JPH0612342A - Ramの故障検出方法 - Google Patents

Ramの故障検出方法

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JPH0612342A
JPH0612342A JP4193302A JP19330292A JPH0612342A JP H0612342 A JPH0612342 A JP H0612342A JP 4193302 A JP4193302 A JP 4193302A JP 19330292 A JP19330292 A JP 19330292A JP H0612342 A JPH0612342 A JP H0612342A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
register
data
ram
bit
inverted
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4193302A
Other languages
English (en)
Inventor
Akira Furuhira
明 古平
Shinji Tabuchi
慎司 田渕
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hioki EE Corp
Original Assignee
Hioki EE Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Hioki EE Corp filed Critical Hioki EE Corp
Priority to JP4193302A priority Critical patent/JPH0612342A/ja
Publication of JPH0612342A publication Critical patent/JPH0612342A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 プロクラムが簡単で、しかも速い処理速度で
RAMの故障を検出する。 【構成】 CPUに3つのレジスタを用意し、第1のレ
ジスタ内にRAMの使用エリア内の原データを取り込む
とともに、同原データを第2のレジスタに退避させ、次
ぎに第1のレジスタ内の原データのビットを反転させ、
その反転データを使用エリア内の同一アドレスに書き込
ませた後、再度同反転データを第1のレジスタに取り込
み、同第1のレジスタ内の反転データと第2のレジスタ
内に退避させられている原データとを各ビットごとに加
算し、その加算データを第3のレジスタ内に書き込み、
同第3のレジスタ内の各データのビットに「0」が含ま
れているかにより、RAMの正常、異常を判定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はRAMの故障検出方法
に関し、さらに詳しく言えば、プロクラムが簡単で、し
かも処理速度の速いRAMの故障検出方法に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】RAM(ランダムアクセスメモリ)は種
々の電子機器、出願人の分野で言えば、波形記録装置、
電力計などを初めとして各種の測定器にも搭載されてお
り、特に取込んだデータをCPU(中央演算処理ユニッ
ト)にて演算処理する場合に用いられている。
【0003】図3に示されているように、RAM内には
データの書込み、読出しが行なわれる使用エリアのほか
に、例えば同使用エリア内のデータと同一のデータが退
避用として書込まれるコピーエリアや未使用エリアなど
が用意されている。
【0004】このRAMの正常、異常をチェックするに
あたって、従来では次ぎのようにしている。図4のフロ
ーチャートにしたがって説明すると、まず、ステップS
T1においてコピーエリア全体に「0」を書き込む。次
ぎに、ステップST2でCPU内のレジスタに1アドレ
スずつコピーエリア内のデータを読み込み、それが
「0」になっているかを確認する。「0」でないビット
があればエラー有りと判定し、ステップER1でエラー
処理を行なう。
【0005】コピーエリア全体が「0」と確認される
と、ステップST3で今度はコピーエリア全体にFF
(16)を書き込む。この例では1ワードを8ビットと
しており、したがってこのFF(16)により各ビット
に「1」が書き込まれることになる。
【0006】そして、ステップST4においてCPU内
のレジスタに1アドレスずつコピーエリア内のデータを
読み込み、全ビットが「1」になっているかを確認す
る。「1」でないビットがあればエラー有りと判定し、
ステップER1でエラー処理を行なう。
【0007】コピーエリア全体のビットが「1」と確認
されると、ステップST5で使用エリア内のデータをコ
ピーエリアに退避させた後、次ぎのステップST6で使
用エリア全体に「0」を書き込む。
【0008】そして、ステップST7でCPU内のレジ
