JPH03100927A - 光ピックアップ装置 - Google Patents
光ピックアップ装置Info
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- JPH03100927A JPH03100927A JP1236718A JP23671889A JPH03100927A JP H03100927 A JPH03100927 A JP H03100927A JP 1236718 A JP1236718 A JP 1236718A JP 23671889 A JP23671889 A JP 23671889A JP H03100927 A JPH03100927 A JP H03100927A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 39
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 claims abstract description 21
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 15
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims abstract description 15
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 24
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、光磁気ディスク等の光情報記録媒体を用いて
、情報の記録や再生、フォーカスエラー信号、トラック
エラー信号等の検出を行う光ピックアップ装置に関する
。
、情報の記録や再生、フォーカスエラー信号、トラック
エラー信号等の検出を行う光ピックアップ装置に関する
。
従来の技術
従来における光ピックアップ装置の一例を第5図に基づ
いて説明する。半導体レーザlから出射された光はコリ
メートレンズ2により平行化され、2個のビーム整形プ
リズム3によりビーム整形された後、ビームスプリッタ
4により反射され、対物レンズ5により集光されて光デ
イスク6面上に照射され、これにより情報の記録等が行
われる。
いて説明する。半導体レーザlから出射された光はコリ
メートレンズ2により平行化され、2個のビーム整形プ
リズム3によりビーム整形された後、ビームスプリッタ
4により反射され、対物レンズ5により集光されて光デ
イスク6面上に照射され、これにより情報の記録等が行
われる。
また、光ディスク6からの反射光は、前記ビームスプリ
ッタ4を透過して集光レンズ7により集光され、デュア
ルグレーティング8の回折格子8aに入射する。その入
射した光は反対側の面に形成された回折格子8bから出
射することにより、透過光Tと回折光にとに分離される
。
ッタ4を透過して集光レンズ7により集光され、デュア
ルグレーティング8の回折格子8aに入射する。その入
射した光は反対側の面に形成された回折格子8bから出
射することにより、透過光Tと回折光にとに分離される
。
そして、透過光Tは4分割受光素子9aに受光されるこ
とによって非点収差法を用いてフォーカスエラー信号を
検出することができ、回折光には2分割受光素子9bに
受光させることによってブシュプル法を用いてトラック
エラー信号を検出することができる。また、回折光にと
透過光Tとの強度差を求めることによって光磁気信号を
も再生することができる。
とによって非点収差法を用いてフォーカスエラー信号を
検出することができ、回折光には2分割受光素子9bに
受光させることによってブシュプル法を用いてトラック
エラー信号を検出することができる。また、回折光にと
透過光Tとの強度差を求めることによって光磁気信号を
も再生することができる。
発明が解決しようとする課題
上述したような従来の装置においては、半導体レーザl
から出射された光が光ディスク6に照射されるまでの照
射光学系10と、光ディスク6からの反射光がビームス
プリッタ4を通過し信号検出が行われるまでの信号検出
光学系11とが別個に分離して設けられている。このた
めこれら2つの光学系が占める面積の割合が大きくなり
、装置の小型化を図ることができず、また、光磁気ヘッ
ドを搭載したものでは、そのヘッドの小型化の妨げとな
ってしまうという問題がある。
から出射された光が光ディスク6に照射されるまでの照
射光学系10と、光ディスク6からの反射光がビームス
プリッタ4を通過し信号検出が行われるまでの信号検出
光学系11とが別個に分離して設けられている。このた
