JP3732268B2 - 光ディスク装置用光学ヘッド - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は光ディスク装置用光学ヘッド(光ピックアップ)に関する。
光磁気ディスクを含む光ディスクは近年急速に発展するマルチメディア化の中で中核となるメモリ媒体として脚光を浴びており、通常カートリッジの中に収容された状態で使用される。
【0002】
光ディスクカートリッジが光ディスク装置内にローディングされ、光学ヘッドにより光ディスクへのデータのライト/リードが行われる。
【0003】
【従来の技術】
光ディスク、光磁気ディスク等の記録媒体は記録媒体を取り替えて使用するものであり、またこれらの記録媒体は成型時の歪みによって反りやうねりが生じている。
【0004】
そのため、記録媒体には偏心や傾きが生じやすい。従って、記録された情報を読みだすためにはフォーカシング誤差検出及びトラッキング誤差検出を行わなくてはならない。
【0005】
従来の光磁気ディスク用光学ヘッドでは、光磁気ディスクに書き込まれた情報の検出に加えて、フォーカシング誤差検出及びトラッキング誤差検出を行うために、複数のレンズ及び複数の偏光ビームスプリッタを含む多くの光学部品を用いて光学ヘッドを構成していた。
【0006】
他の従来技術として、光ディスク装置の光学ヘッドにホログラムを用いたものがいくつか提案されている。ホログラムはレーザダイオード、光検知器(フォトディテクタ)と共に一体化され、サーボ制御のためのレーザビームの誤差検出を行う。
【0007】
しかし、ホログラムを用いた従来の光学ヘッドはCDドライバ或いはCD−ROMドライバでは有効であるが、光磁気信号検出に必要な偏光分離機能がないため、光磁気ディスク装置の光学ヘッドにそのまま適用することはできない。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
このように従来の光磁気ディスク装置用光学ヘッドは、数多くの光学部品を必要とし、その構造が複雑であり、組み立て工数もかかるという問題があった。また、ホログラムを用いた光学ヘッドでは、光磁気信号検出を行う光磁気ディスク装置にはそのまま適用できないという問題があった。
【0009】
よって本発明の目的は、複数の光学部品を一体化した光学ユニットを使用することにより、光学部品と調整工数の削減及び小型軽量化を図ることのできる光磁気ディスク装置用光学ヘッドを提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】
本発明によると、光磁気ディスクに対して情報を読み出す光磁気ディスク装置用光学ヘッドにおいて、ステムと;前記ステムに固定されたレーザダイオードと;前記光磁気ディスクで反射された反射ビームから光磁気信号を検出する光磁気信号検出器と;前記反射ビームから前記光磁気ディスク上に集光されたレーザビームのフォーカス誤差検出及びトラッキング誤差検出を行う誤差信号検出器と;前記レーザダイオード、前記光磁気信号検出器及び前記誤差信号検出器を包囲するように前記ステムに取り付けられたキャップと;前記キャップ上に搭載された、前記反射ビームを分離する偏光ビームスプリッタと、前記偏光ビームスプリッタで反射されたビームが入射する複屈折結晶から形成されたビーム分離手段と、前記ビーム分離手段からのビームを反射するプリズムとが一体化されてなるビームスプリッタユニットと;前記プリズムの下面に位置し、前記プリズムからのビームを前記誤差信号検出器及び前記光磁気信号検出器に向けて回折するホログラムとを具備し;前記誤差信号検出器及び前記光磁気信号検出器は、前記ホログラムにより回折されたビームが前記誤差信号検出器及び光磁気信号検出器に入射するように前記ステムに配置されており、前記レーザダイオードから出射されたレーザビームは前記偏光ビームスプリッタを透過して前記光磁気ディスクに照射され、前記光磁気ディスクで反射された反射ビームは、前記偏光ビームスプリッタで反射された後、複屈折結晶から形成された前記ビーム分離手段及び前記ホログラムの順に通過して前記誤差信号検出器及び光磁気信号検出器に入射することを特徴とする光磁気ディスク装置用光学ヘッドが提供される。
【0011】
好ましくは、複屈折結晶から形成されたビーム分離手段はウォラストンプリズム、ロションプリズム等の偏光プリズムから形成される。
本発明によれば、複数の光学部品を一体化したビームスプリッタユニットをレーザダイオード及び光検出器を包囲するキャップ上に搭載したため、光学部品及び調整工数の削減を図ることができ、小型の光磁気ディスク用光学ヘッドを実現することができる。
【0013】
【発明の実施の形態】
