JPH0724851Y2 - 画像読取り装置 - Google Patents

画像読取り装置

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JPH0724851Y2
JPH0724851Y2 JP1989056322U JP5632289U JPH0724851Y2 JP H0724851 Y2 JPH0724851 Y2 JP H0724851Y2 JP 1989056322 U JP1989056322 U JP 1989056322U JP 5632289 U JP5632289 U JP 5632289U JP H0724851 Y2 JPH0724851 Y2 JP H0724851Y2
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JP
Japan
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light
light source
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sensor
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JP1989056322U
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一裕 鈴木
弘幸 大槻
潔 橋爪
一広 田崎
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Fujifilm Business Innovation Corp
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Fuji Xerox Co Ltd
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、ファクシミリ装置,ディジタルコピア,イメ
ージスキャナ等に用いる画像読取り装置に関する。
〔従来の技術〕
原稿の画像形成面に照明光を与え、その照明光による画
像形成面からの反射光をイメージセンサに結像すること
により、原稿の画像形成面の画像を読取る画像読取り装
置では、光源の汚れや発光光量の経年変化によって適正
な読取り画像が得られなくなることがある。
そこで、特開昭62-133860号に提案されているように、
イメージセンサの一部を光源の発光光量の検出部として
用い、この検出部で検出した光源の発光光量が所定のも
のになるように発光光量をフィードバック制御するもの
がある。
また、特開昭62-32764号に提案されているように、読取
り開始に当って基準となる白画像を読取り、この白画像
の白レベルが設定レベルになるように発光光量を制御す
るものがある。
〔考案が解決しようとする課題〕
しかし、特開昭62-133860号で示された装置では、イメ
ージセンサを原稿画像の読取り範囲よりも大きくしなけ
ればならないため、イメージセンサが高価になり、ひい
ては装置のコストアップの原因となる問題がある。
一方、特開昭62-32764号で示されている装置では、1枚
の原稿の読取り動作の途中で温度変化などの原因で光源
の発光光量が変化したとしても、これを適正光量にリア
ルタイムで制御することができず、結果として1枚の原
稿画像を均一な濃度で読取れないという問題がある。ま
た、基準となる白画像として原稿の地色を利用している
ため、写真などの階調性のある原稿を読取ることはでき
ないという問題がある。
本発明の目的は、安価な構成で、しかも階調性のある原
稿画像であっても均一な濃度で読取ることができる画像
読取り装置を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するため本考案は、原稿を光源により照
射し、該原稿からの反射光をラインイメージセンサによ
り読取る画像読取り装置において、前記光源の発光光量
を検出する光量センサと、前記ラインイメージセンサが
基準白色面を読取っている状態において該ラインイメー
ジセンサの各ビットの読取り出力が所定の値を越えたビ
ット数を計数し、該計数値が予め設定された値の範囲に
なるように前記光源の発光光量を適正化する光源適正化
手段と、前記光源適正化手段により前記光源の発光光量
が適正化された状態における前記光量センサの検出値を
記憶する不揮発メモリと、前記ラインイメージセンサに
よる原稿の読取り中において前記光量センサの検出値が
前記不揮発メモリに記憶された値の許容範囲になるよう
に前記光源の発光光量を制御する光源制御手段とを具備
することを特徴とする。
〔作用〕
本考案によれば、ラインイメージセンサが基準白色面を
読取っている状態において該ラインイメージセンサの各
ビットの読取り出力が所定の値を越えたビット数を計数
し、該計数値が予め設定された値の範囲になるように光
源適正化手段により光源の発光光量を適正化する。そし
て、該光源適正化手段により光源の発光光量が適正化さ
れた状態における光量センサの検出値を不揮発メモリに
記憶し、ラインイメージセンサによる原稿の読取り中に
おいては、光量センサの検出値が不揮発メモリに記憶さ
れた値の許容範囲になるように光源制御手段により光源
の発光光量を制御する。
〔実施例〕
第1図は本考案の一実施例を示すブロック図である。同
図において、1a,1bはプラテンガラス2を介して原稿3
の画像形成面に照明光を与える光源であり、原稿3の画
像形成面から反射した光はセルフォックレンズアレイ等
の結像光学系4によりイメージセンサ5の受光面に結像
される。6は表面が白色のプラテンローラであり、この
プラテンローラ6は原稿2をプラテンガラス2の面に密
着させ、結像のぼけを防ぐためのものである。7は光源
1a,1bの発光光量をシールド部材8の一部に設けられた
