JPH0718275U - コンタクトプローブアセンブリ、コンタクトプローブユニット及びコンタクトプローブ - Google Patents
コンタクトプローブアセンブリ、コンタクトプローブユニット及びコンタクトプローブInfo
- Publication number
- JPH0718275U JPH0718275U JP055831U JP5583192U JPH0718275U JP H0718275 U JPH0718275 U JP H0718275U JP 055831 U JP055831 U JP 055831U JP 5583192 U JP5583192 U JP 5583192U JP H0718275 U JPH0718275 U JP H0718275U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact probe
- contact
- fixing block
- wire
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 複数本のコンタクトプローブを集束、ユニッ
ト化し、コンタクトプローブのターミナル側にケーブル
ハーネスを固定、ユニット化することにより、断線等の
トラブルを回避し、その取扱い性を向上させた。 【構成】 複数本のコンタクトプローブ1を集束し、そ
の導線ワイヤー1a裸部とスリーブ1b部分を、各々導
線ワイヤー固定ブロック2とスリーブ固定ブロツク4の
望ましくは千鳥状に穿設された細孔2a、透孔4aに装
着し、その外側にカバー5を取り付け、コンタクトプロ
ーブユニットAとする。コンタクトプローブのターミナ
ル部1Cには、ケーブルハーネル6のワイヤーターミナ
ル6aを固定し、コネクタ6bを介してインターフェイ
スボード7に取り付けてケース8を設け、コネクタケー
ブルユニットBとする。コンタクトプローブアセンブリ
Cは、この両ユニットA、Bを一体に連結、構成されて
いる。
ト化し、コンタクトプローブのターミナル側にケーブル
ハーネスを固定、ユニット化することにより、断線等の
トラブルを回避し、その取扱い性を向上させた。 【構成】 複数本のコンタクトプローブ1を集束し、そ
の導線ワイヤー1a裸部とスリーブ1b部分を、各々導
線ワイヤー固定ブロック2とスリーブ固定ブロツク4の
望ましくは千鳥状に穿設された細孔2a、透孔4aに装
着し、その外側にカバー5を取り付け、コンタクトプロ
ーブユニットAとする。コンタクトプローブのターミナ
ル部1Cには、ケーブルハーネル6のワイヤーターミナ
ル6aを固定し、コネクタ6bを介してインターフェイ
スボード7に取り付けてケース8を設け、コネクタケー
ブルユニットBとする。コンタクトプローブアセンブリ
Cは、この両ユニットA、Bを一体に連結、構成されて
いる。
Description
【0001】
本考案は、プリント配線基盤、半導体、IC用バーインボード等の電子部品の 電気的接触テストを行うのに使用するコンタクトプローブアセンブリ、コンタク トプローブユニット、及びコンタクトプローブに関するものである。
【0002】
従来、コンタクトプローブを複数本集めてユニット化し、プリント配線基盤、 半導体、IC用バーインボード等の電子部品の電気的接触テストを行うことは知 られていた。しかしながら、このユニットを検査機器に接続するには、一本一本 のコンタクトプローブの導線ワイヤーターミナルに、ケーブルハーネスのケーブ ルターミナルをはんだ付けして接続しており、被検査物が変わるたびごとに、被 検査物に対応したユニットに切り替えるのに多大の労力を要していた。特に自動 検査機に取り付けて使用する場合には、ケーブル荷重やストレスにより断線が発 生し、トラブルの原因となっていた。一方、近年被検査物が細密化されるにとも ない、コンタクトプローブユニットにおいても、より多数のコンタクトプローブ を集約する必要に迫られていた。またコンタクトプローブ自体、導線ワイヤー先 端の被検査物との接触部位に、これまで以上の耐食性と接触不良のない高精度の ものが要求されてきた。
【0003】
本考案は、前記のごとき問題点を解決した断線のおそれがなく、かつ取扱いの 容易なコンタクトプローブアンセンブリと、併せてコンパクトなコンタクトプロ ーブユニット、接触不良のないコンタクトプローブを提供することを目的として いる。
【0004】
前記のごとき目的を達成した本考案にかかわるコンタクトプローブアンセンブ リ、コンタクトプローブユニット及びコンタクトプローブの実施の態様を、以下 図面にもとづいて詳細に述べる。