めこれら2つの光学系が占める面積の割合が大きくなり
、装置の小型化を図ることができず、また、光磁気ヘッ
ドを搭載したものでは、そのヘッドの小型化の妨げとな
ってしまうという問題がある。
課題を解決するための手段
そこで、このような問題点を解決するために、本発明は
、レーザ光源より出射された光をコリメートレンズによ
り平行化し、その平行光を対物レンズにより集光して光
情報記録媒体に照射し情報の記録を行うと共に、その光
情報記録媒体からの反射光を用いて情報の再生やフォー
カスエラー信号、トラックエラー信号の検出を行う光ピ
ックアップ装置において、前記レーザ光源から出射され
た光が前記光情報記録媒体に向かう前記コリメートレン
ズと前記対物レンズとの間の光路上に、前記レーザ光源
側に位置する面に高密度ピッチを有する偏光分離回折格
子が形成され前記光情報記録媒体側に位置する面に前記
偏光分離回折格子とは異なるピッチを有するビーム分割
回折格子の形成されたデュアルグレーティングを設け、
このデュアルグレーティングを通過し偏光分離された光
を検出する前記光検知器を前記半導体レーザ側の光路上
に配設した。
、レーザ光源より出射された光をコリメートレンズによ
り平行化し、その平行光を対物レンズにより集光して光
情報記録媒体に照射し情報の記録を行うと共に、その光
情報記録媒体からの反射光を用いて情報の再生やフォー
カスエラー信号、トラックエラー信号の検出を行う光ピ
ックアップ装置において、前記レーザ光源から出射され
た光が前記光情報記録媒体に向かう前記コリメートレン
ズと前記対物レンズとの間の光路上に、前記レーザ光源
側に位置する面に高密度ピッチを有する偏光分離回折格
子が形成され前記光情報記録媒体側に位置する面に前記
偏光分離回折格子とは異なるピッチを有するビーム分割
回折格子の形成されたデュアルグレーティングを設け、
このデュアルグレーティングを通過し偏光分離された光
を検出する前記光検知器を前記半導体レーザ側の光路上
に配設した。
作用
これにより、半導体レーザから出射された光は、コリメ
ートレンズを介して、デュアルグレーティングの偏光分
離回折格子及びビーム分割回折格子を通過することによ
り回折され、対物レンズにより集光されて光情報記録媒
体に導かれることにより情報の記録等が行われると共に
、光情報記録媒体からの反射光は、再びビーム分割回折
格子を通過することにより回折光となり、さらに、その
回折光は偏光分Jlii回折格子を通過することにより
偏光分離され、これら偏光分離された光は光検知器に検
出され、これにより情報の再生やフォーカスエラー信号
、トラックエラー信号を検出することができる。
ートレンズを介して、デュアルグレーティングの偏光分
離回折格子及びビーム分割回折格子を通過することによ
り回折され、対物レンズにより集光されて光情報記録媒
体に導かれることにより情報の記録等が行われると共に
、光情報記録媒体からの反射光は、再びビーム分割回折
格子を通過することにより回折光となり、さらに、その
回折光は偏光分Jlii回折格子を通過することにより
偏光分離され、これら偏光分離された光は光検知器に検
出され、これにより情報の再生やフォーカスエラー信号
、トラックエラー信号を検出することができる。
実施例
本発明の一実施例を第1図ないし第4図に基づいて説明
する。レーザ光源としての半導体レーザ12から出射さ
れた光の光路上には、コリメートレンズ13を介して、
デュアルグレーティング14が配設されている。このデ
ュアルグレーティング14は、前記半導体レーザ12側
に位置する面に高密度ピッチを有する偏光分離回折格子
14aが形成され、これと反対側の面には前記偏光分離
回折格子14aとは異なるピッチを有するビーム分割回
折格子14bが形成されている。このデュアルグレーテ
ィング14の後方の光路上には、対物レンズ15を介し
て、光5情報記録媒体としての光磁気ディスク16が配
設されている。また、前記半導体レーザ12の周辺部に
は、光検知器としての受光素子17a〜17dが設けら
れている。
する。レーザ光源としての半導体レーザ12から出射さ
れた光の光路上には、コリメートレンズ13を介して、
デュアルグレーティング14が配設されている。このデ
ュアルグレーティング14は、前記半導体レーザ12側
に位置する面に高密度ピッチを有する偏光分離回折格子
14aが形成され、これと反対側の面には前記偏光分離
回折格子14aとは異なるピッチを有するビーム分割回
折格子14bが形成されている。このデュアルグレーテ
ィング14の後方の光路上には、対物レンズ15を介し
て、光5情報記録媒体としての光磁気ディスク16が配
