JPH057770B2 - - Google Patents
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- JPH057770B2 JPH057770B2 JP59216459A JP21645984A JPH057770B2 JP H057770 B2 JPH057770 B2 JP H057770B2 JP 59216459 A JP59216459 A JP 59216459A JP 21645984 A JP21645984 A JP 21645984A JP H057770 B2 JPH057770 B2 JP H057770B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/085—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam into, or out of, its operative position or across tracks, otherwise than during the transducing operation, e.g. for adjustment or preliminary positioning or track change or selection
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B27/00—Editing; Indexing; Addressing; Timing or synchronising; Monitoring; Measuring tape travel
- G11B27/36—Monitoring, i.e. supervising the progress of recording or reproducing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/012—Recording on, or reproducing or erasing from, magnetic disks
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/005—Reproducing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、情報が光学的に検出可能な区域と中
間区域とを交互に具えるトラツク状に記録されて
いる光学的に検出可能な記録担体から情報を再生
する装置であつて、 光ビームを記録担体上に投射する光学系と、 記録担体により変調された光ビームを検出して
前記変調により決定された検出信号を発生する光
検出器と、 光ビームにより形成される光点がトラツクから
所定の程度位置ずれした状態を示すトラツクずれ
信号を発生するトラツクずれ検出装置とを具える
光学記録担体再生装置に関するものである。
間区域とを交互に具えるトラツク状に記録されて
いる光学的に検出可能な記録担体から情報を再生
する装置であつて、 光ビームを記録担体上に投射する光学系と、 記録担体により変調された光ビームを検出して
前記変調により決定された検出信号を発生する光
検出器と、 光ビームにより形成される光点がトラツクから
所定の程度位置ずれした状態を示すトラツクずれ
信号を発生するトラツクずれ検出装置とを具える
光学記録担体再生装置に関するものである。
斯かる装置は“コンパクトデイスクデイジタル
オーデイオプレーヤ”と知られており、エヌ・ベ
ー・フイリツプス社からCD100型として市販され
ている。この装置では検出信号をハイパスフイル
タでろ波して低周波数成分を除去した後にこの信
号の振幅をトラツクずれの検出に使用している。
しかし、高周波信号の振幅のみの検出では記録担
体上の指跡のような他の原因による信号振幅の減
少がトラツクずれとして検出される欠点がある。
これを解消するために、検出信号の平均値の変化
も検出するようにしている。また、既知の方法に
おけるハイパスフイルタの使用はデイスクの欠陥
部における信号のドロツプアウトのようなパルス
状の信号変化の場合に前記フイルタのパルス応答
によりエラーを生ずる欠点がある。
オーデイオプレーヤ”と知られており、エヌ・ベ
ー・フイリツプス社からCD100型として市販され
ている。この装置では検出信号をハイパスフイル
タでろ波して低周波数成分を除去した後にこの信
号の振幅をトラツクずれの検出に使用している。
しかし、高周波信号の振幅のみの検出では記録担
体上の指跡のような他の原因による信号振幅の減
少がトラツクずれとして検出される欠点がある。
これを解消するために、検出信号の平均値の変化
も検出するようにしている。また、既知の方法に
おけるハイパスフイルタの使用はデイスクの欠陥
部における信号のドロツプアウトのようなパルス
状の信号変化の場合に前記フイルタのパルス応答
によりエラーを生ずる欠点がある。
本発明の目的はトラツクずれを簡単に、しかも
高い信頼度で検出し得る上述した種類の再生装置
を提供することにある。
高い信頼度で検出し得る上述した種類の再生装置
を提供することにある。
この目的のために、本発明は上述した種類の再
生装置において、前記トラツクずれ手段はトラツ
クの光学的に検出可能な区域の走査中に前記光検
出器により供給される第1信号と、中間区域の走
査中に前記検出器により供給される第2信号とを
比較し、第1信号が第2信号の所定の割合の値よ
り大きいときにトラツクずれ信号を発生するよう
構成したことを特徴とする。
生装置において、前記トラツクずれ手段はトラツ
クの光学的に検出可能な区域の走査中に前記光検
出器により供給される第1信号と、中間区域の走
査中に前記検出器により供給される第2信号とを
比較し、第1信号が第2信号の所定の割合の値よ
り大きいときにトラツクずれ信号を発生するよう
構成したことを特徴とする。
このトラツクずれ検出方法によればトラツクず
れの結果として生ずる信号変化、即ち光学的に検
出可能な区域の走査中の検出信号の増大と、指跡
の結果として生ずる信号変化、即ち中間区域の走