図1〜図3を参照して、本発明第1実施形態の光磁気ディスク装置用光学ヘッドについて説明する。光学ヘッド2は光磁気ディスク4に対して情報を読み書きする。
【0014】
ステム6上にはレーザダイオード8、光磁気信号検出用光検知器ユニット(フォトダイオード)10及びフォーカシング誤差信号及びトラッキング誤差信号検出用の光検知器ユニット12がダイボンディング等により搭載されている。ステム6の裏面には複数の端子13が突出している。
【0015】
ステム6にはレーザダイオード8及び光検知器ユニット10及び光検知器ユニット12を包囲するキャップ14が搭載されている。キャップ14はその上面に開口15を有している。
【0016】
キャップ14上にはビームスプリッタユニット16が接着剤等により固定されている。ビームスプリッタユニット16は偏光ビームスプリッタ18と、偏光ビームスプリッタ18の側面に接着された直角プリズム20と、プリズム20の下面及び偏光ビームスプリッタ18の側面に接着されたウォラストンプリズム22とを含んでいる。
【0017】
偏光ビームスプリッタ18は直角プリズム24の斜面に偏光分離膜28を形成し、この斜面に他の直角プリズム26を接着して構成されている。この偏光ビームスプリッタ18は、例えばP偏光に対して70%の透過率、S偏光に対して97%の反射率を有している。
【0018】
好ましくは、直角プリズム20の斜面に反射膜20aが形成されている。しかし、偏光ビームスプリッタ18で反射されたビームは直角プリズム20の斜面で全反射されるため、反射膜20aを省略することもできる。
【0019】
ウォラストンプリズム22は光学軸が互いに直交するように切り出された複屈折結晶からなる2つの直角プリズム22a,22bをバルサムで接合して形成される。
【0020】
複屈折結晶としては方解石、水晶及びリチウムナイオベート(LiNbO3 )等が採用可能である。ウォラストンプリズム22に代えて、ロションプリズム等の他の偏光プリズムも採用可能である。
【0021】
偏光ビームスプリッタ18の下面には後で詳細に説明するホログラム回折格子30が形成されている。符号32はレーザダイオード8から出射されたレーザビームを平行ビームにするコリメータレンズであり、符号34はレーザビームを光磁気ディスク4上にフォーカスする対物レンズである。
【0022】
しかして、半導体レーザ8から出射されたP偏光のレーザビームは約70%の透過率で偏光ビームスプリッタ18を透過し、コリメータレンズ32でコリメートビームに変換される。コリメートビームは対物レンズ34により光磁気ディスク4上にフォーカスされる。
【0023】
光磁気ディスク4表面で反射された反射ビームは、書き込み情報によりカー回転を生じ、S偏光成分を含むようになる。この反射ビームは対物レンズ34によりコリメートビームに戻されて、コリメータレンズ32により集束されながら偏光ビームスプリッタ18に入射する。
【0024】
反射ビーム中のP偏光成分は約70%の透過率で偏光ビームスプリッタ18を透過し、P偏光成分の約30%が偏光ビームスプリッタにより反射される。一方、反射ビーム中のS偏光成分は約97%の反射率で偏光ビームスプリッタ18で反射される。反射ビームでは、S偏光成分の割合は非常に小さいが、偏光ビームスプリッタ18を用いてS偏光成分の割合を高めている。
【0025】
偏光ビームスプリッタ18で反射されたビームは直角プリズム20の斜面で下方に全反射され、ウォラストンプリズム22に入射する。このビームはウォラストンプリズム22でP偏光とS偏光に分離され、光検知器ユニット10で検出される。
【0026】
光検知器ユニット10はP偏光成分を検出する光検知器と、S偏光成分を検出する光検知器とを含んでいる。この2つの光検知器で検出された信号を従来よく知られた方法で差動検出することにより、光磁気信号が検出される。
【0027】
一方、偏光ビームスプリッタ18を透過した反射ビームはホログラム30に入射し、ホログラム30により回折されたビームが光検知器ユニット12に入射する。
【0028】
ホログラム30は図3に示すような4つの異なる干渉縞領域30a〜30dを有している。ホログラム30の各領域30a〜30dに入射したビームはそれぞれ異なる方向に回折される。
【0029】
光検知器ユニット12はフォーカシング誤差検知用の光検知器12a,12bと、トラッキング誤差検知用の光検知器12c,12dとを含んでいる。光検知器12aは分割線36により2つの領域に分割されており、同様に光検知器12bも分割線38により2つの領域に分割されている。矢印40は光磁気ディスク4のトラック方向を示している。
【0030】