【0005】 図1において、複数本のコンタクトプローブ1は、その一方の導線ワイヤー1 a裸部において、ワイヤー固定ブロック2に穿設された細孔2bに装入、接着剤 で接着固定されている。ワイヤー固定ブロック2に配設された細孔2bは、機械 加工により穿孔する。したがって、ワイヤー固定ブロツク2の材料には、細孔2 bを穿設しやすいポリアセタール樹脂等を用いる。細孔2bの数及び配列は、通 常被検査物となるプリント基盤や半導体、IC用バーインボードの接触部位パタ ーンに対応するのが普通であるが、細密化するには千鳥状に配列するのが望まし い。3はガイドである。他方、コンタクトプローブ1は、そのスリーブ1bの部 分において、スリーブ固定ブロック4に穿設された透孔4aに接着固定されてい る。透孔4aの配列もまた、占有面積を少なくする意味で千鳥状が望ましい。ワ イヤー固定ブロック2とスリーブ固定ブロック4間の周側には上端周縁にフラン ジ5aを有するカバー5を設けてユニット化し、コンタクトプローブユニットA とする。
【0006】 一方、コンタクトプローブ1のワイヤーターミナル1cには、ケーブルハーネ ス6のケーブルターミナル6aを接続し、はんだ付けする。ケーブルハーネス6 の他端コネタク6bは、上下コネクタ7a、7bを有するインターフェイスボー ド7の下コネクタ7bに接続する。インターフェイスボード7の上コネクタ7a 上面を解放した形で全体をケース8に収納、ユニット化し、コネクタケーブルユ ニットBとする。
【0007】 本考案のコンタクトプローブアセンブリCは、このように構成されたコンタク トプローブユニットAのカバー5上面フランジ部5aと、コネクタケーブルユニ ットBのケース8の下端フランジ部8aとを、例えばボルト、ナット等で連結し て組み立てたものであるる。
【0008】 図2は本考案のコンタクトプローブアセンブリCの一方のユニットであるコン タクトプローブユニットAの異なった独立使用態様を示すもので、カバー5の上 縁にフランジ5aがない以外は、図1に示すものと同一である。このコンタクト プローブユニットA′では、スリーブ固定ブロック4に固定された複数本のコン タクトプローブ1のワイヤーターミナル1aに、ケーブルハーネス6のケーブル ターミナル6aを接続、はんだ付けして使用する。6bはワイヤーハーネス6の コネクタである。
【0009】 図3は本考案でよく使用するスプリングコンタクトプローブ1の基本態様を示 すもので、ワイヤー裸部1aとスリーブ1bとターミナル部1cからなる。1d は発条である。本考案では、特に図3の(ロ)に示すように、先端裸部1aの少 なくとも接触部位に金メッキ層9を構成しておくと、耐食性にすぐれ、接触不良 にもとづく測定誤差はいちじるしく減少する。
【0010】
本考案のコンタクトプローブアセンブリによれば、以下のごとき実用上の効果 がある。 .コンタクトアセンブリは、コンタクトプローブユニットとコネクタケーブ ルユニットを一体化することにより、全体としてコンパクトになったことにより 種々の被検査物に応じたコンタクトプローブユニットの取り替え作業で、コンタ クトプローブとケーブルハーネスを含むコンタクトプローブアセンブリ毎に取り 替えることにより、コンタクトプローブのワイヤーターミナルとケーブルハーネ スのケーブルターミナル一本一本の接続作業が不要となり、いちじるしく効率化 された。特に、コンタクトプローブアセンブリは、ケーブルハーネスの不要なた るみによる断線等のトラブルがなく、自動化された検査機に接続使用するのに好 適である。 .コンタクトプローブユニット自体も、ワイヤー固定ブロックの細孔配列、 スリーブ固定ブロックの透孔の千鳥配列等により、従来品に比べ多数のコンタク トプローブをユニット化でき、ピッチの小さい被検査物の検知が可能になった。 このコンタクトプローブユニットは、マニュアルによる検査では自由度が大で、 使い易い。 .また、コンタクトプローブ導線ワイヤー部の先端裸部の金メッキ処理によ り、耐食性にすぐれ、接触不良による測定誤差が大幅に減少した。
【提出日】平成4年7月27日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0003
【補正方法】変更
【0003】
本考案は、前記のごとき問題点を解決した断線のおそれがなく、かつ取扱いの 容易なコンタクトプローブアセンブリと、併せてコンパクトなコンタクトプロー ブユニット、接触不良のないコンタクトプローブを提供することを目的としてい る。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0004
【補正方法】変更
【0004】
前記のごとき目的を達成した本考案にかかわるコンタクトプローブアセンブリ 、コンタクトプローブユニット及びコンタクトプローブの実施の態様を、以下図 面にもとづいて詳細に述べる。
【図1】本考案のコンタクトプローブアセンブリを示す
もので、(イ)は一部切り欠き断面を示す側面図、
(ロ)は底面図である。
もので、(イ)は一部切り欠き断面を示す側面図、
(ロ)は底面図である。
【図2】本考案のコンタクトプローブユニットの異なっ
た実施例を示すもので、(イ)は一部切り欠き断面を示
す側面図、(ロ)はA−A′断面図、(ハ)は底面図で
ある。
た実施例を示すもので、(イ)は一部切り欠き断面を示
す側面図、(ロ)はA−A′断面図、(ハ)は底面図で
ある。
【図3】本考案のコンタクトプローブを示すもので、
(イ)は側面図、(ロ)は導線ワイヤー先端裸部の一部
拡大側面図である。
(イ)は側面図、(ロ)は導線ワイヤー先端裸部の一部
拡大側面図である。
1……コンタクトプローブ 1a…導線ワイヤー 1b…スリーブ 1c…ワイヤーターミナル 2……ワイヤー固定ブロック 2a…細孔 3……ガイド 4……スリーブ固定ブロック 4a…透孔 5……カバー 5a…フランジ 6……ケーブルハーネス 6a…ケーブルターミナル 6b…コネクタ 7……インターフエイスボード 7a…上コネクタ 7b…下コネクタ 8……カバー 8a…フランジ 9……金メッキ層 A……コンタクトプローブユニット B……コネクタケーブルユニット C……コンタクトプローブアセンブリ
Claims (4)
- 【請求項1】 複数本のコンタクトプローブ(1)の導
線ワイヤー(1a)裸部をワイヤー固定ブロック(2)
に穿設された細孔(2b)に装着し、スリーブ(1b)
の部分をスリーブ固定ブロック(4)に穿設された透孔
(4a)に装着固定し、両ブロック(2)(4)間の周
側にカバー(5)を設けてなるコンタクトプローブユニ
ット(A)と、ケーブルハーネス(6)のケーブルター
ミナル(6a)をコンタクトプローブ(1)のワイヤー
ターミナル(1c)に接続固定し、他方のコネタク(6
b)をインターフェイスボード(7)の下コネクタ(7
b)に接続し、インターフェイスボード(7)の上コネ
クタ(7a)上面を解放してケース(8)に収納してな
るコネクタケーブルユニット(B)とからなり、コンタ
クトプローブユニット(A)のカバー(5)とコネクタ
ケーブルユニット(B)のケース(8)とが連結されて
いるコンタクトプローブアセンブリ。 - 【請求項2】 複数本のコンタクトプローブ(1)の導
線ワイヤー(1a)裸部をワイヤー固定ブロック(2)
に穿設された細孔(2b)に装着し、スリーブ(1b)
の部分において、スリーブ固定ブロック(4)に穿設さ
れた透孔(4a)に装着固定され、両ブロック(2)
(4)間の周側にカバー(5)を設けてなるコンタクト
プローブユニット。 - 【請求項3】 ワイヤー固定ブロック(2)の細孔(2
a)と、スリーブ固定ブロック(4)の透孔(4a)の
少なくとも一方が千鳥配列されている請求項第2項記載
のコンタクトプローブユニット。 - 【請求項4】 導線ワイヤー(1a)裸部の先端部位
に、金メッキ層(9)が形成されているコンタクトプロ
ーブ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP055831U JPH0718275U (ja) | 1992-07-16 | 1992-07-16 | コンタクトプローブアセンブリ、コンタクトプローブユニット及びコンタクトプローブ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP055831U JPH0718275U (ja) | 1992-07-16 | 1992-07-16 | コンタクトプローブアセンブリ、コンタクトプローブユニット及びコンタクトプローブ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0718275U true JPH0718275U (ja) | 1995-03-31 |
Family
ID=13009926
