JPH07141715A - 光ピックアップ装置 - Google Patents
光ピックアップ装置Info
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- JPH07141715A JPH07141715A JP6163824A JP16382494A JPH07141715A JP H07141715 A JPH07141715 A JP H07141715A JP 6163824 A JP6163824 A JP 6163824A JP 16382494 A JP16382494 A JP 16382494A JP H07141715 A JPH07141715 A JP H07141715A
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1353—Diffractive elements, e.g. holograms or gratings
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
- G11B7/0912—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only by push-pull method
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- G—PHYSICS
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- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
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- G11B11/10541—Heads for reproducing
- G11B11/10543—Heads for reproducing using optical beam of radiation
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- G11B11/1055—Disposition or mounting of transducers relative to record carriers
- G11B11/10576—Disposition or mounting of transducers relative to record carriers with provision for moving the transducers for maintaining alignment or spacing relative to the carrier
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- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0901—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following only
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Head (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は光ピックアップ装置に関し、2分割
ホログラムを使用し焦点とトラッキングエラー及びディ
スクに記録した光磁気信号とピット信号の正確な検出と
軽量化と読取速度の向上を目的とする。 【構成】 レーザビームを照射し情報有無により反射さ
れ各々の領域に回析集束される一部P波の再生ビームに
よりエラー有無を検出するレーザ送受信エラー検出器部
と、この検出部からのレーザビームを平行光に作るコリ
メートレンズと、このレンズを通してS偏光ビームの全
部と垂直方向のP偏光ビームの一部を反射させ、残るP
偏光ビームを透過させ光ディスクに集光させ反射して逆
順に処理され入射するビームを透過及び反射する偏光ビ
ーム分割部と、この分割部から入射したS波全部と一部
P波との和信号及び差信号により光ディスクに記録した
情報を判読する光情報判読部とで構成する。
ホログラムを使用し焦点とトラッキングエラー及びディ
スクに記録した光磁気信号とピット信号の正確な検出と
軽量化と読取速度の向上を目的とする。 【構成】 レーザビームを照射し情報有無により反射さ
れ各々の領域に回析集束される一部P波の再生ビームに
よりエラー有無を検出するレーザ送受信エラー検出器部
と、この検出部からのレーザビームを平行光に作るコリ
メートレンズと、このレンズを通してS偏光ビームの全
部と垂直方向のP偏光ビームの一部を反射させ、残るP
偏光ビームを透過させ光ディスクに集光させ反射して逆
順に処理され入射するビームを透過及び反射する偏光ビ
ーム分割部と、この分割部から入射したS波全部と一部
P波との和信号及び差信号により光ディスクに記録した
情報を判読する光情報判読部とで構成する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光磁気ディスクに情報
を記録し判読する光ピックアップ装置に係り、特に回析
格子を使用せず2分割ホログラムを用いて焦点とトラッ
キングエラー及びディスクに記録した光磁気信号とピッ
ト信号を正確に検出するようにした光磁気ディスクの光
ピックアップ装置に関するものである。
を記録し判読する光ピックアップ装置に係り、特に回析
格子を使用せず2分割ホログラムを用いて焦点とトラッ
キングエラー及びディスクに記録した光磁気信号とピッ
ト信号を正確に検出するようにした光磁気ディスクの光
ピックアップ装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、光磁気ディスクの光ピックアップ
装置は、図8に図示するように、レーザビームを走査す
るレーザ部1と、前記レーザ部1から走査したレーザビ
ームをメインビームとトラッキングエラー検出用サブビ
ームに回析させる回析格子2と、前記回析格子2に通じ
たビームを平行光に作るコリメートレンズ3と、前記コ
リメートレンズ3を通したS−偏光ビームの全部とこれ
と垂直方向に偏光したP−偏光ビームの一部を反射さ
せ、P−偏光ビームの残りを透過させる偏光ビーム分割
器4と、前記偏光ビーム分割器4からP波に線偏光した
ビームを垂直方向に反射させる反射鏡5と、前記反射鏡
5から反射したP波の平行光を光ディスク11に集光さ
せる対物レンズ6と、前記光ディスク11に記録した情
報の有、無によって反射したビームを対物レンズ6を通
して再び平行光に変換し、反射鏡5及び偏光ビーム分割
器4を通してS波の全部、P波の一部及びS波とP波が
混在した3個のビームにて入射するビームを各々一定の
角度に分離するモディファイドワラストンプリズム(M
odified Wollaston Prism:以
下 "MWP" と略する)7と、前記MWP7から分離し
た5個のビームを結像する結像レンズ8と、前記結像レ
ンズ8に通過したビームの広がり角度を増加させ、焦点
エラー検知のためにメインビーム(P+S波)に非点収
差を発生させる円丸体(toric)表面を持つ凹レン
ズ9と、前記凹レンズ9を通したビームを受け焦点エラ
ーとトラッキングエラー及び光情報を検知する光検出器
10とで構成する。
装置は、図8に図示するように、レーザビームを走査す
るレーザ部1と、前記レーザ部1から走査したレーザビ
ームをメインビームとトラッキングエラー検出用サブビ
ームに回析させる回析格子2と、前記回析格子2に通じ
たビームを平行光に作るコリメートレンズ3と、前記コ
リメートレンズ3を通したS−偏光ビームの全部とこれ
と垂直方向に偏光したP−偏光ビームの一部を反射さ
せ、P−偏光ビームの残りを透過させる偏光ビーム分割
器4と、前記偏光ビーム分割器4からP波に線偏光した
ビームを垂直方向に反射させる反射鏡5と、前記反射鏡
5から反射したP波の平行光を光ディスク11に集光さ
せる対物レンズ6と、前記光ディスク11に記録した情
報の有、無によって反射したビームを対物レンズ6を通
して再び平行光に変換し、反射鏡5及び偏光ビーム分割
器4を通してS波の全部、P波の一部及びS波とP波が
混在した3個のビームにて入射するビームを各々一定の
角度に分離するモディファイドワラストンプリズム(M
odified Wollaston Prism:以
下 "MWP" と略する)7と、前記MWP7から分離し
た5個のビームを結像する結像レンズ8と、前記結像レ
ンズ8に通過したビームの広がり角度を増加させ、焦点
エラー検知のためにメインビーム(P+S波)に非点収
差を発生させる円丸体(toric)表面を持つ凹レン
ズ9と、前記凹レンズ9を通したビームを受け焦点エラ
ーとトラッキングエラー及び光情報を検知する光検出器
10とで構成する。
【0003】このように構成した従来の光磁気ディスク
の光ピックアップ装置において、P波とS波とは次のよ
うな関係を持つ。レーザ光が地面と垂直に突出した方向
をX軸とすると、X軸と垂直でレーザ光の方向と垂直な
方向の偏光をP波にし、X軸に平行する偏光方向をS波
にするので、通常レーザ部1から発生するレーザ光は偏
光になっている。
の光ピックアップ装置において、P波とS波とは次のよ
うな関係を持つ。レーザ光が地面と垂直に突出した方向
をX軸とすると、X軸と垂直でレーザ光の方向と垂直な
方向の偏光をP波にし、X軸に平行する偏光方向をS波
にするので、通常レーザ部1から発生するレーザ光は偏
光になっている。
【0004】先ず、レーザ部1から発散したレーザ光が
回析格子2に通してメインビームと2つのサブビームに
て回析する。この3個の回析したビームは、コリメート
レンズ3によって平行光になり偏光ビーム分割器4へ入
射する。前記コリメートレンズ3を通して平行光になっ
たメインビームと2つのサブビームは、偏光ビーム分割
器4の境界面4aでS波は全て反射され、P波とサブビ
ームのみ通過する。この通過したP波は反射鏡5から垂
直方向に反射する。
回析格子2に通してメインビームと2つのサブビームに
て回析する。この3個の回析したビームは、コリメート
レンズ3によって平行光になり偏光ビーム分割器4へ入
射する。前記コリメートレンズ3を通して平行光になっ
たメインビームと2つのサブビームは、偏光ビーム分割
器4の境界面4aでS波は全て反射され、P波とサブビ
ームのみ通過する。この通過したP波は反射鏡5から垂
直方向に反射する。
【0005】前記反射鏡5を通したP偏光したビームと
サブビームは対物レンズ6に通して集束され、図9のよ
うに、光ディスク11のトラック(T1)に集光され
る。前記光ディスク11に集束したP波のメインビーム
(M1)は情報読取り及び焦点エラー検出に使い、2つ
のサブビーム(SB1)(SB2)はトラッキングエラ
ーの検知に使う。
サブビームは対物レンズ6に通して集束され、図9のよ
うに、光ディスク11のトラック(T1)に集光され
る。前記光ディスク11に集束したP波のメインビーム
(M1)は情報読取り及び焦点エラー検出に使い、2つ
のサブビーム(SB1)(SB2)はトラッキングエラ
ーの検知に使う。
【0006】前記P波のメインビーム(M1)及び2つ
のサブビーム(SB1)(SB2)は光ディスク11に
記録した情報(ピット(Pit)情報や磁化方向による
の楕円偏光した情報)及びトラッキングエラー検知に必
要な情報を持ち、光ディスク11から反射した後、対物
レンズ6を通って再び平行光になる。この平行光は反射
鏡5から反射して偏光ビーム分割器4に入射されるの
で、この時光ディスク11に情報が記録されていると楕
円偏光によってS波が生じる。
のサブビーム(SB1)(SB2)は光ディスク11に
記録した情報(ピット(Pit)情報や磁化方向による
の楕円偏光した情報)及びトラッキングエラー検知に必
要な情報を持ち、光ディスク11から反射した後、対物
レンズ6を通って再び平行光になる。この平行光は反射
鏡5から反射して偏光ビーム分割器4に入射されるの
で、この時光ディスク11に情報が記録されていると楕
円偏光によってS波が生じる。
【0007】前記S波はP波と混在したメインビーム
(M1)として、2つのサブビーム(SB1)(SB
2)と共に偏光ビーム分割器4へ入射する。しかし光デ
ィスク11に情報が記録せずとP波と2つのサブビーム
のみ偏光ビーム分割器4に入射する。ここでは光ディス
ク11に情報が記録している場合の例を説明する。
(M1)として、2つのサブビーム(SB1)(SB
2)と共に偏光ビーム分割器4へ入射する。しかし光デ
ィスク11に情報が記録せずとP波と2つのサブビーム
のみ偏光ビーム分割器4に入射する。ここでは光ディス
ク11に情報が記録している場合の例を説明する。
【0008】前記偏光ビーム分割器4に入射したメイン
ビーム(M1)のS波全部とP波の一部及び2つのサブ
ビーム(SB1)(SB2)は偏光ビーム分割器4の境
界面4aで反射してMWP7へ入射する。前記MWP7
に入射した2つのサブビーム(SB1)(SB2)は直
に通過して結像レンズ8に結像され、メインビーム(M
1)は再び3つのビームに分割される。
ビーム(M1)のS波全部とP波の一部及び2つのサブ
ビーム(SB1)(SB2)は偏光ビーム分割器4の境
界面4aで反射してMWP7へ入射する。前記MWP7
に入射した2つのサブビーム(SB1)(SB2)は直
に通過して結像レンズ8に結像され、メインビーム(M
1)は再び3つのビームに分割される。
【0009】即ち、前記メインビーム(M1)は図11
のように一定角度にS波、P波及びS波とP波とが混在
した3つのビームにて分割され2つのサブビームを包含
した合計5つのビームが結像レンズ8に結像する。前記
結像レンズ8から出射した5種類のビームは円丸体表面
を持つ凹レンズ9に入射され、放射角が大きく、焦点エ
ラー検知のためにメインビームに非点収差を発生させ
る。前記凹レンズ9を通過した5種類のビームは図13
に図示したように、領域の8分割した光検出器10に集
束される。
のように一定角度にS波、P波及びS波とP波とが混在
した3つのビームにて分割され2つのサブビームを包含
した合計5つのビームが結像レンズ8に結像する。前記
結像レンズ8から出射した5種類のビームは円丸体表面
を持つ凹レンズ9に入射され、放射角が大きく、焦点エ
ラー検知のためにメインビームに非点収差を発生させ
る。前記凹レンズ9を通過した5種類のビームは図13
に図示したように、領域の8分割した光検出器10に集
束される。
【0010】前記8分割した光検出器10は、凹レンズ
9を通って第1、第2領域10a,10bに各々集束し
た2つのサブビームの信号差でトラッキングエラーを検
知する。即ち、前記第1領域10aに集束したサブビー
ムの信号をSaとし、第2領域10bに集束したサブビ
ームの信号をSbとすると、トラッキングエラー信号
(TES)は下記の式(1)から求められる。
9を通って第1、第2領域10a,10bに各々集束し
た2つのサブビームの信号差でトラッキングエラーを検
知する。即ち、前記第1領域10aに集束したサブビー
ムの信号をSaとし、第2領域10bに集束したサブビ
ームの信号をSbとすると、トラッキングエラー信号
(TES)は下記の式(1)から求められる。
【0011】 TES=Sa−Sb …(1) 一方、焦点エラー感知は図10のように、光ディスク1
1と対物レンズ6間の間隔が変化するので非点収差によ
る光検出器10の第5領域ないし第8領域(10fない
し10h)に集束したメインビームの信号差で求める。
即ち、前記第5領域(10e)に集束したメインビーム
の信号をSeとし、第6領域(10f)に集束したメイ
ンビームの信号をSf、第7領域(10g)のメインビ
ームをSg、また第8領域(10h)に集束したメイン
ビームの信号をShとすると、焦点エラー信号(FE
S)は下記の式(2)から求める。
1と対物レンズ6間の間隔が変化するので非点収差によ
る光検出器10の第5領域ないし第8領域(10fない
し10h)に集束したメインビームの信号差で求める。
即ち、前記第5領域(10e)に集束したメインビーム
の信号をSeとし、第6領域(10f)に集束したメイ
ンビームの信号をSf、第7領域(10g)のメインビ
ームをSg、また第8領域(10h)に集束したメイン
ビームの信号をShとすると、焦点エラー信号(FE
S)は下記の式(2)から求める。
【0012】 FES=(Sf+Sg)ー(Se+Sh) …(2) 前記で焦点エラー(FES)のない場合には図10の
(A)のように、第5領域ないし第8領域(10eない
し10h)に円偏光にて集束し焦点エラーが発生した境
界では図10の(B)及び(C)のように楕円偏光にて
集束する。従ってトラッキングエラー(TES)と焦点
エラー(FES)が発生せず、TES=0,FES=0
にする。
(A)のように、第5領域ないし第8領域(10eない
し10h)に円偏光にて集束し焦点エラーが発生した境
界では図10の(B)及び(C)のように楕円偏光にて
集束する。従ってトラッキングエラー(TES)と焦点
エラー(FES)が発生せず、TES=0,FES=0
にする。
【0013】そして光ディスク11に記録した情報読取
りは光磁気信号(磁化方向によるkerr rotat
ion)の場合には第3領域(10c)に集束したP波
又はS波と第4領域(10d)に集束したS波又はP波
の信号差から検知する。即ち、前記第3領域(10c)
に集束したS波ビームの信号をScとし、第4領域(1
0d)に集束したP波ビームの信号をSdとすると(S
波とP波が第3、第4領域に交換され入射できる。)光
情報信号は下記の第3式から検知する。
りは光磁気信号(磁化方向によるkerr rotat
ion)の場合には第3領域(10c)に集束したP波
又はS波と第4領域(10d)に集束したS波又はP波
の信号差から検知する。即ち、前記第3領域(10c)
に集束したS波ビームの信号をScとし、第4領域(1
0d)に集束したP波ビームの信号をSdとすると(S
波とP波が第3、第4領域に交換され入射できる。)光
情報信号は下記の第3式から検知する。
【0014】 光情報信号(光磁気信号)=ScーSd …(3) なお、光ディスク11に記録した凹凸形状のピット信号
の場合には下記の第4式によって検知する。 光情報信号(ピット信号)=Sc+Sd …(4)
の場合には下記の第4式によって検知する。 光情報信号(ピット信号)=Sc+Sd …(4)
【0015】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の光磁気ディスクの光ピックアップ装置は3−ビーム
法によるトラッキングエラーを検知するために回析格子
を使用し、非点収差(astigmatism)法によ
って焦点エラー検知及び光磁気ディスクに記録した情報
を読取るために製作がむずかしくて価格の高い円丸体表
面を持つ凹レンズと、製作しにくいモディファイドワラ
ストンプリズムを使用する。従来のこのような光学係構
造は光学部品数を増加させピックアップ自体の重量増加
により読取速度の低下と、製造原価の相乗の問題点があ
った。
来の光磁気ディスクの光ピックアップ装置は3−ビーム
法によるトラッキングエラーを検知するために回析格子
を使用し、非点収差(astigmatism)法によ
って焦点エラー検知及び光磁気ディスクに記録した情報
を読取るために製作がむずかしくて価格の高い円丸体表
面を持つ凹レンズと、製作しにくいモディファイドワラ
ストンプリズムを使用する。従来のこのような光学係構
造は光学部品数を増加させピックアップ自体の重量増加
により読取速度の低下と、製造原価の相乗の問題点があ
った。
【0016】本発明の目的は、回析格子、凹レンズ及び
モディファイドワラストンプリズムの代りに2分割ホロ
グラムを使用して焦点とトラッキングエラー及びディス
クに記録した光磁気信号とピット信号を正確に検出でき
る光ピックアップ装置を提供することである。本発明の
他の目的は、光学部品の減少による軽量化と読取り速度
を向上し得る光ピックアップ装置を提供することであ
る。
モディファイドワラストンプリズムの代りに2分割ホロ
グラムを使用して焦点とトラッキングエラー及びディス
クに記録した光磁気信号とピット信号を正確に検出でき
る光ピックアップ装置を提供することである。本発明の
他の目的は、光学部品の減少による軽量化と読取り速度
を向上し得る光ピックアップ装置を提供することであ
る。
【0017】
【課題を解決するための手段及び作用】このことはレー
ザ光を光ディスクに発散しその光ディスク上からの記録
した情報有無によって反射して各領域に回析集束される
一部P波の再生大きさによって光ディスクのエラー有無
を検出するレーザ送受信エラー検出器と、レーザ送受信
エラー検出器から発散したレーザビームを平行光に作る
コリメートレンズと、コリメートレンズを通ってS偏光
されるビームの全部と、これと垂直方向にP偏光となる
ビームの一部を反射させ、残りP偏光されたビームを透
過させる偏光ビーム分割器と、偏光ビーム分割器からの
P波に線形偏光したビームを光ディスクに集光させ、そ
の光ディスクから反射したビームを逆に処理して偏光ビ
ーム分割手段に入射させる情報記録/再生処理器と、偏
光ビーム分割器から入射したS波全部と一部P波の和信
号及び差信号によって光ディスクに記録された情報を判
読する光情報判読器とでなる光ピックアップ装置によっ
て達成される。
ザ光を光ディスクに発散しその光ディスク上からの記録
した情報有無によって反射して各領域に回析集束される
一部P波の再生大きさによって光ディスクのエラー有無
を検出するレーザ送受信エラー検出器と、レーザ送受信
エラー検出器から発散したレーザビームを平行光に作る
コリメートレンズと、コリメートレンズを通ってS偏光
されるビームの全部と、これと垂直方向にP偏光となる
ビームの一部を反射させ、残りP偏光されたビームを透
過させる偏光ビーム分割器と、偏光ビーム分割器からの
P波に線形偏光したビームを光ディスクに集光させ、そ
の光ディスクから反射したビームを逆に処理して偏光ビ
ーム分割手段に入射させる情報記録/再生処理器と、偏
光ビーム分割器から入射したS波全部と一部P波の和信
号及び差信号によって光ディスクに記録された情報を判
読する光情報判読器とでなる光ピックアップ装置によっ
て達成される。
【0018】
【実施例】図1は本発明の目的を達成するための光ピッ
クアップ装置の一実施例構成図であって、レーザ光を光
ディスクに発散しその光ディスクからの記録した光情報
の有無によって反射され各領域に回析集束される一部P
波の再生ビームの大きさによって光ディスク105のエ
ラー有無を検出するレーザ送受信エラー検出器100
と、前記レーザ送受信エラー検出器100から照射した
レーザビームを平行光に作るコリメートレンズ103
と、前記コリメートレンズ103に通ってS偏光したビ
ームの全部とこれと垂直方向にP偏光したビームの一部
を反射させ、残りP偏光したビームを透過させる偏光ビ
ーム分割器104と、前記偏光ビーム分割器104を透
過したP偏光したビームを反射鏡102a及び対物レン
ズ102bを順次に通して光ディスク105に集光さ
せ、その光ディスク105からの反射したビームを逆に
処理して偏光ビーム分割器104に入射させる情報記録
/再生処理手段102と、前記偏光ビーム分割器104
から入射してS波全部と一部P波の和信号及び差信号に
よって光ディスク105に記録した情報を判読する光情
報判読手段101と、前記レーザ送受信エラー検出手段
100から検出したトラッキングエラー及び焦点エラー
によって対物レンズ102bを上下左右移動させる情報
記録/再生処理手段102に包含されるアクチュエータ
102cとで構成する。
クアップ装置の一実施例構成図であって、レーザ光を光
ディスクに発散しその光ディスクからの記録した光情報
の有無によって反射され各領域に回析集束される一部P
波の再生ビームの大きさによって光ディスク105のエ
ラー有無を検出するレーザ送受信エラー検出器100
と、前記レーザ送受信エラー検出器100から照射した
レーザビームを平行光に作るコリメートレンズ103
と、前記コリメートレンズ103に通ってS偏光したビ
ームの全部とこれと垂直方向にP偏光したビームの一部
を反射させ、残りP偏光したビームを透過させる偏光ビ
ーム分割器104と、前記偏光ビーム分割器104を透
過したP偏光したビームを反射鏡102a及び対物レン
ズ102bを順次に通して光ディスク105に集光さ
せ、その光ディスク105からの反射したビームを逆に
処理して偏光ビーム分割器104に入射させる情報記録
/再生処理手段102と、前記偏光ビーム分割器104
から入射してS波全部と一部P波の和信号及び差信号に
よって光ディスク105に記録した情報を判読する光情