ホログラム30の領域30a,30bがフォーカス誤差信号(FES)検出用であり、領域30c,30dがトラッキング誤差信号(TES)検出用である。これらの各領域の大きさは、それぞれの光磁気ディスク装置で要求される光量の分配に応じて決定される。
【0031】
領域30a,30bで回折されたビームはフォーカス誤差信号検知用の光検知器12a,12bにそれぞれ入射される。一方、領域30c,30dで回折されたビームはトラッキング誤差信号検知用の光検知器12c,12dにそれぞれ入射する。
【0032】
フォーカス誤差信号(FES)は、光検知器12aの分割線36の右側領域に入射する光量をA、左側領域に入射する光量をBとし、光検知器12bの分割線38の左側領域に入射する光量をC、右側領域に入射する光量をDとすると、
FES=(A+C)−(B+D)
で検出することができる。
【0033】
また、トラック誤差信号(TES)は、光検知器12c,12dに入射する光量をE,Fとすると、
TES=(C−D)
で検出することができる。
【0034】
ホログラムの作成は、例えば電子ビームやレーザビームの直接描画により行う。直接描画では、ホログラムの干渉縞断面に傾斜を付け、高効率化を図る必要が生じるが、多重描画により作成が可能である。
【0035】
これ以外のホログラムの作成方法としては、あらかじめホログラムパターンを大きく直接描画し、ステッパーにより縮小しマスクを作成し、フォトリソグラフィによりパターンを転写する方法がある。
【0036】
この場合には、フォトレジスト等をマスクとし、イオンビームによるエッチングで干渉縞パターンを作成する。また、ホログラムを補助露光系として、ホログラフィック露光により作成することも可能である。
【0037】
図4を参照すると、本発明第2実施形態正面図が示されている。本実施形態のビームスプリッタユニット16Aは偏光ビームスプリッタ18と、偏光ビームスプリッタ18の側面に接着されたウォラストンプリズム42と、ウォラストンプリズム42に接着されたプリズム44とを含んでいる。好ましくは、プリズム44の斜面には反射膜44aが形成されている。
【0038】
本実施形態の他の構成は、上述した第1実施形態と同様であるのでその説明を省略する。このように、ウォラストンプリズム42を偏光ビームスプリッタ18とプリズム44との間に挟んだ場合にも、第1実施形態と同様にP偏光成分とS偏光成分とを分離して光磁気信号を検出することができる。ウォラストンプリズム42に代えて、ロションプリズム等の偏光プリズムも採用可能である。
【0039】
図5を参照すると、本発明第3実施形態の正面図が示されている。本実施形態のビームスプリッタユニット16Bは第2実施形態のビームスプリッタユニット16Aに類似しているが、ホログラム30がプリズム44の下面に形成されている点で第2実施形態と相違する。更に光検知器ユニット46は、光磁気信号検出用の2つの光検知器と、誤差信号検出用の4つの光検知器とを含んでいる。
【0040】
本実施形態によると、ホログラム30を透過する2つの0次光ビームが光磁気信号検出用の2つの光検知器でそれぞれ検出される。ホログラム30で回折された回折ビームが第1及び第2実施形態と同様な4つの光検知器12a〜12dで検出される。
【0041】
図6を参照すると、本発明第4実施形態の正面図が示されている。本実施形態のビームスプリッタユニット16Cは偏光ビームスプリッタ18と、偏光ビームスプリッタ18の側面に接着されたビームスプリッタ48と、ビームスプリッタ48の側面に接着された直角プリズム20と、直角プリズム20の下面及びビームスプリッタ48の側面に接着されたウォラストンプリズム22を含んでいる。
【0042】
ビームスプリッタ48はカップラー膜50を有している。ビームスプリッタ48の下面には上述した各実施形態と同様なホログラム30が形成されている。更に、ステム6上にブロック52が固定され、このブロック52上に光検知器ユニット10,12が搭載されている。
【0043】
このようにブロック52上に光検知器ユニット10,12を搭載しているのは、レーザダイオード8から偏光分離膜28までの光路長と、誤差信号検出用の光検知器ユニット12から偏光分離膜28までの光路長と等しいことが、ビームの色収差の点から望ましいからである。
【0044】
光磁気ディスク4で反射した反射ビームはコリメータレンズ32で集束されながら偏光ビームスプリッタ18に入射する。反射ビームのP偏光成分の約70%が偏光ビームスプリッタ18を透過し、約30%が偏光ビームスプリッタ18で反射される。一方、反射ビームのS偏光成分は約97%の反射率で偏光ビームスプリッタ18により反射される。
【0045】
