JPH05274817A

JPH05274817A - 記録判定方法およびデータ記録装置

Info

Publication number: JPH05274817A
Application number: JP4338798A
Authority: JP
Inventors: Takaaki Ashinuma; 孝昭芦沼; Takatoshi Suzuki; 隆敏鈴木
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1992-01-31
Filing date: 1992-12-18
Publication date: 1993-10-22

Abstract

(57)【要約】【目的】データの記録と同時にベリファイを行う場合
に、記録の良否の判定を正確に行うことを可能とする。【構成】媒体から読み出されたデータと遅延されたデ
ータとを比較してエラーを検出する際に、データと共に
読み出された同期信号に基づいてタイミングの調整を行
なう。また、記録媒体から読み出されたデータのエラー
を検出するとともに、データが記録された部分の媒体の
欠陥を検出し、エラー検出および欠陥検出の両方の結果
に基づいて記録の良否を判定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、記録媒体にデータを記
録すると同時に、記録の良否を判定する方法及びこの方
法を実行するデータ記録装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、記録媒体にデータを記録し、必要
に応じて記録されたデータを読み出すデータ記録装置
は、様々な態様のものが知られている。近年、大量の情
報を高密度に記録できることから、光学的記録媒体に光
ビームを照射することによって記録を行う光学的データ
記録装置が特に注目されている。以下、このようなデー
タ記録装置として、光磁気ディスク装置を例に説明す
る。

【０００３】図１６は、従来の光磁気ディスク装置の構
成例を示す概略図である。ここで、符号７１は、記録媒
体たる光磁気ディスクを示す。このディスク７１は、不
図示のモータによって回転され、矢印Ｄの方向に移動す
る。ディスク７１を挟んで互いにほぼ対向する位置に
は、光学ヘッド及び磁気ヘッド８２が配置されている。
光学ヘッドは、半導体レーザ等の光源７２、コリメータ
レンズ７３、ビームスプリッタ７４、対物レンズ７５、
集光レンズ７６、検光子８６及び光検出器７７等を内蔵
する。

【０００４】上記構成の装置において、光源７２から発
した光ビームは、コリメータレンズ７３及びビームスプ
リッタ７４を通過して対物レンズ７５によって光磁気デ
ィスク７１の記録層（磁性膜）に集光される。磁性膜の
光ビームが照射された部分は、そのキュリー温度近傍ま
で温度が上昇し、保磁力が低下する。一方、磁性膜の光
ビーム照射部分の近傍には磁気ヘッド８２によって膜面
に垂直な方向の磁界が印加される。そして、光ビームの
照射によって保磁力が低下した上記部分は、印加される
磁界と同一の方向に磁化の向きが配向される。磁気ヘッ
ド８２から印加される磁界は、磁気ヘッドドライバ８１
によって、記録すべきデータに応じて向きが反転するよ
うに制御される。したがって、ディスク７１の移動に伴
って光ビームによって走査された部分には、磁化が上向
きの磁区および磁化が下向きの磁区の連続としてデータ
が記録される。

【０００５】上記のように記録されたデータは、記録後
に読み出され、エラーの検出が行われる。そして、検出
されたエラーの数から記録の良否が判定される。このよ
うな動作は、通常ベリファイ（確認）と呼ばれている。
ベリファイによって記録が不良と判定された場合には、
不良な記録が行われた部分、またはこの部分とは異なる
部分にデータが再記録される。

【０００６】上記のベリファイの際には、光学ヘッドの
光源７２から、記録時よりも小さいパワーの光ビームが
発せられ、この光ビームによってディスク７１のデータ
記録部分が走査される。光ビームのディスク７１からの
反射光は、カー効果等の磁気光学効果によって、その偏
光方向が記録されたデータに応じて変調を受けている。
この反射光は、ビームスプリッタ７４によって照射ビー
ムの光路から分離され、集光レンズ７６で集光される。
集光レンズ７６を通った反射光は、検光子８６を透過し
て記録されたデータに応じて強度変調された光に変換さ
れ、光検出器７７によって検出される。光検出器７７の
出力信号は、２値化回路７８を通って２値化され、デー
タセパレータ７９を通して、光磁気ディスクドライブコ
ントローラ（以下、ＯＤＣと記す）８０に入力される。
ＯＤＣ８０は、マイクロプロセッサユニット（ＭＰＵ）
８３およびスモールコンピュータシステムインターフェ
イス（ＳＣＳＩ）制御回路８４に接続されている。ＯＤ
Ｃ８０内では、ディスクから読み出されたデータのエラ
ーがチェックされる。そして、エラーが予め定められた
判定基準以下であった場合には、記録動作を終了する。
また、エラーが判定基準を越えていた場合には、記録が
不良であったと判断して、ＯＤＣ８０はデータの再記録
などを行わせる。