設されている。また、前記半導体レーザ12の周辺部に
は、光検知器としての受光素子17a〜17dが設けら
れている。
第4図はそれらの受光素子17a−17dの配設状態を
前記半導体レーザ12の光軸A側がらみたものであり、
その半導体レーザ12の両側には4分割受光素子17
b、 17 cが配設され、さらに、その外側には2
分割受光素子17a、17dが配設されている。従って
、本実施例では、前記半導体レーザ12と光磁気ディス
ク16との間の一直線上の光路上に、前記コリメートレ
ンズ13、デュアルグレーティング14、対物レンズ1
5が配設された形となっている。
前記半導体レーザ12の光軸A側がらみたものであり、
その半導体レーザ12の両側には4分割受光素子17
b、 17 cが配設され、さらに、その外側には2
分割受光素子17a、17dが配設されている。従って
、本実施例では、前記半導体レーザ12と光磁気ディス
ク16との間の一直線上の光路上に、前記コリメートレ
ンズ13、デュアルグレーティング14、対物レンズ1
5が配設された形となっている。
このような構成において、まず、デュアルグレーティン
グ14の働きを第2図及び第3図に基づいて説明する。
グ14の働きを第2図及び第3図に基づいて説明する。
偏光分離回折格子14aは、高密度ピッチ(ピッチが波
長と同程度若しくは波長以下)をなしている。このため
、第2図に示すように、デュアルグレーティング14の
偏光分離回折格子14aに光が略直角に入射すると、高
密度ピッチであるため回折光は生じない。今、この理由
を第3図に基づいて説明する。高密度ピッチの場合、回
折機構はブラック回折であるので、入射光伝搬ベクトル
Vaと出射光伝搬ベクトルvbと格子ベクトルVcは、
閉じた二等辺三角形を形成する。このため、入射角が小
さくなると、Z方向(格子ベクトルと平行な方向)の位
相整合条件((1)式参照)が満たされるように回折角
は大きくなる。
長と同程度若しくは波長以下)をなしている。このため
、第2図に示すように、デュアルグレーティング14の
偏光分離回折格子14aに光が略直角に入射すると、高
密度ピッチであるため回折光は生じない。今、この理由
を第3図に基づいて説明する。高密度ピッチの場合、回
折機構はブラック回折であるので、入射光伝搬ベクトル
Vaと出射光伝搬ベクトルvbと格子ベクトルVcは、
閉じた二等辺三角形を形成する。このため、入射角が小
さくなると、Z方向(格子ベクトルと平行な方向)の位
相整合条件((1)式参照)が満たされるように回折角
は大きくなる。
λ
sinθi+sinθo=−−・・(1)1
θi:入射角
θ0:出射角
λ:波長
Δ1:偏光分離回折格子のピッチ
この場合、入射角がさらに小さくなることにより、Z方
向の位相整合は満たされなくなり、回折は起こらない。
向の位相整合は満たされなくなり、回折は起こらない。
従って、この場合、光Pを第2図に示すように、垂直に
入射させることにより、偏光分離回折格子14aへの入
射光はほとんど回折されず、反対側の面のビーム分割回
折格子14bに到達する。
入射させることにより、偏光分離回折格子14aへの入
射光はほとんど回折されず、反対側の面のビーム分割回
折格子14bに到達する。
そのビーム分割回折格子14bでは、回折が生じるよう
にピッチが形成されており、そのピッチは偏光分離回折
格子14aのピッチよりも粗に設定されている。この場
合、回折角θ、は次式のようになる。
にピッチが形成されており、そのピッチは偏光分離回折
格子14aのピッチよりも粗に設定されている。この場
合、回折角θ、は次式のようになる。
λ
θ、 = s i n−’ (−) ・・・(2)A
。
。
Δ、:ビーム分割回折格子のピッチ
ただし、θ、は略30″〜50″になるようにΔ3を設
定する(この理由は後述する)。
定する(この理由は後述する)。
そして、今、ビーム分割回折格子14bを通過した光は
、光磁気ディスク16上に照射され、これにより反射さ
れた光は、再びビーム分割回折格子14b入射する。そ
のビーム分割回折格子14bにおいて、信号検出として
用いられる光の利用効率(P、)は、光磁気ディスク1
6により反射された光の回折光をすべて利用し、光磁気
ディスク16での反射率は考えないとすると、 P、=2 (1−2η、)η、 ・・・(3)と表
される。この場合、η、はビーム分割回折格子14bで
の回折効率であり、η、=0.25 の時、P、は最大
値0.25 を得る。なお、η、の値は、回折格子の深
さを適切に設定することにより得られる。
、光磁気ディスク16上に照射され、これにより反射さ
れた光は、再びビーム分割回折格子14b入射する。そ
のビーム分割回折格子14bにおいて、信号検出として