偏光ビームスプリッタ18で反射されたビームはビームスプリッタ48で透過ビームと反射ビームに分岐される。透過ビームは直角プリズム20の斜面で全反射されてウォラストンプリズム22によりP偏光ビームとS偏光ビームに分離され、レンズ54により光検知器ユニット10の各光検知器上に集光される。
【0046】
一方、ビームスプリッタ48で反射されたビームは図3に示したのと同様なホログラム30に入射し、ホログラム30で回折されて光検知器ユニット12の各光検知器に入射する。
【0047】
本実施形態においても、ウォラストンプリズム22に代えてロションプリズム等の他の偏光プリズムも採用可能である。また、ウォラストンプリズム22の下面に接着したレンズ54は省略することもできる。
【0048】
図7は本発明第5実施形態の正面図を示している。上述した第4実施形態では、偏光分離膜28からレーザダイオード8までの光路長と光検知器ユニット12までの光路長を同一とするために、ブロック52の上に光検知器ユニット10,12を搭載している。
【0049】
本実施形態では偏光ビームスプリッタ18の下面にリチウムナイオベート等の複屈折結晶56が接着されている。複屈折結晶56は約1.8の屈折率を有しており、偏光ビームスプリッタ18のプリズム24,26の屈折率(約1.5)に比較してその屈折率が大きいため、レーザダイオード8から偏光分離膜28までの実効光路長を長くできる。
【0050】
複屈折結晶56の厚さを適当に設定することにより、図7に示すようにステム6上にレーザダイオード8、光検知器ユニット10,12を直接搭載した場合にも、偏光分離膜28からレーザダイオード8までの実効光路長と光検知器ユニット12までの実効光路長を同一とすることができる。
【0051】
図8を参照すると、本発明第6実施形態の正面図が示されている。本実施形態の光学ヘッドは、相変化型光ディスク装置に適した光学ヘッドである。ビームスプリッタユニット16Eは偏光ビームスプリッタ18と、偏光ビームスプリッタ18の側面に接着されたプリズム62とを含んでいる。
【0052】
好ましくは、プリズム62の斜面に反射膜62aが形成されている。更に、プリズム62の下面には図3に示したのと同様なホログラム30が形成されている。
【0053】
ステム6上にはブロック58が固定され、このブロック58上に光検知器ユニット60が搭載されている。光検知器ユニット60は光信号検出用の光検知器と、フォーカシング誤差信号検出用の2つの光検知器と、トラッキング誤差信号検出用の2つの光検知器とを含んでいる。また、コリメータレンズ32と対物レンズ34との間にλ/4板が挿入されている。
【0054】
レーザダイオード8から出射されたレーザビームのP偏光成分が偏光ビームスプリッタ18を透過し、コリメータレンズ32によりコリメートビームにされてλ/4板64に入射し、直線偏光が円偏光に変換される。この円偏光化されたレーザビームが対物レンズにより光ディスク上にフォーカスされる。
【0055】
光ディスクに照射されたレーザビームは情報があるときには強く反射され、情報がないときには弱く反射される。この反射ビームがλ/4板64を通過するとP偏光に対して直角方向の振動面を有するS偏光に変換される。
【0056】
よって、このS偏光ビームは偏光ビームスプリッタ28で反射され、プリズム62に入射する。更に、プリズム62の斜面で下方に全反射された後ホログラム30に入射する。ホログラム30を透過する0次光は光信号検出用の光検知器で検出される。
【0057】
光ディスクに記録された情報の有無に応じて光ディスクで反射されるビームの強度が変化するため、該光検知器の出力をモニタすることにより光ディスクに記録された情報を読むことができる。
【0058】
フォーカシング誤差検出及びトラッキング誤差検出については、上述した第1乃至第5実施形態の光磁気ディスク装置用光学ヘッドの場合と同様である。
図9は本発明第7実施形態の正面図を示している。本実施形態のビームスプリッタユニット16Fは第6実施形態のビームスプリッタユニット16Eの偏光ビームスプリッタ18の下面にレンズ66を接着したものである。
【0059】
レンズ66によりレーザダイオード8から出射されたレーザビームを概略垂直関係で偏光ビームスプリッタ18に入射することができるため、偏光分離膜28の場所による入射角度依存性が軽減でき、S/Nのよい偏光分離ができるという利点がある。
【0060】
【発明の効果】
本発明は以上詳述したように、偏光ビームスプリッタに偏光プリズムが一体化されたビームスプリッタユニットを採用し、このビームスプリッタユニットの下面にホログラムを一体的に形成したため、小型、低価格で、且つ信頼性の高い光磁気ディスク装置用光学ヘッドを提供できる。
【0061】