スタに1アドレスずつ使用エリア内のデータを読み込
み、それが「0」になっているかを確認する。「0」で
ないビットがあればエラー有りと判定し、ステップER
2でエラー処理を行なう。
【0009】使用エリア全体が「0」と確認されると、
ステップST8で今度はその使用エリア全体にFF
(16)を書き込む。そして、ステップST9でCPU
内のレジスタに1アドレスずつ使用エリア内のデータを
読み込み、全ビットが「1」になっているかを確認す
る。「1」でないビットがあればエラー有りと判定し、
ステップER2でエラー処理を行なう。
【0010】最終的に故障が検出されない場合およびス
テップST7もしくはST9でエラーと判定された場合
には、ステップST10が実行され、コピーエリアに退
避されていたデータが使用エリアに戻される。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】この従来例によれば、
コピーエリアと使用エリアにそれぞれ順番に「0」
「1」を書き込んで、それを確認するため、プログラム
的には理解しやすいが、データの退避、復帰を含めてエ
リアへの書込み、読出しが6回あるため処理時間が長く
かかる。
【0012】また、コピーエリアは本来データ退避用で
あり、CPUとの間で直接データの授受を行なうもので
ないが、同コピーエリアに異常があると、使用エリアに
故障がなくともエラーと判定されてしまう、という弊害
がある。
【0013】
【課題を解決するための手段】この発明は上記従来の事
情に鑑みなされたもので、その構成上の特徴は、CPU
(中央演算処理ユニット)に3つのレジスタを用意し、
第1のレジスタ内にRAMの使用エリア内の原データを
取り込むとともに、同原データを第2のレジスタに退避
させ、次ぎに第1のレジスタ内の原データのビットを反
転させ、その反転データを使用エリア内の同一アドレス
に書き込ませた後、再度同反転データを第1のレジスタ
に取り込み、同第1のレジスタ内の反転データと第2の
レジスタ内に退避させられている原データとを各ビット
ごとに加算し、その加算データを第3のレジスタ内に書
込み、同第3のレジスタ内の各データのビットに「0」
が含まれているかにより、RAMの正常、異常を判定す
るようにしたことにある。
【0014】
【作用】原データとその反転データとを各ビットごとに
加算すると、理論的にはすべてのビットが「1」にな
る。したがって、データのビット内に「0」がある場合
には、エラー有りと判定される。
【0015】
【実施例】以下、この発明の実施例を説明する。まず、
図1に示されているように、CPU内には3つのレジス
タ1〜3が用意される。この例ではCPUに内蔵されて
いるレジスタを3つに分けているが、別途に外付けメモ
リを用意しても良い。また、RAMには先に説明したよ
うに、使用エリア、コピーエリアおよび未使用エリアの
3つのエリアが設けられているが、コピーエリアに関し
ては特に設けなくとも良い。
【0016】図2のフローチャートを参照しながら、こ
の実施例による故障検出方法を説明する。まず、最初の
ステップST20でRAMの使用エリアからCPUのレ
ジスタ1内に1つのデータを取り込むとともに、次ぎの
ステップST21でそのデータをレジスタ2に退避させ
る。説明の便宜上、このデータを原データという。
【0017】しかる後、ステップST22において、レ
ジスタ1の原データをビット反転し、その反転データを
RAMの使用エリアの同一のアドレスに格納する。例え
ば、原データが(1011…01)であるとすれば、こ
のステップで(0100…10)のようにそのデータが
反転される。
【0018】引き続いて、ステップST23で使用エリ
アの同一のアドレスからその反転データをレジスタ1に
取り込む。
【0019】そして、ステップST24において、レジ
スタ1に取り込まれた反転データとレジスタ2に退避さ
せられている原データとを各ビットごとに加算して、そ
の加算データをレジスタ3に格納する。
【0020】次ぎのステップST25でレジスタ2内の
原データを使用エリアの同一アドレスに書き込んで使用
エリアを元の状態に戻す。
【0021】そして、ステップST26でレジスタ3内
のデータの各ビットがすべて「1」であるかの判定を行
なう。「0」がある場合には、ステップST27でエラ
ー処理が行なわれ、この故障検出ルーチンが終了する。
【0022】ステップST26でレジスタ3内のデータ
の各ビットがすべて「1」である場合には正常と判定さ
れ、次ぎのステップST28で使用エリアの次ぎのアド
レス内のデータについてステップST20〜ST26が
実行され、これが使用エリアの最終アドレスまで繰り返
される。
【0023】上記実施例では使用エリアから例えばアド
レスにしたがってデータを1つずつCPUのレジスタに
取り込んで判定するようにしているが、CPUのレジス
タの数に合わせて使用エリア内のデータを複数個それら
のレジスタに取り込んで、一括的に処理するようにして
も良い。
