JPH0723266U - 試験片搬送装置 - Google Patents

試験片搬送装置

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JPH0723266U
JPH0723266U JP5250793U JP5250793U JPH0723266U JP H0723266 U JPH0723266 U JP H0723266U JP 5250793 U JP5250793 U JP 5250793U JP 5250793 U JP5250793 U JP 5250793U JP H0723266 U JPH0723266 U JP H0723266U
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 試験片を方向転換する必要がなく、構造簡略
にして安価であり、搬送を円滑にする試験片搬送装置を
提供する。 【構成】 この考案の試験片搬送装置は、搬送機構に搬
送量を計測する搬送量計測機構を設置するとともに搬送
行程の途中に試験片の寸法を測定する位置を設置し、前
記供給部位置から寸法測定位置までの試験片搬送量計測
値から試験片の幅または厚さの寸法を測定するようにし
たもの。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
この考案は、試験片を供給部位置から試験位置に搬送する装置に係り、特に試 験片をその一方側から押し出す方式で供給部位置から試験位置に自動的に搬送す る装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
この種の搬送装置は、試験片を供給部位置から試験位置に自動的に搬送、また 試験を自動的に行ういわゆる自動試験機の一環として開発されているが、例えば 一定の形に形成された試験片を自動的に曲げ試験する場合、マガジンなどの収納 部に収納された試験片をその最下部から一枚ずつ押し出して曲げ試験位置に搬送 する搬送装置が提供されている。
【0003】 この場合自動試験である関係から、搬送工程の途中で試験片の厚さや幅などの 寸法測定を行うようになっているが、従来の装置においては、この試験片の寸法 測定には幅測定器と厚さ測定器の2個が併設されていた。しかも、幅と厚さはた がいにその測定方向が90度異なるから、それぞれの測定器の測定方向を変えて 設置している。測定器の測定方向を同一にする方式では、搬送する試験片をこの 両測定器の間で方向転換する機構が設置される。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】
測定器の測定方向を変えて設置する場合は測定器が2個必要であり、装置の大 型化は避けられない。また試験片を方向転換する方式ではその転換機構が必要で 搬送装置が複雑にしてかつ故障が発生しやすい。メンテナンス上も種々の問題が あった。
【0005】 この考案は、上述の問題点を解決する試験片搬送装置を提供するものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
この考案が提供する試験片搬送装置は、試験片をその一方側から押し出す方式 で供給部位置から試験位置に搬送する装置において、搬送機構に搬送量を計測す る搬送量計測機構を設置するとともに搬送行程の途中に試験片の寸法を測定する 位置を設置し、前記供給部位置から寸法測定位置までの試験片搬送量計測値から 試験片の幅または厚さの寸法を測定するようにしたものである。例えば試験片搬 送量計測値から試験片の幅を測定するようにする場合は厚さ測定器のみを設置す ることになる。
【0007】
【作用】
この考案が提供する試験片搬送装置によれば、搬送機構そのものが試験片の幅 または厚さの寸法を測定することになり、いずれか一方の測定器の設置が省略で きる。
【0008】
【実施例】
以下、この考案を図面に示す実施例にしたがって説明する。 この考案が提供する試験片搬送装置の構成は、図1に示すとおりである。図1 は、自動曲げ試験機にあける試験片搬送装置の外観を斜視的に示している。試験 片1は所定の位置に設置された収納容器すなわちマガジン2に上下方向に積み重 ねられて収納されている。このマガジン2は底が開口していて最下位の試験片1 は並設された案内杆14,14の上面に乗載された形となる。そしてこの最下位 の試験片1が、左方から移動してくる試験片押出し治具13によって右方へと押 出される。左方へ復帰した試験片押出し治具13がマガジン2の後方へ移動する と、マガジン2内の最下位の試験片が降下して再び案内杆14,14の上面に乗 載される。このようにして、マガジン2に積み重ね収納された試験片1は順次し 下方に送り出され(落下され)、搬送に対して供給されることになる。
