JPH06124495A - 光ピックアップ装置 - Google Patents
光ピックアップ装置Info
- Publication number
- JPH06124495A JPH06124495A JP4271493A JP27149392A JPH06124495A JP H06124495 A JPH06124495 A JP H06124495A JP 4271493 A JP4271493 A JP 4271493A JP 27149392 A JP27149392 A JP 27149392A JP H06124495 A JPH06124495 A JP H06124495A
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- JP
- Japan
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- light
- beam splitter
- diffraction grating
- pickup device
- optical pickup
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 信号検出光学系を複合省略化して小型化を図
ることが可能な光ピックアップ装置を提供する。 【構成】 Ｓ偏光又はＰ偏光の状態で光を発する光源１
２と、この光源１２より発せられたＳ偏光又はＰ偏光の
光を４５°で入射させる入射面を有するビームスプリッ
タ１３と、このビームスプリッタ１３での反射光又は透
過光を光ディスク１４に集光して照射するレンズ１５
と、光ディスク１４からの反射光がレンズ１５及びビー
ムスプリッタ１３を通過した後に入射面と反対側の裏面
側に配置された半波長板１６と、この半波長板１６から
の透過光Ｔが入射する高密度回折格子１７と、この高密
度回折格子１７からの回折光Ｋ及び透過光Ｔをそれぞれ
別個に受光する２つの受光素子１８，１９とを備えるよ
うにした。
ることが可能な光ピックアップ装置を提供する。 【構成】 Ｓ偏光又はＰ偏光の状態で光を発する光源１
２と、この光源１２より発せられたＳ偏光又はＰ偏光の
光を４５°で入射させる入射面を有するビームスプリッ
タ１３と、このビームスプリッタ１３での反射光又は透
過光を光ディスク１４に集光して照射するレンズ１５
と、光ディスク１４からの反射光がレンズ１５及びビー
ムスプリッタ１３を通過した後に入射面と反対側の裏面
側に配置された半波長板１６と、この半波長板１６から
の透過光Ｔが入射する高密度回折格子１７と、この高密
度回折格子１７からの回折光Ｋ及び透過光Ｔをそれぞれ
別個に受光する２つの受光素子１８，１９とを備えるよ
うにした。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光源からの光を光ディ
スク等の記録媒体に照射して情報の記録を行うと共に、
その反射光を用いて情報の再生や、フォーカスエラー信
号、トラックエラー信号の検出を行う光ピックアップ装
置に関する。
スク等の記録媒体に照射して情報の記録を行うと共に、
その反射光を用いて情報の再生や、フォーカスエラー信
号、トラックエラー信号の検出を行う光ピックアップ装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、ハードディスクや磁気テープ等の
磁気記録装置に比べて光ディスク装置は大容量とはなっ
ているが、アクセス速度が遅いため、高速の読出しが必
要な分野では、いまだ磁気記録装置に一歩遅れをとって
いる。そのような光ディスク装置において、アクセスタ
イムを向上させる試みは近年頻繁になされており、ま
た、その光学系の面においても部品点数の削減による光
ピックアップ部の小型化、軽量化が図られている。この
場合、特に、その光ピックアップ部の小型化、軽量化に
関しては、ライトワンス、ＣＤ等の分野で活発に検討が
なされており、その代表的な例として、回折格子の採用
がある。すなわち、光源からの出射された光が光ディス
クにより反射され信号検出光学系内に導かれた光路上
に、回折格子としてのデュアルグレーティング（二重回
折格子）を配置させることにより、再生信号、トラック
エラー信号、フォーカスエラー信号等の検出を行うよう
にしたものがある。これにより、信号検出光学系内の光
信号検出素子等を複合一体化して構成することができる
ため、光源の波長変動による回折角変化を大幅に軽減す
ることができる。
磁気記録装置に比べて光ディスク装置は大容量とはなっ
ているが、アクセス速度が遅いため、高速の読出しが必
要な分野では、いまだ磁気記録装置に一歩遅れをとって
いる。そのような光ディスク装置において、アクセスタ
イムを向上させる試みは近年頻繁になされており、ま
た、その光学系の面においても部品点数の削減による光
ピックアップ部の小型化、軽量化が図られている。この
場合、特に、その光ピックアップ部の小型化、軽量化に
関しては、ライトワンス、ＣＤ等の分野で活発に検討が
なされており、その代表的な例として、回折格子の採用
がある。すなわち、光源からの出射された光が光ディス
クにより反射され信号検出光学系内に導かれた光路上
に、回折格子としてのデュアルグレーティング（二重回
折格子）を配置させることにより、再生信号、トラック
エラー信号、フォーカスエラー信号等の検出を行うよう
にしたものがある。これにより、信号検出光学系内の光
信号検出素子等を複合一体化して構成することができる
ため、光源の波長変動による回折角変化を大幅に軽減す
ることができる。
【０００３】そこで、今、上述したような回折格子を用
いて光ピックアップ装置の具体的な構成例を図１０に基
づいて説明する。まず、半導体レーザ１から出射された
光は、コリメートレンズ２、ビーム整形プリズム３ａ，
３ｂを順次透過して、偏光ビームスプリッタ４により反
射された後、対物レンズ５により集光されて光ディスク
６の面上に照射され、これにより情報の記録等が行われ
る。また、この光ディスク６からの反射光は、入射とは
逆の経路を辿り今度は偏光ビームスプリッタ４を通過し
て、信号検出光学系７内に導かれ検出レンズ８に入射し
た後、さらにデュアルグレーティング９に入射する。
いて光ピックアップ装置の具体的な構成例を図１０に基
づいて説明する。まず、半導体レーザ１から出射された
光は、コリメートレンズ２、ビーム整形プリズム３ａ，
３ｂを順次透過して、偏光ビームスプリッタ４により反
射された後、対物レンズ５により集光されて光ディスク
６の面上に照射され、これにより情報の記録等が行われ
る。また、この光ディスク６からの反射光は、入射とは
逆の経路を辿り今度は偏光ビームスプリッタ４を通過し
て、信号検出光学系７内に導かれ検出レンズ８に入射し
た後、さらにデュアルグレーティング９に入射する。
【０００４】このデュアルグレーティング９は、入射面
側に高密度グレーティングからなる第１回折格子９ａが
形成され、その裏面側に変調ピッチグレーティングから
なる第２回折格子９ｂが形成されており、これらは同一
基板の両面に一体的に構成されてなる透過型のものであ
る。この場合、デュアルグレーティング９は、反射光の
光軸（対物レンズ５の光軸と一致する）に対して所定の
角度傾けて配設されている。そして、このようなデュア
ルグレーティング９を通過した光は、透過光Ｔ（０次
光）と回折光Ｋ（１次光）とに分離される。透過光Ｔ
は、変調ピッチにより片方向収束された光となり４分割
された受光素子１０に入射することにより、非点収差法
によりフォーカスエラー信号Ｆｏが検出される。一方、
回折光Ｋは、２分割された受光素子１１に入射すること
により、プッシュプル法によりトラックエラー信号Ｔｒ
が検出される。さらに、それら２つの受光素子１０，１
１の出力値の差分をとることにより、光磁気信号Ｍｏを
検出することができる。
側に高密度グレーティングからなる第１回折格子９ａが
形成され、その裏面側に変調ピッチグレーティングから
なる第２回折格子９ｂが形成されており、これらは同一
基板の両面に一体的に構成されてなる透過型のものであ
る。この場合、デュアルグレーティング９は、反射光の
光軸（対物レンズ５の光軸と一致する）に対して所定の
角度傾けて配設されている。そして、このようなデュア
ルグレーティング９を通過した光は、透過光Ｔ（０次
光）と回折光Ｋ（１次光）とに分離される。透過光Ｔ
は、変調ピッチにより片方向収束された光となり４分割
された受光素子１０に入射することにより、非点収差法
によりフォーカスエラー信号Ｆｏが検出される。一方、
回折光Ｋは、２分割された受光素子１１に入射すること
により、プッシュプル法によりトラックエラー信号Ｔｒ
が検出される。さらに、それら２つの受光素子１０，１
１の出力値の差分をとることにより、光磁気信号Ｍｏを
検出することができる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述したようなデュア
ルグレーティング９を備えた光ピックアップ装置におい
ては、半導体レーザ１の波長変動があった場合でもその
影響を受けにくく、また、回折格子の格子定数を調整す
ることにより透過光Ｔと回折光Ｋとの間の角度θを設定
できるため２つの受光素子１０，１１を近接して配置で
きこれによりスペースの省略化を図ることができ、さら
に、２つの受光素子１０，１１は同一面上に配置できる
ため部品点数を削減して組立てを有利なものとすること
ができる。
ルグレーティング９を備えた光ピックアップ装置におい
ては、半導体レーザ１の波長変動があった場合でもその
影響を受けにくく、また、回折格子の格子定数を調整す
ることにより透過光Ｔと回折光Ｋとの間の角度θを設定
できるため２つの受光素子１０，１１を近接して配置で
きこれによりスペースの省略化を図ることができ、さら
に、２つの受光素子１０，１１は同一面上に配置できる
ため部品点数を削減して組立てを有利なものとすること
ができる。
【０００６】しかし、このような光ピックアップを備え
た光ディスク装置を磁気記録装置に対抗させるために
は、冒頭でも述べたようにアクセス速度を向上させ、高
速読出しを一段と図ることが必要であるが、現段階にお
いては、必ずしもそのような条件を十分に満足させるも
のとはなっておらず、より一層の小型化、軽量化が望ま
れる。
た光ディスク装置を磁気記録装置に対抗させるために
は、冒頭でも述べたようにアクセス速度を向上させ、高
速読出しを一段と図ることが必要であるが、現段階にお
いては、必ずしもそのような条件を十分に満足させるも
のとはなっておらず、より一層の小型化、軽量化が望ま
れる。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明で
は、Ｓ偏光又はＰ偏光の状態で光を発する光源と、この
光源より発せられたＳ偏光又はＰ偏光の光を４５°で入
射させる入射面を有するビームスプリッタと、このビー
ムスプリッタでの反射光又は透過光を光ディスクに集光
して照射するレンズと、前記光ディスクからの反射光が
前記レンズ及び前記ビームスプリッタを通過した後に入
射する前記ビームスプリッタの入射面と反対側の裏面側
に配置された半波長板と、この半波長板からの透過光が
入射する高密度回折格子と、この高密度回折格子からの
回折光及び透過光をそれぞれ別個に受光する２つの受光
素子とを備えるようにした。
は、Ｓ偏光又はＰ偏光の状態で光を発する光源と、この
光源より発せられたＳ偏光又はＰ偏光の光を４５°で入
射させる入射面を有するビームスプリッタと、このビー
ムスプリッタでの反射光又は透過光を光ディスクに集光
して照射するレンズと、前記光ディスクからの反射光が
前記レンズ及び前記ビームスプリッタを通過した後に入
射する前記ビームスプリッタの入射面と反対側の裏面側
に配置された半波長板と、この半波長板からの透過光が
入射する高密度回折格子と、この高密度回折格子からの
回折光及び透過光をそれぞれ別個に受光する２つの受光
素子とを備えるようにした。
【０００８】請求項２記載の発明では、請求項１記載の
発明において、ビームスプリッタはその入射面と裏面と
が平行な平行平板型を用い、この平行平板型のビームス
プリッタと平行な状態で半波長板を配置させた。
発明において、ビームスプリッタはその入射面と裏面と
が平行な平行平板型を用い、この平行平板型のビームス
プリッタと平行な状態で半波長板を配置させた。
【０００９】請求項３記載の発明では、請求項１又は２
記載の発明において、高密度回折格子として、両面に回
折格子をもつ両面回折格子を用いた。
記載の発明において、高密度回折格子として、両面に回
折格子をもつ両面回折格子を用いた。
【００１０】請求項４記載の発明では、請求項１，２又
は３記載の発明において、非点収差を有する透過光を受
光する受光素子によりフォーカスエラー信号を検出し、
回折光を受光する受光素子によりトラックエラー信号を
検出し、これら２つの受光素子の出力差から光磁気信号
を検出するようにした。
は３記載の発明において、非点収差を有する透過光を受
光する受光素子によりフォーカスエラー信号を検出し、
回折光を受光する受光素子によりトラックエラー信号を
検出し、これら２つの受光素子の出力差から光磁気信号
を検出するようにした。
【００１１】請求項５記載の発明では、請求項１，２，
３又は４記載の発明において、少なくともチャーピング
を施した回折格子を１個有するようにした。
３又は４記載の発明において、少なくともチャーピング
を施した回折格子を１個有するようにした。
【００１２】請求項６記載の発明では、請求項１，２，
４又は５記載の発明において、高密度回折格子として、
片面に回折格子をもつ片面回折格子を用いた。
４又は５記載の発明において、高密度回折格子として、
片面に回折格子をもつ片面回折格子を用いた。
【００１３】請求項７記載の発明では、請求項６記載の
発明において、２つの受光素子を同一平面上に配置し
た。
発明において、２つの受光素子を同一平面上に配置し
た。
【００１４】請求項８記載の発明では、請求項７記載の
発明において、回折格子と受光素子との間に透明部材を
介在させ一体化して形成した。
発明において、回折格子と受光素子との間に透明部材を
介在させ一体化して形成した。
【００１５】請求項９記載の発明では、請求項１，３，
４，５，６，７又は８記載の発明において、ビームスプ
リッタの入射面に対してその裏面を傾斜して形成させ、
前記入射面に非平行な状態とされた前記裏面に垂直入射
型の平板状の半波長板を取付けた。
４，５，６，７又は８記載の発明において、ビームスプ
リッタの入射面に対してその裏面を傾斜して形成させ、
前記入射面に非平行な状態とされた前記裏面に垂直入射
型の平板状の半波長板を取付けた。
【００１６】請求項１０記載の発明では、請求項１，
３，４，５，６，７又は８記載の発明において、ビーム
スプリッタの入射面に対してその裏面を傾斜して形成さ
せ、前記入射面に非平行な状態とされた前記裏面に垂直
入射型の平板状の半波長板を取付け、この半波長板に前
記ビームスプリッタと同一形状のビームスプリッタを取
付けた。
３，４，５，６，７又は８記載の発明において、ビーム
スプリッタの入射面に対してその裏面を傾斜して形成さ
せ、前記入射面に非平行な状態とされた前記裏面に垂直
入射型の平板状の半波長板を取付け、この半波長板に前
記ビームスプリッタと同一形状のビームスプリッタを取
付けた。
【００１７】
【作用】請求項１〜３記載の発明においては、Ｓ偏光又
はＰ偏光の状態で光をビームスプリッタに入射させ、半
波長板により回折格子に４５°の偏光で入射でき、これ
により、光学系のスペースを省略化して装置の小型化を
一段と図ることが可能となる。
はＰ偏光の状態で光をビームスプリッタに入射させ、半
波長板により回折格子に４５°の偏光で入射でき、これ
により、光学系のスペースを省略化して装置の小型化を
一段と図ることが可能となる。
【００１８】請求項４記載の発明においては、フォーカ
スエラー信号は平行平板型のビームスプリッタ、高密度
回折格子を収束光が透過して得られた透過光により発生
する非点収差を読取ることから検出でき、トラックエラ
ー信号は平行平板型のビームスプリッタ、高密度回折格
子を収束光が回折して得られた回折光により検出するこ
とができ、これにより確実な信号検出を行うことが可能
となる。
スエラー信号は平行平板型のビームスプリッタ、高密度
回折格子を収束光が透過して得られた透過光により発生
する非点収差を読取ることから検出でき、トラックエラ
ー信号は平行平板型のビームスプリッタ、高密度回折格
子を収束光が回折して得られた回折光により検出するこ
とができ、これにより確実な信号検出を行うことが可能
となる。
【００１９】請求項５記載の発明においては、少なくと
もチャーピングを施した回折格子を１つ有することによ
り、回折光の光スポットを大きくさせ、トラックオフセ
ットを小さくさせることが可能となる。
もチャーピングを施した回折格子を１つ有することによ
り、回折光の光スポットを大きくさせ、トラックオフセ
ットを小さくさせることが可能となる。
【００２０】請求項６記載の発明においては、回折格子
を一面のみに形成することにより、耐波長変化性を除い
て両面回折格子とほぼ同様な効果を得ることができる他
に、部品コストを一段と低減させることが可能となる。
を一面のみに形成することにより、耐波長変化性を除い
て両面回折格子とほぼ同様な効果を得ることができる他
に、部品コストを一段と低減させることが可能となる。
【００２１】請求項７記載の発明においては、２つの受
光素子を同一平面上に配置できることから、組付けを容
易とし、信号検出の安定性を増し、コストダウンを図る
ことが可能となる。
光素子を同一平面上に配置できることから、組付けを容
易とし、信号検出の安定性を増し、コストダウンを図る
ことが可能となる。
【００２２】請求項８記載の発明においては、受光素子
は透明部材により回折格子と一体化されるため、回折光
と透過光とのなす角度を小さくして小型化を図ることが
可能となると共に、このように一体化して構成すること
により信号検出の安定度を増すことが可能となる。
は透明部材により回折格子と一体化されるため、回折光
と透過光とのなす角度を小さくして小型化を図ることが
可能となると共に、このように一体化して構成すること
により信号検出の安定度を増すことが可能となる。
【００２３】請求項９記載の発明においては、垂直入射
型の半波長板を４５°入射波長板として用いることがで
き、そのような波長板は通常の市販されているものを用
いることができることから、より一層のコストの低減を
図ることが可能となる。
型の半波長板を４５°入射波長板として用いることがで
き、そのような波長板は通常の市販されているものを用
いることができることから、より一層のコストの低減を
図ることが可能となる。
【００２４】請求項１０記載の発明においては、垂直入
射型の半波長板をその両側からビームスプリッタにより
挾みサンドイッチ構造とすることにより、透過光が入射
光に対して偏向を受けるというような現象をなくすこと
ができ、これにより一段と安定した信号検出を行うこと
が可能となる。
射型の半波長板をその両側からビームスプリッタにより
挾みサンドイッチ構造とすることにより、透過光が入射
光に対して偏向を受けるというような現象をなくすこと
ができ、これにより一段と安定した信号検出を行うこと
が可能となる。
【００２５】
【実施例】請求項１〜３記載の発明の一実施例を図１及
び図２に基づいて説明する。まず、本装置の構成を図１
に基づいて述べる。本装置は、Ｓ偏光又はＰ偏光の状態
で光を発する光源としての半導体レーザ１２と、この半
導体レーザ１２より発せられたＳ偏光又はＰ偏光の光を
４５°で入射させる入射面ａを有するビームスプリッタ
１３と、このビームスプリッタ１３での反射光（又は透
過光）を光ディスク１４に集光して照射するレンズ１５
と、光ディスク１４からの反射光がレンズ１５及びビー
ムスプリッタ１３を通過した後に入射するビームスプリ
ッタ１３の入射面ａと反対側の裏面ｂ側に配置された半
波長板１６と、この半波長板１６からの透過光が入射す
る高密度回折格子１７と、この高密度回折格子１７から
の回折光Ｋ及び透過光Ｔをそれぞれ別個に受光する２つ
の受光素子１８，１９とを備えている。
び図２に基づいて説明する。まず、本装置の構成を図１
に基づいて述べる。本装置は、Ｓ偏光又はＰ偏光の状態
で光を発する光源としての半導体レーザ１２と、この半
導体レーザ１２より発せられたＳ偏光又はＰ偏光の光を
４５°で入射させる入射面ａを有するビームスプリッタ
１３と、このビームスプリッタ１３での反射光（又は透
過光）を光ディスク１４に集光して照射するレンズ１５
と、光ディスク１４からの反射光がレンズ１５及びビー
ムスプリッタ１３を通過した後に入射するビームスプリ
ッタ１３の入射面ａと反対側の裏面ｂ側に配置された半
波長板１６と、この半波長板１６からの透過光が入射す
る高密度回折格子１７と、この高密度回折格子１７から
の回折光Ｋ及び透過光Ｔをそれぞれ別個に受光する２つ
の受光素子１８，１９とを備えている。
【００２６】本実施例では、図２に示すように、ビーム
スプリッタ１３には、その入射面ａと裏面ｂとが平行な
平行平板型が用いられている。また、半波長板１６は、
平行平板型のビームスプリッタ１３と平行な状態でその
裏面ｂ側に接着固定されている。さらに、高密度回折格
子１７としては、両面に回折格子１７ａ，１７ｂをもつ
両面回折格子（以下、両面回折格子１７と呼ぶ）を用い
る。
スプリッタ１３には、その入射面ａと裏面ｂとが平行な
平行平板型が用いられている。また、半波長板１６は、
平行平板型のビームスプリッタ１３と平行な状態でその
裏面ｂ側に接着固定されている。さらに、高密度回折格
子１７としては、両面に回折格子１７ａ，１７ｂをもつ
両面回折格子（以下、両面回折格子１７と呼ぶ）を用い
る。
【００２７】このような構成において、半導体レーザ１
２からの出射光は、Ｓ偏光又はＰ偏光の状態でビームス
プリッタ１３に４５°で入射する。Ｓ偏光は、平板状の
ビームスプリッタ１３の面に偏光面が垂直な偏光として
定義する。このＳ偏光に垂直な偏光面をもつ偏光をＰ偏
光となる。このようなＳ偏光又はＰ偏光を用いる理由と
しては、Ｓ偏光とＰ偏光の混じった偏光がビームスプリ
ッタ１３を経験すると、偏光の間で位相差が生じやす
く、光磁気信号の検出に不都合だからである。
２からの出射光は、Ｓ偏光又はＰ偏光の状態でビームス
プリッタ１３に４５°で入射する。Ｓ偏光は、平板状の
ビームスプリッタ１３の面に偏光面が垂直な偏光として
定義する。このＳ偏光に垂直な偏光面をもつ偏光をＰ偏
光となる。このようなＳ偏光又はＰ偏光を用いる理由と
しては、Ｓ偏光とＰ偏光の混じった偏光がビームスプリ
ッタ１３を経験すると、偏光の間で位相差が生じやす
く、光磁気信号の検出に不都合だからである。
【００２８】そして、ビームスプリッタ１３における反
射光をレンズ１５により集光させて光ディスク１４に照
射させる。この光ディスク１４からの情報を含んだ反射
光は、ビームスプリッタ１３に再び導かれこれを透過す
る。そして、ビームスプリッタ１３と平行に配置された
半波長板１６に入射し、偏光方向が４５°回転する。こ
の４５°回転させる理由は、次に両面回折格子１７に入
射させる際に、その回折格子１７ａ，１７ｂに対してＳ
とＰの両偏光を同光量ずつ入射させるためであり、同光
量の回折光Ｋと透過光Ｔとに分けさせて、差分法により
光磁気信号を検出するためである。両面回折格子１７は
二重化することにより、その弱点である波長変化時の大
きな回折角変化をなくさせることができる。
射光をレンズ１５により集光させて光ディスク１４に照
射させる。この光ディスク１４からの情報を含んだ反射
光は、ビームスプリッタ１３に再び導かれこれを透過す
る。そして、ビームスプリッタ１３と平行に配置された
半波長板１６に入射し、偏光方向が４５°回転する。こ
の４５°回転させる理由は、次に両面回折格子１７に入
射させる際に、その回折格子１７ａ，１７ｂに対してＳ
とＰの両偏光を同光量ずつ入射させるためであり、同光
量の回折光Ｋと透過光Ｔとに分けさせて、差分法により
光磁気信号を検出するためである。両面回折格子１７は
二重化することにより、その弱点である波長変化時の大
きな回折角変化をなくさせることができる。
【００２９】上述したように、Ｓ偏光又はＰ偏光の状態
で光を平行平板型のビームスプリッタ１３に入射させ、
そのビームスプリッタ１３の裏面側に取付けられた半波
長板１６を通過した光により回折格子１７ａ，１７ｂに
４５°の偏光で入射させることにより信号検出を行うこ
とができるため、光学系のスペースを省略化して装置の
小型化を一段と図ることができる。
で光を平行平板型のビームスプリッタ１３に入射させ、
そのビームスプリッタ１３の裏面側に取付けられた半波
長板１６を通過した光により回折格子１７ａ，１７ｂに
４５°の偏光で入射させることにより信号検出を行うこ
とができるため、光学系のスペースを省略化して装置の
小型化を一段と図ることができる。
【００３０】なお、ここでは、反射光を用いているが、
透過光を用いる時にはその後の信号検出系には反射光を
用いればよい。また、レンズ１５を１個のみ使用した
が、コリメートレンズと対物レンズとを用いたレンズ系
としてもよい。
透過光を用いる時にはその後の信号検出系には反射光を
用いればよい。また、レンズ１５を１個のみ使用した
が、コリメートレンズと対物レンズとを用いたレンズ系
としてもよい。
【００３１】次に、請求項４，５記載の発明の一実施例
を図３〜図６に基づいて説明する。ここでは、受光素子
１８，１９を用いて信号検出を行う方法について述べた
ものである。すなわち、受光素子１８は非点収差を有す
る透過光Ｔを受光してフォーカスエラー信号Ｆｏを検出
し、受光素子１９は回折光Ｋを受光しトラックエラー信
号Ｔｒを検出する。そして、これら２つの受光素子１
８，１９の出力差から光磁気信号Ｍｏを検出する。ま
た、本実施例では、回折格子１７ａ，１７ｂの少なくと
も一つにチャーピングを施すようにした。以下、具体例
を挙げて述べる。
を図３〜図６に基づいて説明する。ここでは、受光素子
１８，１９を用いて信号検出を行う方法について述べた
ものである。すなわち、受光素子１８は非点収差を有す
る透過光Ｔを受光してフォーカスエラー信号Ｆｏを検出
し、受光素子１９は回折光Ｋを受光しトラックエラー信
号Ｔｒを検出する。そして、これら２つの受光素子１
８，１９の出力差から光磁気信号Ｍｏを検出する。ま
た、本実施例では、回折格子１７ａ，１７ｂの少なくと
も一つにチャーピングを施すようにした。以下、具体例
を挙げて述べる。
【００３２】今、光ディスク１４からの反射光が、レン
ズ１５、ビームスプリッタ１３、半波長板１６、両面回
折格子１７を通過することにより非点収差が発生する。
このような非点収差の発生した光を用いてフォーカスエ
ラー信号Ｆｏの検出を行う。このフォーカスエラー信号
Ｆｏを非点収差法により検出する場合には、図３に示す
ように、半導体レーザ１２からの出射光の方向を光ディ
スク１４のトラック１４ａの接線方向に対してθ＝４５
°をなすように設定する。この場合、受光素子１８，１
９としては、図４（ａ）に示すような４分割された受光
面ａ〜ｄと、２分割された受光面ｅ，ｆとを用いると、
フォーカスエラー信号Ｆｏ、トラックエラー信号Ｔｒ、
光磁気信号Ｍｏは、 Ｆｏ＝（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ） …（１） Ｔｒ＝ｅ−ｆ …（２） Ｍｏ＝（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ）−（ｅ＋ｆ） …（３） として検出することができる。
ズ１５、ビームスプリッタ１３、半波長板１６、両面回
折格子１７を通過することにより非点収差が発生する。
このような非点収差の発生した光を用いてフォーカスエ
ラー信号Ｆｏの検出を行う。このフォーカスエラー信号
Ｆｏを非点収差法により検出する場合には、図３に示す
ように、半導体レーザ１２からの出射光の方向を光ディ
スク１４のトラック１４ａの接線方向に対してθ＝４５
°をなすように設定する。この場合、受光素子１８，１
９としては、図４（ａ）に示すような４分割された受光
面ａ〜ｄと、２分割された受光面ｅ，ｆとを用いると、
フォーカスエラー信号Ｆｏ、トラックエラー信号Ｔｒ、
光磁気信号Ｍｏは、 Ｆｏ＝（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ） …（１） Ｔｒ＝ｅ−ｆ …（２） Ｍｏ＝（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ）−（ｅ＋ｆ） …（３） として検出することができる。
【００３３】また、受光素子１８，１９として、図４
（ｂ）の４分割の受光面ａ〜ｄ、受光面ｇのものを使用
すると、 Ｆｏ＝（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ） …（４） Ｔｒ＝（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ） …（５） Ｍｏ＝（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ）−ｇ …（６） として検出することができる。
（ｂ）の４分割の受光面ａ〜ｄ、受光面ｇのものを使用
すると、 Ｆｏ＝（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ） …（４） Ｔｒ＝（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ） …（５） Ｍｏ＝（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ）−ｇ …（６） として検出することができる。
【００３４】一方、図５に示すように、半導体レーザ１
２の出射方向とトラック１４ａの接線方向とを合わせた
θ＝０°となるように設定した状態で信号検出を行うよ
うにしてもよい。この場合、受光素子１８，１９として
は、図６（ａ）に示すように、３分割された受光面ａ〜
ｃと、３分割された受光面ｄ〜ｆとを用いると、各種信
号の値は、 Ｆｏ＝｛（ａ＋ｃ）−ｂ｝−｛（ｄ＋ｆ）−ｅ｝ …（７） Ｔｒ＝ａ−ｃ、ｏｒ、（ｄ−ｆ） …（８） Ｍｏ＝（ａ＋ｂ＋ｃ）−（ｄ＋ｅ＋ｆ） …（９） として検出することができる。
２の出射方向とトラック１４ａの接線方向とを合わせた
θ＝０°となるように設定した状態で信号検出を行うよ
うにしてもよい。この場合、受光素子１８，１９として
は、図６（ａ）に示すように、３分割された受光面ａ〜
ｃと、３分割された受光面ｄ〜ｆとを用いると、各種信
号の値は、 Ｆｏ＝｛（ａ＋ｃ）−ｂ｝−｛（ｄ＋ｆ）−ｅ｝ …（７） Ｔｒ＝ａ−ｃ、ｏｒ、（ｄ−ｆ） …（８） Ｍｏ＝（ａ＋ｂ＋ｃ）−（ｄ＋ｅ＋ｆ） …（９） として検出することができる。
【００３５】また、受光素子１８，１９として、図６
（ｂ）の４分割の受光面ａ〜ｄ、４分割の受光面ｅ〜ｈ
のものを使用すると、 Ｆｏ＝｛（ａ＋ｄ）−（ｂ＋ｃ）｝−｛（ｅ＋ｈ）−（ｆ＋ｇ）｝…（１０） Ｔｒ＝ｂ−ｃ、 ｏｒ、（ａ−ｄ）、ｏｒ、（ｆ−ｇ）、ｏｒ、（ｅ−ｈ） …（１１） Ｍｏ＝（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ）−（ｅ＋ｆ＋ｇ＋ｈ） …（１２） として検出することができる。
（ｂ）の４分割の受光面ａ〜ｄ、４分割の受光面ｅ〜ｈ
のものを使用すると、 Ｆｏ＝｛（ａ＋ｄ）−（ｂ＋ｃ）｝−｛（ｅ＋ｈ）−（ｆ＋ｇ）｝…（１０） Ｔｒ＝ｂ−ｃ、 ｏｒ、（ａ−ｄ）、ｏｒ、（ｆ−ｇ）、ｏｒ、（ｅ−ｈ） …（１１） Ｍｏ＝（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ）−（ｅ＋ｆ＋ｇ＋ｈ） …（１２） として検出することができる。
【００３６】上述したような各種の信号検出方法におい
て、両面回折格子１７の回折格子１７ａ，１７ｂの少な
くとも一つの回折格子にチャーピングを施すことによ
り、透過光Ｔの受光素子１８面上での光スポット径を、
回折光Ｋの受光素子１８面上での光スポット径よりも大
きくすることができ、これにより波長変化に対してトラ
ックオフセットを小さくすることができる。
て、両面回折格子１７の回折格子１７ａ，１７ｂの少な
くとも一つの回折格子にチャーピングを施すことによ
り、透過光Ｔの受光素子１８面上での光スポット径を、
回折光Ｋの受光素子１８面上での光スポット径よりも大
きくすることができ、これにより波長変化に対してトラ
ックオフセットを小さくすることができる。
【００３７】次に、請求項６〜８記載の発明の一実施例
を図７（ａ）〜（ｃ）に基づいて説明する。ここでは、
高密度回折格子として、片面に回折格子２０ａをもつ片
面回折格子２０を用いたものであり、図７（ａ）は、そ
の構成例を示すものである。この場合、２つの受光素子
１８，１９は略垂直（θａ≒９０°）に配置され、ま
た、回折光Ｋには波長変化による回折角変化が存在する
ことになるため、その回折光Ｋを受光する受光素子１９
はなるべく回折格子２０ａ側に近づけるようにする。従
って、このように回折格子２０ａを一面のみに形成した
片面回折格子２０を用いることにより、耐波長変化性を
除いて両面回折格子１７とほぼ同様な効果を得ることが
できると同時に、部品コストを一段と低減させることが
できる。
を図７（ａ）〜（ｃ）に基づいて説明する。ここでは、
高密度回折格子として、片面に回折格子２０ａをもつ片
面回折格子２０を用いたものであり、図７（ａ）は、そ
の構成例を示すものである。この場合、２つの受光素子
１８，１９は略垂直（θａ≒９０°）に配置され、ま
た、回折光Ｋには波長変化による回折角変化が存在する
ことになるため、その回折光Ｋを受光する受光素子１９
はなるべく回折格子２０ａ側に近づけるようにする。従
って、このように回折格子２０ａを一面のみに形成した
片面回折格子２０を用いることにより、耐波長変化性を
除いて両面回折格子１７とほぼ同様な効果を得ることが
できると同時に、部品コストを一段と低減させることが
できる。
【００３８】また、図７（ｂ）では、２つの受光素子１
８，１９を同一の基板２１に設け、同一平面上に配置し
たものである。このように同一平面上に配置するために
は、２つの光間のなす角θｂを狭くすればよく、このた
めには回折格子２０ａの格子定数を変えることにより実
現することができる。従って、このように同一平面に配
置することにより、組付け性が容易となり、信号検出の
安定性を図ることができ、さらには、コストダウンにも
役立てることができる。
８，１９を同一の基板２１に設け、同一平面上に配置し
たものである。このように同一平面上に配置するために
は、２つの光間のなす角θｂを狭くすればよく、このた
めには回折格子２０ａの格子定数を変えることにより実
現することができる。従って、このように同一平面に配
置することにより、組付け性が容易となり、信号検出の
安定性を図ることができ、さらには、コストダウンにも
役立てることができる。
【００３９】さらに、図７（ｃ）では、回折格子２０ａ
と受光素子１８，１９との間に透明部材２２を介在させ
一体化して形成したものである。この場合、回折光Ｋと
透過光Ｔとのなす角θｃ（＜θｂ）はさらに小さくなる
ため、より一層のスペースの省略化を図ることができ、
これにより小型化を一段と行うことができ、また、一体
化構成とされているため信号検出の安定度を増すことが
できる。
と受光素子１８，１９との間に透明部材２２を介在させ
一体化して形成したものである。この場合、回折光Ｋと
透過光Ｔとのなす角θｃ（＜θｂ）はさらに小さくなる
ため、より一層のスペースの省略化を図ることができ、
これにより小型化を一段と行うことができ、また、一体
化構成とされているため信号検出の安定度を増すことが
できる。
【００４０】次に、請求項９，１０記載の発明の一実施
例を、図８及び図９に基づいて説明する。これまでの実
施例中で用いた４５°入射の半波長板１６は複屈折結晶
を用いることにより作製することは可能であるが、通常
市販されているものは垂直入射型のタイプのものが大部
分であるため、そのような半波長板１６を用いるとコス
ト高となる。
例を、図８及び図９に基づいて説明する。これまでの実
施例中で用いた４５°入射の半波長板１６は複屈折結晶
を用いることにより作製することは可能であるが、通常
市販されているものは垂直入射型のタイプのものが大部
分であるため、そのような半波長板１６を用いるとコス
ト高となる。
【００４１】そこで、本実施例では、垂直入射型の半波
長板２３を用いるようにしたものである。これに伴い４
５°で光を入射させるために、前述した平行平板型のビ
ームスプリッタ１３を用いる代わりに、断面が三角形状
（プリズムの頂角ψ1 ）で入射面２４ａと裏面とが非平
行な状態のビームスプリッタ２４を用い、このビームス
プリッタ２４の裏面側に半波長板２３を取付けるように
したものである。
長板２３を用いるようにしたものである。これに伴い４
５°で光を入射させるために、前述した平行平板型のビ
ームスプリッタ１３を用いる代わりに、断面が三角形状
（プリズムの頂角ψ1 ）で入射面２４ａと裏面とが非平
行な状態のビームスプリッタ２４を用い、このビームス
プリッタ２４の裏面側に半波長板２３を取付けるように
したものである。
【００４２】このように両面が非平行な形状のビームス
プリッタ２４の入射面２４ａに光を４５°で入射させ、
他方の裏面側の半波長板２３に垂直入射させる場合、そ
のビームスプリッタ２４である透明部材の屈折率をＮと
し、その透明部材中での光の角度をψ1 （プリズムの頂
角ψ1 でもある）とすると、 ｓｉｎ４５°＝Ｎ×ｓｉｎψ1 …（１３） の関係を得ることができる。
プリッタ２４の入射面２４ａに光を４５°で入射させ、
他方の裏面側の半波長板２３に垂直入射させる場合、そ
のビームスプリッタ２４である透明部材の屈折率をＮと
し、その透明部材中での光の角度をψ1 （プリズムの頂
角ψ1 でもある）とすると、 ｓｉｎ４５°＝Ｎ×ｓｉｎψ1 …（１３） の関係を得ることができる。
【００４３】一例として、Ｎ＝１．５１２とすると、ψ
1 ＝２７．８８°となる。この場合にも、前述した実施
例と同様に基板の厚みによる非点収差を得ることができ
ることから、フォーカスエラー信号Ｆｏ等の信号検出を
同様にして行える。
1 ＝２７．８８°となる。この場合にも、前述した実施
例と同様に基板の厚みによる非点収差を得ることができ
ることから、フォーカスエラー信号Ｆｏ等の信号検出を
同様にして行える。
【００４４】また、図９では、図８の構成の半波長板２
３の裏面側にビームスプリッタ２４と同様な形状のビー
ムスプリッタ２５を取付けたものである。このビームス
プリッタ２５を設けた理由としては、半波長板２３は透
過光２６が入射光に対して偏向を受けるという作用があ
り、この偏向を受けることが光ピックアップの構成にも
よるが、一般には不具合になることがある。そこで、半
波長板２３を２つのプリズムで挾むことにより、全体と
して平板状となり、出射光は入射光に対して曲がらずに
進んでいき、これにより偏向が生じるという不具合をな
くすことができる。
３の裏面側にビームスプリッタ２４と同様な形状のビー
ムスプリッタ２５を取付けたものである。このビームス
プリッタ２５を設けた理由としては、半波長板２３は透
過光２６が入射光に対して偏向を受けるという作用があ
り、この偏向を受けることが光ピックアップの構成にも
よるが、一般には不具合になることがある。そこで、半
波長板２３を２つのプリズムで挾むことにより、全体と
して平板状となり、出射光は入射光に対して曲がらずに
進んでいき、これにより偏向が生じるという不具合をな
くすことができる。
【００４５】
【発明の効果】請求項１〜３記載の発明は、Ｓ偏光又は
Ｐ偏光の状態で光を発する光源と、この光源より発せら
れたＳ偏光又はＰ偏光の光を４５°で入射させる入射面
を有するビームスプリッタと、このビームスプリッタで
の反射光又は透過光を光ディスクに集光して照射するレ
ンズと、前記光ディスクからの反射光が前記レンズ及び
前記ビームスプリッタを通過した後に入射する前記ビー
ムスプリッタの入射面と反対側の裏面側に配置された半
波長板と、この半波長板からの透過光が入射する高密度
回折格子と、この高密度回折格子からの回折光及び透過
光をそれぞれ別個に受光する２つの受光素子とを備える
ようにし、また、前記ビームスプリッタとしてその入射
面と裏面とが平行な平行平板型を用いてこの平行平板型
のビームスプリッタと平行な状態で前記半波長板を配置
させ、さらに、前記高密度回折格子として両面に回折格
子をもつ両面回折格子を用いるようにしたので、Ｓ偏光
又はＰ偏光の状態で光をビームスプリッタに入射させ、
半波長板により回折格子に４５°の偏光で入射させるこ
とができ、これにより、光学系のスペースを省略化して
装置の小型化を一段と図ることができるものである。
Ｐ偏光の状態で光を発する光源と、この光源より発せら
れたＳ偏光又はＰ偏光の光を４５°で入射させる入射面
を有するビームスプリッタと、このビームスプリッタで
の反射光又は透過光を光ディスクに集光して照射するレ
ンズと、前記光ディスクからの反射光が前記レンズ及び
前記ビームスプリッタを通過した後に入射する前記ビー
ムスプリッタの入射面と反対側の裏面側に配置された半
波長板と、この半波長板からの透過光が入射する高密度
回折格子と、この高密度回折格子からの回折光及び透過
光をそれぞれ別個に受光する２つの受光素子とを備える
ようにし、また、前記ビームスプリッタとしてその入射
面と裏面とが平行な平行平板型を用いてこの平行平板型
のビームスプリッタと平行な状態で前記半波長板を配置
させ、さらに、前記高密度回折格子として両面に回折格
子をもつ両面回折格子を用いるようにしたので、Ｓ偏光
又はＰ偏光の状態で光をビームスプリッタに入射させ、
半波長板により回折格子に４５°の偏光で入射させるこ
とができ、これにより、光学系のスペースを省略化して
装置の小型化を一段と図ることができるものである。
【００４６】請求項４記載の発明は、請求項１，２又は
３記載の発明において、非点収差を有する透過光を受光
する受光素子によりフォーカスエラー信号を検出し、回
折光を受光する受光素子によりトラックエラー信号を検
出し、これら２つの受光素子の出力差から光磁気信号を
検出するようにしたので、各種信号検出を確実に行うこ
とができるものである。
３記載の発明において、非点収差を有する透過光を受光
する受光素子によりフォーカスエラー信号を検出し、回
折光を受光する受光素子によりトラックエラー信号を検
出し、これら２つの受光素子の出力差から光磁気信号を
検出するようにしたので、各種信号検出を確実に行うこ
とができるものである。
【００４７】請求項５記載の発明は、請求項１，２，３
又は４記載の発明において、少なくともチャーピングを
施した回折格子を１個有するようにしたので、受光素子
面上での回折光の光スポット径を大きくさせ、これによ
りトラックオフセットを小さくさせることができるもの
である。
又は４記載の発明において、少なくともチャーピングを
施した回折格子を１個有するようにしたので、受光素子
面上での回折光の光スポット径を大きくさせ、これによ
りトラックオフセットを小さくさせることができるもの
である。
【００４８】請求項６記載の発明は、請求項１，２，４
又は５記載の発明において、高密度回折格子として、片
面にのみ回折格子をもつ片面回折格子を用いたので、耐
波長変化性を除いて両面回折格子とほぼ同様な効果を得
ることができると同時に、部品コストを一段と低減させ
ることができるものである。
又は５記載の発明において、高密度回折格子として、片
面にのみ回折格子をもつ片面回折格子を用いたので、耐
波長変化性を除いて両面回折格子とほぼ同様な効果を得
ることができると同時に、部品コストを一段と低減させ
ることができるものである。
【００４９】請求項７記載の発明は、請求項６記載の発
明において、２つの受光素子を同一平面上に配置したの
で、組付けを容易とし、信号検出の安定性を増加させ、
コストダウンを図ることができるものである。
明において、２つの受光素子を同一平面上に配置したの
で、組付けを容易とし、信号検出の安定性を増加させ、
コストダウンを図ることができるものである。
【００５０】請求項８記載の発明は、請求項７記載の発
明において、回折格子と受光素子との間に透明部材を介
在させ一体化して形成したので、回折光と透過光とのな
す角度を小さくして装置の小型化を図ることができると
共に、このように一体化して構成することにより信号検
出の安定度を一段と増すことができるものである。
明において、回折格子と受光素子との間に透明部材を介
在させ一体化して形成したので、回折光と透過光とのな
す角度を小さくして装置の小型化を図ることができると
共に、このように一体化して構成することにより信号検
出の安定度を一段と増すことができるものである。
【００５１】請求項９記載の発明は、請求項１，３，
４，５，６，７又は８記載の発明において、ビームスプ
リッタの入射面に対してその裏面を傾斜して形成させ、
前記入射面に非平行な状態とされた前記裏面に垂直入射
型の平板状の半波長板を取付けたので、垂直入射型の半
波長板を４５°入射波長板として用いることが可能とな
り、しかもそのような波長板は通常の市販されているも
のを用いることができることから、コスト低減を一段と
図ることができるものである。
４，５，６，７又は８記載の発明において、ビームスプ
リッタの入射面に対してその裏面を傾斜して形成させ、
前記入射面に非平行な状態とされた前記裏面に垂直入射
型の平板状の半波長板を取付けたので、垂直入射型の半
波長板を４５°入射波長板として用いることが可能とな
り、しかもそのような波長板は通常の市販されているも
のを用いることができることから、コスト低減を一段と
図ることができるものである。
【００５２】請求項１０記載の発明は、請求項１，３，
４，５，６，７又は８記載の発明において、ビームスプ
リッタの入射面に対してその裏面を傾斜して形成させ、
前記入射面に非平行な状態とされた前記裏面に垂直入射
型の平板状の半波長板を取付け、この半波長板に前記ビ
ームスプリッタと同一形状のビームスプリッタを取付け
たので、透過光が入射光に対して偏向を受けるというよ
うな現象をなくすことができ、これにより一段と安定し
た信号検出を行うことができるものである。
４，５，６，７又は８記載の発明において、ビームスプ
リッタの入射面に対してその裏面を傾斜して形成させ、
前記入射面に非平行な状態とされた前記裏面に垂直入射
型の平板状の半波長板を取付け、この半波長板に前記ビ
ームスプリッタと同一形状のビームスプリッタを取付け
たので、透過光が入射光に対して偏向を受けるというよ
うな現象をなくすことができ、これにより一段と安定し
た信号検出を行うことができるものである。
【図１】請求項１〜３記載の発明の一実施例である光ピ
ックアップ装置の全体構成を示す側面図である。
ックアップ装置の全体構成を示す側面図である。
【図２】光路分離部の様子を示す斜視図である。
【図３】請求項４，５記載の発明である信号検出手段の
構成例を示す平面図である。
構成例を示す平面図である。
【図４】図３の光学系に用いられる受光素子の形状を示
す正面図である。
す正面図である。
【図５】請求項４，５記載の発明である信号検出手段の
様子の他の構成例を示す平面図である。
様子の他の構成例を示す平面図である。
【図６】図５の光学系に用いられる受光素子の形状を示
す正面図である。
す正面図である。
【図７】請求項６〜８記載の発明である光ピックアップ
装置の全体構成を示す側面図である。
装置の全体構成を示す側面図である。
【図８】請求項９記載の発明である光路分離部の様子を
示す側面図である。
示す側面図である。
【図９】請求項１０記載の発明である光路分離部の様子
を示す側面図である。
を示す側面図である。
【図１０】従来の光ピックアップ装置の構成を示す平面
図である。
図である。
１２ 光源 １３ ビームスプリッタ １４ 光ディスク １５ レンズ １６ 半波長板 １７ 高密度回折格子 １７ａ，１７ｂ 回折格子 １８，１９ 受光素子 ２０ 片面回折格子 ２０ａ 回折格子 ２２ 透明部材 ２３ 半波長板 ２４，２５ ビームスプリッタ ａ 入射面 ｂ 裏面
Claims (10)
- 【請求項１】 Ｓ偏光又はＰ偏光の状態で光を発する光
源と、この光源より発せられたＳ偏光又はＰ偏光の光を
４５°で入射させる入射面を有するビームスプリッタ
と、このビームスプリッタでの反射光又は透過光を光デ
ィスクに集光して照射するレンズと、前記光ディスクか
らの反射光が前記レンズ及び前記ビームスプリッタを通
過した後に入射する前記ビームスプリッタの入射面と反
対側の裏面側に配置された半波長板と、この半波長板か
らの透過光が入射する高密度回折格子と、この高密度回
折格子からの回折光及び透過光をそれぞれ別個に受光す
る２つの受光素子とを備えたことを特徴とする光ピック
アップ装置。 - 【請求項２】 ビームスプリッタはその入射面と裏面と
が平行な平行平板型を用い、この平行平板型のビームス
プリッタと平行な状態で半波長板を配置させたことを特
徴とする請求項１記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項３】 高密度回折格子として、両面に回折格子
をもつ両面回折格子を用いたことを特徴とする請求項１
又は２記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項４】 非点収差を有する透過光を受光する受光
素子によりフォーカスエラー信号を検出し、回折光を受
光する受光素子によりトラックエラー信号を検出し、こ
れら２つの受光素子の出力差から光磁気信号を検出する
ことを特徴とする請求項１，２又は３記載の光ピックア
ップ装置。 - 【請求項５】 少なくともチャーピングを施した回折格
子を１個有することを特徴とする請求項１，２，３又は
４記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項６】 高密度回折格子として、片面に回折格子
をもつ片面回折格子を用いたことを特徴とする請求項
１，２，４又は５記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項７】 ２つの受光素子を同一平面上に配置した
ことを特徴とする請求項６記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項８】 回折格子と受光素子との間に透明部材を
介在させ一体化して形成したことを特徴とする請求項７
記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項９】 ビームスプリッタの入射面に対してその
裏面を傾斜して形成させ、その入射面に非平行な状態と
された前記裏面に垂直入射型の平板状の半波長板を取付
けたことを特徴とする請求項１，３，４，５，６，７又
は８記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項１０】 ビームスプリッタの入射面に対してそ
の裏面を傾斜して形成させ、前記入射面に非平行な状態
とされた前記裏面に垂直入射型の平板状の半波長板を取
付け、この半波長板に前記ビームスプリッタと同一形状
のビームスプリッタを取付けたことを特徴とする請求項
１，３，４，５，６，７又は８記載の光ピックアップ装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4271493A JPH06124495A (ja) | 1992-10-09 | 1992-10-09 | 光ピックアップ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4271493A JPH06124495A (ja) | 1992-10-09 | 1992-10-09 | 光ピックアップ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06124495A true JPH06124495A (ja) | 1994-05-06 |
Family
ID=17500825
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4271493A Pending JPH06124495A (ja) | 1992-10-09 | 1992-10-09 | 光ピックアップ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06124495A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11328713A (ja) * | 1998-05-14 | 1999-11-30 | Hideo Maeda | 方向性回折格子 |
-
1992
- 1992-10-09 JP JP4271493A patent/JPH06124495A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11328713A (ja) * | 1998-05-14 | 1999-11-30 | Hideo Maeda | 方向性回折格子 |
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