査中の検出信号の減少とが自動的に弁別される。
れの結果として生ずる信号変化、即ち光学的に検
出可能な区域の走査中の検出信号の増大と、指跡
の結果として生ずる信号変化、即ち中間区域の走
査中の検出信号の減少とが自動的に弁別される。
本発明装置においては、更に、信号ドロツプア
ウト中におけるトラツクずれの誤検出を除外する
ために、第1信号が第2信号に略々等しくなるこ
とにより識別される信号ドロツプアウトを検出す
る検出装置を設け、前記トラツクずれ検出装置は
斯かる信号ドロツプアウトの発生中はトラツクず
れ信号の発生を禁止するよう構成する。
ウト中におけるトラツクずれの誤検出を除外する
ために、第1信号が第2信号に略々等しくなるこ
とにより識別される信号ドロツプアウトを検出す
る検出装置を設け、前記トラツクずれ検出装置は
斯かる信号ドロツプアウトの発生中はトラツクず
れ信号の発生を禁止するよう構成する。
既知の装置ではトラツクずれ信号を同様にデイ
スクからのデイジタル信号から取り出しており、
従つてトラツクずれ信号は多くの場合低い信号対
雑音比を有し、且つ又、情報が不規則なデータ信
号により妨害されるためにしばしば不正確なもの
となる。
スクからのデイジタル信号から取り出しており、
従つてトラツクずれ信号は多くの場合低い信号対
雑音比を有し、且つ又、情報が不規則なデータ信
号により妨害されるためにしばしば不正確なもの
となる。
このため、トラツクずれ信号の発生を更に改善
した本発明装置の好適例においては、 クロツク信号を発生する発振器と、 該発振器によりクロツクされ、前記検出器によ
り検出された検出信号を光学的に読取可能な区域
の走査中と中間区域の走査中においてサンプリン
グするアナログ−デイジタル変換器と、 これらサンプルを光学的に読取可能な区域の走
査中に取り出されたものと中間区域の走査中に取
り出されたものとに識別する検出装置と、 該検出装置の命令の下で光学的に読取可能な区
域の走査中に取り出されたサンプルと中間区域の
走査中に取り出されたサンプルとを分離する信号
分離装置とを設ける。
した本発明装置の好適例においては、 クロツク信号を発生する発振器と、 該発振器によりクロツクされ、前記検出器によ
り検出された検出信号を光学的に読取可能な区域
の走査中と中間区域の走査中においてサンプリン
グするアナログ−デイジタル変換器と、 これらサンプルを光学的に読取可能な区域の走
査中に取り出されたものと中間区域の走査中に取
り出されたものとに識別する検出装置と、 該検出装置の命令の下で光学的に読取可能な区
域の走査中に取り出されたサンプルと中間区域の
走査中に取り出されたサンプルとを分離する信号
分離装置とを設ける。
この装置においては、更に、前記検出装置は1
個の光学的に検出可能な区域及び1個の中間区域
につきそれぞれ1個のサンプルを検出するように
し、クロツク周波数を読取中のデイジタル情報の
ビツト周波数に等しいかその整数倍にすることが
できる。
個の光学的に検出可能な区域及び1個の中間区域
につきそれぞれ1個のサンプルを検出するように
し、クロツク周波数を読取中のデイジタル情報の
ビツト周波数に等しいかその整数倍にすることが
できる。
このように情報区域につき1個のサンプルを選
択すると選択後の瞬時サンプル周波数は瞬時情報
信号周波数に従つて変化するため、この情報信号
のスペクトル成分の上記選択サンプルへのクロス
トースが最低になる。
択すると選択後の瞬時サンプル周波数は瞬時情報
信号周波数に従つて変化するため、この情報信号
のスペクトル成分の上記選択サンプルへのクロス
トースが最低になる。
本発明のこの装置においては、更に、前記検出
装置は光学的に検出可能な区域及び中間区域がビ
ツト周波数の周期の予定数倍より長いときにのみ
1個のサンプルを検出するようにする。
装置は光学的に検出可能な区域及び中間区域がビ
ツト周波数の周期の予定数倍より長いときにのみ
1個のサンプルを検出するようにする。
このようにすると、光学的伝達関数、即ち光学
的に検出可能な区域の長さの関数として読取られ
る信号の振幅の選択サンプルへの影響が最小にな
る。
的に検出可能な区域の長さの関数として読取られ
る信号の振幅の選択サンプルへの影響が最小にな
る。
本発明装置の好適例においては、前記信号分離
装置は前記サンプルが供給される第1及び第2記
憶部を具え、第1記憶部は前記検出装置により中
間区域からの前記1個のサンプルの検出時にスイ
ツチオンされ、第2記憶部は前記検出装置により
光学的に検出可能な区域からの前記1個のサンプ
ルの検出時にスイツチオンされるようにする。
装置は前記サンプルが供給される第1及び第2記
憶部を具え、第1記憶部は前記検出装置により中
間区域からの前記1個のサンプルの検出時にスイ
ツチオンされ、第2記憶部は前記検出装置により
光学的に検出可能な区域からの前記1個のサンプ
ルの検出時にスイツチオンされるようにする。
更に、本発明装置の好適例においては、前記検
出装置は光学的に検出可能な区域と中間区域との
間の遷移点毎に始動され、ビツト周波数のクロツ
ク信号を計数して中間区域走査中に予定の計数値
に達したときに前記第1記憶部に対する制御信号
を発生し、光学的に検出可能な区域の走査中に予
定の計数値に達したときに前記第2記憶部に対す
る制御信号を発生する計数装置を具え、前記サン
プルはクロツク周期の予定数倍の時間遅延した後
に前記第1及び第2記憶部に供給するようにす
る。
出装置は光学的に検出可能な区域と中間区域との
間の遷移点毎に始動され、ビツト周波数のクロツ
ク信号を計数して中間区域走査中に予定の計数値
に達したときに前記第1記憶部に対する制御信号
を発生し、光学的に検出可能な区域の走査中に予
定の計数値に達したときに前記第2記憶部に対す
る制御信号を発生する計数装置を具え、前記サン
プルはクロツク周期の予定数倍の時間遅延した後
に前記第1及び第2記憶部に供給するようにす
る。
以下、図面につき本発明を詳細に説明する。
第1図は本発明手段を適用し得る再生装置を示
す。第1図において、デイスク状記録担体1は断
面図で示してある。この記録担体は基板2を具
え、この基板にはピツト3と中間区域4を具える
トラツク構造が形成されている。この凹凸形トラ
