JPH05332929A - 透過率測定装置 - Google Patents

透過率測定装置

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JPH05332929A
JPH05332929A JP16002092A JP16002092A JPH05332929A JP H05332929 A JPH05332929 A JP H05332929A JP 16002092 A JP16002092 A JP 16002092A JP 16002092 A JP16002092 A JP 16002092A JP H05332929 A JPH05332929 A JP H05332929A
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JP
Japan
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signal
shift
value
sequence
correlation
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Pending
Application number
JP16002092A
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English (en)
Inventor
Shoji Kamata
昭司 鎌田
Masato Yoshida
眞人 吉田
Hidenori Miyazaki
秀徳 宮崎
Daisuke Itao
大助 板尾
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Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 媒質の透過率を測定する。 【構成】 透過率を測定すべき媒質中にある対象物にm
系列信号を出力光強度によって表わすレーザ光がレーザ
・ダイオード15から出射される。対象物からの反射光が
フォトダイオード21によって受光され,送信信号と受信
信号との相関にもとづいて対象物までの距離が演算装置
30により求められる。送信信号の出力値,受信信号の出
力値,対象物までの距離および対象物の反射率にもとづ
いて媒質の透過率が演算装置30によって算出される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【技術分野】この発明は,媒質の透過率を測定する装置
および透過率の変化を測定する装置に関する。
【0002】
【背景技術】雨が降っていたり,霧が存在するときに空
気中に電磁波を送信すると,雨や霧により電磁波が減衰
する。
【0003】レーダ装置は対象物に電磁波を送信し,対
象物からの反射電磁波を受信することにより,対象物ま
での距離を求めるものである。このようなレーダ装置に
おいては,雨や霧の存在により対象物に送信する電磁波
および対象物の反射電磁波が減衰することになる。しか
しながら,電磁波が伝搬する媒質中の透過率が不明確で
はどの程度電磁波が減衰するか予想することができず,
レーダ装置の使用上不便となることがある。
【0004】
【発明の開示】この発明は,比較的簡単に媒質の透過率
およびその変化を測定できるようにすることを目的とす
る。
【0005】第1の発明の透過率測定装置は,透過率を
測定すべき媒質中にある対象物に符号化された電磁波を
送信する送信手段,上記対象物からの反射電磁波を受信
する受信手段,上記送信手段の送信信号と上記受信手段
の受信信号との相関にもとづいて,上記対象物までの距
離を求める距離測定手段,および上記送信手段の送信出
力値と上記受信手段の受信出力値と上記距離測定手段に
より測定された距離とあらかじめ設定された上記対象物
の反射率とにもとづいて,上記媒体の透過率を算出する
透過率算出手段を備えていることを特徴とする。
【0006】第1の発明によると,送信信号と受信信号
との相関にもとづいて対象物までの距離が得られる。送
信出力値と受信出力値と対象物までの距離と対象物の反
射率と,透過率との関係式から対象物が存在する媒質の
透過率が算出される。
【0007】第2の発明の透過率変化測定装置は,符号
化された電磁波を対象物に向けて送信する送信手段,上
記対象物からの反射電磁波を受信する受信手段,上記送
信手段により送信される符号化された電磁波を表わす送
信信号と,上記受信手段により受信された電磁波を表わ
す受信信号とのいずれか一方の位相シフト信号と他方の
信号との相関をとり,位相シフト量の変化に対する相関
値の変化における相関値のピーク値を検出する手段,お
よび標準状態において検出された相関値のピーク値を基
準として,被測定状態における相関値のピーク値の基準
相関値ピーク値に対する割合を算出する手段を備えてい
ることを特徴とする。
【0008】第2の発明によると,送信信号と受信信号
との相関値のピーク値を用いて,標準状態に対する被測
定状態の透過率の変化の割合が求められる。透過率の絶