穴9からの漏洩光によって検出する光量センサであり、
その検出信号はAD変換器10によってディジタル値に変換
されて中央処理装置(CPU)12に入力される。11は適正
読取り状態において光量センサ7で検出した発光光量の
値を記憶する不揮発性メモリ、13は光源1a,1bを駆動す
るランプコントローラ、14は操作パネル、15はイメージ
センサ5の出力をディジタル値に変換するAD変換器、16
は原稿画像の主走査方向の読取りデータを1ライン分だ
け記憶するラインメモリであり、このラインメモリ16の
読取りデータは画像処理部17でシェーディング補正等を
施されて外部に出力される。また、ラインメモリ16の読
取りデータは次段のラインメモリ18を介してCPU12に入
力される。
以上の構成において、まず、光量を適正な読取り状態の
光量に設定する動作について説明する。
まず、操作パネル14からCPU12に命令を入力し、CPU12に
適正読取り状態とするための処理を開始させる。する
と、ランプコントローラ13に制御信号が入力され、光源
1a,1bが点灯される。そこで、CPU12は光源1a,1bの現在
の発光状態において原稿3を挿入していない時の白色プ
ラテンローラ6からの反射光をイメージセンサ5、AD変
換器15、ラインメモリ16,18を介して読込む。そして、
主走査方向の1ラインにおける各画素の濃度レベルを予
め定めた閾値と比較し、その閾値を越える濃度レベルを
持つ画素数を計数する。次に、この計数値が予め定めた
設定値を越えていれば、設定値との差に対応する分だけ
光源1a,1bの発光光量をランプコントローラ13を介して
下げる。逆に、設定値未満の場合には設定値との差の分
だけ発光光量を上げる。このような動作の繰返しによ
り、閾値を越える濃度レベルを持つ画素数が設定値の許
容範囲内になったならば、適正読取り状態となったもの
と判定し、次にこの状態での発光光量の検出処理に移
る。
この検出処理は、光量センサ7で検出され、かつAD変換
器10でディジタル値に変換された光源1a,1bの発光光量
(穴9から漏洩光の光量)を読込み、不揮発性メモリ11
に書込むことにより終了する。
このような適正光量の設定処理は、装置の工場出荷時、
または光源1a,1bの交換時に実施する。
このようにして適性光量に設定した後、実際に原稿3の
画像を読取る際は、CPU12は読取り開始と共に光量セン
サ7で検出した現在の発光光量の値をAD変換器10を介し
てリアルタイムで読込み、その値が不揮発性メモリ11に
書込んでおいた適正光量の値の許容範囲内になるよう
に、光源1a,1bの発光光量をランプコントローラ13を介
してフィードバック制御する。
従って、この構成によれば、イメージセンサ5を原稿画
像の読取り幅よりも大きくすることは不要となり、イメ
ージセンサ5のコストアップを解消することができる。
また、原稿画像の読取り動作中に発光光量をリアルタイ
ムでフィードバック制御するため、温度変化等によって
発光光量が変化しても均一な濃度の読取り画像を得るこ
とができたうえ、写真などの階調性のある原稿画像も読
取ることができる。従来技術の例では白色プラテンが汚
れた場合に影響を受けるが、本発明では工場出荷時ある
いは白色プラテン清掃時に適性光量を設定できるので、
その後プラテンが汚れても光量コントロール値は変化し
ない。光量センサは白色プラテンの汚れに影響されない
ランプからの直接光だけを検出している。
なお、適正光量に設定する場合に、白色プラテンローラ
6からの反射光濃度が閾値を越えた画素数を計数し、こ
の計数値と設定値との比較によって適正光量状態になっ
たか否かを判定しているが、これは例えば、アモルファ
スシリコンを用いた密着形イメージセンサでは各画素間
の感度のばらつきが平均値に対して30%程度もあり、特
定の画素の濃度レベルのみでは高精度の適性光量状態と
することができないためである。
ところで、上記実施例においては光源1a,1bの発光光量
を穴9からの漏洩光によって検出しているが、シールド
部材8の内部空間において直接検出する構成にすること
もできる。また、縮小光学系等を備えたものについても
同様に適用することができる。
〔考案の効果〕
以上説明したように本考案によれば、ラインイメージセ
ンサが基準白色面を読取っている状態において該ライン
イメージセンサの各ビットの読取り出力が所定の値を越
えたビット数を計数し、該計数値が予め設定された値の
範囲になるように光源適正化手段により光源の発光光量
を適正化し、該光源適正化手段により光源の発光光量が
適正化された状態における光量センサの検出値を不揮発
メモリに記憶し、ラインイメージセンサによる原稿の読
取り中においては、光量センサの検出値が不揮発メモリ
に記憶された値の許容範囲になるように光源制御手段に
より光源の発光光量を制御するように構成したので、 1)光源の発光光量をラインイメージセンサから最適な
信号が得られる状態に容易に適正化できる 2)原稿の読取り途中において光源の発光光量が変化し
ても光源の発光光量を上記ラインイメージセンサから最
適な信号が得られる状態にリアルタイムで制御できる 等の効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例を示すブロック図である。 1a,1b……光源、2……プラテンガラス、3……原稿、
4……結像光学系、5……イメージセンサ、6……白色
プラテンローラ、7……光量センサ、9……穴、10,15
……AD変換器、11……不揮発性メモリ、12……中央処理
装置、13……ランプコントローラ、14……操作パネル、
16,18……ラインメモリ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 田崎 一広 埼玉県岩槻市大字岩槻1275番地 富士ゼロ ックス株式会社岩槻事業所内 (56)参考文献 特開 昭62−68362(JP,A) 特開 昭62−279777(JP,A)

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】原稿を光源により照射し、該原稿からの反
    射光をラインイメージセンサにより読取る画像読取り装
    置において、 前記光源の発光光量を検出する光量センサと、 前記ラインイメージセンサが基準白色面を読取っている
    状態において該ラインイメージセンサの各ビットの読取
    り出力が所定の値を越えたビット数を計数し、該計数値
    が予め設定された値の範囲になるように前記光源の発光
    光量を適正化する光源適正化手段と、 前記光源適正化手段により前記光源の発光光量が適正化
    された状態における前記光量センサの検出値を記憶する
    不揮発メモリと、 前記ラインイメージセンサによる原稿の読取り中におい
    て前記光量センサの検出値が前記不揮発メモリの記憶さ
    れた値の許容範囲になるように前記光源の発光光量を制
    御する光源制御手段と を具備することを特徴とする原稿読取り装置。
JP1989056322U 1989-05-16 1989-05-16 画像読取り装置 Expired - Lifetime JPH0724851Y2 (ja)

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JPH02147965U JPH02147965U (ja) 1990-12-17
JPH0724851Y2 true JPH0724851Y2 (ja) 1995-06-05

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JPS6268362A (ja) * 1985-09-20 1987-03-28 Fuji Xerox Co Ltd 蛍光管を用いた光源装置
JPS62279777A (ja) * 1986-05-28 1987-12-04 Nec Corp フアクシミリ装置

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