ツク構造は反射層5と透明保護層6で被覆されて
いる。この凹凸形トラツク構造に含まれる情報
は、レーザ7により発生されたレーザビームをレ
ンズ系8によりトラツク上に集束し、反射ビーム
を半透鏡9及びビームスプリツタ10を経て4個
の光検出器11a,11b,11c及び11dの
インラインアレー上に投射することにより読取ら
れる。これら光検出器により供給される電流は電
流電圧変換器12により信号電圧V1,V2,V3及
びV4に変換される。
す。第1図において、デイスク状記録担体1は断
面図で示してある。この記録担体は基板2を具
え、この基板にはピツト3と中間区域4を具える
トラツク構造が形成されている。この凹凸形トラ
ツク構造は反射層5と透明保護層6で被覆されて
いる。この凹凸形トラツク構造に含まれる情報
は、レーザ7により発生されたレーザビームをレ
ンズ系8によりトラツク上に集束し、反射ビーム
を半透鏡9及びビームスプリツタ10を経て4個
の光検出器11a,11b,11c及び11dの
インラインアレー上に投射することにより読取ら
れる。これら光検出器により供給される電流は電
流電圧変換器12により信号電圧V1,V2,V3及
びV4に変換される。
正しい読取のためにレンズ系8のフオーカシン
グがフオーカシング制御信号FE′により制御され
る(その手段は図示してない)。半径方向トラツ
キングのためにレーザビームスポツトの半径方向
位置が半径方向制御信号RE′により制御される。
これは微調整の制御系である。粗調整は全光学系
7,8,9,10,11,を制御信号CE′の命令
の下で半径方向に動かすことにより得られる(そ
の手段は図示してない)。
グがフオーカシング制御信号FE′により制御され
る(その手段は図示してない)。半径方向トラツ
キングのためにレーザビームスポツトの半径方向
位置が半径方向制御信号RE′により制御される。
これは微調整の制御系である。粗調整は全光学系
7,8,9,10,11,を制御信号CE′の命令
の下で半径方向に動かすことにより得られる(そ
の手段は図示してない)。
これら制御信号CE′,RE′,及びFE′は信号電圧
V1,V2,V3及びV4から導出される。高周波デー
タ信号の再生のために和信号V1+V2+V3+V4が
必要とされるのに加えて、信号FE′のために信号
(V1+V4)−(V2+V3)が必要とされると共に信
号CE′及びRE′のために信号(V1+V2)−(V3+
V4)が必要とされる。これらの制御信号は信号
V1,V2,V3及びV4を合成して得られる3つの信
号A′,B′及びC′から導出することができ、本例
ではこれら3つの信号は次の関係を有する。
V1,V2,V3及びV4から導出される。高周波デー
タ信号の再生のために和信号V1+V2+V3+V4が
必要とされるのに加えて、信号FE′のために信号
(V1+V4)−(V2+V3)が必要とされると共に信
号CE′及びRE′のために信号(V1+V2)−(V3+
V4)が必要とされる。これらの制御信号は信号
V1,V2,V3及びV4を合成して得られる3つの信
号A′,B′及びC′から導出することができ、本例
ではこれら3つの信号は次の関係を有する。
A′=V1+V2
B′=V3+V4
C′=V1+V4
上述の信号V1,V2,V3及びV4の組合わせはマ
トリツクス13により得られる。このように組合
わせるのは4つの信号の代わりに3つの信号をデ
イジタル化するだけでよくなり、これら信号を直
列にデイジタル化する場合に一層低いクロツク周
波数を使用することが可能になるからで、これら
3つの信号A′,B′及びC′はマルチプレクサ14
により直列信号に変換し、アナログ−デイジタル
変換器15によりデイジタル化した後にデマルチ
プレクサ16により並列信号に変換して対応する
デイジタルサンプルA,B及びCを得る。マルチ
プレクサ14、アナログ−デイジタル変換器15
及びデマルチプレクサ16はクロツク信号発生回
路17からのクロツク信号を受信する。このクロ
ツク信号発生回路17は発振器18の制御の下で
所要のクロツク信号を正しい位相関係で供給して
サンプルA,B及びCをデータ信号のビツト周波
数と同期して出力させる。
トリツクス13により得られる。このように組合
わせるのは4つの信号の代わりに3つの信号をデ
イジタル化するだけでよくなり、これら信号を直
列にデイジタル化する場合に一層低いクロツク周
波数を使用することが可能になるからで、これら
3つの信号A′,B′及びC′はマルチプレクサ14
により直列信号に変換し、アナログ−デイジタル
変換器15によりデイジタル化した後にデマルチ
プレクサ16により並列信号に変換して対応する
デイジタルサンプルA,B及びCを得る。マルチ
プレクサ14、アナログ−デイジタル変換器15
及びデマルチプレクサ16はクロツク信号発生回
路17からのクロツク信号を受信する。このクロ
ツク信号発生回路17は発振器18の制御の下で
所要のクロツク信号を正しい位相関係で供給して
サンプルA,B及びCをデータ信号のビツト周波
数と同期して出力させる。
種々の制御信号を発生させるためにはデータ信
号のスペクトル成分をできるだけ抑圧するのが重
要である。これはデータパターン(ピツト及び中
間区域)と同期してサンプルを選択して瞬瞬サン
プル周波数がデータ信号の瞬時周波数に等しくな
るようにすることにより達成される。この目的の
ために各ピツト3及び各中間区域4につき1個の
サンプルをサンプルA,B及びCから選択し、更
に読取の光学的伝達関数の影響(検出信号振幅は
投射レーザビームのピツトに対する位置の関数で
あつてピツトの縁に近いほど小さくなる)を最小
にするためにサンプルを所定数のクロツク周期よ
り長い(本例では5クロツク周期より長い)ピツ
ト及び中間区域に対するものだけを取出す。この
目的のために、検出装置19(第2図につき後に
詳述する)により1ピツト中に6個のサンプルが
検出されるときに出力端子20にパルスを発生さ
せると共に、1中間区域中に6個のサンプルが検
出されるときに出力端子21にパルスを発生させ
る。この検出装置19は入力端子22に発振器1
8からクロツク信号を受信すると共に入力端子2