対値ではなく透過率の増加,減少の割合が得られること
により,これを状態変化の指標とすることができる。
【0009】第2の発明によると送信信号の出力値や受
信信号の出力値を用いる必要がないので,その検出回路
が不要である。とくに第2の発明によると,符号化され
た電磁波を用いて対象物までの距離を測定する符号化変
調レーダ装置をそのまま利用でき,他の回路等の付加が
不要であって構成が簡素化される。
【0010】
【実施例の説明】
(1) 符号系列および相関 この発明においては符号系列によって変調された電磁波
が対象物に向けて送信され,その対象物からの反射電磁
波が受信される。
【0011】符号系列の中に最長系列(最大周期系列)
(以下,m系列という)と呼ばれるものがある。符号系
列は,m系列に限らず一般に,複数台のシフトレジスタ
または遅延素子を用いて生成される。n段のシフトレジ
スタを用いて生成されるm系列の長さ(1符号系列長ま
たは1周期)は2n −1(ビット)で表わされる。この
実施例の媒質の透過率測定装置では,m系列の符号系列
を生成するためにたとえば10段のシフトレジスタが用い
られる。その場合のm系列の長さは1023ビットである。
【0012】しかしながらシフトレジスタの段数は測距
分解能には影響を与えるが,この実施例による距離測定
の原理には関係しないので,以下の説明においては一貫
して4段のシフトレジスタを用いて生成される15ビット
m系列を符号系列の例として用いることとする。
【0013】シフトレジスタ符号系列発生器は,一般
に,n段のシフトレジスタと,そのうちの複数個の段の
状態の論理的結合をシフトレジスタの入力へ帰還する論
理回路とによって構成される。
【0014】図1および図2は符号系列発生器のシフト
レジスタの入,出力信号を表わしている。図2は図1に
示すタイム・チャートの一部を拡大して示すものであ
る。第1クロック信号CK1はシステム・クロック信号
であって,距離測定装置の動作のための最も基本的なタ
イミング信号である。この第1クロック信号CK1を分
周することにより第2クロック信号CK2が生成され
る。この第2クロック信号CK2が符号系列発生器のシ
フトレジスタに入力される。シフトレジスタは4段のも
のであり,15ビットのm系列信号がシフトレジスタから
出力される。
【0015】シフトレジスタの入力である第2クロック
信号CK2の一周期が生成されるm系列信号の1ビット
(時間)幅となる。1ビット幅はこの明細書では符号系
列信号の最小パルス幅とも呼ばれる。
【0016】この実施例では,符号系列信号の1ビット
(時間)幅(最小パルス幅)が,最大検出距離を電磁波
が往復するのに要する時間に等しいかまたはそれよりも
長い時間に設定される。好ましくは,符号系列信号の1
ビット幅が最大検出距離を電磁波が往復するのに要する
時間に等しく設定される。
【0017】具体的な一例を挙げる。第1クロック信号
CK1の周波数は16MHz,その周期は62.5nsであ
る。この第1クロック信号CK1が16分周されることに
より,周波数1MHz,周期1μsの第2のクロック信
号CK2が生成される。そしてm系列発生器から1ビッ
ト幅(m系列最小パルス幅)が1μsの15ビットm系列
信号が出力されることになる。電磁波の伝搬速度を30万
km/sとすれば,1μsの間に電磁波は300 m進むこ
とになる。したがって,測距の最大検出距離は150 mと
なる。
【0018】図1および図2においては,デューティ比
が1/2の第1および第2クロック信号CK1,CK2
が描かれているが,これらのクロック信号CK1,CK
2のデューティ比は任意に設定することができるのはい
うまでもない。
【0019】対象物に向けて送信される電磁波はm系列
により振幅変調される。送信電磁波を変調するために用
いるm系列信号を送信信号という。対象物からの反射電
磁波は振幅復調される。この復調により得られる信号を
受信信号という。受信信号は送信信号よりも電磁波の伝
搬距離(対象物までの距離の2倍)に対応する時間だけ
遅れる(位相シフト)。
【0020】距離測定装置から対象物までの距離を表わ
す信号(またはデータ)を得るために送信信号と受信信
号との相関がとられる。送信信号と受信信号とは原則的
に同じ波形をもつからこの相関は自己相関である。
【0021】一般に自己相関は次式で表わされる。
【0022】
【数1】
【0023】この実施例では,送信信号と受信信号との
間である種の演算(この演算については後述する)を行
い,この演算結果を1符号系列長(1周期)(または1
符号系列長の正の整数倍の長さ;複数周期)にわたって
積分することにより,相関が求められる。
【0024】図3(A) は基準系列とこれを適当量シフト
して得られるシフト系列とを示している。たとえば基準
系列が送信信号に対応し,シフト系列が受信信号に対応
する。シフト系列のシフト範囲は1ビット幅に限られて
いる。シフト系列が1ビット幅以上にわたってシフトす
ることはない。上述のように最大検出距離の2倍に相当
する時間が1ビット時間幅に設定されているからであ
る。受信信号が送信信号に対して1ビット時間幅以上位
相シフトしている場合には,対象物が最大検出距離より
も遠い位置にあり,距離検出は不可能である。
【0025】図3(A) においては基準系列およびシフト
系列のいずれもが正規化されている。すなわち,これら
の符号系列(信号)のHレベルが1に,Lレベルが0に
それぞれ対応している。
【0026】これに対して,図3(B) においては,シフ
ト系列のHレベルはある値a(aは1を含む,一般には
1より小さいと考えてよい)になっている。電磁波は伝
搬の過程で雨や霧等の存在により大きく減衰することが
ある。したがって,受信信号を正規化しないとすれば,
環境に応じてそのHレベルは変動することがある。この
ようなより一般的な場合を想定したのが図3(B) であ
る。
【0027】図3(C) では基準信号のHレベルがaとな
っている。後に示す実施例におけるように,送信信号に
基づいて位相シフト信号を作成する場合がある。この場
合には基準信号が受信信号に対応することになる。
【0028】上述のように,基準系列とシフト系列との
間で定義された演算が行われ,この演算結果が1符号系
列長にわたって積分されることにより相関(値)が求め
られる。この定義された演算の一例が図4に示されてい
る。
【0029】図4(A) は図3(A) に示す基準系列とシフ
ト系列との間で行われる演算の定義の一例をテーブルの
形で示すものである。この演算は基準系列のレベル(1
または0)とシフト系列のレベル(1または0)との組
合せに応じてあらかじめ定められた演算値を選択するも
のである。すなわち,基準系列が1でかつシフト系列が
1の場合には演算値を1とし,基準系列が1でかつシフ
ト系列が0の場合には演算値を0とし,基準系列が0で
かつシフト系列が1の場合には演算値を−1とし,基準
系列が0でかつシフト系列が0の場合には演算値を0と
する。
【0030】図4(B) は図3(B) に示す基準系列とシフ
ト系列との間で行われる演算の定義の一例を示すもので
ある。図4(A) と比較すると,シフト系列の1がaで置
換えられている。
【0031】同じように図3(C) に示す基準系列とシフ
ト系列との間で行われる演算を定義することができる。
たとえば,図4(B) において,基準系列の1をaに,シ
フト系列のaを1にそれぞれ置換えればよい。
【0032】図5は図4(A) および(B) に示すテーブル
によって定義された演算を波形を用いて表わしたもので
ある。図5の上半部分が図4(A) の定義による演算を,
下半部分が図4(B) の定義による演算をそれぞれ表わし
ている。これらの図における演算値が1符号系列長にわ
たって積分されることにより基準系列とシフト系列との
相関(値)が求められることになる。
【0033】図6(A) および(B) は基準系列とシフト系
列との間の演算の他の定義の例を示している。図7は図
6(A) によって定義された演算を波形によって表わすも
のである。
【0034】図8(A) および(B) は,図9(A) および
(B) ,ならびに図10(A) および(B) は,基準系列とシフ
ト系列との間の演算のさらに他の定義の例を示してい
る。このように,基準系列とシフト系列との間の相関の
ための演算には種々の定義を与えることができ,これら
以外にも他の定義がある。
【0035】m系列の上述のように定義された自己相関
の性質について次に検討する。
【0036】図11は,図4(B) に示された定義にしたが
う演算を表わす波形の一部を示すものである。図11(A)
ではシフト信号は左にシフトされ,図11(B) ではシフト
信号は右にシフトされている。シフト量の絶対値はxで
ある(さしあたってシフト量xの正負は考慮せずにその
絶対値のみを用いこれをxで表わす)。
【0037】これらの図において,符号系列のレベルが
1(またはa)である連なりの長さをTとする。「連な
り」とは,符号系列中で1(もしくはa)または0が何
ビット(1ビットも含む)か連続したものをいう。
【0038】たとえば図1に示す15ビットm系列には,
レベル(符号)が0である長さ4ビットの連なりが1
個,レベルが1である長さ3ビットの連なりが1個,レ
ベルが0である長さ2ビットの連なりが1個,レベルが
1である長さ2ビットの連なりが1個,レベルが0であ
る長さ1ビットの連なりが2個,レベルが1である長さ
1ビットの連なりが2個含まれている。
【0039】図11(A) および(B) のいずれにおいても,
レベルが1(またはa)である長さTの連なりに関係す
る部分にのみ着目すると,その部分相関値ST は演算値
の波形においてハッチングで示された部分の積分値であ
り,次式で表わされる。
【0040】
【数2】 ST =(T−x)a−ax=−2ax+aT ‥式2
【0041】次に1周期(1符号系列長)にわたる積分
により得られる相関値Sを求める。
【0042】n段のシフトレジスタから得られるm系列
1周期に含まれる長さTの連なりの個数は2n-(T+2)
ある。ただし,長さnのレベル1の連なりが1個,長さ
n−1のレベル0の連なりが1個あったとすれば,長さ
nのレベル0の連なりおよび長さn−1のレベル1の連
なりは存在しない。逆もまた真である。たとえば,R.C.
Dixon 著,立野敏,片岡志津雄,飯田清訳「最新スペク
トラム拡散通信方式」ジャテック出版,初版,第59頁か
ら第60頁を参照。
【0043】したがって,相関値Sは次式で与えられ
る。ただし−1≦x≦1。
【0044】
【数3】
【0045】式3の第1項は長さが1ビットからn−2
ビットまでのレベル1の連なりに関する式2の総和であ
る。第2項は長さがn−1ビットであるレベル1の連な
りに関する式2の値である。
【0046】式3の第2項のa(n−1)をanとして
もよい。この場合には,第2項は長さがnビットである
レベル1の連なりに関する式2の値を表わすことにな
る。
【0047】式3は次のように書きなおすことができ
る。
【0048】
【数4】
【0049】式4は,相関値Sがシフト量xの一次関数
であることを表わしている。すなわち,シフト量xを横
軸,相関値Sを縦軸にとると,相関値Sとシフト量の関
係は直線で表わされる。
【0050】シフト量xについて正と負を考える。xが
正のとき式4は左上りの直線となり,xが負のとき右上
りの直線となる。そして,これらの2つの直線はx=0
において,
【数5】 の点で交わる。
【0051】具体例を示す。符号系列を図1に示す15ビ
ット長m系列符号とする。n=4である。またa=1と
する。
【0052】式4は次のようになる。
【0053】
【数6】S=−8x+7 (0≦x≦1) ‥式6
【0054】
【数7】S=8x+7 (−1≦x≦0) ‥式7
【0055】式6および式7で表わされるグラフが図12
に示されている。この図においてx軸は拡大されてい
る。
【0056】図4のテーブルによって定義された演算を
用いた相関について説明したが,図6および図8〜図10
に示すテーブルによって定義された演算を用いた相関に
関しても上述の理論があてはまる。また,シフト量xの
絶対値が1ビットの範囲内であれば非最長系列について
も同じようにあてはまる。
【0057】さらに式4において,係数aはすべての項
に含まれている。したがって,aが変化することによっ
て2つの直線はその勾配と交点のS座標位置が変化する
(x座標位置は変化しない)。
【0058】(2) 距離測定装置の構成と動作 距離測定装置の構成と動作について,図13から図15を参
照して説明する。図14および図15においては分りやすく
するために送信信号,受信信号,その他の信号はHレベ
ルが1,Lレベルが0にそれぞれ正規化されているもの
とする。もっとも,Hレベルの値は任意であり,正規化
する必要は必ずしもない。
【0059】とくに図13と図14を参照して,クロック信
号発生器11から出力される第1クロック信号CK1は分
周器12に与えられ,分周されて第2クロック信号CK2
となる。この第2クロック信号CK2はm系列発生器13
に与えられる。上述したようにm系列発生器13はシフト
レジスタと帰還用論理回路とから構成されている。m系
列発生器13の出力m系列信号は送信信号TSとして駆動
回路14に与えられる。レーザ・ダイオード15は駆動回路
14によって駆動され,m系列信号を出力光強度によって
表わすレーザ光を発生する。このレーザ光は対象物に向
けて投射される。駆動回路14の出力は検出回路19にも与
えられる。検出回路19によってm系列信号のHレベルの
値が検出される。この検出値は演算回路30に与えられ
る。
【0060】この投射レーザ光の対象物からの反射光は
フォトダイオード21によって受光される。フォトダイオ
ード21の出力信号は反射光の強度を表わしており,前置
増幅器22によって増幅され,受信信号RSとして多数の
相関器に与えられる。受信信号RSは必要に応じて2値
化されることにより波形整形される。
【0061】またフォトダイオード21の出力信号は検出
回路29にも与えられ,この出力信号のHレベルが検出さ
れる。この検出値は演算回路30に与えられる。
【0062】多数の相関器のうちの第1の相関器は正転
増幅器23Aと,反転増幅器24Aと,アナログ・スイッチ
25A,26Aと,インバータ27Aと,積分器28Aとから構
成されている。第2〜第J(Jは3以上の数)の相関器
も同じように,正転増幅器23B〜23Jと,反転増幅器24
B〜24Jと,アナログ・スイッチ25B〜25Jと,アナロ
グ・スイッチ26B〜26Jと,インバータ27B〜27Jと,
積分器28B〜28Jとからそれぞれ構成されている。
【0063】これらの相関器にシフト信号を与えるため
に位相器31が設けられている。この位相器31はたとえば
シフトレジスタによって構成される。位相器31にはm系
列発生器13から送信信号TSが与えられているととも
に,位相シフトのために(シフトレジスタの駆動のため
の)第1のクロック信号CK1が与えられている。
【0064】位相器31からは多種類のシフト信号FS
A,FSB〜FSJが出力される。第1のシフト信号F
SAは送信信号TSと同位相の信号であり,第1の相関
器に与えられる。第2のシフト信号FSBは送信信号T
Sよりも適当なシフト量(たとえば1/(J−1):m
系列の1ビット幅をシフト量1とする)遅れた信号であ
り,第2の相関器に与えられる。同じように,他のシフ
ト信号も送信信号TSから適当なシフト量ずつシフトさ
れ他の相関器に与えられる。第Jのシフト信号FSJは
送信信号TSに対してシフト量1遅れた信号であり,第
Jの相関器に与えられる。これらのシフト信号FSA〜
FSJのシフト量は0〜1の範囲にある。
【0065】第1の相関器の動作について図15を参照し
て説明する。
【0066】正転増幅器23Aは入力する受信信号RSを
そのまま,または必要に応じて増幅して出力するもので
ある。反転増幅器24Aは,入力する受信信号RSの0レ
ベルをそのまま保持し,1のレベルを−1のレベルに変
換して出力するものである。反転増幅器24Aの出力信号
がISAで示されている。
【0067】アナログ・スイッチ25Aは第1のシフト信
号FSA(送信信号TSと同じ)によって,アナログ・
スイッチ26Aは第1のシフト信号FSAがインバータ27
Aによって反転(1のレベルと0のレベルが交換され
る)されることにより得られる信号によってそれぞれ制
御される。アナログ・スイッチ25Aはシフト信号FSA
が1のレベルのときに入力する受信信号RSを通過させ
る。アナログ・スイッチ25Aの出力信号RSSAは積分
器28Aに与えられる。アナログ・スイッチ26Aはシフト
信号FSAが0のレベルのときに入力する信号ISAを
通過させる。アナログ・スイッチ26Aの出力信号ISS
Aは積分器28Aに与えられる。積分器28Aの入力信号A
SAは両信号RSSAとISSAを合成した信号とな
る。
【0068】カウンタ16は第2のクロック信号CK2を
計数し,m系列の1周期(15ビット長)が経過する毎に
リセット信号RRを積分器28A(および他の積分器28B
〜28J)に与える。リセット信号RRは1ビット分の幅
をもつ。あるリセット信号RRの立下り(トレーリング
・エッジ)から次のリセット信号RRの立上り(リーデ
ィング・エッジ)までがm系列の1符号系列長(1周
期)であり,この期間が積分器28A(および他の積分器
28B〜28J)の積分期間となる。したがって積分期間は
1ビット幅分ずつずれていくことになるが,どの期間を
とっても,その期間がm系列の1周期であれば上述した
式4が成立つので何ら問題はない。
【0069】積分器28A(および他の積分器28B〜28
J)はリセット信号RRが1のレベルにある間リセット
動作を行い(たとえばコンデンサの電荷の放電),0レ
ベルである積分期間において入力する信号ASAを積分
(たとえばコンデンサへの充電)し,積分結果を表わす
信号SSAを出力する。積分器28Aがリセットされる直
前の積分信号SSAの値が相関値SAを表わす。
【0070】演算装置30はたとえばCPU,メモリおよ
びその周辺回路から構成され,積分器28Aがリセットさ
れる直前の積分信号SSAを取込む(リセット信号RR
に基づいて積分信号SSAの取込みと,その直後におけ
る積分器28Aのリセットとを行うことは容易である)。
【0071】同じように,第2〜第Jの相関器におい
て,第2〜第Jのシフト信号FSB〜FSJはそれぞれ
アナログ・スイッチ25Bと26B〜25Jと26Jを制御する
ために用いられる。
【0072】これらの相関器の積分器28B〜28Jからは
それぞれ積分信号SSB〜SSJが出力される。演算装
置30はこれらの積分器28B〜28Jがカウンタ16によって
リセットされる直前に積分信号SSB〜SSJによって
それぞれ表わされる相関値(これらの相関値をそれぞれ
SB〜SJで表わす)を取込む。
【0073】上述したように,また図12に表わされてい
るように,基準系列とシフト系列との間のシフト量xを
横軸,相関値Sを縦軸にとった場合に,これらの関係は
シフト量xの正,負の領域でそれぞれ勾配の絶対値が等
しくかつその符号(正,負)が反対の直線によって表わ
され,これらの2つの直線はシフト量xが0の点で交わ
る。またシフト量は距離と比例関係にあり,シフト量1
は最大検出距離150 mに対応する。
【0074】図13に示す多くの相関器から得られる相関
値SA〜SJは受信信号を基準として,この受信信号に
対してシフト信号FSA〜FSJがどちらの方向(正ま
たは負)にどれだけシフトしているかを表わしている。
したがって,これらの相関値SA〜SJを,横軸を距離
(シフト信号のシフト量),縦軸を相関値とする直交座
標においてプロットし,それらの点を結ぶと,2つの直
線が得られる。これらの2つの直線の交点は受信信号と
の位相差(シフト量)が0のシフト信号のシフト量(対
応する距離),すなわち受信信号のシフト量(対象物ま
での距離)を表わしている。
【0075】演算装置30は取込んだ相関値SA〜SJを
用いて2つの直線を求め,これらの直線の交点を求める
ことにより,対象物までの距離を算出する。
【0076】2つの直線を得るためには,原理的には,
少なくともシフト量が0のシフト信号FSAと,シフト
量が1のシフト信号FSJと,シフト量が0〜1の範囲
にあるシフト信号との3種類を用いればよい。これらの
少なくとも3種類のシフト信号と受信信号との間の少な
くとも3つの相関値が得られる。このうちで少なくとも
2つの相関値を用いて一方の直線が求められる。他方の
直線は上記一方の直線と勾配の絶対値が等しくかつ符号
が反対である。したがって残りの1つの相関値と一方の
直線の勾配とを用いて他方の直線を求めることができ
る。2つの直線が得られればその交点から距離が算出さ
れる。
【0077】しかしながら多種類のシフト信号を用いれ
ば2つの直線をより正確に求めることができるようにな
るのはいうまでもない。とくに,ノイズ,回路誤差等に
より,得られた相関値がばらついた場合には相関値の数
が多ければ多いほど正確に2つの直線を求めることがで
きる。
【0078】(3) 最小2乗法を用いた距離測定 この実施例では,ノイズ,回路誤差等により得られる相
関値がばらついた場合にできるだけ正確に2つの直線を
求めることができるように最小2乗法を利用して距離測
定処理を行っている。
【0079】上述したように,位相器31から発生するシ
フト信号には,シフト量0およびシフト量1のシフト信
号FSA,FSJが含まれている。とくに,シフト量0
のシフト信号FSAと受信信号との第1の相関器から得
られる相関値SAをS0,シフト量1のシフト信号FS
Jと受信信号との第Jの相関器から得られる相関値SJ
をS1とすることにする。
【0080】演算装置30のメモリには図16に示すよう
に,シフト信号のシフト量にそれぞれ対応して,そのシ
フト量のシフト信号と受信信号との間の相関器から得ら
れた相関値が記憶される。これらの相関値のうちの最大
値をSMとする。
【0081】最大値SMの相関値を境として,得られた
相関値は2つの直線に対応した2つのグループに分ける
ことができる筈である。最大値SMを2つのグループの
うちのどちらに入れるべきかの問題があるので,ここで
は最大値SMを一方のグループに入れた場合と,他方の
グループに入れた場合との両方について2つの直線を求
め,より適切な方を最終的に選択するようにしている。
【0082】図17は演算装置30に含まれるCPUによっ
て実行される距離測定(算出)処理の手順を示してい
る。
【0083】複数の相関器から得られる相関値が取込ま
れ,メモリに記憶される(ステップ101 )。これらの相
関値のうちの最大値SMが捜し出される(ステップ102
)。
【0084】この最大値SMが端にあるかどうか,すな
わちシフト量0のシフト信号と受信信号との相関値が最
大値SMを示しているか,またはシフト量1のシフト信
号と受信信号との相関値が最大値SMを示しているかが
チェックされる(ステップ103 )。
【0085】シフト量0のシフト信号と受信信号との相
関値が最大値SMを示している場合には,図19(A) に示
すように,負の勾配をもつ1つの直線が得られる筈であ
る。この場合にはシフト量0に相当する距離,すなわち
0mが検出距離となる(ステップ112 )。
【0086】シフト量1のシフト信号と受信信号との相
関値が最大値SMを示している場合には,図19(B) に示
すように,正の勾配をもつ1つの直線が得られる筈であ
る。この場合にはシフト量1に相当する距離,すなわち
最大検出距離(150 m)が検出距離となる(ステップ11
2 )。
【0087】上記以外の場合には相関値から2つの直線
が得られる筈である。
【0088】まず,図18(A) に示すように,最大値SM
を右のグループGR(負の勾配をもつ直線を形成する相
関値のグループ,すなわち最大値SMを相関値として生
成したシフト信号のシフト量よりもシフト量の大きいシ
フト信号により得られる相関値の属するグループ)に入
れる(ステップ104 )。この右のグループGRに属する
相関値を用いて最小2乗法により直線LRRが求められ
る。直線LRRの勾配の絶対値をaRRとする。同じよ
うに左のグループGL(正の勾配をもつ直線を形成する
相関値のグループ,すなわち最大値SMを相関値として
生成したシフト信号のシフト量よりもシフト量の小さい
シフト信号により得られる相関値の属するグループ)に
属する相関値を用いて最小2乗法により直線LLRが求
められる。直線LLRの勾配の絶対値をaLRとする
(ステップ105 )。
【0089】このようにして得られた直線LRRの勾配
の絶対値aRRと直線LLRの勾配の絶対値aLRとの
差が求められる。この差をdRとする(ステップ106
)。
【0090】次に,図18(B) に示すように,最大値SM
を左のグループGLに入れる(ステップ107 )。最大値
SMを含まない右のグループGRに属する相関値を用い
て最小2乗法により直線LRLが求められる。直線LR
Lの勾配の絶対値をaRLとする。最大値SMを含む左
のグループGLに属する相関値を用いて最小2乗法によ
り直線LLLが求められる。直線LLLの勾配の絶対値
をaLLとする(ステップ108 )。
【0091】このようにして得られた直線LRLの勾配
の絶対値aRLと直線LLLの勾配の絶対値aLLとの
差が求められる。この差をdLとする(ステップ109
)。
【0092】このようにして得られた差dRとdLが比
較され,小さい方が選択され(ステップ110 ),選択さ
れた差を生成した勾配をもつ2つの直線の交点が求めら
れ,この交点から対象物までの距離が算出される(ステ
ップ111 ,112 )。
【0093】たとえば,差dRの方が差dLよりも小さ
い場合には,2つの直線LRRとLLRとの交点から距
離DRが得られる(図18(A) )。逆の場合には2つの直
線LRLとLLLとの交点から距離DLが得られる(図
18(B) )。
【0094】(4) 透過率測定 電磁波が伝搬する媒質の透過率Tは,レーザ・レーダ方
程式から次式によって得ることができる。
【0095】
【数8】
【0096】ここで,Rは対象物までの距離,θは送信
電磁波の送信角度,φは対象物によって反射される反射
電磁波の反射角度,ηは伝搬率,Kは対象物の反射率で
ある。またAt は対象物の反射面積,Ar は受信電磁波
の受信面積,Pt は送信電磁波の出力,Pr は受信電磁
波の出力である。
【0097】透過率を求めるためには,まず求める透過
率の媒質中にある対象物までの距離が上述のようにして
求められる。また送信角度θ,対象物の反射角度φ,媒
質の伝搬率η,対象物の反射率K,対象物の反射面積A
t ,受信面積Ar はあらかじめ求められており,演算装
置30のメモリに記憶されている。
【0098】送信電磁波出力Pt は検出回路19の出力信
号によって表わされる。受信電磁波の出力Pr は検出回
路29の出力信号によって表わされる。レーザ・ダイオー
ド15の出力光量が送信出力Pt であり,PD21に入射す
る光量が受信出力Pr であるので,式8の適用にあたっ
ては検出回路19の出力信号をLDの発光効率を用いて補
正することによりPr を求め,検出回路29の出力信号に
PDの受光効率を用いて補正することによりPt を求め
る。
【0099】これらの既知の値および検出された値を式
8に代入することにより媒質の透過率が算出される。
【0100】(5) 透過率変化測定 図20(A) および(B) は対象物までの距離と相関値との関
係を示すグラフであり,(A) は標準状態,たとえば晴天
のとき,(B) は被測定状態,たとえば雨天,霧の発生時
をそれぞれ示している。
【0101】上述したように対象物までの距離は2つの
直線の交点(このピーク相関値をSo1とする)から求め
られる(図20の場合は距離はDである)。しかしながら
透過率が変化すると交点におけるピーク相関値は図20
(B) に示すようにSo2に変化する。
【0102】したがって,標準状態のときのピーク相関
値So1をあらかじめ求めておくことにより,被測定状態
のときのピーク相関値So2の標準状態に対する増加,減
少の割合So2/So1を得ることができる。
【0103】透過率変化測定では,図13に示す検出回路
19,29が不要である。すなわち,符号化変調レーダ装置
としての構成に他の装置を追加せずにソフトのみの追加
で,雨や煙による気体の透過率の変化を知ることができ
る。
【0104】第1の透過率が標準状態で既知の値のとき
には第1の透過率と相関値の比率とから第2の透過率を
求めることもできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】クロック信号とそれを用いて生成されるm系列
信号とを示す波形図である。
【図2】図1に示す波形図の一部を拡大して示す波形図
である。
【図3】(A) ,(B) および(C) はそれぞれ,基準系列と
シフト系列の例を示す波形図である。
【図4】(A) および(B) は相関をとるための基準系列と
シフト系列との間の演算の定義の例をそれぞれ示すテー
ブルである。
【図5】図4のテーブルによって定義された演算を波形
によって表わす波形図である。
【図6】(A) および(B) は相関のための演算の定義の他
の例をそれぞれ示すテーブルである。
【図7】図6(A) のテーブルによって定義された演算を
波形によって表わす波形図である。
【図8】(A) および(B) は相関のための演算の定義の他
の例をそれぞれ示すテーブルである。
【図9】(A) および(B) は相関のための演算の定義の他
の例をそれぞれ示すテーブルである。
【図10】(A) および(B) は相関のための演算の定義の
さらに他の例をそれぞれ示すテーブルである。
【図11】(A) および(B) は相関の性質を説明するため
に相関値を求める様子を示す波形図である。
【図12】相関値とシフト信号のシフト量との関係を示
すグラフである。
【図13】距離測定装置を示すブロック図である。
【図14】図13に示す装置における各ブロックの入出力
信号を示す波形図である。
【図15】図13に示す装置における各ブロックの入出力
信号を示す波形図である。
【図16】演算装置に含まれるメモリの内容を示すもの
である。
【図17】最小2乗法を用いて距離を演算する処理手順
を示すフロー・チャートである。
【図18】(A) および(B) は距離演算の様子を示すグラ
フである。
【図19】(A) および(B) は距離演算の様子を示すグラ
フである。
【図20】(A) および(B) は相関値と距離との関係を示
すグラフである。
【符号の説明】
11 クロック信号発生器 12 分周器 13 m系列発生器 14 駆動回路 15 レーザ・ダイオード 16 カウンタ 19,29 検出回路 21 フォトダイオード 23A〜23J 正転増幅器 24A〜24J 反転増幅器 25A〜25J,26A〜26J アナログ・スイッチ 28A〜28J 積分器 30 演算装置 31 位相器
フロントページの続き (72)発明者 板尾 大助 京都市右京区花園土堂町10番地 オムロン 株式会社内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 透過率を測定すべき媒質中にある対象物
    に符号化された電磁波を送信する送信手段,上記対象物
    からの反射電磁波を受信する受信手段,上記送信手段の
    送信信号と上記受信手段の受信信号との相関にもとづい
    て,上記対象物までの距離を求める距離測定手段,およ
    び上記送信手段の送信出力値と上記受信手段の受信出力
    値と上記距離測定手段により測定された距離とあらかじ
    め設定された上記対象物の反射率とにもとづいて,上記
    媒体の透過率を算出する透過率算出手段,を備えた透過
    率測定装置。
  2. 【請求項2】 符号化された電磁波を対象物に向けて送
    信する送信手段,上記対象物からの反射電磁波を受信す
    る受信手段,上記送信手段により送信される符号化され
    た電磁波を表わす送信信号と,上記受信手段により受信
    された電磁波を表わす受信信号とのいずれか一方の位相
    シフト信号と他方の信号との相関をとり,位相シフト量
    の変化に対する相関値の変化における相関値のピーク値
    を検出する手段,および標準状態において検出された相
    関値のピーク値を基準として,被測定状態における相関
    値のピーク値の基準相関値ピーク値に対する割合を算出
    する手段,を備えた透過率変化測定装置。
JP16002092A 1992-05-28 1992-05-28 透過率測定装置 Pending JPH05332929A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010276584A (ja) * 2009-06-01 2010-12-09 Texas Instr Japan Ltd 微粒子感知装置
WO2012086128A1 (ja) * 2010-12-22 2012-06-28 株式会社日立ハイテクノロジーズ 欠陥検査方法および欠陥検査装置

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