【０００７】図１７は、上記ＯＤＣの構成例を示すブロ
ック図である。ここで、ＯＤＣは、データの流れの制
御、変調、復調と同期処理等を行い、エラー訂正コード
（ＥＣＣ）回路は、データ中に発生するエラーを訂正す
るために記録時にパリティを生成し、再生時には記録時
に生成したパリティを用いてディスクから読み出された
データ中のエラーを訂正する。

【０００８】図１７において、ＯＤＣは、ＤＭＡコント
ローラ２５を介してＤＭＡインターフェイス（Ｉ／Ｆ）
２４によって前述のＳＣＳＩ制御回路８４と接続されて
いる。また、ＯＤＣは、ＭＰＵ−Ｉ／Ｆ回路２２を介し
てＭＰＵ−Ｉ／Ｆ２１によって前述のＭＰＵ８３と接続
されている。ＯＤＣは、他にＥＣＣ回路２６、ＤＲＡＭ
コントローラ８３、バッファＲＡＭ８４及びフォーマッ
タ回路２７から構成されている。これらの各ユニットは
内部バス２３によって互いに接続されている。また、フ
ォーマッタ回路２７は、同期信号生成回路、同期信号検
出回路、変調回路及び復調回路を含む。

【０００９】図１６及び図１７に示す装置においてデー
タを記録する場合には、まずＳＣＳＩ制御回路８４から
送られてきたデータに、ＥＣＣ回路２６で誤り訂正符号
を付加する。誤り訂正符号が付加されたデータは、フォ
ーマッタ回路２７で記録用の符号にコード化され、更に
再生時に必要となる同期信号が付加され、記録信号２８
として磁気ヘッドドライバ８１に送られる。磁気ヘッド
ドライバ８１は、送られてきた記録信号２８に従って磁
気ヘッド８２を駆動し、光磁気ディスク７１にデータを
記録する。

【００１０】次に、ベリファイを行う場合には、前述の
ようにディスクのデータ記録部を再び光ビームで走査
し、光検出器７７で記録された信号が読み出される。読
み出された信号は、２値化回路７８で２値化され、デー
タセパレータ７９でクロック同期された再生信号２９が
取り出される。取り出された再生信号２９は、ＯＤＣ８
０内のフォーマッタ回路２７に送られ、同期信号検出回
路で各種の同期信号が検出される。また、再生信号２９
は、データと同期信号とに分離され、データのみＥＣＣ
回路２６に入力される。なお、ここで使用されている同
期信号は、多少の誤りがあっても検出が可能なように、
ある程度の冗長性を持ったパターンで構成されており、
また、たとえ検出されなくても、補間などによりデータ
の再生には不都合のないように設計されている。

【００１１】ＥＣＣ回路２６は、入力されたデータのシ
ンドローム計算を行ってエラーを検出する。そして、検
出されたエラーの個数をカウントし、この個数が予め設
定された判定基準以下であった場合には記録を良とし、
エラーの個数が判定基準を越えた場合に記録を不良と判
定する。

【００１２】一方、前述のようにディスク上を光ビーム
で２回走査して記録及びベリファイを行うのではなく、
記録と同時にベリファイを行う、所謂ダイレクトベリフ
ァイの方法が提案されている。このようなダイレクトベ
リファイには、特開昭５８−１７５４６号に記載されて
いるように複数の光ビームを用いる方法と、特開昭６２
−５４８５７号或は特開平３−７３４４８号に記載され
ているように記録用の光ビームの反射光を用いる方法と
が知られている。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】上記複数の光ビームを
用いたダイレクトベリファイに、前述のような記録の良
否の判定方法を適用すると、以下のような問題点を生じ
る。すなわち、このダイレクトベリファイにおいては、
記録／再生用光ビームとベリファイ用の光ビームとが、
光ビームの走査方向に所定距離はなれて配置される。そ
して、先行する記録／再生用光ビームで記録されたデー
タを、後行のベリファイ用光ビームで読み出し、読み出
されたデータと前記所定距離に相当する時間遅延された
データとを比較することよってベリファイを行う。ここ
で、ディスクの回転速度の変動などを原因として、読み
出されたデータと遅延されたデータとのタイミングがず
れると、正しいベリファイを行うことができなくなる恐
れがある。