3に加算器25により得られた信号A及びBのデ
イジタル和信号を回路24で等化した信号を受信
する。
号のスペクトル成分をできるだけ抑圧するのが重
要である。これはデータパターン(ピツト及び中
間区域)と同期してサンプルを選択して瞬瞬サン
プル周波数がデータ信号の瞬時周波数に等しくな
るようにすることにより達成される。この目的の
ために各ピツト3及び各中間区域4につき1個の
サンプルをサンプルA,B及びCから選択し、更
に読取の光学的伝達関数の影響(検出信号振幅は
投射レーザビームのピツトに対する位置の関数で
あつてピツトの縁に近いほど小さくなる)を最小
にするためにサンプルを所定数のクロツク周期よ
り長い(本例では5クロツク周期より長い)ピツ
ト及び中間区域に対するものだけを取出す。この
目的のために、検出装置19(第2図につき後に
詳述する)により1ピツト中に6個のサンプルが
検出されるときに出力端子20にパルスを発生さ
せると共に、1中間区域中に6個のサンプルが検
出されるときに出力端子21にパルスを発生させ
る。この検出装置19は入力端子22に発振器1
8からクロツク信号を受信すると共に入力端子2
3に加算器25により得られた信号A及びBのデ
イジタル和信号を回路24で等化した信号を受信
する。
サンプルA,B及びCはそれぞれ遅延回路網2
6,27及び28により発振器18の3クロツク
周期(3τ)だけ遅延し、等化器29,30及び3
1により等化した後にホールド回路32と33,
34と35及び36にそれぞれ供給する。ホール
ド回路32,34及び36は検出器19の出力端
子21の信号によりクロツクし、ホールド回路3
3及び35は出力端子20の信号でクロツクす
る。この場合、5周期より長い各中間区域中にサ
ンプルA,B及びCの第3サンプルa,b及びc
がホールド回路32,34及び36の出力端子3
8,40及び42にそれぞれ発生し、5周期より
長い各ピツト中にサンプルA及びBの第3サンプ
ル及びがホールド回路33及び35の出力端
子39及び41にそれぞれれ発生する。
6,27及び28により発振器18の3クロツク
周期(3τ)だけ遅延し、等化器29,30及び3
1により等化した後にホールド回路32と33,
34と35及び36にそれぞれ供給する。ホール
ド回路32,34及び36は検出器19の出力端
子21の信号によりクロツクし、ホールド回路3
3及び35は出力端子20の信号でクロツクす
る。この場合、5周期より長い各中間区域中にサ
ンプルA,B及びCの第3サンプルa,b及びc
がホールド回路32,34及び36の出力端子3
8,40及び42にそれぞれ発生し、5周期より
長い各ピツト中にサンプルA及びBの第3サンプ
ル及びがホールド回路33及び35の出力端
子39及び41にそれぞれれ発生する。
原理的には例えば長いピツト及び中間区域の場
合には中心のサンプルを取ることによりピツト又
は中間区域の長さに依存するサンプルを選択する
こともできる。
合には中心のサンプルを取ることによりピツト又
は中間区域の長さに依存するサンプルを選択する
こともできる。
信号a,,b,及びcは処理回路37(第
5図につき後に詳述する)に供給され、この処理
回路は出力端子43,44及び45に信号RE,
CE及びFEをそれぞれ出力し、出力端子46,4
7,48,49にトラツクずれを表す信号TL、
信号ドロツプアウトを示す信号Do,高周波デー
タ信号のレベルが低すぎることを示す信号HFL
及びデータ信号処理の決定レベルである信号SL
をそれぞれ出力する。信号RE,CE及びFEはデ
イジタル−アナログ変換器50,51及び52に
よりアナログ信号に変換され、次いで増幅器5
3,54及び55により増幅されてフオーカシン
グ及びトラツキング制御用のアナログ信号RE′,
CE′及びFE′にされる。
5図につき後に詳述する)に供給され、この処理
回路は出力端子43,44及び45に信号RE,
CE及びFEをそれぞれ出力し、出力端子46,4
7,48,49にトラツクずれを表す信号TL、
信号ドロツプアウトを示す信号Do,高周波デー
タ信号のレベルが低すぎることを示す信号HFL
及びデータ信号処理の決定レベルである信号SL
をそれぞれ出力する。信号RE,CE及びFEはデ
イジタル−アナログ変換器50,51及び52に
よりアナログ信号に変換され、次いで増幅器5
3,54及び55により増幅されてフオーカシン
グ及びトラツキング制御用のアナログ信号RE′,
CE′及びFE′にされる。
加算器25及び等化器24により形成された和
信号A+Bは検出装置19だけでなく比較器56
と位相比較回路58にも供給され、比較器56は
決定レベルSLも受信してデイジタルデータ信号
を再生してこれを出力端子57に出力し、位相比
較回路58はサンプルA+Bの位相をレコードキ
ヤリア1上のデータ信号の位相と比較してこの位
相誤差信号を出力端子59に出力すると共に信号
A+Bの非対称度を表す信号を出力端子60に出
力し、この信号は回路37に供給される。出力端
子59の位相誤差信号はローパスフイルタ61を
経て発振器18を制御する。
信号A+Bは検出装置19だけでなく比較器56
と位相比較回路58にも供給され、比較器56は
決定レベルSLも受信してデイジタルデータ信号
を再生してこれを出力端子57に出力し、位相比
較回路58はサンプルA+Bの位相をレコードキ
ヤリア1上のデータ信号の位相と比較してこの位
相誤差信号を出力端子59に出力すると共に信号
A+Bの非対称度を表す信号を出力端子60に出
力し、この信号は回路37に供給される。出力端
子59の位相誤差信号はローパスフイルタ61を
経て発振器18を制御する。
第2図は第1図に示す装置の検出装置器19の
一例を示し、第3図はこの回路の動作を説明する
ための波形図を示す。第2図に示す回路におい
て、等化器24からの信号A+Bは入力端子23
からハイパスフイルタ62に供給されて低周波数
成分が除去され、デイジタルデータ信号を簡単な
比較器63により再生することができる。矩形デ
ータ信号の縁が回路64(例えば微分器)により
検出される。この縁検出器64によりカウンタ6
5が始動され、その入力端子22に供給される
(発振器18からの)クロツクパルスを縁検出器
64からのパルスで決まる瞬時から計数し始め
る。デコーダ回路66は特定のカウント(本例で
は6)をデコードする。カウントが“6”になる
と、パルスがANDゲート67及び68に供給さ
れる。ゲート67は反転入力端子に再生データ信
号も受信し、ゲート68は非反転入力端子にこの
信号を受信する。この結果、正のデータ信号中に
カウントが“6”に達するときに出力端子21に
パルスが発生し、負のデータ信号中にカウントが
“6”に達するときに出力端子20にパルスが発
生する。
一例を示し、第3図はこの回路の動作を説明する
ための波形図を示す。第2図に示す回路におい
て、等化器24からの信号A+Bは入力端子23
からハイパスフイルタ62に供給されて低周波数
成分が除去され、デイジタルデータ信号を簡単な
比較器63により再生することができる。矩形デ
ータ信号の縁が回路64(例えば微分器)により
検出される。この縁検出器64によりカウンタ6
5が始動され、その入力端子22に供給される
(発振器18からの)クロツクパルスを縁検出器
64からのパルスで決まる瞬時から計数し始め
る。デコーダ回路66は特定のカウント(本例で
は6)をデコードする。カウントが“6”になる
と、パルスがANDゲート67及び68に供給さ
れる。ゲート67は反転入力端子に再生データ信
号も受信し、ゲート68は非反転入力端子にこの
信号を受信する。この結果、正のデータ信号中に
カウントが“6”に達するときに出力端子21に
パルスが発生し、負のデータ信号中にカウントが
“6”に達するときに出力端子20にパルスが発
生する。
これを説明するために、第3a図にピツト3と
これらピツト間の中間区域4を具えるデータトラ
ツクの一部を示す。第3b図は第3a図に示すト
ラツクから発生するサンプルA+Bを示す。第3
c図は比較器63の出力に得られる再生データ信
号を示し、この信号はピツト及び中間区域の長さ
に対応する周基を有する略々矩形の信号になる。
第3d図はデータ信号の縁において発生するカウ
ンタ65のスタートパルスを示し、このカウンタ
は第3e図に示すクロツク信号のパルスをカウン
トする。カウンタ65はカウントが“6”に達す
る度にパルスを発生し、正のデータ信号(即ち中
間区域)中は出力端子21にパルスが発生し(第
3f図)、負のデータ信号(即ちピツト)中は出
力端子20にパルスが発生する(第3g図)。こ
れらパルスにより3クロツク周期遅延された信号
A,B及びCがサンプルされる。第3h図は3ク
ロツク周期遅延された信号Aを示し、この信号に
対してホールド回路32(第1図)、が5クロツ
ク周期より長い各中間区域からその第3サンプル
をホールドし(第3i図)、ホールド回路33が
5クロツク周期より長い各ピツトからその第3サ
ンプルをホールドする(第3i図)。
これらピツト間の中間区域4を具えるデータトラ
ツクの一部を示す。第3b図は第3a図に示すト
ラツクから発生するサンプルA+Bを示す。第3
c図は比較器63の出力に得られる再生データ信
号を示し、この信号はピツト及び中間区域の長さ
に対応する周基を有する略々矩形の信号になる。
第3d図はデータ信号の縁において発生するカウ
ンタ65のスタートパルスを示し、このカウンタ
は第3e図に示すクロツク信号のパルスをカウン
トする。カウンタ65はカウントが“6”に達す
る度にパルスを発生し、正のデータ信号(即ち中
間区域)中は出力端子21にパルスが発生し(第
3f図)、負のデータ信号(即ちピツト)中は出
力端子20にパルスが発生する(第3g図)。こ
れらパルスにより3クロツク周期遅延された信号
A,B及びCがサンプルされる。第3h図は3ク
ロツク周期遅延された信号Aを示し、この信号に
対してホールド回路32(第1図)、が5クロツ
ク周期より長い各中間区域からその第3サンプル
をホールドし(第3i図)、ホールド回路33が
5クロツク周期より長い各ピツトからその第3サ
ンプルをホールドする(第3i図)。
第5図は回路37の信号TL,Do及びHFLを
出力する部分の一例を示し、第4図はデイスクか
らのデータ再生中に得るいくつかの障害を示す。
信号a+b(長い中間区域に得られるサンプルa
及びbの和)と+(長いピツト中に得られる
サンプル及びの和)の変化を第4図にプロツ
トしてある。第4図の範囲は無妨害再生中の信
号の値を示す。範囲においてはトラツクずれが
生じており、この場合には中間区域により発生さ
れる信号a+bは変化しないが、信号+はト
ラツク間のランドから多量の光が反射されるため
に著しく大きくなる。範囲においては指跡のよ
ごれが生じており、この場合にはピツトと中間区
域の双方からの反射が減少し両信号とも小さくな
る。範囲においては“黒”信号のドロツプアウ
トが生じており、この場合には中間区域もピツト
も光を反射せず、従つて信号a+b及び信号+
bともに零になる。斯かる信号ドロツプアウトは
例えばデイスクの反射層5が局部的に欠落してい
る場合に生じ得る。範囲においては“白”信号
のドロツプアウトが生じており、この場合には信
号+が信号a+bに等しくなり、このドロツ
プアウトはデイスク上のピツトが局部的に欠落し
ている場合に生じる。
出力する部分の一例を示し、第4図はデイスクか
らのデータ再生中に得るいくつかの障害を示す。
信号a+b(長い中間区域に得られるサンプルa
及びbの和)と+(長いピツト中に得られる
サンプル及びの和)の変化を第4図にプロツ
トしてある。第4図の範囲は無妨害再生中の信
号の値を示す。範囲においてはトラツクずれが
生じており、この場合には中間区域により発生さ
れる信号a+bは変化しないが、信号+はト
ラツク間のランドから多量の光が反射されるため
に著しく大きくなる。範囲においては指跡のよ
ごれが生じており、この場合にはピツトと中間区
域の双方からの反射が減少し両信号とも小さくな
る。範囲においては“黒”信号のドロツプアウ
トが生じており、この場合には中間区域もピツト
も光を反射せず、従つて信号a+b及び信号+
bともに零になる。斯かる信号ドロツプアウトは
例えばデイスクの反射層5が局部的に欠落してい
る場合に生じ得る。範囲においては“白”信号
のドロツプアウトが生じており、この場合には信
号+が信号a+bに等しくなり、このドロツ
プアウトはデイスク上のピツトが局部的に欠落し
ている場合に生じる。
信号ドロツプアウトを決定するには、高周波信
号振幅、即ち中間区域の位置における信号とピツ
トの位置における信号との差、或いはこれら信号
を長いピツト及び中間区域中に取り出したサンプ
ルに制限する場合には信号(a+b)−(+)
が予定限度まで減少するか否かを基準とするのが
好適である。これがため、第5図に示す回路では
加算器115により信号a及びbの和を決定し、
加算器116により信号及びの和を決定し、
減算回路136により差信号(a+b)−(+
b)を形成する。この信号の減少量を検出するた
めにローパスフイルタ117によりこの差信号の
平均値を決定し、この平均値を比較器118にお
いてこの差信号の瞬時値と比較する。この瞬時値
が例えばその平均値の15%より低い場合には信号
(Do)が出力端子47に出力される。更に、比較
器119において瞬時信号(a+b)−(+)
がその平均値の例えば50%より低いか否かが決定
され、その場合には信号(HFL)が出力端子4
8に出力される。これがため、この信号HFLは
信号ドロツプアウト(第4図の状態及び)中
のみならず例えば指跡の場合(状態)及びトラ
ツクずれの場合(状態)にも発生する。
号振幅、即ち中間区域の位置における信号とピツ
トの位置における信号との差、或いはこれら信号
を長いピツト及び中間区域中に取り出したサンプ
ルに制限する場合には信号(a+b)−(+)
が予定限度まで減少するか否かを基準とするのが
好適である。これがため、第5図に示す回路では
加算器115により信号a及びbの和を決定し、
加算器116により信号及びの和を決定し、
減算回路136により差信号(a+b)−(+
b)を形成する。この信号の減少量を検出するた
めにローパスフイルタ117によりこの差信号の
平均値を決定し、この平均値を比較器118にお
いてこの差信号の瞬時値と比較する。この瞬時値
が例えばその平均値の15%より低い場合には信号
(Do)が出力端子47に出力される。更に、比較
器119において瞬時信号(a+b)−(+)
がその平均値の例えば50%より低いか否かが決定
され、その場合には信号(HFL)が出力端子4
8に出力される。これがため、この信号HFLは
信号ドロツプアウト(第4図の状態及び)中
のみならず例えば指跡の場合(状態)及びトラ
ツクずれの場合(状態)にも発生する。
例えば指跡の場合にはその妨害は左程重大でな
いので、フイルタ117の時定数を比較的小さく
して平均値(a+b)−(+)が例えば指跡
(状態)の場合には比較的速く減少するように
して信号HFLが長時間妨害の場合には現れない
ようにする。状態及びのようなドロツプアウ
トの場合にはこれは許されない。これがため、信
号DOにより斯かる障害中はフイルタ117の時
定数を比較的高い値に切換える。即ち、信号が無
妨害レベルの15%と50%の間のレベルに減少する
障害中はフイルタ117は小時定数で動作し、信
号が15%より低いレベルに減少する障害中はフイ
ルタは大時定数で動作するようにする。
いので、フイルタ117の時定数を比較的小さく
して平均値(a+b)−(+)が例えば指跡
(状態)の場合には比較的速く減少するように
して信号HFLが長時間妨害の場合には現れない
ようにする。状態及びのようなドロツプアウ
トの場合にはこれは許されない。これがため、信
号DOにより斯かる障害中はフイルタ117の時
定数を比較的高い値に切換える。即ち、信号が無
妨害レベルの15%と50%の間のレベルに減少する
障害中はフイルタ117は小時定数で動作し、信
号が15%より低いレベルに減少する障害中はフイ
ルタは大時定数で動作するようにする。
トラツクずれを検出するために、ピツトの信号
(+)が中間区域の信号(a+b)の所定の
割合α (例えばα=0.5)より大きいか否か、即ち +>α(a+b) を決定する。このため第5図に示す回路では加算
器115の出力端子の信号a+bを割算器123
により2分の1にし、この割算器123の出力信
号を加算器116の出力信号+と比較器12
5において比較し、+>α(a+b)のとき
信号を発生させる(ここではα=0.5)。この条件
は状態の信号ドロツプアウトに対しても満足さ
れるため、この信号をANDゲート126におい
て信号Do反転信号と組合わせて状態のみを表
す信号TLが出力端子46に現れるようにする。
(+)が中間区域の信号(a+b)の所定の
割合α (例えばα=0.5)より大きいか否か、即ち +>α(a+b) を決定する。このため第5図に示す回路では加算
器115の出力端子の信号a+bを割算器123
により2分の1にし、この割算器123の出力信
号を加算器116の出力信号+と比較器12
5において比較し、+>α(a+b)のとき
信号を発生させる(ここではα=0.5)。この条件
は状態の信号ドロツプアウトに対しても満足さ
れるため、この信号をANDゲート126におい
て信号Do反転信号と組合わせて状態のみを表
す信号TLが出力端子46に現れるようにする。
第1図は本発明手段を適用し得る光学記録担体
再生装置の一例のブロツク図、第2図は第1図に
示す装置の検出装置19の一例のブロツク図、第
3図は第2図に示す検出装置の動作説明用波形
図、第4図は第5図に示す回路の動作説明用波形
図、第5図は第1図に示す装置の回路37の信号
TL,Do及びHFLを出力する部分の本発明によ
る回路の一例を示すブロツク図である。 1……記録担体、2……基板、3……ピツト、
4……中間区域、5……反射層、6……透明保護
層、7……レーザ、8……レンズ系、9……半透
鏡、10……ビームスプリツタ、11a〜11d
……光検出器アレー、12……電流−電圧変換
器、13……マトリツクス、14……マルチプレ
クサ、15……アナログ−デイジタル変換器、1
6……デマルチプレクサ、17……クロツク信号
発生回路、18……発振器、19……検出装置、
24,29,30,31……等化器、25……加
算器、26,27,28……遅延回路網、32〜
36……ホールド回路、37……処理回路、56
……再生用比較器、58……位相比較器、TL…
…トラツクずれ信号、Do……ドロツプアウト信
号、62……ハイパスフイルタ、63……比較
器、64……縁検出器、65……カウンタ、66
……デコーダ、67,68……ANDゲート、1
15,116……加算器、117……ローパスフ
イルタ、119,118……比較器、123……
割算器、125……比較器、126……ANDゲ
ート、136……減算器。
再生装置の一例のブロツク図、第2図は第1図に
示す装置の検出装置19の一例のブロツク図、第
3図は第2図に示す検出装置の動作説明用波形
図、第4図は第5図に示す回路の動作説明用波形
図、第5図は第1図に示す装置の回路37の信号
TL,Do及びHFLを出力する部分の本発明によ
る回路の一例を示すブロツク図である。 1……記録担体、2……基板、3……ピツト、
4……中間区域、5……反射層、6……透明保護
層、7……レーザ、8……レンズ系、9……半透
鏡、10……ビームスプリツタ、11a〜11d
……光検出器アレー、12……電流−電圧変換
器、13……マトリツクス、14……マルチプレ
クサ、15……アナログ−デイジタル変換器、1
6……デマルチプレクサ、17……クロツク信号
発生回路、18……発振器、19……検出装置、
24,29,30,31……等化器、25……加
算器、26,27,28……遅延回路網、32〜
36……ホールド回路、37……処理回路、56
……再生用比較器、58……位相比較器、TL…
…トラツクずれ信号、Do……ドロツプアウト信
号、62……ハイパスフイルタ、63……比較
器、64……縁検出器、65……カウンタ、66
……デコーダ、67,68……ANDゲート、1
15,116……加算器、117……ローパスフ
イルタ、119,118……比較器、123……
割算器、125……比較器、126……ANDゲ
ート、136……減算器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 情報が光学的に検出可能な区域と中間区域と
を交互に具えるトラツク状に記録されている光学
的に検出可能な記録担体から情報を再生する装置
であつて、 光ビームを記録担体上に投写する光学系と、 記録担体により変調された光ビームを検出して
前記変調により決定された検出信号を発生する光
検出器と、 光ビームにより形成される光点がトラツクから
所定の程度位置ずれした状態を示すトラツクずれ
信号を発生するトラツクずれ検出手段とを具える
光学記録担体再生装置において、前記トラツクず
れ検出手段はトラツクの光学的に検出可能な区域
の走査中に前記光検出器により供給される第1信
号と、中間区域の走査中に前記光検出器により供
給される第2信号とを比較し、第1信号が第2信
号の所定の割合の値より大きいときにトラツクず
れ信号を発生するよう構成したことを特徴とする
光学記録担体再生装置。 2 特許請求の範囲第1項記載の装置において、
前記トラツクずれ検出手段は第1信号が第2信号
に略々等しくなることにより識別される信号ドロ
ツプアウトの発生中はトラツクずれ信号の発生を
禁止するよう構成してあることを特徴とする光学
記録担体再生装置。 3 特許請求の範囲第1〜2項の何れかに記載の
装置において、 クロツク信号を発生する発振器と、 該発振器によりクロツクされ、前記光検出器に
より検出された検出信号を光学的に検出可能な区
域の走査中と中間区域の走査中においてサンプリ
ングするアナログ−デイジタル変換器と、 これらサンプルを光学的に検出可能な区域の走
査中に取り出されたものと中間区域の走査中に取
り出されたものとに識別する検出装置と、 該検出装置の命令の下で光学的に検出可能な区
域の走査中に取り出されたサンプルと中間区域の
走査中に取り出されたサンプルとを分離する信号
分離装置とを具えることを特徴とする光学記録担
体再生装置。 4 特許請求の範囲第3項記載の装置において、
前記検出装置は1個の光学的に検出可能な区域及
び1個の中間区域につきそれぞれ1個のサンプル
を検出するようにし、クロツク周波数を読取中の
デイジタル情報のビツト周波数に等しいかその整
数倍にしたことを特徴とする光学記録担体再生装
置。 5 特許請求の範囲第4項記載の装置において、
前記検出装置は前記1個のサンプルを光学的に検
出可能な区域及び中間区域がビツト周波数の周期
の予定数倍より長い時にのみ検出するようにした
ことを特徴とする光学記録担体再生装置。 6 特許請求の範囲第5項記載の装置において、
前記信号分離装置は前記サンプルが供給される第
1及び第2記憶部を具え、第1記憶部は前記検出
装置により中間区域からの前記1個のサンプルの
検出時にスイツチオンされ、第2記憶部は前記検
出装置により光学的に検出可能な区域からの前記
1個のサンプルの検出時にスイツチオンされるよ
うにしたことを特徴とする光学記録担体再生装
置。 7 特許請求の範囲第6項記載の装置において、
前記検出装置は光学的に検出可能な区域と中間区
域との間の遷移点毎に始動され、ビツト周波数の
クロツク信号を計数して中間区域の走査中に予定
の計数値に達したときに前記憶1記録部に対する
制御信号を発生し、光学的に検出可能な区域の走
査中に予定の計数値に達したときに前記第2記憶
部に対する制御信号を発生する計数装置を具え、
前記サンプルはクロツク周期の予定数倍の時間遅
延した後に前記第1及び第2記憶部に供給するよ
うにしたことを特徴とする光学記録担体再生装
置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL8303562 | 1983-10-17 | ||
NL8303562A NL8303562A (nl) | 1983-10-17 | 1983-10-17 | Inrichting voor het weergeven van informatie van een optisch uitleesbare registratiedrager. |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60109035A JPS60109035A (ja) | 1985-06-14 |
JPH057770B2 true JPH057770B2 (ja) | 1993-01-29 |
