JPH0668706B2 - 基準電圧発生回路 - Google Patents
基準電圧発生回路Info
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- JPH0668706B2 JPH0668706B2 JP59167466A JP16746684A JPH0668706B2 JP H0668706 B2 JPH0668706 B2 JP H0668706B2 JP 59167466 A JP59167466 A JP 59167466A JP 16746684 A JP16746684 A JP 16746684A JP H0668706 B2 JPH0668706 B2 JP H0668706B2
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- current source
- circuit
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is dc
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/30—Regulators using the difference between the base-emitter voltages of two bipolar transistors operating at different current densities
-
- G—PHYSICS
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- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
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- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is dc
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- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/22—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the bipolar type only
- G05F3/222—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the bipolar type only with compensation for device parameters, e.g. Early effect, gain, manufacturing process, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage
- G05F3/225—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the bipolar type only with compensation for device parameters, e.g. Early effect, gain, manufacturing process, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage producing a current or voltage as a predetermined function of the temperature
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- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y10S323/907—Temperature compensation of semiconductor
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- Control Of Electrical Variables (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は出力電圧の温度特性を任意に設定し得る基準電
圧発生回路に関する。
圧発生回路に関する。
(従来の技術) 従来、基準電圧発生回路としては、第2図に示す様な抵
抗RLと定電流源IO及びエミッタフォロアによる回路
が広く用いられ、出力基準電圧VRの温度特性を定電流
源IOの電流の温度特性を制御する事で設定する方法が
取られてきた。
抗RLと定電流源IO及びエミッタフォロアによる回路
が広く用いられ、出力基準電圧VRの温度特性を定電流
源IOの電流の温度特性を制御する事で設定する方法が
取られてきた。
(発明が解決しようとする問題点) 所が、一般に定電流源IOは、第3図に示す様なトラン
ジスタQ3と抵抗REを用いた回路によって構成し、こ
の時、駆動電圧源VCSに適当な温度特性を与えて、電
流値IOの制御を行なうが、上記電圧源VCSは基準電
圧発生回路以外の多数のゲート回路等に於ける定電流源
の駆動に共用される事が多い為、基準電圧発生回路の出
力電圧に独立に任意に温度特性を与える事ができないと
いう欠点があった。
ジスタQ3と抵抗REを用いた回路によって構成し、こ
の時、駆動電圧源VCSに適当な温度特性を与えて、電
流値IOの制御を行なうが、上記電圧源VCSは基準電
圧発生回路以外の多数のゲート回路等に於ける定電流源
の駆動に共用される事が多い為、基準電圧発生回路の出
力電圧に独立に任意に温度特性を与える事ができないと
いう欠点があった。
即ち、トランジスタのベース・エミッタ順方向電圧をV
Fとすると、第3図で、定電流源電流値IOは IO(VCS−VF)/RE となり、従って基準電圧出力VRは となる。
Fとすると、第3図で、定電流源電流値IOは IO(VCS−VF)/RE となり、従って基準電圧出力VRは となる。
上式で抵抗比RL/REが温度に対して一定とする基準
電圧VRの温度特性は で与えられる。このとき、dVF/dTはトランジスタ
の物理的パラメータと考えられるから、dVR/dTを
希望の値にするには駆動電圧VCSの温度特性を を満足するように設定すれば良いことになる。
電圧VRの温度特性は で与えられる。このとき、dVF/dTはトランジスタ
の物理的パラメータと考えられるから、dVR/dTを
希望の値にするには駆動電圧VCSの温度特性を を満足するように設定すれば良いことになる。
所が、駆動電圧源VCSを共用する他の定電流源Ilの
所望温度特性dIl/dTは、上記と同様に、 と表わされ、dVF/dT,dRE/dTはそれぞれト
ランジスタ,抵抗の物理的パラメータと看做されている
から、このdIl/dTを満足するdVCS/dTの値
が(1)式を満たすdVCS/dTと一致しない場合が生
じた時、どちらかの定電流源を別個の駆動電圧源によっ
て駆動し、各々異なるdVCS/dTを設定する以外方
法がない。これは半導体装置の占有面積又は容積や、消
費電力の増加につながる他、一般に精密な設計を要する
駆動電圧源の数が増える為の設計工数の増加等好ましく
ない影響を与える。
所望温度特性dIl/dTは、上記と同様に、 と表わされ、dVF/dT,dRE/dTはそれぞれト
ランジスタ,抵抗の物理的パラメータと看做されている
から、このdIl/dTを満足するdVCS/dTの値
が(1)式を満たすdVCS/dTと一致しない場合が生
じた時、どちらかの定電流源を別個の駆動電圧源によっ
て駆動し、各々異なるdVCS/dTを設定する以外方
法がない。これは半導体装置の占有面積又は容積や、消
費電力の増加につながる他、一般に精密な設計を要する
駆動電圧源の数が増える為の設計工数の増加等好ましく
ない影響を与える。
本発明の目的は定電流源駆動電圧の温度特性に拘束され
ず任意に温度特性を設定できる基準電圧発生回路を提供
することにある。
ず任意に温度特性を設定できる基準電圧発生回路を提供
することにある。
(問題点を解決するための手段) 本発明の基準電圧発生回路は、高電位側電源と定電流源
との間に第1の抵抗と第2の抵抗を直列に接続し、前記
高電位側電源と前記定電流源との間に第3の抵抗とダイ
オードとを直列にかつ該ダイオードのカソード側が前記
定電流源に接続される様に接続し、前記第1の抵抗と、
前記第2の抵抗との接続点からエミッタフォロア回路を
介して基準電圧を取り出す事を特徴として構成される。
との間に第1の抵抗と第2の抵抗を直列に接続し、前記
高電位側電源と前記定電流源との間に第3の抵抗とダイ
オードとを直列にかつ該ダイオードのカソード側が前記
定電流源に接続される様に接続し、前記第1の抵抗と、
前記第2の抵抗との接続点からエミッタフォロア回路を
介して基準電圧を取り出す事を特徴として構成される。
(実施例) 次に、本発明の実施例について図面を用いて説明する。
第1図は本発明の一実施例の回路図である。
この実施例は、高電位側電源VCCと定電流源1との間
に第1の抵抗R1と第2の抵抗R2を直列接続し、高電
位側電源VCCと定電流源1との間に第3の抵抗R3と
ダイオードDiとを直列に、かつ該ダイオードDiのカ
ソード側が定電流源1に接続されるように接続し、第1
の抵抗R1と第2の抵抗R2との接続点からエミッタフ
ォロア回路2を介して基準電圧VRを取出すように構成
される。
に第1の抵抗R1と第2の抵抗R2を直列接続し、高電
位側電源VCCと定電流源1との間に第3の抵抗R3と
ダイオードDiとを直列に、かつ該ダイオードDiのカ
ソード側が定電流源1に接続されるように接続し、第1
の抵抗R1と第2の抵抗R2との接続点からエミッタフ
ォロア回路2を介して基準電圧VRを取出すように構成
される。
ここで、定電流源1はトランジスタQ6と抵抗REと定
電流駆動電圧源VCSとで構成される。
電流駆動電圧源VCSとで構成される。
この実施例において、定電流I0は、第1及び第2の抵
抗R1,R2の直列回路に流れる電流I1と、抵抗R3
とダイオードDiの直列回路に流れる電流I2とに分流
し、基準電圧VRは、抵抗R1の一端からトランジスタ
Q5,抵抗REFによるエミッタフォロァ回路により、 VR=−I1R1−VF………………(2) として取出される。ここで、各部電流I1及びI2は、
以下の様にして求められる。
抗R1,R2の直列回路に流れる電流I1と、抵抗R3
とダイオードDiの直列回路に流れる電流I2とに分流
し、基準電圧VRは、抵抗R1の一端からトランジスタ
Q5,抵抗REFによるエミッタフォロァ回路により、 VR=−I1R1−VF………………(2) として取出される。ここで、各部電流I1及びI2は、
以下の様にして求められる。
I1(R1+R2)=I2R3+VD………(3) ここで、VDはダイオードDiの順方向電圧で、一般に VDVF………………(4) となる。従って、 I0=I1+I2=(VCS−VF)/RE…(5) と表わされる。(3)〜(5)式より と表わされる。従って、基準電圧VRは、(1)式を(2)式
に代入し整理することにより と表わされる。ここでΣR=R1+R2+R3である。
に代入し整理することにより と表わされる。ここでΣR=R1+R2+R3である。
更に(7)式から出力電圧VRの温度特性は と表わされる。(7)式は基準電圧出力の絶対値を(8)式は
その出力の温度特性を与える式である。
その出力の温度特性を与える式である。
ここで、駆動電圧VCS及びその温度特性dVCS/d
T、トランジスタのペース・エミッタ順方向電圧VF及
びその温度特性は、定電流源駆動電圧源VCSを共用す
る他の回路からの特性要求及びトランジスタの物理的パ
ラメータとして予め与えられるものとすれば、(7),(8)
式共満足する様に2つの抵抗比R1/ΣRとR3/RE
とを設定すればよい事になる。
T、トランジスタのペース・エミッタ順方向電圧VF及
びその温度特性は、定電流源駆動電圧源VCSを共用す
る他の回路からの特性要求及びトランジスタの物理的パ
ラメータとして予め与えられるものとすれば、(7),(8)
式共満足する様に2つの抵抗比R1/ΣRとR3/RE
とを設定すればよい事になる。
即ち、(7),(8)式で、RR,dVR/dTに所望値、V
CS,dVCS/dT及びVF,dVF/dTに各々与
値を代入し、R1/ΣRとR3/REとを未知数とする
二元一次連立方程式としてその解を得る事により、任意
のVR,dVR/dTを実現する事ができる。
CS,dVCS/dT及びVF,dVF/dTに各々与
値を代入し、R1/ΣRとR3/REとを未知数とする
二元一次連立方程式としてその解を得る事により、任意
のVR,dVR/dTを実現する事ができる。
ここで、基準電圧値VRとその温度特性dVR/dTの
設計に於いて、使用抵抗の絶対値でなく、各抵抗間の抵
抗比を用いている事は、抵抗の絶対値は大きくばらつく
がその相対比は精度よく製作でき、半導体集積回路への
応用に向いている事になり、本発明は当該応用に特に好
適であると言える。
設計に於いて、使用抵抗の絶対値でなく、各抵抗間の抵
抗比を用いている事は、抵抗の絶対値は大きくばらつく
がその相対比は精度よく製作でき、半導体集積回路への
応用に向いている事になり、本発明は当該応用に特に好
適であると言える。
上記実施例ではNPNトランジスタを用いたがPNPト
ランジスタを用いても同様の効果が得られることは明ら
かである。
ランジスタを用いても同様の効果が得られることは明ら
かである。
(発明の効果) 以上説明した様に、本発明では使用抵抗間の抵抗比を適
当に設定する事により、定電流源駆動電圧の絶対値及び
その温度特性に拘束される事なく基準電圧発生回路の出
力電圧及びその温度特性を任意に設定可能となる。これ
により、駆動電圧源数の増加をなくし、半導体集積回路
にあっては、そのチップ面積の有効利用、設定の簡単化
が図れる基準電圧発生回路が得られるという効果があ
る。
当に設定する事により、定電流源駆動電圧の絶対値及び
その温度特性に拘束される事なく基準電圧発生回路の出
力電圧及びその温度特性を任意に設定可能となる。これ
により、駆動電圧源数の増加をなくし、半導体集積回路
にあっては、そのチップ面積の有効利用、設定の簡単化
が図れる基準電圧発生回路が得られるという効果があ
る。
第1図は本発明の一実施例の回路図、第2図は従来の基
準電圧発生回路の一例の回路図、第3図は従来の基準電
圧発生回路の他の例の回路図である。 1……定電流源、2……エミッタフォロア回路、Di…
…ダイオード、G……任意の回路網、I0……定電流
源、I1……定電流、Q1〜Q6……トランジスタ、R
1……第1の抵抗、R2……第2の抵抗、R3……第3
の抵抗、RE,RE′,REF、RL……抵抗、VCC
……高電位側電源、VCS……定電流源駆動電圧源、V
EF……低電位側電源、VR……基準電圧。
準電圧発生回路の一例の回路図、第3図は従来の基準電
圧発生回路の他の例の回路図である。 1……定電流源、2……エミッタフォロア回路、Di…
…ダイオード、G……任意の回路網、I0……定電流
源、I1……定電流、Q1〜Q6……トランジスタ、R
1……第1の抵抗、R2……第2の抵抗、R3……第3
の抵抗、RE,RE′,REF、RL……抵抗、VCC
……高電位側電源、VCS……定電流源駆動電圧源、V
EF……低電位側電源、VR……基準電圧。
Claims (1)
- 【請求項1】定電流源(1)と、第1の抵抗(R1)と
第2の抵抗(R2)と、第3の抵抗(R3)と、ダイオ
ード(Di)と、エミッタフォロア回路(2)とを有す
る基準電圧発生回路であって、第1の抵抗(R1)と第
2の抵抗(R2)とは直列接続されて高電位側電源(V
CC)と定電流源(1)との間に接続され、第3の抵抗
(R3)とダイオード(Di)とは直列接続されて高電
位側電源(VCC)と定電流源(1)との間に接続さ
れ、ダイオード(Di)のカソード側が前記定電流源
(1)に接続され、エミッタフォロア回路(2)は入力
部が第1の抵抗(R1)と第2の抵抗(R2)との接続
点に接続され基準電圧を出力するものである基準電圧発
生回路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59167466A JPH0668706B2 (ja) | 1984-08-10 | 1984-08-10 | 基準電圧発生回路 |
US06/763,462 US4658205A (en) | 1984-08-10 | 1985-08-07 | Reference voltage generating circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59167466A JPH0668706B2 (ja) | 1984-08-10 | 1984-08-10 | 基準電圧発生回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6145315A JPS6145315A (ja) | 1986-03-05 |
JPH0668706B2 true JPH0668706B2 (ja) | 1994-08-31 |
Family
ID=15850196
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59167466A Expired - Lifetime JPH0668706B2 (ja) | 1984-08-10 | 1984-08-10 | 基準電圧発生回路 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4658205A (ja) |
JP (1) | JPH0668706B2 (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4736125A (en) * | 1986-08-28 | 1988-04-05 | Applied Micro Circuits Corporation | Unbuffered TTL-to-ECL translator with temperature-compensated threshold voltage obtained from a constant-current reference voltage |
JPH02191012A (ja) * | 1989-01-20 | 1990-07-26 | Nec Corp | 電圧発生回路 |
US4990846A (en) * | 1990-03-26 | 1991-02-05 | Delco Electronics Corporation | Temperature compensated voltage reference circuit |
EP0450830B1 (en) * | 1990-03-30 | 1996-10-23 | Texas Instruments Incorporated | Voltage reference having steep temperature coefficient and method of operation |
JPH03296118A (ja) * | 1990-04-13 | 1991-12-26 | Oki Micro Design Miyazaki:Kk | 基準電圧発生回路 |
NL9002716A (nl) * | 1990-12-11 | 1992-07-01 | Philips Nv | Voedingsschakeling. |
EP0539136B1 (en) * | 1991-10-21 | 1998-01-21 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Voltage generating device |
US5604425A (en) * | 1994-08-08 | 1997-02-18 | Thomson Consumer Electronics, Inc. | Power limiting regulator |
JP2867947B2 (ja) * | 1996-03-28 | 1999-03-10 | 日本電気株式会社 | 参照電位発生回路 |
KR100201837B1 (ko) * | 1996-11-28 | 1999-06-15 | 전주범 | 직류 제어 차동 베이스 전압 발생 회로 |
US5877615A (en) * | 1997-11-06 | 1999-03-02 | Utek Semiconductor Corporation | Dynamic input reference voltage adjuster |
CN101957626B (zh) * | 2010-09-02 | 2012-01-11 | 北京航空航天大学 | 一种可提高恒流源精度的恒流源电路 |
CN112910224B (zh) * | 2021-01-16 | 2022-07-08 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种降压变换器的控制电路以及服务器 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4091321A (en) * | 1976-12-08 | 1978-05-23 | Motorola Inc. | Low voltage reference |
US4234806A (en) * | 1978-07-05 | 1980-11-18 | Raytheon Company | Monostable multivibrator employing nonsaturating switching transistor |
JPS55127620A (en) * | 1979-03-26 | 1980-10-02 | Hitachi Ltd | Constant-current circuit |
DE3071642D1 (en) * | 1979-12-19 | 1986-07-24 | Seiko Epson Corp | A voltage regulator for a liquid crystal display |
US4282477A (en) * | 1980-02-11 | 1981-08-04 | Rca Corporation | Series voltage regulators for developing temperature-compensated voltages |
US4460865A (en) * | 1981-02-20 | 1984-07-17 | Motorola, Inc. | Variable temperature coefficient level shifting circuit and method |
US4533842A (en) * | 1983-12-01 | 1985-08-06 | Advanced Micro Devices, Inc. | Temperature compensated TTL to ECL translator |
-
1984
- 1984-08-10 JP JP59167466A patent/JPH0668706B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1985
- 1985-08-07 US US06/763,462 patent/US4658205A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4658205A (en) | 1987-04-14 |
JPS6145315A (ja) | 1986-03-05 |
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