【0009】 試験片押出し治具13は、その上面が並設された案内杆14,14の上面より 試験片1の厚さ程度上面に設定されており、かつこの治具13は、その上面がこ の治具13の上面に一致するように設定された可動体12の右方先端部に一体的 に付設されている。他方、並設された案内杆14,14間には、これらと平行に ボールネジ桿8が両支持具10,11にて回転可能に設置されている。前記可動 体12はこのボールネジ桿8に螺合しており、ボールネジ桿8に対するナットし て機能し、ボールネジ桿8の回転駆動により左右に移動する。またこのボールネ ジ桿8の左方端には支持具10との間にロータリエンコーダ9が介設されていて 、前記可動体12すなわち試験片押出し治具13の移動量が計測される。このロ ータリエンコーダ9は、たとえば100分の1ミリ単位で移動量を計測できるも のである。ボールネジ桿8の回転駆動は電動機3によって行われるが、電動機3 の出力軸はスリップ機構4を介してプーリ5に伝達され、さらにベルト6を介し てプーリ7が回転されることによる。スリップ機構4の介在は、ボールネジ桿8 への回転伝達力を一定値以下に制限するためである。このようにして、ボールネ ジ桿8は回転駆動され、それが可動体12にて直線運動に変換されて試験片押出 し治具13の左右移動となる。
【0010】 試験片押出し治具13の右方移動によって送り出された試験片1は、支持台2 4が設置されている曲げ試験位置に至るまでに寸法測定が行われるが、そのため に搬送行程の途中に2個の昇降枠20,22が設置されている。昇降枠20は昇 降機構21によって上下動するもので、先端部には試験片押出し治具13の移動 方向にストッパー15が突設されている。そして試験片1が左方から搬送されて くるとき、案内杆14,14間でその上面部位置にストッパー15が位置される よう昇降枠20が昇降機構21によって下動する。試験片1がストッパー15に 当接するとスリップ機構4が作動して電動機3の回転出力はボールネジ桿8への 伝達が絶たれる。この操作で試験片1の幅寸法が測定されるが、つぎに昇降枠2 0が昇降機構21によって昇動する。すると、ボールネジ桿8は回転駆動が再開 され試験片1は試験片押出し治具13にて右方に移動される。そして厚さ測定位 置にある上下スピンドル16,17の位置にて搬送が停止される。上スピンドル 16は昇降機構23によって昇降する昇降枠22に設置されており、他方下スピ ンドル17は昇降台26にて昇降する。この下スピンドル17は、その上端面が 案内杆14,14の上面に一致するよう昇降台26にて調整される。したがって この位置に試験片1が搬送されてきたとき、厚さ測定の下固定面として機能する 。そして上スピンドル16が昇降機構23によって降下し、その下端が試験片1 の上面に当接したときその降下量から試験片1の厚さ寸法が測定される。この寸 法測定は昇降機構23の内部に設置された測定機構(図示せず)にて、例えば1 000分の1ミリ単位で計測される。測定機構の原理としては、差動トランス方 式や磁気スケール方式などのものが採用される。測定が終了した試験片1は、試 験片押出し治具13にてさらに右方に移動され試験位置まで搬送される。試験片 1は両支持台24に両持ち(スパン)状態で支持される。そして上方からのポン チ(図1では図示せず)にて曲げ試験が行われるようになっている。なお、試験 が終了すると試験後両支持台24に位置する試験後の試験片は、試験片押出し治 具13がさらに少量右方に移動することによって、両支持台24位置から落下さ れ、落下された試験後の試験片は下方の収納容器(図示せず)に収納されること になる。ボールネジ桿8の長さは、この試験片押出し治具13の少量右方移動が できる程度までに設定されている。その後試験片押出し治具13はボールネジ桿 8の逆回転駆動にて左方に復帰される。19は以上の各搬送機能を駆動し制御す るための駆動装置である。
【0011】 これらの構成においてはつぎの工夫がおこなわれている。たとえば可動体12 の移動方向長さは、試験片1が試験片押出し治具13にて試験位置に搬送された ときにおいても、その後端はマガジン2の底部位置にあるようになっている。そ のことによって可動体12の左右移動が円滑に行われ、試験片押出し治具13に よる1個1個の試験片押出し操作が順序よく行われることになる。また、厚さ測 定には下スピンドル17が必要なことから、ボールネジ桿8の設置と下スピンド ル17の設置が干渉しないよう厚さ測定用スピンドル位置がボールネジ桿8の位 置より偏位している。そのため昇降枠22が昇降枠20より長く設定されている 。そして可動体12の移動にも下スピンドル17が支障とならぬように構成され ている。なお、ロータリエンコーダ9や昇降機構23の内部に設置された測定機 構からの出力信号は駆動装置19に導かれるとともに、電動機3の回転駆動制御 も駆動装置19内の制御機構にて制御される。そして測定された試験片1の寸法 は別途設置された表示装置や記録計(ともに図示せず)にて表示され、あるいは コンピュータ(図示せず)に入力される。