Family
ID=19842569
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59216459A Granted JPS60109035A (ja) | 1983-10-17 | 1984-10-17 | 光学記録担体再生装置 |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4628497A (ja) |
EP (1) | EP0138275B1 (ja) |
JP (1) | JPS60109035A (ja) |
KR (1) | KR920009197B1 (ja) |
CA (1) | CA1235501A (ja) |
DE (1) | DE3477859D1 (ja) |
ES (1) | ES536760A0 (ja) |
HK (1) | HK84991A (ja) |
NL (1) | NL8303562A (ja) |
SG (1) | SG86290G (ja) |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL8303564A (nl) * | 1983-10-17 | 1985-05-17 | Philips Nv | Inrichting voor het weergeven van informatie van een optisch uitleesbare registratiedrager. |
SE464619B (sv) * | 1985-09-13 | 1991-05-27 | Olsson Ag Erik | Saett och anlaeggning foer straenggjutning med horisontell eller lutande kokill |
US4907214A (en) * | 1985-12-18 | 1990-03-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Eccentricity correction apparatus for an optical disk device |
JPH064414Y2 (ja) * | 1986-03-10 | 1994-02-02 | パイオニア株式会社 | トラツキング制御装置 |
JPS62293522A (ja) * | 1986-06-13 | 1987-12-21 | Pioneer Electronic Corp | 記録デイスク再生装置 |
DE3730555A1 (de) * | 1986-09-12 | 1988-03-24 | Olympus Optical Co | Optische informations-aufzeichnungs/wiedergabe-einrichtung |
US5285431A (en) * | 1987-12-02 | 1994-02-08 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Information storage device with head position detection outside a user utilizable region and an optical disk drive device having target velocity-controlled head actuation |
KR910003458B1 (ko) * | 1986-12-02 | 1991-05-31 | 미쓰비시뎅끼 가부시끼가이샤 | 광디스크의 구동장치 |
JPS63234451A (ja) * | 1987-03-20 | 1988-09-29 | Pioneer Electronic Corp | ドロツプアウト検出回路 |
EP0283282B1 (en) * | 1987-03-20 | 1993-05-26 | Pioneer Electronic Corporation | Drop-out detector circuit |
JPH01263978A (ja) * | 1988-04-14 | 1989-10-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 情報トラックの検索装置 |
JPH01317281A (ja) * | 1988-06-16 | 1989-12-21 | Pioneer Electron Corp | 記録データ再生装置 |
US5175692A (en) * | 1989-04-14 | 1992-12-29 | University Of Cincinnati | Method and apparatus for palletizing randomly arriving mixed size and content parcels |
DE4102800A1 (de) * | 1991-01-31 | 1992-08-06 | Thomson Brandt Gmbh | Phasenregelkreis mit nachlaufsynchronisation |
US6829208B1 (en) * | 1999-08-18 | 2004-12-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical disk reproducing method and reproducing device |
DE19961440A1 (de) * | 1999-12-20 | 2001-06-21 | Thomson Brandt Gmbh | Gerät zum Lesen und/oder Schreiben optischer Aufzeichnungsträger |
JP3961886B2 (ja) * | 2002-06-06 | 2007-08-22 | パイオニア株式会社 | 情報記録装置 |
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