JPH05315418A - 障害検出機能付き集積回路 - Google Patents
障害検出機能付き集積回路Info
- Publication number
- JPH05315418A JPH05315418A JP4117144A JP11714492A JPH05315418A JP H05315418 A JPH05315418 A JP H05315418A JP 4117144 A JP4117144 A JP 4117144A JP 11714492 A JP11714492 A JP 11714492A JP H05315418 A JPH05315418 A JP H05315418A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- integrated circuit
- inspection
- electronic circuit
- liquid crystal
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、パッケージ化されたＩＣやＬＳＩ
等に自己診断機能を搭載した障害検出機能付き集積回路
において、テスタや外部装置を使用することなく、故障
の生じた集積回路を容易に認識識別することを目的とす
る。 【構成】 光電変換部１２により得られる電源信号によ
り電子回路２１，検査回路２２，液晶表示部１３を駆動
し、電子回路２１の動作異常が検査回路２２に検出され
た場合には、液晶表示部１３により故障発生を表示する
構成とする。
等に自己診断機能を搭載した障害検出機能付き集積回路
において、テスタや外部装置を使用することなく、故障
の生じた集積回路を容易に認識識別することを目的とす
る。 【構成】 光電変換部１２により得られる電源信号によ
り電子回路２１，検査回路２２，液晶表示部１３を駆動
し、電子回路２１の動作異常が検査回路２２に検出され
た場合には、液晶表示部１３により故障発生を表示する
構成とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、パッケージ化されたＩ
ＣやＬＳＩ等に自己診断機能を搭載した障害検出機能付
き集積回路に関する。
ＣやＬＳＩ等に自己診断機能を搭載した障害検出機能付
き集積回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、ＩＣやＬＳＩ等のパッケージ化
された集積回路の動作試験は、種々のテスタを利用して
行なわれる。
された集積回路の動作試験は、種々のテスタを利用して
行なわれる。
【０００３】すなわち、被試験集積回路をテスタに装着
することで、複数パターンのテスト信号が入力端子に与
えられ、所定の出力信号が得られるか否かにより正常か
故障かが検査されるもので、ここで、故障として判断さ
れた場合には、パッケージ表面に故障マークを付して他
の正常な集積回路との識別を図っている。
することで、複数パターンのテスト信号が入力端子に与
えられ、所定の出力信号が得られるか否かにより正常か
故障かが検査されるもので、ここで、故障として判断さ
れた場合には、パッケージ表面に故障マークを付して他
の正常な集積回路との識別を図っている。
【０００４】このような動作試験は、通常、製造時の完
成検査として行なわれるが、ＩＣやＬＳＩ等の集積回路
は、製品出荷後、実際の装置とて実装されるまでの間に
静電気等の影響を受けて故障を招く恐れがあり、基板実
装時に動作異常が生じた場合には、多数の実装集積回路
を上記テスタにより個々に検査しないと、何れの集積回
路に故障が生じているかを見分けることができない。
成検査として行なわれるが、ＩＣやＬＳＩ等の集積回路
は、製品出荷後、実際の装置とて実装されるまでの間に
静電気等の影響を受けて故障を招く恐れがあり、基板実
装時に動作異常が生じた場合には、多数の実装集積回路
を上記テスタにより個々に検査しないと、何れの集積回
路に故障が生じているかを見分けることができない。
【０００５】一方、従来の集積回路には、自己診断機能
を搭載したものもあるが、駆動電源の供給や自己診断モ
ードの設定及び診断出力の検出は外部から行なわなけれ
ばならない。
を搭載したものもあるが、駆動電源の供給や自己診断モ
ードの設定及び診断出力の検出は外部から行なわなけれ
ばならない。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】つまり、従来の集積回
路は、そのもの自身により故障を外部に知らせる機能を
有さず、特に、多数の集積回路の基板実装状態では、故
障発生集積回路の識別は極めて困難になる。このため、
計算機等の装置では、故障発生に伴う保守において、基
板ユニットごとの交換を余儀なくされている。
路は、そのもの自身により故障を外部に知らせる機能を
有さず、特に、多数の集積回路の基板実装状態では、故
障発生集積回路の識別は極めて困難になる。このため、
計算機等の装置では、故障発生に伴う保守において、基
板ユニットごとの交換を余儀なくされている。
【０００７】本発明は、上記課題に鑑みなされたもの
で、テスタや外部装置を使用することなく、故障の生じ
た集積回路を容易に認識識別することが可能になる障害
検出機能付き集積回路を提供することを目的とする。
で、テスタや外部装置を使用することなく、故障の生じ
た集積回路を容易に認識識別することが可能になる障害
検出機能付き集積回路を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】すなわち、本発明に係わ
る障害検出機能付き集積回路は、高度に集積された電子
回路が搭載されるもので、上記電子回路と同一パッケー
ジ内に搭載され、該電子回路の動作を検査する検査回路
と、上記電子回路及び検査回路と同一パッケージに搭載
され、検査回路による検査出力を表示する表示部と、上
記電子回路，検査回路及び表示部と同一パッケージに搭
載され、そのそれぞれに外部と非接触で駆動電源を供給
する電源供給手段とを備えて構成したものである。
る障害検出機能付き集積回路は、高度に集積された電子
回路が搭載されるもので、上記電子回路と同一パッケー
ジ内に搭載され、該電子回路の動作を検査する検査回路
と、上記電子回路及び検査回路と同一パッケージに搭載
され、検査回路による検査出力を表示する表示部と、上
記電子回路，検査回路及び表示部と同一パッケージに搭
載され、そのそれぞれに外部と非接触で駆動電源を供給
する電源供給手段とを備えて構成したものである。
【０００９】
【作用】つまり、集積回路単体により故障検出，表示が
行なわれるようになる。
行なわれるようになる。
【００１０】
【実施例】以下図面により本発明の一実施例について説
明する。
明する。
【００１１】図１は障害検出機能付き集積回路の外観構
成を示す斜視図であり、ＬＳＩパッケージ１１の上部面
には、太陽電池からなる光電変換部１２、液晶表示部１
３が設けられる。
成を示す斜視図であり、ＬＳＩパッケージ１１の上部面
には、太陽電池からなる光電変換部１２、液晶表示部１
３が設けられる。
【００１２】この集積回路は、外部からの電源供給遮断
時において、上記光電変換部１２により得られる電圧信
号を搭載回路群の駆動電源とするもので、この集積回路
の内部には、電子回路の動作異常を検出する検査回路が
搭載され、この検査回路による異常検出動作に応じて上
記液晶表示部１３が駆動される。
時において、上記光電変換部１２により得られる電圧信
号を搭載回路群の駆動電源とするもので、この集積回路
の内部には、電子回路の動作異常を検出する検査回路が
搭載され、この検査回路による異常検出動作に応じて上
記液晶表示部１３が駆動される。
【００１３】図２は上記障害検出機能付き集積回路の内
部構成を示すブロック図であり、ＬＳＩパッケージ１１
には、主要な動作を司る高度に集積された電子回路２１
の他、この電子回路２１の基本動作（例えばプログラム
カウンタの動作）を検査する検査回路２２、この検査回
路２２による検査出力を表示する上記液晶表示部１３、
上記電子回路２１，検査回路２２，液晶表示部１３のそ
れぞれに外部と非接触で駆動電源を供給する光電変換部
１２が共に搭載される。
部構成を示すブロック図であり、ＬＳＩパッケージ１１
には、主要な動作を司る高度に集積された電子回路２１
の他、この電子回路２１の基本動作（例えばプログラム
カウンタの動作）を検査する検査回路２２、この検査回
路２２による検査出力を表示する上記液晶表示部１３、
上記電子回路２１，検査回路２２，液晶表示部１３のそ
れぞれに外部と非接触で駆動電源を供給する光電変換部
１２が共に搭載される。
【００１４】すなわち、上記構成による障害検出機能付
き集積回路において、入力端子からの電源供給が遮断さ
れた状態では、光電変換部１２により得られる電源信号
により電子回路２１，検査回路２２，液晶表示部１３が
駆動される。
き集積回路において、入力端子からの電源供給が遮断さ
れた状態では、光電変換部１２により得られる電源信号
により電子回路２１，検査回路２２，液晶表示部１３が
駆動される。
【００１５】ここで、例えばこの集積回路における電子
回路２１に故障が生じ、プログラムカウンタの動作が異
常になり、その動作異常が検査回路２２により検出され
ると、検査回路２２から異常検出信号が出力され、液晶
表部１３に供給される。すると、液晶表示部１３は、透
過状態から不透過状態に駆動され、故障の生じた集積回
路であることが外部に表示されるようになる。
回路２１に故障が生じ、プログラムカウンタの動作が異
常になり、その動作異常が検査回路２２により検出され
ると、検査回路２２から異常検出信号が出力され、液晶
表部１３に供給される。すると、液晶表示部１３は、透
過状態から不透過状態に駆動され、故障の生じた集積回
路であることが外部に表示されるようになる。
【００１６】したがって、上記構成の障害検出機能付き
集積回路によれば、光電変換部１２により得られる電源
信号により電子回路２１，検査回路２２，液晶表示部１
３を駆動し、電子回路２１の動作異常が検査回路２２に
検出された場合には、液晶表示部１３により故障発生を
表示する構成としたので、集積回路自身により故障を外
部に知らせることができ、特に、多数の集積回路の基板
実装状態でも、故障発生集積回路を容易に識別できるよ
うになる。これにより、製品検査の省力化，自動化，効
率化が図られる。
集積回路によれば、光電変換部１２により得られる電源
信号により電子回路２１，検査回路２２，液晶表示部１
３を駆動し、電子回路２１の動作異常が検査回路２２に
検出された場合には、液晶表示部１３により故障発生を
表示する構成としたので、集積回路自身により故障を外
部に知らせることができ、特に、多数の集積回路の基板
実装状態でも、故障発生集積回路を容易に識別できるよ
うになる。これにより、製品検査の省力化，自動化，効
率化が図られる。
【００１７】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、高度に集
積された電子回路が搭載されるもので、上記電子回路と
同一パッケージ内に搭載され、該電子回路の動作を検査
する検査回路と、上記電子回路及び検査回路と同一パッ
ケージに搭載され、検査回路による検査出力を表示する
表示部と、上記電子回路，検査回路及び表示部と同一パ
ッケージに搭載され、そのそれぞれに外部と非接触で駆
動電源を供給する電源供給手段とを備えて構成したの
で、テスタや外部装置を使用することなく、故障の生じ
た集積回路を容易に認識識別することが可能になる。
積された電子回路が搭載されるもので、上記電子回路と
同一パッケージ内に搭載され、該電子回路の動作を検査
する検査回路と、上記電子回路及び検査回路と同一パッ
ケージに搭載され、検査回路による検査出力を表示する
表示部と、上記電子回路，検査回路及び表示部と同一パ
ッケージに搭載され、そのそれぞれに外部と非接触で駆
動電源を供給する電源供給手段とを備えて構成したの
で、テスタや外部装置を使用することなく、故障の生じ
た集積回路を容易に認識識別することが可能になる。
【図１】本発明の一実施例に係わる障害検出機能付き集
積回路の外観構成を示す斜視図。
積回路の外観構成を示す斜視図。
【図２】上記障害検出機能付き集積回路の内部構成を示
すブロック図。
すブロック図。
１１…ＬＳＩパッケージ、１２…光電変換部、１３…液
晶表示部、２１…電子回路、２２…検査回路。
晶表示部、２１…電子回路、２２…検査回路。
Claims (1)
- 【請求項１】 高度に集積された電子回路が搭載される
障害検出機能付き集積回路において、 上記電子回路と同一パッケージ内に搭載され、該電子回
路の動作を検査する検査回路と、 上記電子回路及び検査回路と同一パッケージに搭載さ
れ、検査回路による検査出力を表示する表示部と、 上記電子回路，検査回路及び表示部と同一パッケージに
搭載され、そのそれぞれに外部と非接触で駆動電源を供
給する電源供給手段と、 を具備したことを特徴とする障害検出機能付き集積回
路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4117144A JPH05315418A (ja) | 1992-05-11 | 1992-05-11 | 障害検出機能付き集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4117144A JPH05315418A (ja) | 1992-05-11 | 1992-05-11 | 障害検出機能付き集積回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05315418A true JPH05315418A (ja) | 1993-11-26 |
Family
ID=14704553
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4117144A Pending JPH05315418A (ja) | 1992-05-11 | 1992-05-11 | 障害検出機能付き集積回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05315418A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7245143B2 (en) | 2004-07-23 | 2007-07-17 | Seiko Epson Corporation | Electro-optical device, electronic apparatus, and mounting structure |
| US7345501B2 (en) | 2004-07-23 | 2008-03-18 | Seiko Epson Corporation | Electro-optical device, electronic apparatus, and mounting structure |
-
1992
- 1992-05-11 JP JP4117144A patent/JPH05315418A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7245143B2 (en) | 2004-07-23 | 2007-07-17 | Seiko Epson Corporation | Electro-optical device, electronic apparatus, and mounting structure |
| US7345501B2 (en) | 2004-07-23 | 2008-03-18 | Seiko Epson Corporation | Electro-optical device, electronic apparatus, and mounting structure |
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