【0024】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、CPUに3つのレジスタを用意し、第1のレジスタ
内にRAMの使用エリア内の原データを取り込むととも
に、同原データを第2のレジスタに退避させ、次ぎに第
1のレジスタ内の原データのビットを反転させ、その反
転データを使用エリア内の同一アドレスに書き込ませた
後、再度同反転データを第1のレジスタに取り込み、同
第1のレジスタ内の反転データと第2のレジスタ内に退
避させられている原データとを各ビットごとに加算し、
その加算データを第3のレジスタ内に書き込み、同第3
のレジスタ内の各データのビットに「0」が含まれてい
るかにより、RAMの正常、異常を判定するようにした
ことにより、RAMの使用エリアのみをチェックするだ
けで故障検出を行なうことができる。
【0025】また、RAMへの書き込み、読み出しが各
々2回ずつであるため、その分処理時間が短くなる。さ
らには、判定ステップが少ないため、プログラム自体も
簡単となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例を説明するためのCPUとR
AMとの接続状態を示した摸式図。
【図2】同実施例に係るRAM故障検出のフローチャー
ト。
【図3】従来例を説明するためのCPUとRAMとの接
続状態を示した摸式図。
【図4】従来例に係るRAM故障検出のフローチャー
ト。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 CPU(中央演算処理ユニット)に3つ
    のレジスタを用意し、第1のレジスタ内にRAMの使用
    エリア内の原データを取り込むとともに、同原データを
    第2のレジスタに退避させ、次ぎに上記第1のレジスタ
    内の原データのビットを反転させ、その反転データを上
    記使用エリア内の同一アドレスに書き込ませた後、再度
    同反転データを第1のレジスタに取り込み、同第1のレ
    ジスタ内の反転データと上記第2のレジスタ内に退避さ
    せられている原データとを各ビットごとに加算し、その
    加算データを第3のレジスタ内に書き込み、同第3のレ
    ジスタ内の各データのビットに「0」が含まれているか
    により、RAMの正常、異常を判定するようにしたこと
    を特徴とするRAMの故障検出方法。
JP4193302A 1992-06-26 1992-06-26 Ramの故障検出方法 Pending JPH0612342A (ja)

Priority Applications (1)

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JP4193302A JPH0612342A (ja) 1992-06-26 1992-06-26 Ramの故障検出方法

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JP4193302A JPH0612342A (ja) 1992-06-26 1992-06-26 Ramの故障検出方法

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JPH0612342A true JPH0612342A (ja) 1994-01-21

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ID=16305655

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JP4193302A Pending JPH0612342A (ja) 1992-06-26 1992-06-26 Ramの故障検出方法

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JP (1) JPH0612342A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006331086A (ja) * 2005-05-26 2006-12-07 Nsk Ltd メモリ診断方法及びその機能を具備した電動パワーステアリング装置
JP2008016035A (ja) * 2006-07-07 2008-01-24 Arm Ltd メモリテスティング
JP2011175661A (ja) * 2011-04-12 2011-09-08 Nsk Ltd 電動パワーステアリング装置の制御装置
JP2015176619A (ja) * 2014-03-14 2015-10-05 株式会社東芝 半導体集積回路

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JP2011175661A (ja) * 2011-04-12 2011-09-08 Nsk Ltd 電動パワーステアリング装置の制御装置
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