【0012】 さて、以上のような構成において、試験片1の寸法測定順序を図2に示す作動 説明図にしたがって説明する。
【0013】 図から明らかなように、試験片1はマガジンの供給部位置Aから幅測定の測定 位置Bそして厚さ測定の測定位置Cさらに試験位置Dへと順次搬送される。この 場合、試験片押出し治具13が試験片1に当接した位置Aからの試験片押出し治 具13の右方移動量がロータリエンコーダ9で計測される。そして試験片1がス トッパー15(位置B)に当接したまでの移動量(試験片搬送量)L2をロータ リエンコーダ9が計測する。試験片が存在しない場合のこの距離はL1であるか ら、L1−L2=Wで試験片1の幅(W)が計測される。つぎに試験片1は試験 片押出し治具13にて右方に搬送されるが、つぎの厚さ測定位置においては、試 験片1の幅中央位置にスピンドル16,17が位置するよう電動機3の回転駆動 制御が行なわれる。このとき移動量はロータリエンコーダ9で計測されつつ制御 されるが、試験片押出し治具13は距離L4だけ移動される。この移動量L4は ストッパー15(位置B)から厚さ測定位置(C)までの既知距離L3とはつぎ の関係にある。L4=W+L3−1/2W=L3+1/2W。こうして試験片1 の厚さ即ても正確に行なわれる。この寸法測定の後、試験片1は試験位置(D) にてポンチ26による曲げ試験が行なわれる。なお、図2において曲げ試験位置 のみは向きを90度変えて図示している。
【0014】 この考案が提供する試験片搬送装置は以上説明したとおりであるが、上記なら びに図示例に限定されず、種々の変形実施例を包含するものである。まず、試験 機構については曲げ試験機に限定されず、引っ張り試験や圧縮試験など種々の試 験機用に適用可能である。また、図示例では幅測定を試験片の搬送量で計測する 例を示したが、厚さ測定を試験片の搬送量で計測するようにしてもよい。試験片 の供給部をマガジンの例で示したが、1本1本供給する他の供給機構でも、その 搬送量計測の開始地点が明確になる形であれば、供給機構の構成に限定されるも のではない。供給機構としてマガジンを利用する場合でもその形は図示例に限定 されない。また、図示例では搬送量の計測をロータリエンコーダ9にて行う例と したが、試験片押出し治具などの直線移動量を直接的に計測する機構とすること も可能である。試験片の形や大きさによっては、その案内機構も変わり、図示案 内杆の構成に限定されない。幅測定や厚さ測定の具体的機器についても試験片の 形や大きさによって変更される場合があり、図示例には限定されない。スリップ 機構は試験片の寸法測定における挟圧力を一定値にするためのもので、図示例の ような装置においてもプーリでなく、ボールネジ桿8に介在させることができる 。この考案はこれらすべての変形実施例を含む。
【0015】
【考案の効果】
この考案が提供する試験片搬送装置は以上説明したとおりであるから、搬送行 程の途中にて行う試験片寸法測定の機構のうち、幅測定または厚さ測定のいずれ かを省略でき、測定機構を簡略にし試験片の搬送を効率よくして、小型軽量で故 障の少なく、経済的にも安価な搬送装置を提供する。自動化試験機に有効に適用 可能であり、かつその性能向上に有益である。
【図面の簡単な説明】
【図1】この考案による試験片搬送装置の外観を斜視的
に示す図である。
【図2】この考案による試験片搬送装置の作動を説明す
るための図である。
【符号の説明】
1…試験片 2…マガジン 4…スリップ機構 8…ボールネジ桿 9…ロータリエンコーダ 13…試験片押出し治具 14…案内杆 15…ストッパー 16,17…スピンドル 19…駆動装置 20,22…昇降枠 21,23…昇降機構

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】試験片をその一方側から押し出す方式で供
    給部位置から試験位置に搬送する装置において、搬送機
    構に搬送量を計測する搬送量計測機構を設置するととも
    に搬送行程の途中に試験片の寸法を測定する位置を設置
    し、前記供給部位置から寸法測定位置までの試験片搬送
    量計測値から試験片の幅または厚さの寸法を測定するよ
    うにしたことを特徴とする試験片搬送装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006071302A (ja) * 2004-08-31 2006-03-16 Toyo Seiki Seisakusho:Kk 試験片クランプ装置及びこの試験片クランプ装置を備えた試験機
JP2010122084A (ja) * 2008-11-20 2010-06-03 Toyo Seiki Seisakusho:Kk 試験片の高さ測定方法及び装置
JP2020038143A (ja) * 2018-09-05 2020-03-12 株式会社島津製作所 材料試験機
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