報判読手段101と、前記レーザ送受信エラー検出手段
100から検出したトラッキングエラー及び焦点エラー
によって対物レンズ102bを上下左右移動させる情報
記録/再生処理手段102に包含されるアクチュエータ
102cとで構成する。
【0019】前記レーザ送受信エラー検出手段100は
光ディスク105にレーザ光を発散するレーザ100a
と、前記レーザ100aから照射したレーザ光をコリメ
ートレンズ103に入射させ、光ディスク105から反
射したP波をコリメートレンズ103に通して入射し、
一定角に回析集束させるホログラム100bと、前記ホ
ログラム100bに通して一定角度にて回析して各々の
領域に集束される一部P波の再生ビームの大きさによっ
て焦点エラー及びトラッキングエラーを検知する第1領
域ないし第4領域(A1−A4)に分割した第2光検出
器(100c)とで構成する。
光ディスク105にレーザ光を発散するレーザ100a
と、前記レーザ100aから照射したレーザ光をコリメ
ートレンズ103に入射させ、光ディスク105から反
射したP波をコリメートレンズ103に通して入射し、
一定角に回析集束させるホログラム100bと、前記ホ
ログラム100bに通して一定角度にて回析して各々の
領域に集束される一部P波の再生ビームの大きさによっ
て焦点エラー及びトラッキングエラーを検知する第1領
域ないし第4領域(A1−A4)に分割した第2光検出
器(100c)とで構成する。
【0020】そして前記光情報判読手段101は前記偏
光ビーム分割手段104を通して反射され入射した光デ
ィスク105のS波全部とP波の一部が混在したビーム
を各々一定の角度に分離するワラストンプリズム101
aと、前記ワラストンプリズム101aから分離したS
波の全部とP波の一部ビームを集束させる集束レンズ1
01b、前記集束レンズ101bに通して各領域に入射
されるS波とP波との信号差及び和にて光情報信号及び
ピット信号を検知する第1、第2領域(A11)(A1
2)に分割した第1光検出部101cとで構成する。
光ビーム分割手段104を通して反射され入射した光デ
ィスク105のS波全部とP波の一部が混在したビーム
を各々一定の角度に分離するワラストンプリズム101
aと、前記ワラストンプリズム101aから分離したS
波の全部とP波の一部ビームを集束させる集束レンズ1
01b、前記集束レンズ101bに通して各領域に入射
されるS波とP波との信号差及び和にて光情報信号及び
ピット信号を検知する第1、第2領域(A11)(A1
2)に分割した第1光検出部101cとで構成する。
【0021】なお、ホログラム100bは前記レーザ1
00aから発散するビームが偏光ビーム分割手段104
に入射する時、P偏光に偏光するようにレーザの活性層
をX,Y平面に平行するように構成した。そして前記ホ
ログラム(100b)は図2及び図3のように第1及び
2ホログラム(100b−1),(100b−2)にて
構成する。前記第1、第2ホログラム(100b−1)
(100b−2)の真の照射光(レーザの光)の位置は
レーザ100aの発光点になり、第1ホログラム(10
0b−1)の物体光の位置は4分割した第2光検出部1
00cを過ぎた位置(Q2)に位置するようになる。第
2ホログラム(100b−2)の物体光の位置は4分割
した第2光検出部100cを過ぎる前の位置(Q1)に
位置するようになる。レーザ100aの発光点に向けて
集束するビームが第1ホログラム(100b−1)に入
射するとレーザビームは第2光検出部100cの第2領
域(A2)に過ぎた位置(Q2)に集束されるようにす
る。第2ホログラム(100b−2)に入射するビーム
は第4領域(A4)を過ぎる前の位置、即ち、ホログラ
ム(100b)と第2光検出部(100c)間の位置
(Q1)に集束するように構成する。
00aから発散するビームが偏光ビーム分割手段104
に入射する時、P偏光に偏光するようにレーザの活性層
をX,Y平面に平行するように構成した。そして前記ホ
ログラム(100b)は図2及び図3のように第1及び
2ホログラム(100b−1),(100b−2)にて
構成する。前記第1、第2ホログラム(100b−1)
(100b−2)の真の照射光(レーザの光)の位置は
レーザ100aの発光点になり、第1ホログラム(10
0b−1)の物体光の位置は4分割した第2光検出部1
00cを過ぎた位置(Q2)に位置するようになる。第
2ホログラム(100b−2)の物体光の位置は4分割
した第2光検出部100cを過ぎる前の位置(Q1)に
位置するようになる。レーザ100aの発光点に向けて
集束するビームが第1ホログラム(100b−1)に入
射するとレーザビームは第2光検出部100cの第2領
域(A2)に過ぎた位置(Q2)に集束されるようにす
る。第2ホログラム(100b−2)に入射するビーム
は第4領域(A4)を過ぎる前の位置、即ち、ホログラ
ム(100b)と第2光検出部(100c)間の位置
(Q1)に集束するように構成する。
【0022】一方、第1及び第2ホログラム(100b
−1)(100b−2)によって集束されるレーザビー
ムが第2光検出部100cに過ぎるとき、図4の(A)
のように、第2光検出器100cによりさえぎられる
と、第1ホログラム(100b−1)によるレーザビー
ムは第1領域(A1)と第2領域(A2)の境界面に接
して第2領域(A2)の位置に、第2ホログラム(10
0b−2)によるレーザビームは第3領域(A3)と第
4領域(A4)の境界面に接して第4領域(A4)上に
置くように構成する。
−1)(100b−2)によって集束されるレーザビー
ムが第2光検出部100cに過ぎるとき、図4の(A)
のように、第2光検出器100cによりさえぎられる
と、第1ホログラム(100b−1)によるレーザビー
ムは第1領域(A1)と第2領域(A2)の境界面に接
して第2領域(A2)の位置に、第2ホログラム(10
0b−2)によるレーザビームは第3領域(A3)と第
4領域(A4)の境界面に接して第4領域(A4)上に
置くように構成する。
【0023】前述した4分割の第2光検出器100cは
図4のように、一定の大きさの領域が横に配列し、第3
領域(A3)と第2領域(A2)の間隔(d2)は第1
領域(A1)と第2領域(A2)、第3領域(A3)と
第4領域(A4)間の間隔(d1)より広げて構成す
る。このように構成した本発明の作用、効果を図1ない
し図7を参照して以下に説明する。
図4のように、一定の大きさの領域が横に配列し、第3
領域(A3)と第2領域(A2)の間隔(d2)は第1
領域(A1)と第2領域(A2)、第3領域(A3)と
第4領域(A4)間の間隔(d1)より広げて構成す
る。このように構成した本発明の作用、効果を図1ない
し図7を参照して以下に説明する。
【0024】先ずレーザ送受信エラー検出部100のレ
ーザ100aから照射したレーザビームは第1ホログラ
ム(100b−1)及び第2ホログラム(100b−
2)に通して0差のメインビーム(P波+S波)と+
差、−差の2つのサブビームに回析される。この時、ホ
ログラム(100b)には、0差のメインビームのみコ
リメートレンズ(103)によって平行光になり偏光ビ
ーム分割手段(104)に入射される。
ーザ100aから照射したレーザビームは第1ホログラ
ム(100b−1)及び第2ホログラム(100b−
2)に通して0差のメインビーム(P波+S波)と+
差、−差の2つのサブビームに回析される。この時、ホ
ログラム(100b)には、0差のメインビームのみコ
リメートレンズ(103)によって平行光になり偏光ビ
ーム分割手段(104)に入射される。
【0025】前記コリメートレンズ(103)に通して
平行光になったメインビーム(P波+S波)は偏光ビー
ム分割手段(104)の境界面でS波の全部とP波の一
部即ち、100%に対し33%は反射され、先に偏光し
たP波ビームの67%のみ透過して情報記録/再生処理
手段(102)の反射鏡(102a)に通して垂直方向
に反射する。
平行光になったメインビーム(P波+S波)は偏光ビー
ム分割手段(104)の境界面でS波の全部とP波の一
部即ち、100%に対し33%は反射され、先に偏光し
たP波ビームの67%のみ透過して情報記録/再生処理
手段(102)の反射鏡(102a)に通して垂直方向
に反射する。
【0026】前記反射鏡102aに通してP偏光する6
7%のビームは対物レンズ102bに通して集束され光
ディスク105に集光する。前記光ディスク105上に
集束したP波のメインビームは光ディスク105に記憶
した情報(Pit)情報や磁化方向により楕円偏光した
情報及びトラッキングエラー検知に必要な情報を持ち光
ディスク105から反射する。この反射したビームは対
物レンズ102bに通して再び平行光になり反射鏡10
2aへ反射する。前記反射鏡102aから反射して偏光
ビーム分割手段104に入射するビームは情報の包含有
無によって入射ビームの成分が異なる。即ち、光ディス
ク105に情報が記録していると楕円偏光によって発生
したS波はP波と混在してメインビームにて偏光ビーム
分割手段104へ入射する。また光ディスク105に情
報が記憶されずとP波のみ偏光ビーム分割手段104へ
入射する。
7%のビームは対物レンズ102bに通して集束され光
ディスク105に集光する。前記光ディスク105上に
集束したP波のメインビームは光ディスク105に記憶
した情報(Pit)情報や磁化方向により楕円偏光した
情報及びトラッキングエラー検知に必要な情報を持ち光
ディスク105から反射する。この反射したビームは対
物レンズ102bに通して再び平行光になり反射鏡10
2aへ反射する。前記反射鏡102aから反射して偏光
ビーム分割手段104に入射するビームは情報の包含有
無によって入射ビームの成分が異なる。即ち、光ディス
ク105に情報が記録していると楕円偏光によって発生
したS波はP波と混在してメインビームにて偏光ビーム
分割手段104へ入射する。また光ディスク105に情
報が記憶されずとP波のみ偏光ビーム分割手段104へ
入射する。
【0027】前記光ディスク105に情報が記憶した状
態であれば偏光ビーム分割手段104に入射する平行光
にはS波成分が包含している。従って図6に図示したよ
うにS波は前記偏光ビーム分割手段4の境界面で100
%反射して光情報判読手段101のワラストンプリズム
101aに入射する。一方、P波ビーム中に67%は境
界面に通過してコリメートレンズ103に入射し、P波
の残りビームの33%は境界面で反射された光情報判読
手段(101)のワラストンプリズム(101a)に1
00%のS波と共に混在して入射する。
態であれば偏光ビーム分割手段104に入射する平行光
にはS波成分が包含している。従って図6に図示したよ
うにS波は前記偏光ビーム分割手段4の境界面で100
%反射して光情報判読手段101のワラストンプリズム
101aに入射する。一方、P波ビーム中に67%は境
界面に通過してコリメートレンズ103に入射し、P波
の残りビームの33%は境界面で反射された光情報判読
手段(101)のワラストンプリズム(101a)に1
00%のS波と共に混在して入射する。
【0028】前記ワラストンプリズム101aに混在し
て入射したメインビーム即ち、S波とP波はワラストン
プリズム101aの境界面で線偏光され図5のように一
定角度に分離する。前記ワラストンプリズム101aか
ら各々一定角度を持ち分離したS波とP波のビームらは
光情報判読手段101の集束レンズ101bに通して2
分割した第1光検出部101cに集束する。
て入射したメインビーム即ち、S波とP波はワラストン
プリズム101aの境界面で線偏光され図5のように一
定角度に分離する。前記ワラストンプリズム101aか
ら各々一定角度を持ち分離したS波とP波のビームらは
光情報判読手段101の集束レンズ101bに通して2
分割した第1光検出部101cに集束する。
【0029】前記2分割第1光検出部101cは集束レ
ンズ101bを通して第1、第2領域(A11),(A
12)に各々集束した2つのS波ビームとP波ビームの
信号差で光ディスク105に記録した情報を読取るよう
になる。この時、光ディスク(105)に記録した情報
が光磁気信号(磁化方向による楕円偏光)である場合に
は第1領域(A11)に集束してP波又はS波と第2領
域(A12)に集束したS波又はP波の信号差に感知す
る。
ンズ101bを通して第1、第2領域(A11),(A
12)に各々集束した2つのS波ビームとP波ビームの
信号差で光ディスク105に記録した情報を読取るよう
になる。この時、光ディスク(105)に記録した情報
が光磁気信号(磁化方向による楕円偏光)である場合に
は第1領域(A11)に集束してP波又はS波と第2領
域(A12)に集束したS波又はP波の信号差に感知す
る。
【0030】即ち、前記第1領域(a11)に集束した
S波ビームの電気的信号をS11とし、第2領域(A1
2)に集束したP波ビームの電気的信号をS12とすれ
ば(S波とP波が第1、第2領域に相交して入射でき
る。)光情報信号は下記の式(5)のように求める。 光情報信号(光磁気信号)=S11−S12 …(5) 光ディスク(105)に記録した凹凸形状のピット信号
である場合、光情報信号は下記の式(6)のように第1
領域と第2領域に各々集束したS波とP波ビームの電気
的信号の和で求める。
S波ビームの電気的信号をS11とし、第2領域(A1
2)に集束したP波ビームの電気的信号をS12とすれ
ば(S波とP波が第1、第2領域に相交して入射でき
る。)光情報信号は下記の式(5)のように求める。 光情報信号(光磁気信号)=S11−S12 …(5) 光ディスク(105)に記録した凹凸形状のピット信号
である場合、光情報信号は下記の式(6)のように第1
領域と第2領域に各々集束したS波とP波ビームの電気
的信号の和で求める。
【0031】 光情報信号(Pit信号)=S11+S12 …(6) そして前記偏光ビーム分割手段(104)を通過した6
7%のP波は焦点エラーとトラッキングエラーを検知す
るのに使用する。これをより詳細に以下に説明する。前
記偏光ビーム分割手段(104)は境界面に通過した6
7%のP波ビームはコリメートレンズ103によってレ
ーザ発光面上に集束する。この集束したビームがレーザ
送受信エラー検出手段(100)を構成するレーザ(1
00a)と対物レンズ102b間に位置した第1及び第
2ホログラム(100−1),(100b−2)に入射
する。この入射したP波のビームが第1及び第2ホログ
ラム(100−1)(100b−2)の真の照射光の役
割をして物体光の位置(Q1)(Q2)で回析及び集束
され物体光が再生される。この再生したビームを第2光
検出部(100c)で検知して焦点エラー(FES)と
トラッキングエラー(TES)検知に必要の信号を発生
する。
7%のP波は焦点エラーとトラッキングエラーを検知す
るのに使用する。これをより詳細に以下に説明する。前
記偏光ビーム分割手段(104)は境界面に通過した6
7%のP波ビームはコリメートレンズ103によってレ
ーザ発光面上に集束する。この集束したビームがレーザ
送受信エラー検出手段(100)を構成するレーザ(1
00a)と対物レンズ102b間に位置した第1及び第
2ホログラム(100−1),(100b−2)に入射
する。この入射したP波のビームが第1及び第2ホログ
ラム(100−1)(100b−2)の真の照射光の役
割をして物体光の位置(Q1)(Q2)で回析及び集束
され物体光が再生される。この再生したビームを第2光
検出部(100c)で検知して焦点エラー(FES)と
トラッキングエラー(TES)検知に必要の信号を発生
する。
【0032】即ち、前記で偏光ビーム分割手段(10
4)及びコリメートレンズ(103)には67%のP波
のビームが第1及び第2ホログラム(100−1)(1
00b−2)に、図2及び図3のように集束される。図
3の(A)は図2のZ′方向から観察したビームの回析
状態であり、(B)はY′方向から観察したビームの回
析状態である。
4)及びコリメートレンズ(103)には67%のP波
のビームが第1及び第2ホログラム(100−1)(1
00b−2)に、図2及び図3のように集束される。図
3の(A)は図2のZ′方向から観察したビームの回析
状態であり、(B)はY′方向から観察したビームの回
析状態である。
【0033】従って前記ホログラム(100b)に集束
したビームは第1ホログラム(00−1)により4分割
した第2光検出器(100c)の第2領域(A2)を過
ぎた位置(Q2)で回析され集束し、あわせて前記ビー
ムは第2ホログラム(100b−2)により4分割した
第2光検出器(100c)の第4領域(A4)を過ぎる
前の位置(Q1)で各々回析、集束する。
したビームは第1ホログラム(00−1)により4分割
した第2光検出器(100c)の第2領域(A2)を過
ぎた位置(Q2)で回析され集束し、あわせて前記ビー
ムは第2ホログラム(100b−2)により4分割した
第2光検出器(100c)の第4領域(A4)を過ぎる
前の位置(Q1)で各々回析、集束する。
【0034】前記第1ホログラム(100b−1)によ
り集束したレーザビーム(B1)は図4の(A)のよう
に、第2光検出器(100c)の断面である第1領域
(A1)と第2領域(A2)の境界面に接して第2領域
(A2)に位置し、第2ホログラム(100b−2)に
より集束したレーザビーム(B2)は第13領域(A
1)と第4領域(A4)との境界面に接して第4領域
(A4)より位置するようになる。
り集束したレーザビーム(B1)は図4の(A)のよう
に、第2光検出器(100c)の断面である第1領域
(A1)と第2領域(A2)の境界面に接して第2領域
(A2)に位置し、第2ホログラム(100b−2)に
より集束したレーザビーム(B2)は第13領域(A
1)と第4領域(A4)との境界面に接して第4領域
(A4)より位置するようになる。
【0035】従って、前記光ディスク(105)と対物
レンズ(102b)間の間隔が正確な場合、即ち、焦点
エラー(FES)が発生しない場合は図4の(A)のよ
うに第2領域(A2)で検知した信号と第4領域(A
4)で検知した信号が同じになる。そして図4の(C)
のように光ディスク(105)と対物レンズ(102
b)間の間隔が離れる場合は第1ホログラム(100b
−1)と第2ホログラム(100b−2)により回析集
束される位置(Q1)(Q2)の集束点が遠ざかる。従
って第1ホログラム(100b−1)により第2領域
(A2)上に集束されるビーム(B1)の大きさが増加
して第1領域(A1)にまでビームがかかるようにな
り、第2ホログラム(100b−2)により第4領域
(A4)上に集束したビーム(B1)の大きさは小さく
なり第3領域(A3)に影響を及ばなくなる。
レンズ(102b)間の間隔が正確な場合、即ち、焦点
エラー(FES)が発生しない場合は図4の(A)のよ
うに第2領域(A2)で検知した信号と第4領域(A
4)で検知した信号が同じになる。そして図4の(C)
のように光ディスク(105)と対物レンズ(102
b)間の間隔が離れる場合は第1ホログラム(100b
−1)と第2ホログラム(100b−2)により回析集
束される位置(Q1)(Q2)の集束点が遠ざかる。従
って第1ホログラム(100b−1)により第2領域
(A2)上に集束されるビーム(B1)の大きさが増加
して第1領域(A1)にまでビームがかかるようにな
り、第2ホログラム(100b−2)により第4領域
(A4)上に集束したビーム(B1)の大きさは小さく
なり第3領域(A3)に影響を及ばなくなる。
【0036】逆に図4の(B)のように光ディスク(1
05)と対物レンズ(102b)間の間隔が近づく場合
には第1ホログラム(100b−1)と第2ホログラム
(100b−2)により回析集束される位置(Q1)
(Q2)の集束点が近づく。従って第1ホログラム(1
00b−1)により第2領域(A2)上に集束するビー
ム(B1)の大きさが小さくなり第1領域(A1)に影
響を及ばず、第2ホログラム(100b−2)により第
4領域(A4)上に集束されるビーム(B1)の大きさ
は増加して第3領域(A3)上にかかるので、これを利
用して焦点エラー(FES)を検出する。
05)と対物レンズ(102b)間の間隔が近づく場合
には第1ホログラム(100b−1)と第2ホログラム
(100b−2)により回析集束される位置(Q1)
(Q2)の集束点が近づく。従って第1ホログラム(1
00b−1)により第2領域(A2)上に集束するビー
ム(B1)の大きさが小さくなり第1領域(A1)に影
響を及ばず、第2ホログラム(100b−2)により第
4領域(A4)上に集束されるビーム(B1)の大きさ
は増加して第3領域(A3)上にかかるので、これを利
用して焦点エラー(FES)を検出する。
【0037】即ち、前記で第1領域(A1)に集束した
ビームの電気的信号をS1とし、第2領域(A2)に集
束したビームの電気的信号をS2、第3領域(A3)に
集束したビームの電気的信号をS3とし、第4領域(A
4)に集束したビームの電気的信号をS4とすれば焦点
エラー(FES)信号は下記の式(7)から求める。 焦点エラー(FES)=(S1+S4)−(S2+S3) …(7) 従って焦点エラー(FES)の発生しない場合にはFE
S=0になり、光ディスク(105)と記録/再生処理
手段(102)の対物レンズ(102b)が近づき発生
する焦点エラー(FES)は、FES>0となり、光デ
ィスク(105)と対物レンズ(102b)とが遠ざか
り、発生する焦点エラー(FES)はFES<0になる
ので焦点エラー(FES)信号によって情報記録/再生
処理手段(102)のアクチュエータ(102c)と対
物レンズ(102b)を上、下に動かして焦点エラー
(FES)を補正し得る。
ビームの電気的信号をS1とし、第2領域(A2)に集
束したビームの電気的信号をS2、第3領域(A3)に
集束したビームの電気的信号をS3とし、第4領域(A
4)に集束したビームの電気的信号をS4とすれば焦点
エラー(FES)信号は下記の式(7)から求める。 焦点エラー(FES)=(S1+S4)−(S2+S3) …(7) 従って焦点エラー(FES)の発生しない場合にはFE
S=0になり、光ディスク(105)と記録/再生処理
手段(102)の対物レンズ(102b)が近づき発生
する焦点エラー(FES)は、FES>0となり、光デ
ィスク(105)と対物レンズ(102b)とが遠ざか
り、発生する焦点エラー(FES)はFES<0になる
ので焦点エラー(FES)信号によって情報記録/再生
処理手段(102)のアクチュエータ(102c)と対
物レンズ(102b)を上、下に動かして焦点エラー
(FES)を補正し得る。
【0038】そして光ディスク105上のトラッキング
エラー(TES)補正においては、前述したように、第
1及び第2ホログラム(100−1),(100b−
2)の境界線が光ディスク(105)のトラックの接線
方向と同じである。従って光ディスク105に集束する
ビームがトラック内側(ディスク中心側)に傾むいてい
るので光ディスク(105)の内側に位置している第1
ホログラム(100b−1)が光ディスク(105)の
外側に位置した第2ホログラム(100b−2)により
多い光量を入射する。結局、第2光検出器(100c)
の第1領域(A)と第2領域(A2)の受けるビームの
強さが第3領域(A3)と第4領域(A4)の受けるビ
ームの強さより大きくなるのでトラッキングエラー(T
ES)は下記の式(8)から求める。
エラー(TES)補正においては、前述したように、第
1及び第2ホログラム(100−1),(100b−
2)の境界線が光ディスク(105)のトラックの接線
方向と同じである。従って光ディスク105に集束する
ビームがトラック内側(ディスク中心側)に傾むいてい
るので光ディスク(105)の内側に位置している第1
ホログラム(100b−1)が光ディスク(105)の
外側に位置した第2ホログラム(100b−2)により
多い光量を入射する。結局、第2光検出器(100c)
の第1領域(A)と第2領域(A2)の受けるビームの
強さが第3領域(A3)と第4領域(A4)の受けるビ
ームの強さより大きくなるのでトラッキングエラー(T
ES)は下記の式(8)から求める。
【0039】 トラッキングエラー(TES)=(S1+S2)−(S3+S4) …(8) 前述のように信号体系を構成すれば集束ビームが光ディ
スク(105)のトラック内側に傾いている場合はTE
S>0になり、ビームが外側に傾いていると反対方向に
なりTES<0になるのでトラッキングエラー(TE
S)信号により情報記録/再生処理手段(102)のア
クチュエータ(102c)にて対物レンズ(102b)
を左右に動いてトラッキングエラーを補正する。
スク(105)のトラック内側に傾いている場合はTE
S>0になり、ビームが外側に傾いていると反対方向に
なりTES<0になるのでトラッキングエラー(TE
S)信号により情報記録/再生処理手段(102)のア
クチュエータ(102c)にて対物レンズ(102b)
を左右に動いてトラッキングエラーを補正する。
【0040】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明は
回析格子と凹レンズ及びモディファイドワラストンプリ
ズムを使っていなくても2分割ホログラムを使用してビ
ームの大きさ及びプッシュプル方法を混用した1−ビー
ム方式にて焦点エラーとトラッキングエラー及びディス
クに記録した光磁気信号とピット信号を正確に検出で
き、また光学部品の減少によるピックアップ自体の軽量
化と読取速度の向上を可能とする効果がある。
回析格子と凹レンズ及びモディファイドワラストンプリ
ズムを使っていなくても2分割ホログラムを使用してビ
ームの大きさ及びプッシュプル方法を混用した1−ビー
ム方式にて焦点エラーとトラッキングエラー及びディス
クに記録した光磁気信号とピット信号を正確に検出で
き、また光学部品の減少によるピックアップ自体の軽量
化と読取速度の向上を可能とする効果がある。
【図1】本発明による光ピックアップ装置の構成図であ
って、(A)は正面図であり、(B)は平面図である。
って、(A)は正面図であり、(B)は平面図である。
【図2】図1によるレーザ送受信エラー検出手段のホロ
グラムと第2光検出器のモデュールを示す構成図であ
る。
グラムと第2光検出器のモデュールを示す構成図であ
る。
【図3】図2のホログラムによるレーザビームの回析状
態を示す図面であって、(A)は図2のZ′方向から観
察したレーザビームの回析状態説明図であり、(B)は
図2のY′方向から観察したレーザビームの回析状態説
明図である。
態を示す図面であって、(A)は図2のZ′方向から観
察したレーザビームの回析状態説明図であり、(B)は
図2のY′方向から観察したレーザビームの回析状態説
明図である。
【図4】図1の対物レンズとディスク間の間隔変化によ
る光検出器でのレーザビームの変化説明図(A〜C)で
ある。
る光検出器でのレーザビームの変化説明図(A〜C)で
ある。
【図5】図1のワラストンプリズムによるS波及びP波
の分離状態説明図である。
の分離状態説明図である。
【図6】図1の偏光分割手段のS波とP波の反射及び透
過状態説明図である。
過状態説明図である。
【図7】本発明によるピックアップ効率対偏光分割手段
のP波透過率を示すグラフである。
のP波透過率を示すグラフである。
【図8】従来の光ピックアップ装置の構成図である。
【図9】図8のディスクトラックでのビームの集束状態
の説明図である。
の説明図である。
【図10】図8の従来の光ピックアップ装置を構成する
ディスクと対物レンズ間隔変化による光検出器上に集束
されるビームの変化を示す図面であって、(A)は焦点
エラー発生がない時のビームの状態図であり、(B)は
対物レンズとディスク間の間隔が近づくこと(焦点エラ
ー発生)によるビームの変化を示す図面であり、(C)
は対物レンズとディスク間の間隔が離れる(焦点エラー
発生)ことによるビームの変化を示す図面である。
ディスクと対物レンズ間隔変化による光検出器上に集束
されるビームの変化を示す図面であって、(A)は焦点
エラー発生がない時のビームの状態図であり、(B)は
対物レンズとディスク間の間隔が近づくこと(焦点エラ
ー発生)によるビームの変化を示す図面であり、(C)
は対物レンズとディスク間の間隔が離れる(焦点エラー
発生)ことによるビームの変化を示す図面である。
【図11】図8のモディファイドワラストンプリズムに
よるS波及びP波の分離状態の説明図である。
よるS波及びP波の分離状態の説明図である。
【図12】図8の8分割にて構成した光検出器の詳細図
である。
である。
【図13】図8の光検出器での5つビームの集束の説明
図である。
図である。
100…エラー検出器 100a…レーザ 100b…ホログラム 100c…光検出器 101…光情報判読手段 101a…ワラストンプリズム 101b…集束レンズ 101c…光検出部 102…情報記録/再生処理手段 102a…反射鏡 102b…対物レンズ 102c…アクチュエータ 103…コリメートレンズ 104…偏光ビーム分割器 105…光ディスク
Claims (13)
- 【請求項1】 レーザ光を光ディスクに照射し、その光
ディスクでの記録した情報の記録有無によって反射され
各領域へ回析集束される一部P波の再生ビーム大きさか
ら、光ディスクのエラー有無を検出するレーザ送受信エ
ラー検出手段と、 前記レーザ送受信エラー検出手段から照射したレーザビ
ームを平行光に作るコリメートレンズと、 前記コリメートレンズを通したS偏光したビームの全部
と、これと垂直方向にP偏光したビームの一部を反射さ
せ、残るP偏光したビームを透過させ反射鏡、対物レン
ズを包含する情報記録/再生処理手段を通して光ディス
クに集光させ、前記光ディスクから反射され前記対物レ
ンズと反射鏡を通して入射するビームを透過及び反射さ
せる偏光ビーム分割手段と、 前記偏光ビーム分割手段から入射したS波全部と一部P
波との和信号及び差信号から光ディスクに記録された情
報を判読する光情報判読手段を具備する光ピックアップ
装置。 - 【請求項2】 前記レーザ送受信エラー検出手段は、光
ディスクにレーザ光を照射するレーザと、前記レーザか
ら照射するレーザ光をコリメートレンズに入射させて光
ディスクから反射されたP波をコリメートレンズを通し
て入射し、一定角に回析集束させるホログラムと、前記
ホログラムを通して一定角に回析され各々の領域に集束
される一部P波の再生ビームの大きさによって焦点エラ
ー及びトラッキングエラーを検知する第2光検出部とを
包含する請求項1に記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項3】 前記光情報判読手段は前記偏光ビーム分
割手段を通して反射し入射された光ディスクのS波全部
と一部のP波が混在したビームを各々一定の角度に分離
するワラストンプリズムと、 前記ワラストンプリズムから分離されたS波の全部のP
波の一部ビームを集束させる集束レンズと、 前記集束レンズを通して各領域に入射されるS波とP波
との信号差及び和で光情報信号及びピット信号を検知す
る第1光検出部を包含する請求項1に記載の光ピックア
ップ装置。 - 【請求項4】 前記偏光ビーム分割手段はP偏光したビ
ームの透過対反射比率を7:3ないし6:4の範囲にす
ることを特徴とする請求項1に記載の光ピックアップ装
置。 - 【請求項5】 ホログラムは第1ホログラムと第2ホロ
グラムとで分割されることを特徴とする請求項2に記載
の光ピックアップ装置。 - 【請求項6】 第2光検出は一定の大きさを持つ第1領
域ないし第4領域に分割され横に配列されることを特徴
とする請求項2に記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項7】 トラッキングエラー検出は光検出部の第
1、第2領域の和信号と第3、第4領域の和信号との差
信号で求めることを特徴とする請求項2に記載の光ピッ
クアップ装置。 - 【請求項8】 第1光検出部は一定の大きさを持つ第1
及び第2領域に分割され横に配列されることを特徴とす
る請求項3に記載の光磁気ディスクの光ピックアップ装
置。 - 【請求項9】 ホログラムは前記レーザから照射するビ
ームが偏光ビーム分割手段に入射するとき、偏光がP偏
光になるようにレーザの活性層をX,Y平面に平行にし
たことを特徴とする請求項2に記載の光ピックアップ装
置。 - 【請求項10】 第1及び第2ホログラムの真の照射光
の位置はレーザの発光点とし、第1ホログラムの物体光
の位置は第2光検出部を過ぎた位置に、第2ホログラム
の物体光の位置は第2光検出部を過ぎる前の位置に位置
することを特徴とする請求項5に記載の光ピックアップ
装置。 - 【請求項11】 第1及び第2ホログラムによる物体光
の集束位置において、第1ホログラムによるレーザビー
ムは第2光検出部の第2領域を過ぎた位置に集束し、第
2ホログラムによるレーザビームは第2光検出部の第4
領域を過ぎる前の位置に集束することを特徴とする請求
項5に記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項12】 第1及び第2ホログラムによる集束す
る物体光のレーザビームにおいて、第1ホログラムによ
るレーザビームは光検出部の第1領域と第2領域の0境
界面に接して第2領域位置に、第2ホログラムによるレ
ーザビームは第3領域と第4領域の境界面に接して第4
領域位置に集束することを特徴とする請求項5に記載の
光ピックアップ装置。 - 【請求項13】 光検出部の第3領域と第2領域の間隔
を第1領域と第4領域間の間隔より広くすることを特徴
とする請求項5に記載の光ピックアップ装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019930013329A KR950013702B1 (ko) | 1993-07-15 | 1993-07-15 | 광자기 디스크의 광픽업 장치 |
KR13329/1993 | 1993-07-15 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07141715A true JPH07141715A (ja) | 1995-06-02 |
Family
ID=19359316
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6163824A Pending JPH07141715A (ja) | 1993-07-15 | 1994-07-15 | 光ピックアップ装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5483509A (ja) |
EP (1) | EP0634743A1 (ja) |
JP (1) | JPH07141715A (ja) |
KR (1) | KR950013702B1 (ja) |
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---|---|---|---|---|
WO1995014299A1 (fr) * | 1993-11-19 | 1995-05-26 | Sony Corporation | Appareil de lecture optique |
KR970000645B1 (ko) * | 1994-02-26 | 1997-01-16 | 엘지전자 주식회사 | 광픽업 시스템 |
KR970010940B1 (ko) * | 1994-04-08 | 1997-07-02 | 엘지전자 주식회사 | 광픽업장치 |
JPH07326083A (ja) * | 1994-06-01 | 1995-12-12 | Olympus Optical Co Ltd | 光情報再生装置 |
KR970700356A (ko) * | 1994-11-10 | 1997-01-08 | 이데이 노부유키 | 광 픽업 장치 및 광학 디스크 드라이브 장치(Optical pickup apparatus and optical disk drive apparatus) |
JP3732268B2 (ja) * | 1996-02-28 | 2006-01-05 | 富士通株式会社 | 光ディスク装置用光学ヘッド |
JP3439903B2 (ja) * | 1996-03-11 | 2003-08-25 | 富士通株式会社 | 光ディスク装置用光学ヘッド |
WO1999016061A1 (en) * | 1997-09-22 | 1999-04-01 | Seagate Technology, Inc. | Apparatus and method for differential wax-wane focusing and push-pull tracking for magneto-optical data storage |
JP3503807B2 (ja) * | 1998-03-17 | 2004-03-08 | 船井電機株式会社 | 光ディスク装置 |
DE102013227101B3 (de) * | 2013-12-23 | 2015-05-21 | Trimble Jena Gmbh | Optisches System zur Nachverfolgung eines Ziels |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4794585A (en) * | 1986-05-06 | 1988-12-27 | Lee Wai Hon | Optical head having a hologram lens and polarizers for use with magneto-optic medium |
DE3732874A1 (de) * | 1987-09-30 | 1989-04-20 | Thomson Brandt Gmbh | Optische abtastvorrichtung |
JPH0677351B2 (ja) * | 1986-11-15 | 1994-09-28 | ソニー株式会社 | 光学ピツクアツプ装置 |
US4918675A (en) * | 1986-12-04 | 1990-04-17 | Pencom International Corporation | Magneto-optical head with separate optical paths for error and data detection |
US4873678A (en) * | 1986-12-10 | 1989-10-10 | Hitachi, Ltd. | Optical head and optical information processor using the same |
US5270996A (en) * | 1986-12-25 | 1993-12-14 | Nec Corporation | Optical head with diffraction grating producing five diffracted detection light beams |
JP2902415B2 (ja) * | 1989-09-14 | 1999-06-07 | シャープ株式会社 | 光学ヘッド |
US5283772A (en) * | 1990-05-15 | 1994-02-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical head |
US5258967A (en) * | 1992-02-24 | 1993-11-02 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for separating a first optical control radiation from a second optical control radiation in a read/write head for use in an optical storage and retrieval system |
-
1993
- 1993-07-15 KR KR1019930013329A patent/KR950013702B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1994
- 1994-07-13 US US08/274,527 patent/US5483509A/en not_active Expired - Fee Related
- 1994-07-14 EP EP94305151A patent/EP0634743A1/en not_active Withdrawn
- 1994-07-15 JP JP6163824A patent/JPH07141715A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5483509A (en) | 1996-01-09 |
KR950013702B1 (ko) | 1995-11-13 |
KR950004127A (ko) | 1995-02-17 |
EP0634743A1 (en) | 1995-01-18 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19990706 |