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP055831U Pending JPH0718275U (ja) | 1992-07-16 | 1992-07-16 | コンタクトプローブアセンブリ、コンタクトプローブユニット及びコンタクトプローブ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0718275U (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100936971B1 (ko) * | 2007-08-07 | 2010-01-14 | (주)하이비젼시스템 | 프로브카드의 오에스, 평탄도 및 누설전류 측정방법 및 그시스템 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS519260A (ja) * | 1974-07-11 | 1976-01-24 | Mitsubishi Rayon Co | |
JPH03205842A (ja) * | 1990-01-08 | 1991-09-09 | Tokyo Erekutoron Yamanashi Kk | プローブカード装置 |
JPH03209738A (ja) * | 1990-01-11 | 1991-09-12 | Tokyo Electron Ltd | プローブカード |
-
1992
- 1992-07-16 JP JP055831U patent/JPH0718275U/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS519260A (ja) * | 1974-07-11 | 1976-01-24 | Mitsubishi Rayon Co | |
JPH03205842A (ja) * | 1990-01-08 | 1991-09-09 | Tokyo Erekutoron Yamanashi Kk | プローブカード装置 |
JPH03209738A (ja) * | 1990-01-11 | 1991-09-12 | Tokyo Electron Ltd | プローブカード |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100936971B1 (ko) * | 2007-08-07 | 2010-01-14 | (주)하이비젼시스템 | 프로브카드의 오에스, 평탄도 및 누설전류 측정방법 및 그시스템 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0187464B1 (en) | Leadless chip carrier adapter | |
US4959750A (en) | Printed circuit board for carrying a mixed-component assembly | |
US5010446A (en) | Multi-edge extender board | |
JPH0718275U (ja) | コンタクトプローブアセンブリ、コンタクトプローブユニット及びコンタクトプローブ | |
KR100721031B1 (ko) | 탭 아이씨 검사용 프로브 카드 | |
KR100272715B1 (ko) | 프로브유닛 및 검사용 헤드 | |
JP2021105547A (ja) | コンタクトプローブ | |
EP0736774A2 (en) | Improved flexible strip cable | |
JPS612338A (ja) | 検査装置 | |
EP0132328A1 (en) | Probe cable assemblies | |
JPH1026646A (ja) | コンタクト装置 | |
JPH0419503Y2 (ja) | ||
JPH0737335Y2 (ja) | Lsi(ic)端子の接続基板 | |
JPH0730486U (ja) | プリント基板用ターミナル及びicソケット | |
JPS5818224Y2 (ja) | 端子機構 | |
JPH06174747A (ja) | プロ―ブカ―ド | |
JPH0729839U (ja) | 垂直スプリング式プローブカード | |
JPH10190181A (ja) | プリント基板及びその検査方法 | |
JPS62294979A (ja) | 接点配列のピツチ変更用アダプタ | |
JPH05346455A (ja) | インサーキットテスタ治具 | |
KR19980048139A (ko) | 반도체 테스터기의 연결용 부재 | |
JPH05215814A (ja) | 半導体デバイスの検査装置 | |
JP4333291B2 (ja) | 故障診断システム | |
KR810002160Y1 (ko) | 집적 회로용 러그판 | |
JPH0310628Y2 (ja) |