【００１４】また、複数の光ビームの内、記録／再生用
光ビームの結像状態が最適になるように光学調整を行う
と、光学系が有する像面湾曲収差などの種々の収差によ
り、ベリファイ用光ビームの結像状態は記録／再生光ビ
ームに比べて悪いものとなる。このような結像状態のベ
リファイ用光ビームで読み出された信号の信号／雑音
（Ｓ／Ｎ）比は、記録／再生用光ビームで再生された信
号のＳ／Ｎ比に比べ、２ｄＢ程度低下する。ディスク及
び装置の初期性能が維持されている場合には、この程度
のＳ／Ｎ比の低下は問題にはならないが、経時変化を考
慮すると、最悪の場合には、通常の再生では問題となら
ない記録状態が、ベリファイ時に不良と判定される可能
性がある。

【００１５】例えば、ロング・ディスタンス・コード
（ＬＤＣ）をＥＣＣに用いた場合、一般に誤り訂正後の
エラーレート１×１０^-12 を満足するために必要な、訂
正前のバイトエラーレートは２×１０^-3程度となる。こ
の値は、記録／再生光ビームを用いた、経時後の再生の
限界に対応する。これに対し、ベリファイ用光ビームで
読み出されたデータは、上記の２ｄＢ低下分エラーレー
トが悪くなり、７×１０^-3程度となる。これでは、１セ
クタのデータ数を６３９バイトとすると、ディスクに欠
陥がなかったとしても、１セクタ当たり４〜５個のエラ
ーが発生することになり、通常の再生ではまったく問題
のないセクタを、欠陥セクタと判定してしまう可能性が
ある。

【００１６】一方、記録用光ビームのディスクからの反
射光を用いてベリファイを行う場合、反射光より読み出
されたデータは、原理的に記録されるであろうデータを
示すものであるため、ディスク上の欠陥などによるエラ
ーは検出されにくく、実際にディスク上に欠陥があった
場合にも見逃す可能性が高い。したがって、このように
記録用光ビームの反射光を用いたベリファイで記録の良
否の判定を行った場合、上記複数の光ビームを用いる場
合とは逆に、ベリファイ時の判定結果が実際の記録状態
よりも良くなってしまう可能性があった。

【００１７】本発明の目的は、上記従来技術の問題点を
解決し、記録と同時にベリファイを行う場合に、記録の
良否の判定を正確に行うことができる記録判定方法およ
びこの方法を実行するためのデータ記録装置を提供する
ことにある。

【００１８】

【課題を解決するための手段】本発明の上記目的は、光
学的記録媒体を第１の光ビームで走査して記録データを
記録すると同時に、前記媒体を第１の光ビームに後行し
た第２の光ビームで走査してデータを読み出し、読み出
されたデータと前記記録データを遅延したデータとを比
較することによってエラーを検出する方法において、前
記データに同期信号を付加して第１の光ビームで記録
し、前記第２の光ビームによって媒体に記録されたデー
タ及び同期信号を読み出し、読み出された同期信号に基
づいて読み出されたデータと前記記録データを遅延した
データとのタイミングを調整することによって達成され
る。

【００１９】また、本発明の上記目的は、記録媒体にデ
ータを記録すると同時に、記録の良否を判定する方法に
おいて、前記媒体から記録されたデータを読み出し、読
み出されたデータのエラーを検出するとともに、データ
が記録された部分の媒体の欠陥を検出し、エラー検出及
び欠陥検出の両方の結果に基づいて記録の良否を判定す
ることによって達成される。

【００２０】上記記録の良否の判定は、例えば、エラー
検出及び欠陥検出の両方の結果が予め設定された判定基
準以下であった場合には記録を良とし、エラー検出及び
欠陥検出の少なくとも一方の結果が前記判定基準を越え
た場合に記録を不良と判定する。

【００２１】また、上記の記録判定方法を実行するデー
タ記録装置は、記録媒体にデータを記録する手段と、記
録と同時に前記媒体から記録されたデータを読み出す手
段と、読み出されたデータのエラーを検出する手段と、
データが記録された部分の媒体の欠陥を検出する手段
と、エラー検出および欠陥検出の両方の結果に基づいて
記録の良否を判定する手段とから構成される。