用いられる光の利用効率(P、)は、光磁気ディスク1
6により反射された光の回折光をすべて利用し、光磁気
ディスク16での反射率は考えないとすると、 P、=2 (1−2η、)η、 ・・・(3)と表
される。この場合、η、はビーム分割回折格子14bで
の回折効率であり、η、=0.25 の時、P、は最大
値0.25 を得る。なお、η、の値は、回折格子の深
さを適切に設定することにより得られる。
このようにして、光磁気ディスク16により反射され、
ビーム分割回折格子14bを通過することにより生じた
±1次回折光は、各々偏光分離回折格子14aに入射す
る。今、その偏光分離回折格子14aに入射する入射角
θ、は、θ、どの間に次のような関係がある。
ビーム分割回折格子14bを通過することにより生じた
±1次回折光は、各々偏光分離回折格子14aに入射す
る。今、その偏光分離回折格子14aに入射する入射角
θ、は、θ、どの間に次のような関係がある。
sinθ、xnsinθ、 ・ (4)n:基板
の屈折率 ここで、前述したθ、=30”〜50″ に設定した(
45”が最良点である)理由としては、偏光分離回折格
子14aの偏光分離性能、すなわち、入射S偏光波の光
を回折され、入射P偏光波の光を透過させる性能を高め
る角度(ただし、その角度はブラック角となるように設
定する)だからである、従って、二のようにして、ビー
ム回折格子14bから偏光分離回折格子14aに入射し
た±1次光はブラック回折され、S、Pの偏光波に偏光
分離されることになるわけである。
の屈折率 ここで、前述したθ、=30”〜50″ に設定した(
45”が最良点である)理由としては、偏光分離回折格
子14aの偏光分離性能、すなわち、入射S偏光波の光
を回折され、入射P偏光波の光を透過させる性能を高め
る角度(ただし、その角度はブラック角となるように設
定する)だからである、従って、二のようにして、ビー
ム回折格子14bから偏光分離回折格子14aに入射し
た±1次光はブラック回折され、S、Pの偏光波に偏光
分離されることになるわけである。
次に、上述したような機能をもつデュアルグレーティン
グ14を用いて、本実施例の全体構成の流れを第1図に
基づいて説明する。まず、半導体レーザ12から出射さ
れた光は、コリメートレンズ13により平行化(ビーム
整形とコリメートは同時に行われる)された後、デュア
ルグレーティング14の偏光分離回折格子14aにほぼ
垂直な状態で入射し、ビーム分割回折格子14bを通過
することにより回折され、対物レンズ15により集光さ
れ光磁気ディスク16面上に照射され、これにより情報
の記録等が行われる。また、その光磁気ディスク16か
らの反射光は、再び、デュアルグレーティング14に導
かれることにより、そのビーム分割回折格子14bによ
り1次光と一1次光とに分離され、さらに、これら分離
された光は偏光分離回折格子14aによりS偏光、P偏
光に分離される(この時、1次P偏光a、1次S偏光す
、−1次S偏光c、−1次P偏光d)。このようにして
、4種類に分離された光は、第4図に示すような4分割
受光素子17b、17c、2分割受光素子17a、17
dにそれぞれ受光される。
グ14を用いて、本実施例の全体構成の流れを第1図に
基づいて説明する。まず、半導体レーザ12から出射さ
れた光は、コリメートレンズ13により平行化(ビーム
整形とコリメートは同時に行われる)された後、デュア
ルグレーティング14の偏光分離回折格子14aにほぼ
垂直な状態で入射し、ビーム分割回折格子14bを通過
することにより回折され、対物レンズ15により集光さ
れ光磁気ディスク16面上に照射され、これにより情報
の記録等が行われる。また、その光磁気ディスク16か
らの反射光は、再び、デュアルグレーティング14に導
かれることにより、そのビーム分割回折格子14bによ
り1次光と一1次光とに分離され、さらに、これら分離
された光は偏光分離回折格子14aによりS偏光、P偏
光に分離される(この時、1次P偏光a、1次S偏光す
、−1次S偏光c、−1次P偏光d)。このようにして
、4種類に分離された光は、第4図に示すような4分割
受光素子17b、17c、2分割受光素子17a、17
dにそれぞれ受光される。
そして、半導体レーザ12の出射偏光を偏光分離回折格
子14aの格子方向に対して45°程度に傾けておくと
、S偏光とP偏光の強度比はほぼ同じになり、これらの
強度差から光磁気信号を検出することができる。なお、
l吹P偏光a、1次S偏光b、−1次S偏光C1−1次
P偏光d−のどの偏光波を用いて光磁気信号を検出する
ようにしてもよいし、すべての偏光波を用いて検出する