更に、偏光ビームスプリッタにプリズムを一体化したビームスプリッタユニットを採用し、ビームスプリッタユニットの下面にホログラムを一体的に形成することにより、小型、低価格で、且つ信頼性の高い光ディスク装置用光学ヘッドを提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態全体斜視図である。
【図2】第1実施形態正面図である。
【図3】第1実施形態の誤差信号検出系を示す図である。
【図4】本発明の第2実施形態正面図である。
【図5】本発明の第3実施形態正面図である。
【図6】本発明の第4実施形態正面図である。
【図7】本発明の第5実施形態正面図である。
【図8】本発明の第6実施形態正面図である。
【図9】本発明の第7実施形態正面図である。
【符号の説明】
2 光学ヘッド
4 光磁気ディスク
6 ステム
8 レーザダイオード
10 光磁気信号検出用光検知器ユニット
12 誤差信号検出用光検知器ユニット
14 キャップ
16 ビームスプリッタユニット
18 偏光ビームスプリッタ
20 直角プリズム
22 ウォラストンプリズム
30 ホログラム
32 コリメータレンズ
34 対物レンズ
Claims (2)
- 光磁気ディスクに対して情報を読み出す光磁気ディスク装置用光学ヘッドにおいて、
ステムと;
前記ステムに固定されたレーザダイオードと;
前記光磁気ディスクで反射された反射ビームから光磁気信号を検出する光磁気信号検出器と;
前記反射ビームから前記光磁気ディスク上に集光されたレーザビームのフォーカス誤差検出及びトラッキング誤差検出を行う誤差信号検出器と;
前記レーザダイオード、前記光磁気信号検出器及び前記誤差信号検出器を包囲するように前記ステムに取り付けられたキャップと;
前記キャップ上に搭載された、前記反射ビームを分離する偏光ビームスプリッタと、前記偏光ビームスプリッタで反射されたビームが入射する複屈折結晶から形成されたビーム分離手段と、前記ビーム分離手段からのビームを反射するプリズムとが一体化されてなるビームスプリッタユニットと;
前記プリズムの下面に位置し、前記プリズムからのビームを前記誤差信号検出器及び前記光磁気信号検出器に向けて回折するホログラムとを具備し;
前記誤差信号検出器及び前記光磁気信号検出器は、前記ホログラムにより回折されたビームが前記誤差信号検出器及び光磁気信号検出器に入射するように前記ステムに配置されており、
前記レーザダイオードから出射されたレーザビームは前記偏光ビームスプリッタを透過して前記光磁気ディスクに照射され、
前記光磁気ディスクで反射された反射ビームは、前記偏光ビームスプリッタで反射された後、複屈折結晶から形成された前記ビーム分離手段及び前記ホログラムの順に通過して前記誤差信号検出器及び光磁気信号検出器に入射することを特徴とする光磁気ディスク装置用光学ヘッド。 - 光磁気ディスクに対して情報を読み出す光磁気ディスク装置において、
ステムと;
前記ステムに固定されたレーザダイオードと;
前記レーザダイオードからのレーザビームを前記光磁気ディスク上に集光する対物レンズと;
前記光磁気ディスクで反射された反射ビームから光磁気信号を検出する光磁気信号検出器と;
前記反射ビームから前記光磁気ディスク上に集光されたレーザビームのフォーカス誤差検出及びトラッキング誤差検出を行う誤差信号検出器と;
前記レーザダイオード、前記光磁気信号検出器及び前記誤差信号検出器を包囲するように前記ステムに取り付けられたキャップと;
前記キャップ上に搭載された、前記反射ビームを分離する偏光ビームスプリッタと、前記偏光ビームスプリッタで反射されたビームが入射する複屈折結晶から形成されたビーム分離手段と、前記ビーム分離手段からのビームを反射するプリズムとが一体化されてなるビームスプリッタユニットと;
前記プリズムの下面に位置し、前記プリズムからのビームを前記誤差信号検出器及び前記光磁気信号検出器に向けて回折するホログラムとを具備し;
前記誤差信号検出器及び前記光磁気信号検出器は、前記ホログラムにより回折されたビームが前記誤差信号検出器及び光磁気信号検出器に入射するように前記ステムに配置されており、
前記レーザダイオードから出射されたレーザビームは前記偏光ビームスプリッタを透過して前記光磁気ディスクに照射され、
前記光磁気ディスクで反射された反射ビームは、前記偏光ビームスプリッタで反射され た後、複屈折結晶から形成された前記ビーム分離手段及び前記ホログラムの順に通過して前記誤差信号検出器及び光磁気信号検出器に入射することを特徴とする光磁気ディスク装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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