳細に説明する。その際 第１図は、搬送系に沿って設けられた複数の検査ステーションを有する検査装置 の概略図であり、第２図は、フラット回路ユニットの機能調整のためのレーザト リムシステムないし調整ステーションの概略図であり、 第３図は、フラット回路ユニットの機能調整のためのシーケンスを示すフローチ ャートの図である。

第１図には電気機械検査装置１が示されており、この電気機械検査装置によって 、製造ラインから到来するフラット回路ユニット１０を搬送ベルト１４に沿った 種々の検査ステーション１１，１２．１３においてインライン検査ラインで機能 検査される。図示の検査装置１において、フラット回路ユニット１０は、それら が製造ラインから到来するとき、まずマガジン１５に装填される。マガジン１５ に装填されたフラット回路ユニットをさらに搬送するために、マガジン１５は搬 送ベルト１４に連結されている。２つの転向ローラ１６の間を走行する搬送ベル ト１４は、駆動装置１７によって駆動される。この駆動装置は、搬送ベルト１４ の運動方向（順方向および逆方向）の制御のために制御部１８に連結されている 。搬送ベルト１４が駆動装置１７および制御部１８によって順方向（搬送ベルト １４上に記されている矢印）に運動するとき、マガジン１５に装填されているフ ラット回路ユニット１０はまず、検査ステーション１１に搬送される。この検査 ステーション１１では、フラット回路ユニット１０に配置されている電子素子が 接触ないし接続されているかどうかが検査される（インサーキット試験＝ＩＣＴ ）。このＩＣＴ検査において、このフラット回路ユニット１０に欠陥があること が検出されると、欠陥のあるフラット回路ユニット１０は２つの欠陥探索／修理 場所１９．２０に供給される。しかしＩＣＴ検査が欠陥なしに経過すると、フラ ット回路ユニット１０は次の検査ステーション１２にさらに搬送される。

検査ステーション１２は、フラット回路ユニット１０が、それらが最終的に機能 調整のために検査ステーション１３に引き続き搬送される前に、機能について検 査される場所である。ＩＣＴ検査の場合と同様にこの機能検査においてフラット 回路ユニット１０に欠陥があることが検出されると、この欠陥のあるフラット回 路ユニット１０は、欠陥探索／修理場所１９．２０かまたは検査装置１の別の欠 陥探索／修理場所２１゜２２．２３に搬送される。その際これらの欠陥探索／修 理場所２１，２２．２３は、検査ステーシラン１３において誤って機能調整され たようなフラット回路ユニット１０のためにも設けられている。

行うべき機能調整のために以下に調整ステーションまたはレーザトリムシステム （レーザによる微調整装置）とも称する検査ステージ３ン１３がどのように構成 されているかは第２図に示されている。

検査装置１の検査ステーション１１，１２．１３をなんらの欠陥もなしに通過し たフラット回路ユニット１０は、それらが今度は別の処理過程、例えば電気装置 （例えば電話装置）への組み込みのために別のマガジン２５に一時収容される前 に、スタンプステーション２４に搬送される。

図２には、搬送ベルト１４上を搬送されるフラット回路ユニット１０の機能調整 のための調整ステーションまたはレーザトリムシステム１３が示されている。

このために調整ステーション１３は、レーザ１３０および搬送ベルト１４上を搬 送されるフラット回路ユニット１０に対する受容部１３１を有しており、これら は、第３図に示されているフラット回路ユニット１０の機能調整の際のシーケン スを制御するために、測定／評価装置１３２．受容部１３】に対する制御装置１ ３３および調整装置１３４に接続されている。

フラット回路ユニット１０の機能調整の際のシーケンスは、受容部１３１に存在 するフラット回路ユニット１０を、レーザ１３０によって放射される光ビームの 下に予め位置決めすることによって始まる。その際事前位置整定は、搬送ベルト １４によって搬送されるフラット回路ユニット１０が収容される、受容部１３１ に配属されているＸ−Ｙテーブルを用いて行われる。

その際Ｘ−Ｙテーブルは、前以て決められた位置データに基づいて制御装置１３ ３によって制御される。電子素子がＸ−Ｙテーブルおよび制御装置１３３によっ てレーザ１３０の光ビーム下に事前位置整定された後、電子素子の正確な位置（ 位置座標）がレーザ１３０によって走査される。素子位置のこの走査後、走査さ れた電子素子は測定／評価装置１３２に接続される。この接続は、常時測定／評 価装置１３２に接続されているコンタクトモジュールを、電子素子を備えたフラ ット回路ユニット１０の裏面（はんだ付は側）と接触接続することによって形成 される。それから測定／評価装置１３２を走査された電子素子に接続することに よって、素子の機能調整を行うことができる。このことは、測定された回路機能 値と前以て決められた調整値とが一致するまで電子素子が機能調整される循環的 な調整プロシージャによって行われる。その際調整プロシージャのそれぞれのサ イクルにおいて、走査された素子が、例えば抵抗、電荷等のような素子固有の回 路変数の変化、例えば電圧、電流、周波数等のような回路機能の変化のために加 工処理されかつ回路変数の変化から生じた回路機能値が測定されかつ調整値と比 較される。素子固有の回路変数を変化するための素子の処理は、レーザ１３０に よって直接、並びに調整装置１３４を介して間接的に行うことができる。この場 合電子素子の間接的な処理は殊に、電子素子が、例えば可変コンデンサまたはポ テンショメータのような可逆調整可能な素子の時に使用される。可逆的に調整可 能な素子のこの間接的な処理では、レーザ１３０からのレーザビーム走査によっ てめられた、例えば可変コンデンサ、ポテンショメータの位置座標が調整装置１ ３４に転送され、調整装置はこの座標に基づいて、素子は、素子固有の回路変数 を変化するために相応に自動的に調整される。

可変コンデンサ、ポテンショメータにおける調整プロシージャのために、調整装 置１３４として例えばねじ回しを用いることができる。しかし調整装置１３４は 、別の可逆的に調整可能な電子素子のためにマルチ機能をもったものでもよい。

ＩＧ　１ 手続補正書 平成　６年１２月２８日

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. １．受容部（１３１）に置かれているフラット回路ユニット（１０）の電子素子 の前以て決められた位置データに基づいて該素子を走査のために予め位置決めす る位置決め装置（１３１，１３３）と、前記電子素子の座標位置を走査によって 求める走査装置（１３０）と、 前記受容部（１３１）に置かれているフラット回路ユニット（１０）の回路機能 測定を実施する測定／評価装置（１３２）と、 前記回路機能測定に依存して前記電子素子を前記回路機能の素子固有の回路変数 を変化するために加工処理する加工処理装置（１３０，１３４）とを備えたフラ ット回路ユニットの機能調整装置において、 前記加工処理装置（１３０）は、レーザとして形成されている ことを特徴とするフラット回路ユニットの機能調整装置。
2. ２．前記電子素子の走査も加工処理も行う唯一のレーザが設けられている 請求項１記載のフラット回路ユニットの機能調整装置。
3. ３．ａ）前記走査装置（１３０）は、素子固有の回路変数に関して可逆的に変化 可能な別の電子素子の位置座標を求めるレーザとして形成されておりかつｂ）前 記求められた座標位置を用いて前記素子における調整プロシージャによって素子 固有の回路変数。 を変化する調整装置（１３４）が設けられている請求項１記載のフラット回路ユ ニットの機能調整装置。
4. ４．前記素子固有の回路変数に関して可逆的に変化可能な電子素子は、可変コン デンサおよび／またはポテンショメータとして形成されている 請求項３記載のフラット回路ユニットの機能調整装置。
5. ５．前記調整装置（１３４）は、ねじ回しである請求項４記載のフラット回路ユ ニットの機能調整装置。
6. ６．前記フラット回路ユニット（１０）は、電話機用の高周波回路を含んでいる 請求項１から５までのいずれか１項記載のフラット回路ユニットの機能調整装置 。
7. ７．フラット回路ユニット（１０）の電子素子を走査のために予め位置調整し、 走査によって、前記電子素子の位置座標を求め、前記フラット回路ユニットにお ける回路機能測定を実施しかつ 前記回路機能測定に依存して、前記電子素子を、前記回路機能の素子固有の回路 変数の変化のために加工処理する フラット回路ユニットの機能調整方法において、前記電子素子の位置座標の検出 と、前記回路機能測定に依存して前記回路機能の素子固有の回路変数を度化する ための前記電子素子の加工処理とを、レーザを用いて行う ことを特徴とするフラット回路ユニットの機能調整方法。
8. ８．前記電子素子の位置座標の検出と、前記回路機能測定に依存して前記回路機 能の素子固有の回路度数を変化するための前記電子素子の加工処理とを、唯一の レーザで行う 請求項７記載のフラット回路ユニットの機能調整方法。
9. ９．前記レーザは、素子固有の回路変数に関して可逆的に変化可能な別の電子素 子の位置座標を求めかつ調整装置（１３４）が前記求められた座標位置に基づい て前記素子における調整プロシージャによって素子固有の回路変数を変化する 請求項７記載のフラット回路ユニットの機能調整方法。