ようにしてもよい。また、フォーカスエラー信号は、回
折光を用いて、1次S偏光又は−1次S偏光から検出す
ることができる。この場合、非点収差法を適用できるよ
うに、回折光が非点収差を生じさせる。その方法は、偏
光分離回折格子14a、ビーム分割回折格子14b、又
は、それら両方の回折格子を変調ピッチ化することであ
る。さらに、トラックエラー信号は、上述した4つの光
のどれかにブシュプル法を適用することにより得ること
ができる。
子14aの格子方向に対して45°程度に傾けておくと
、S偏光とP偏光の強度比はほぼ同じになり、これらの
強度差から光磁気信号を検出することができる。なお、
l吹P偏光a、1次S偏光b、−1次S偏光C1−1次
P偏光d−のどの偏光波を用いて光磁気信号を検出する
ようにしてもよいし、すべての偏光波を用いて検出する
ようにしてもよい。また、フォーカスエラー信号は、回
折光を用いて、1次S偏光又は−1次S偏光から検出す
ることができる。この場合、非点収差法を適用できるよ
うに、回折光が非点収差を生じさせる。その方法は、偏
光分離回折格子14a、ビーム分割回折格子14b、又
は、それら両方の回折格子を変調ピッチ化することであ
る。さらに、トラックエラー信号は、上述した4つの光
のどれかにブシュプル法を適用することにより得ること
ができる。
このような信号検出を行う信号検出光学系の様子筆箱4
図(a)(b)に示す、2つの回折光す、 cを4分割
受光素子17b、170に導きフォーカスエラー信号の
検出を行い、偏光分離回折格子14aの透過光a、dに
2分割受光素子17a、17dを用いてトラックエラー
信号の検出を行い。
図(a)(b)に示す、2つの回折光す、 cを4分割
受光素子17b、170に導きフォーカスエラー信号の
検出を行い、偏光分離回折格子14aの透過光a、dに
2分割受光素子17a、17dを用いてトラックエラー
信号の検出を行い。
それら回折光す、cと透過光a、dとの光量の差から光
磁気信号を検出するようにしたものである。
磁気信号を検出するようにしたものである。
また、この第4図(a)(b)において、2分割受光素
子17a、17dの分割線の方向は、それぞれ2つが同
時に互いに直交する方向を向くようにしてもよい。
子17a、17dの分割線の方向は、それぞれ2つが同
時に互いに直交する方向を向くようにしてもよい。
なお、本実施例においては、受光素子は、4分割受光素
子17b、17cを2個、2分割受光素子17a、17
dを2個、合計4個用いているが、この他の例として1
例えば、4分割受光素子及び2分割受光素子をそれぞれ
1個ずつ用いて信号検出を行うようにしてもよい、また
、前述したブシュプル法により検出する他に、サンプル
サーボ法を用いて検出する場合、゛2分割受光素子は無
分割受光素子として構成してもよい。
子17b、17cを2個、2分割受光素子17a、17
dを2個、合計4個用いているが、この他の例として1
例えば、4分割受光素子及び2分割受光素子をそれぞれ
1個ずつ用いて信号検出を行うようにしてもよい、また
、前述したブシュプル法により検出する他に、サンプル
サーボ法を用いて検出する場合、゛2分割受光素子は無
分割受光素子として構成してもよい。
発明の効果
本発明は、偏光分離機能を有する偏光分離回折格子と回
折機能を有するビーム分割回折格子とを備えたデュアル
グレーティングを、単に半導体レーザと光情報記録媒体
との間の光路上に配設するだけで信号検出を容易に行う
ことができるため、従来のように出射光学系と信号検出
光学系との区別をなくし単に一つの光学系のみで信号検
出を行うことが可能となり、しかも、光学系の部品点数
を大幅に削減することができるため、安価で小型、軽量
な装置を得ることができるものである。
折機能を有するビーム分割回折格子とを備えたデュアル
グレーティングを、単に半導体レーザと光情報記録媒体
との間の光路上に配設するだけで信号検出を容易に行う
ことができるため、従来のように出射光学系と信号検出
光学系との区別をなくし単に一つの光学系のみで信号検
出を行うことが可能となり、しかも、光学系の部品点数
を大幅に削減することができるため、安価で小型、軽量
な装置を得ることができるものである。
す説明図、第5図は従来例を示す構成図である。
12・・・レーザ光源、13・・・コリメートレンズ、
14・・・デュアルグレーティング、14a・・・偏光
分離回折格子、14b・・・ビーム分割回折格子、15
・・・対物レンズ、16・・・光情報記録媒体、17a
〜17d・・・光検知器 出 願 人 株式会社 リ コ −
14・・・デュアルグレーティング、14a・・・偏光
分離回折格子、14b・・・ビーム分割回折格子、15