【００２２】

【実施例】図１は、本発明を光磁気ディスク装置に適用
した第１実施例の構成を示す概略図である。ここで、符
号４６は、記録媒体たる光磁気ディスクを示す。このデ
ィスク４６は、不図示のモータによって回転され、矢印
Ｄの方向に移動する。ディスク４６を挟んで互いにほぼ
対向する位置には、光学ヘッド及び磁気ヘッド４７が配
置されている。光学ヘッドは、光源たる半導体レーザ３
１、コリメータレンズ３２、回折格子３３、光路折り曲
げミラー３４、ビームスプリッタ３５、対物レンズ３
８、レーザパワー自動制御用センサ３７、サーボセンサ
４０、ウォラストンプリズム４１、ＲＦ信号検出用セン
サ４２等を内蔵する。また、符号３６および３９は、そ
れぞれセンサ３７および４０に最適な像を結像するため
の集光レンズを示す。

【００２３】上記の装置において、半導体レーザ３１か
ら発した光ビームは、回折格子３３によってそれぞれ０
次回折光および±１次回折光に対応する３本の光ビーム
に分割される。そして、分割された光ビームは対物レン
ズ３８で集光されて、ディスク４６上に３つのビームス
ポット４３，４４，４５として結像される。これらのビ
ームスポットは、ディスク上に設けられたトラックの長
手方向、すなわち光ビームの走査方向に配列されてい
る。図２は、これらのビームスポットのディスク上の配
置を示した図である。スポット４３と４４との間の距離
は、約１５μｍである。上記回折格子３３は、スポット
４３の光強度とスポット４４及び４５の光強度との比
が、５：１となるように形成されている。これらのスポ
ットの内、スポット４３は、記録および通常の再生の用
いられ、スポット４４をベリファイに用いている。スポ
ット４５は用いられない。

【００２４】図１に示すディスクの移動方向Ｄより、光
ビームの走査方向に、ビームスポット４３が先行し、ビ
ームスポット４４が後行することがわかる。データの記
録時には、先行するスポット４３でディスク４６上にデ
ータを記録し、後行するスポット４４で記録されたデー
タを読み出して、ベリファイを行う。ここで、スポット
４３および４４間は上記のように約１５μｍ離れて配置
されているため、記録信号と読み出された信号とは、こ
の距離をスポットが移動する時間に対応する時間的なず
れが生じる。

【００２５】次に、この装置におけるベリファイ動作を
説明する。ビームスポット４３によるデータの記録は、
先に従来技術として説明したのと同様の過程で行われ
る。記録されたデータは、後行するビームスポット４４
で走査される。このビームスポット４４の反射光は、再
び対物レンズ３８を通って、ビームスプリッタ３５でデ
ィスク４６に照射される光ビームの光路から分離され
る。分離された反射光は、ウォラストンプリズム４１を
通ってＲＦ信号検出用センサ４２で検出される。センサ
４２の出力信号は、演算回路８７によって所定の演算が
なされ、再生信号（ＲＦ信号）Ｓ_RFが取り出される。

【００２６】図３は、ウォラストンプリズム４１から演
算回路８７までの検出系をより詳細に説明するための図
である。図３では、ビームスポット４４からの反射光９
５のみ図示している。反射光９５は、ウォラストンプリ
ズム４１で、偏光方向が互いに直交する２つの光９１お
よび９２に分割される。ここで、ウォラストンプリズム
４１の結晶軸は、偏光方向に変調を受ける前の光の偏光
方向、すなわちディスクに入射する光ビームの偏光方向
に対し４５°の角度をなすように配置されている。この
ため、ウォラストンプリズム４１で分割された光はディ
スクに記録された情報に応じて強度変調された光に変換
されており、しかも光９１と９２とは、その信号成分の
位相が１８０°異なる。

【００２７】センサ４２は、その受光面が４２ａと４２
ｂとに２分割されており、上記変調光９１及び９２は、
受光面４２ａ及び４２ｂにそれぞれ入射する。これらの
受光面の出力信号は、演算回路８７に入力される。演算
回路８７は、差動増幅器９３と加算器９４から成る。差
動増幅器９３は、受光面４２ａ及び４２ｂの出力信号を
差分する。上記のように変調光９１及び９２の信号成分
は、互いに位相が反転しているため、ディスクの反射率
の変化などによる反射光強度の変動は相殺され、差動増
幅器９３からはＲＦ信号Ｓ_RFが出力される。一方、加算
器９４は、受光面４２ａ及び４２ｂの出力信号を加算す
る。したがって、ディスク上の情報に応じた信号は相殺
され、加算器からはディスクの反射率に応じた和信号Ｓ
_SUM が出力される。

【００２８】上記演算回路８７からの信号は、制御回路
４９に入力され、ベリファイが行われる。図４は、制御
回路４９の構成例を示すブロック図である。図４におい
て、光磁気ディスクコントローラ（ＯＤＣ）１は、同期
信号検出部を除いては、図１７と同様に構成されてい
る。ＯＤＣ１は、データを一時記憶するためのバッファ
ＲＡＭ２に接続されている。データの記録を行う場合に
は、ディスク上に記録すべきセクタのアドレスを確認す
ると、デイスクからの反射光より検出された同期信号１
２に同期してバッファＲＡＭ２からデータを取り出し、
ＯＤＣ１内のＥＣＣ回路でデータに誤り訂正符号が付加
される。誤り訂正符号が付加されたデータは、変調回路
でディスクに記録される信号形態に変調（本実施例では
１−７変調）されて、磁気ヘッドドライバ４８に送られ
る。磁気ヘッドドライバ４８は、送られてきた記録信号
に従って磁気ヘッド４７を駆動し、光磁気ディスク４６
にデータを記録する。

【００２９】前述の差動増幅器９３より送られてきたＲ
Ｆ信号Ｓ_RFは、２値化回路８５によってデジタル信号に
変換され、データセパレータ５に入力される。データセ
パレータ５では、入力信号に同期したクロック（ＶＣＯ
クロック）が生成され、再生データとともに同期信号検
出回路８及びＯＤＣ１内の復調回路に送られる。復調回
路は、記録時に変調された信号を、元のＮＺＲ（ノンリ
ターントウゼロ）信号に変換し、同期用のデータマー
ク、リシンクなどの部分を除去して、再生データ１５と
して比較／判定回路１４へ送る。

【００３０】同期信号検出回路８では、プリフォーマッ
ト部に記録されているアドレスマーク、データ部に記録
されるデータマーク、リシンクマークを検出し、ＯＤＣ
１およびタイミング調整用ディレイ回路１１へ供給す
る。データマークのパターンは２４ビットで、ディスク
の欠陥などで全パターンの内いくつかのパターンが部分
的に損なわれたとしても、再生可能なパターンで構成さ
れている。そこで、データマーク検出部ではデータマー
クが検出されたとき、そのデータマークの品位、すなわ
ち２４ビット中何ビットが一致しているかを検知し、予
め設定されている基準値と比較する。そして、一致した
ビット数が基準値に達していない場合、記録が不良とい
う同期パターン判定信号９を比較／判定回路１４に送
る。

【００３１】リシンクマークは１６ビットで構成されて
おり、全パターンの一致によって検出され、１セクタ中
に１５バイトごとに３９個存在する。パターンの比較は
データマークを基準に生成された検出ウインド内で行わ
れる。そして、検出ウインド内に検出されなかった場合
は補間パルスが挿入され、ウインド内に検出されなかっ
たことを示すエラー信号を発生させる。また、ウインド
内に検出されたとしても、予期した位置に検出されなか
った場合も同じくエラー信号を発生させる。このエラー
信号をセクタごとにリセットのかかるカウンタに入力
し、１セクタ中のエラーの個数をカウントする。カウン
ト値が予め決められた基準値を越えた場合、そのセクタ
を不良と判断し、不良を示す同期パターン判定信号９を
比較／判定回路１４に送る。

【００３２】ＯＤＣ１に入力された再生データは、記録
データとともに比較／判定回路１４に送られ、これらの
データを比較することによってエラーが検出される。こ
の時、記録データ１０はタイミング調整用ディレイ回路
１１へ入力され、再生された同期信号を基準として遅延
される。そして、再生データ１５と同期をとった信号１
３として比較／判定回路１４に入力される。

【００３３】次に、比較／判定回路におけるエラー検出
および記録の良否の判定について説明する。図５は、図
４の比較／判定回路１４の構成例を示すブロック図であ
る。図５において、符号１７は比較回路、符号１８はＳ
Ｐ変換器、符号１９はデインターリーブ制御回路、符号
２０はエラー・カウンタ、符号２１はベリファイ判定回
路、符号２２はレジスタを各々示す。本実施例において
は、図６に一例を示すようなセクタ構成のデータが記録
される。ここで、セクタとはデータの記録単位を示す。
例えば、ディスク状の記録媒体の場合、記録面にはスパ
イラルに複数のトラックが形成され、各々のトラックは
円周方向に複数のセクタに分割されている。図６の例
は、３．５インチの光磁気ディスクのＩＳＯフォーマッ
トのデータ部を示している。

【００３４】図６において、四角の各欄はその中に記載
された記号によって、ＳＢ１，ＳＢ２，ＳＢ３はデータ
マーク、ＲＳ１，ＲＳ２，…，ＲＳ３９はリシンクコー
ド、１，２，…，５１２はデータ、ＵＶ１，…，ＵＶ４
はベンダー・ユニークなデータ、ＣＲＣ−１，…，ＣＲ
Ｃ−４はエラーチェックのための巡回符号、Ｅ１．１，
Ｅ２．１，…，Ｅ５．１６はエラー訂正用パリティ・コ
ードをそれぞれ示す。図６のデータは、データ・マーク
及びリシンク・コードを除いた、以下の５つのインター
リーブで構成されている。インターリーブ１：1,6,11,16,…,511,(UV4),E1.1,E1.
2, …,E1.16 インターリーブ２：2,7,12,17,…,512,CRC-1,E2.1,E2.
2, …,E2.16 インターリーブ３：3,8,13,18,…,508,(UV1),CRC-2,E3.
1,E3.2, …,E3.16 インターリーブ４：4,9,14,19,… 509,(UV2),CRC-3,E4.
1,E4.2, …,E4.16インターリーブ 5:5,10,15,20, … 510,(UV3),CRC-4,E5.1,E5.2,
…,E5.16 各インターリーブは１２０バイトで構成され、それぞれ
１６バイトのＥＣＣパリティを用いて、８バイトまでの
誤りを訂正する能力がある。

【００３５】図５の回路において、記録データ１３は、
図４のＯＤＣ１より送られ、ＦＩＦＯ等のタイミング調
整回路１１によって再生データと同期されて比較回路１
７に入力される。一方、再生データ１５は、前述のよう
に同期処理及び復調処理が施され、記録データと同じビ
ット並びとなってＯＤＣ１より比較回路１７に入力され
る。比較回路１７は、この記録データ１３と再生データ
１５のビット比較を行う。ここで、エラーが検出された
ビットが１となる。続いて、シリアル−パラレル（Ｓ
Ｐ）変換器１８により、比較回路１７から出力された比
較結果のビットの流れを、シリアルデータからパラレル
データに変換する。パラレルデータはバイト（８ビッ
ト）単位となる。デインターリーブ制御回路１９におい
ては、データ比較結果およびディスク欠陥検出結果共
に、各インターリーブ毎のデータ同期がとれるようにさ
れている。

【００３６】デインターリーブ制御回路１９の出力よ
り、エラー・カウンタ２０でデータ比較によって検出さ
れたエラーの数がカウントされる。ここで、エラー・カ
ウンタ２０は、各インターリーブ内のエラー数と、１セ
クタ内の全インターリーブで発生したエラーの合計数の
２つの値をカウントするように形成されている。これに
対し、レジスタ２２には、検出されたエラー数と比較す
ることによって、記録を良または不良（ベリファイエラ
ー）と判断するためのエラー数の基準値があらかじめ設
定されている。この基準値は、エラー・カウンタに対応
して、各インターリーブ内のエラー数の許容値と、１セ
クタ内の全インターリーブで発生したエラーの合計数の
許容値の２つの値が設定されている。

【００３７】ベリファイ判定回路２１は、エラー・カウ
ンタ２０のカウント値と、レジスタ２２に格納された基
準値を比較して、記録を不良とするかどうかの判断を行
い、この判定信号１６を、同期信号の判定結果と合わせ
てＯＤＣ１に送る。ベリファイ判定回路２１の判断基準
の例は、以下の通りである。１）３つ以上のエラーが発生したインターリーブがあっ
たら、そのセクタは不良（ＮