JPH0668021B2 - 光ディスク基板の製造方法 - Google Patents

光ディスク基板の製造方法

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JPH0668021B2
JPH0668021B2 JP60186961A JP18696185A JPH0668021B2 JP H0668021 B2 JPH0668021 B2 JP H0668021B2 JP 60186961 A JP60186961 A JP 60186961A JP 18696185 A JP18696185 A JP 18696185A JP H0668021 B2 JPH0668021 B2 JP H0668021B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、カーボネート結合を構成する単位の中で懸
垂する芳香族基を少なくとも1個以上含む単位が全カー
ボネート結合構成単位に対して25〜100重量%含ま
れるポリカーボネート樹脂に関するものである。なかで
も耐熱性や光学的特性の優れた成形物の製造に用いられ
る材料、特に透明性が優れ、光学的な歪みが小さい光デ
ィスク基板を製造するのに適する材料に関する。
〔従来の技術〕
従来カーボネート結合を構成する単位の中で懸垂する芳
香族基を少なくとも1個以上含むポリカーボネート樹脂
は文献等には記載されているが物性値としてはTg,Tmな
どが記載されているにずぎず、成形体として実用的に優
れた物性を有するのか、加工が実質的に可能なのがどう
かまつたくわからないのが現状である。ところで光学的
用途に使用する成形物、例えば、板状、シート状の成形
物は透明であると共に光学的歪みの小さいものであるこ
とが必要とされる。特にデイジタル信号を利用して光情
報材料すなわち光ディスクとして供する場合、例えばデ
イジタルオーデイオデイスク、デイジタルビデオデイス
ク、更には情報読み取り、書き込みを目的としたデイス
クにおいては透明性の要求が極めて厳格であり、光学的
歪みについては実成形品において複屈折にして5×10
-5以下であることが要求される。
通常、このような形状のものを成形するには、簡便な方
法として、射出成形法が採用されるのであるが、光学的
歪みを少なくする方法として溶融樹脂温度を上げて、あ
るいは樹脂の分子量を下げて溶融流動性をよくする方法
がとられる。また、長期に亘り連続使用されるデイスク
の場合過酷な使用環境にも耐える必要から耐熱性の要求
も厳格である。
光学的歪みを少なくする方法として溶融樹脂温度を上げ
ると樹脂の熱劣化に伴なう種々のトラブルを生起する。
また樹脂の分子量を下げるとデイスクの強度が低下して
満足な成形片が得られない。
更に耐熱性の尺度となるガラス転移温度は、樹脂が固有
の値を持つ為改良の余地はない。以上の様に従来の技術
では充分な解決に到つていない。
〔発明の目的〕
本発明者らは、2,2−ビス−(4ヒドロキシフエニル)
−プロパンからのポリカーボネートに比べて、光学的特
性、耐熱性等に優れ、かつ溶融成形が可能であるポリカ
ーボネート樹脂を鋭意検討したところ、カーボネート結
合を構成する単位の中で懸垂する芳香族基を少なくとも
1個以上含むポリカーボネート樹脂で特定の分子量のも
のが本発明の目的に合致することを見い出し、上記従来
技術の問題点を解決したものである。
〔発明の構成〕
すなわち、本発明の要旨は、カーボネート結合を構成す
る単位の中で、一般式[I] (式[I]中、XおよびYは水素原子、炭素数1〜6の
脂肪族炭化水素基および炭素数6〜12のアリール基も
しくはアラルキル基より選択され、かつ、XおよびYの
少なくとも一つは炭素数6〜12のアリール基もしくは
アラルキル基である。また、ZおよびWは、水素原子ま
たは炭素数1〜6の脂肪族炭化水素基を示す。) で示される構成単位を全カーボネート結合構成単位に対
して25〜100重量%、及び、一般式[II] (式[II]中、X′は −O−、−S−、または−SO−で示される2価の基
を示し(R1,R2は水素原子または炭素数1〜6のアル
キル基、R3は炭素数4〜5のシクロアルキレン基)、
芳香環はアルキル基またはハロゲン原子を有していても
よい。) で示される構成単位を全カーボネート結合構成単位に対
して0〜75重量%含有し、且つ、粘度平均分子量が
9,500〜14,000であるポリカーボネートを射
出成形することを特徴とする、光ディスク基板の製造方
法、に存する。
ところで、この発明でいうカーボネート結合とは、アル
コール性水酸基またはフエノール性水酸基と例えばホス
ゲンとを反応させて得られるような 結合を指している。また、このカーボネート結合間の構
成単位中に他の結合種、例えばポリエステル結合、アミ
ド結合、カーバメート結合、エーテル結合等が含まれて
いてもさしつかえはない。
本発明のポリカーボネートは、下記一般式[I]で示さ
れる、懸垂する芳香族基を少なくとも1個以上含むカー
ボネート結合構成単位(以下、カーボネート結合単位A
という。)を全カーボネート結合構成単位に対して25
〜100重量%含む。
(式〔I〕中、XおよびYは水素原子、炭素数1〜6の
脂肪族炭化水素基および炭素数6〜12のアリール基も
しくはアラルキル基より選択され、かつ、XおよびYの
少なくとも一つは炭素数6〜12のアリール基もしくは
アラルキル基である。また、ZおよびWは、水素原子ま
たは炭素数1〜6の脂肪族炭化水素基を示す。) また、この構成単位と共に、下記一般式[II]で示され
る構成単位が全カーボネート結合構成単位に対して0〜
75重量%含まれていてもよい。
(式[II]中、X′は −O−、−S−、または−SO−で示される2価の基
を示し(R1,R2は水素原子または炭素数1〜6のアル
キル基、R3は炭素数4〜5のシクロアルキレン基)、
芳香環はアルキル基またはハロゲン原子を有していても
よい。) このようなポリカーボネートを製造する方法としては、
懸垂する芳香族基を少なくとも1個以上含むジオール化
合物、特に芳香族ジオール化合物の一種以上にホスゲン
を吹き込み、界面重合または溶液重合させる公知の方法
が提案される。
懸垂する芳香族基を少なくとも1つ以上有するジオー
ル、とりわけ、芳香族ジオールとしては例えば、ビス
(4−ヒドロキシフエニル)フエニルメタン、1,1−ビ
ス(4−ヒドロキシフエニル)−1−フエニルエタン、
1,1−ビス(4−ヒドロキシフエニル)−1−フエニル
プロパン、ビス(4−ヒドロキシフエニル)ジフエニル
メタン、ビス−4−ヒドロキシフエニル)ジペンジルメ
タン等を挙げることができる。
この発明においては、本発明で規定するような芳香族基
を有しないカーボネート結合構成単位を導入してもさし
つかえない。これは、得られるポリカーボネートの溶融
流動性を高め、成形性改良をはかる上で好ましいが懸垂
する芳香族基を有する単位が25重量%に満たないとポ
リマーのガラス転移温度が大幅に低下し、耐熱性及び光
学的特性を低下されるので好ましくない。その際に用い
られる共重合用化合物としては例えば1,1−ビス(4−
ヒドロキシフエニル)メタン、1,1−ビス(4−ヒドロ
キシフエニル)エタン、1,1−ビス(4−ヒドロキシフ
エニル)プロパン、2,2−ビス(4−ヒドロキシフエニ
ル)プロパン(ビスフエノールA)、2,2−ビス(4−
ヒドロキシフエニル)ブタン、2,2−ビス(4−ヒドロ
キシフエニル)ペンタン、2,2−ビス(4−ヒドロキシ
フエニル)−3−メチルブタン、2,2−ビス(4−ヒド
ロキシフエニル)ヘキサン、2,2−ビス(4−ヒドロキ
シフエニル)−4−メチルペンタン、1,1−ビス(4−
ヒドロキシフエニル)シクロヘキサン、2,2−ビス(4
−ヒドロキシ−3−クロロフエニル)プロパン、2,2−
ビス(4−ヒドロキシ−3−メチルフエニル)プロパ
ン、4,4′ジヒドロキシジフエニルエーテル、4,4′−ジ
ヒドロキシジフエニルスルフイドといつたビスフエノー
ル類等を挙げることができる。
これらカーボネート結合単位A以外のカーボネート結合
構成単位を導入するにあたつては、本発明の要件を満た
す範囲で共重合させても又別途重合したものについて本
発明の要件を満たすようにあとから適宜混合させてもよ
い。
本発明を実施するにあたり、懸垂する芳香族基を少なく
とも1個以上含むジオールとホスゲンからポリカーボネ
ート樹脂を製造する方法は、具体的には塩化メチレン、
1,2−ジクロルメタンなどの不活性溶媒存在下ジオール
類に酸受容体としてアルカリ水溶液あるいはピリジンな
どを入れ、ホスゲンを導入しながら反応させる。酸受容
体としてアルカリ水溶液を使う時は触媒としてトリメチ
ルアミン、トリエチルアミン等の第3級アミン、あるい
はテトラブチルアンモニウムクロリド、ベンジルトルブ
チルアンモニウムブロミド等第4級アンモニウム化合物
を用いると反応速度が増大する。また必要に応じて分子
調節剤としてフエノール、p−ターシヤリ−ブチルフエ
ノール等一価のフエノールを共存させる。反応温度は0
〜100℃である。触媒は最初から入れてもよいし、オ
リゴマーを作つた後に入れて高分子量化する等任意の方
法がとられる。また、前記共重合用化合物を懸垂する芳
香族基を少なくとも1つ以上有するジオールと共重合す
る方法としては、 (イ)最初に同時にホスゲンと反応させて重合する。
(ロ)一方をまずホスゲンと反応させある程度反応を行な
つた後他方を入れて重合する。
(ハ)別々にホスゲンと反応させてオリゴマーをつくり、
それらが反応させて重合する。
等任意の方法がとれる。
更に別途重合したものについて混合する方法としては、
それぞれの粉末あるいは粒状物を混合した後押圧機、ニ
ーダー混練ロール等で溶融状態にして混合する方法溶液
ブレンド法等任意の方法がとれる。
また、この発明に使用されるポリカーボネートは粘度平
均分子量(以下、単に平均分子量ということがある。)
にして9500〜14000のものが好ましい。ここで
言う平均分子量とはポリマー6g/の塩化メチレン溶
液を用い20℃で測定されるηspから下記の式−1およ
び式−2より求められる値である。
ηsp/c=〔η〕(1+K′ηsp……(1) 〔η〕=KMα……(2) 式中Cポリマー濃度g/ 〔η〕極限粘度,K′=0.28 K1.23×10-5,α=0.83 M粘度平均分子量 すなわち9500に満たないと機械的物性の面で好まし
くなく、また、14000を越えると光学的歪みの小さ
い成形材料を得る上で支障をきたす。
この発明のポリカーボネート系重合体を成形するにあた
つて、亜リン酸エステル類を樹脂に対し0.01〜2重量%
添加することは樹脂の分解による着色、透明性の低下を
抑制する上で好ましい。
かかる亜リン酸エステルとしては、トリブチルホスフア
イト、トリス(2−エチルヘキシル)ホスフアイト、ト
リデシルホスフアイト、トリステアリルホスフアイト、
トリフエニルホスフアイト、トリクレジルホスフアイ
ト、2−エチルヘキシルジフエニルホスフアイト、デシ
ルジフエニルホスフアイト、トリシクロヘキシルホスフ
アイト、ジステアリルペンタエリスリチルジホスフアイ
ト等を挙げることが出来る。かかる亜リン酸エステルを
含有させる方法としてはドライブレンドする方法、押し
出し機でペレツト化する際に溶融混合する方法、あるい
はその際亜リン酸エステル濃度の高いマスターペレツト
をつくり未添加ペレツトとドライブレンドする方法を挙
げることが出来る。このようにして得られる本発明のポ
リカーボネートは、光ディスク基板等の光学用成形材料
として用いられる。
〔実施例〕
以下、この発明で用いるポリカーボネートおよびそのオ
リゴマーの具体的製造方法を実施例として例示する。な
お、以下各組成物の成分の量を示す部はすべて重量部で
ある。
尚、実施例、比較例で得られた樹脂は2エチルヘキシル
ジフエニルホスフアイトを130ppm添加した後、成形
温度340℃で、 の射出成形機(日精樹脂製)で表に示す成形条件で、厚
さ1.2mm、直径10cmの円板を成形した。
また、同時に高化式フローテスターにより、280℃、
せん断速度103sec-1における見掛けの溶融粘度ηaを
測定し、溶融流動性の目やすとした。
複屈折については円板中心より2.0cmおよび4.5cm位置で
の複屈折(以後Δn2.0、Δn4.5と略記する)で評価し
た。複屈折は日本光学工業株式会社製の偏光顕微鏡によ
り測定した。引張特性は引張試験機により5mm/minの引
張速度でASTM D638に準じた測定を行ない求めた。ガラ
ス転移温度(Tg)は示差走査熱量計(パーキンエルマー社
製)により求めた。各実施例の測定結果を後記表−1に
示す。
実施例1 <ポリカーボネートの製造例> 1,1−ビス(4−ヒドロキシフエニル) −1−フエニルエタン 100部 P−ターシヤリ−ブチルフエノール 1.3部 ピリジン 200部 塩化メチレン 1000部 から成る混合物を攪拌機つき反応器に仕込み500rpm
で撹拌した。
次にホスゲン50部を1時間の間に吹き込み、溶液重合
を行なつた。
反応終了後、塩酸水溶液で過剰のピリジンを中和し、
水、塩酸水溶液、ついで水を用いて洗浄し、最終的には
塩化メチレンを蒸発させて樹脂を取り出した。
この樹脂の平均分子量は10400であつた。
実施例2 <ポリカーボネートの製造例> 1,1−ビス(4−ヒドロキシフエニル) −1−フエニルエタン 100部 2,2−ビス(4−ヒドロキシ −3−メチルフエニル)プロパン 30部 p−ターシャリ−ブチルフエノール 1.0部 ピリジン 500部 塩化メチレン 2300部 上記混合物を攪拌機つき反応器で仕込み、500rpmで
撹拌した。
次にホスゲン50部を1時間の中に吹き込み、溶液重合
を行なつた。反応終了後、塩酸水溶液で過剰のピリジン
を中和し、水、塩酸水溶液ついで水を用いて洗浄し、最
後に塩化メチレンを蒸発させて樹脂を取り出した。
この樹脂の平均分子量は11000であり、NMRの分
析結果より共重合されている2,2−ビス(4−ヒドロキ
シ−3−メチルフエニル)プロパンの量は23重量%で
あつた。
実施例3 <ポリカーボネートのオリゴマーの製造例> 1,1−ビス(4−ヒドロキシ フエニル)−1−フエニルエタン 100部 水酸化ナトリウム 40部 水 600部 塩化メチレン 375部 上記混合物を攪拌機付反応器に仕込み800rpmで撹拌
した。これにホスゲン57部を1時間の間に吹き込み、
界面重合を行なつた。反応終了後ポリカーボネートオリ
ゴマーを含有する塩化メチレン溶液のみを捕集した。得
られたオリゴマーの塩化メチレン溶液の分析結果は下記
のとおりであつた。
オリゴマー濃度 22.5重量% (注1) 末端クロロホーメート基濃度 0.42規定 (注2) 末端フエノール性水酸基濃度 0.020規定 (注3) 以上の方法で得られたオリゴマー溶液を以下オリゴマー
溶液−Aと略称する。
注1)蒸発乾固させて測定。
注2)アニリンと反応させて得られるアニリン塩酸塩0.
2規定水酸化ナトリウム水溶液で中和滴定。
注3)四塩化チタン、酢酸溶液に溶解させたときの発色
を546nmで比色定量。
実施例4 <ポリカーボネートの製造例> ポリカーボネートオリゴマー 溶液−A 140部 P−ターシヤリ−ブチルフエノール 1.9部 塩化メチレン 80部 上記混合物を攪拌機付反応器に仕込み550rpmで撹拌
した。更に下記組成の水溶液すなわち、 水酸化ナトリウムの7.3%水溶液 80部 トリエチルアミンの2%水溶液 1部 を加え、3時間界面重合を行ない反応混合物を分液し、
ポリカーボネート樹脂を含む塩化メチレン溶液、水、塩
酸水溶液ついで水を用いて洗浄し最後に塩化メチレンを
蒸発させて樹脂を取り出した。この樹脂の平均分子量は
11,200であつた。
比較例1 <ポリカーボネートの製造例> P−ターシヤリ−ブチルフエノールを2.5部に変更する
以外は上記実施例4と同様の方法によりポリカーボネー
トを製造した。この樹脂の平均分子量は7800であつ
た。
比較例2 <ポリカーボネートの製造例> P−ターシヤリ−ブチルフエノールを0.5部に変更する
以外は上記実施例4と同様の方法によりポリカーボネー
トを製造した。この樹脂の平均分子量は16,900であつ
た。
比較例3 <ポリカーボネートオリゴマーの製造例> 水酸化ナトリウム水溶液にビスフエノールAを溶解して
調整したビスフエノールA ナトリウム塩の16.6%水溶液 100部 P−ターシヤリ−ブチルフエノール 0.23部 塩化メチレン 40部 ホスゲン 7部 上記組成の混合物を定量的にパイプリアクターへ供給
し、界面重合を行なつた。
反応混合物を分液し、ポリカーボネートオリゴマーを含
有する塩化メチレン溶液のみを捕集した。
得られたオリゴマーの塩化メチレン溶液の分析結果は下
記のとおりであつた。(測定方法は前述の通り) オリゴマー濃度 24.5重量% 末端クロロホーメート基濃度 1.3規定 末端フエノール性水酸基濃度 0.3規定 以上の方法で得られたオリゴマー溶液を以下オリゴマー
溶液−Bと略称する。
比較例4 <ポリカーボネートの製造例> ポリカーボネートオリゴマー溶液−B 160部 P−ターシヤリ−ブチルフエノール 0.7部 塩化メチレン 130部 上記混合物を、撹拌機付反応器に仕込み、550rpmで
撹拌した。更に下記組成の水溶液、すなわち、 ビスフエノールAナトリウム塩の 16.6%水溶液 80部 水酸化ナトリウムの25%水溶液 8部 トリエチルアミンの2%水溶液 1部 を加え、約1.5時間界面重合を行ない、反応混合物を分
液し、ポリカーボネート樹脂を含む塩化メチレン溶液
を、水、塩酸水溶液、ついで水を用いて洗浄し、最後に
塩化メチレンを蒸発させて樹脂を取り出した。
この樹脂の平均分子量は17400であつた。
比較例5 <ポリカーボネートの製造例> P−ターシヤリ−ブチルフエノールを1.3部に変更する
以外は前記比較例4と同様の方法によりポリカーボネー
トを製造した。
この樹脂の平均分子量は14700であつた。
比較例6 <ポリカーボネートの製造例> P−ターシヤリ−ブチルフエノールを2.0部に変更する
以外は前記比較例4と同様の方法によりポリカーボネー
トを製造した。この樹脂の平均分子量は13,000であつ
た。
この表に示される様に本発明のポリカーボネート樹脂は
ビスフエノールAのポリカーボネート樹脂に比較して溶
融流動性は低下しているにもかかわらず、複屈折がかな
り低くなることおよびΔnの変化が極めて小さいことが
認められまた耐熱性についても大巾に改善されている。
一方平均分子量が9,500に満たないと強度の面で好まし
くなく14,000を越えると光学的歪みの小さい成形材料を
得る上で支障をきたす。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明の成形材料は耐熱性光学的特
性に優れかつ溶融成形が可能なポリカーボネート樹脂で
あり、優れた光情報材料の製造に用いることができる。
フロントページの続き (72)発明者 吉田 清次 神奈川県横浜市緑区鴨志田町1000番地 三 菱化成工業株式会社総合研究所内 (72)発明者 抜井 正博 神奈川県横浜市緑区鴨志田町1000番地 三 菱化成工業株式会社総合研究所内 (56)参考文献 特開 昭50−98332(JP,A) 特開 昭60−8317(JP,A) 特公 昭38−25549(JP,B1)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】カーボネート結合を構成する単位の中で、
    一般式[1] (式[I]中、XおよびYは水素原子、炭素数1〜6の
    脂肪族炭化水素基および炭素数6〜12のアリール基も
    しくはアラルキル基より選択され、かつ、XおよびYの
    少なくとも一つは炭素数6〜12のアリール基もしくは
    アラルキル基である。また、ZおよびWは、水素原子ま
    たは炭素数1〜6の脂肪族炭化水素基を示す。) で示される構成単位を全カーボネート結合構成単位に対
    して25〜100重量%、及び、一般式[II] (式[II]中、X′は −O−、−S−、または−SO−で示される2価の基
    を示し(R1,R2は水素原子または炭素数1〜6のアル
    キル基、R3は炭素数4〜5のシクロアルキレン基)、
    芳香環はアルキル基またはハロゲン原子を有していても
    よい。) で示される構成単位は全カーボネート結合構成単位に対
    して0〜75重量%含有し、且つ、粘度平均分子量が
    9,500〜14,000であるポリカーボネートを射
    出成形することを特徴とする、光ディスク基板の製造方
    法。
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