・・・対物レンズ、16・・・光情報記録媒体、17a
〜17d・・・光検知器 出 願 人 株式会社 リ コ −
第1図は本発明の一実施例を示す構成図、第2図はデュ
アルグレーティングの構成を示す側面図、第3図は受光
素子の構成を半導体レーザの出射光軸側からみた構成図
、第4図はデュアルグレーティングにより回折される光
の進行経路の様子な示35図 6
アルグレーティングの構成を示す側面図、第3図は受光
素子の構成を半導体レーザの出射光軸側からみた構成図
、第4図はデュアルグレーティングにより回折される光
の進行経路の様子な示35図 6
Claims (1)
- レーザ光源より出射された光をコリメートレンズにより
平行化し、その平行光を対物レンズにより集光して光情
報記録媒体に照射し情報の記録を行うと共に、その光情
報記録媒体からの反射光を光検知器により検出すること
によって情報の再生やフォーカスエラー信号、トラック
エラー信号の検出を行う光ピックアップ装置において、
前記レーザ光源から出射された光が前記光情報記録媒体
に向かう前記コリメートレンズと前記対物レンズとの間
の光路上に、前記レーザ光源側に位置する面に高密度ピ
ッチを有する偏光分離回折格子が形成され前記光情報記
録媒体側に位置する面に前記偏光分離回折格子とは異な
るピッチを有するビーム分割回折格子の形成されたデュ
アルグレーティングを設け、このデュアルグレーティン
グを通過し偏光分離された光を検出する前記光検知器を
前記半導体レーザ側の光路上に配設したことを特徴とす
る光ピックアップ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1236718A JP2744479B2 (ja) | 1989-09-12 | 1989-09-12 | 光ピックアップ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1236718A JP2744479B2 (ja) | 1989-09-12 | 1989-09-12 | 光ピックアップ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03100927A true JPH03100927A (ja) | 1991-04-25 |
JP2744479B2 JP2744479B2 (ja) | 1998-04-28 |
Family
ID=17004748
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1236718A Expired - Fee Related JP2744479B2 (ja) | 1989-09-12 | 1989-09-12 | 光ピックアップ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2744479B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08249710A (ja) * | 1995-01-12 | 1996-09-27 | Ricoh Co Ltd | 光ヘッド |
KR100255308B1 (ko) * | 1996-10-21 | 2000-05-01 | 김덕중 | 광 픽업 |
US6434092B1 (en) | 1998-12-24 | 2002-08-13 | Nec Corporation | Optical head for land and groove recording |
-
1989
- 1989-09-12 JP JP1236718A patent/JP2744479B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08249710A (ja) * | 1995-01-12 | 1996-09-27 | Ricoh Co Ltd | 光ヘッド |
KR100255308B1 (ko) * | 1996-10-21 | 2000-05-01 | 김덕중 | 광 픽업 |
US6434092B1 (en) | 1998-12-24 | 2002-08-13 | Nec Corporation | Optical head for land and groove recording |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2744479B2 (ja) | 1998-04-28 |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |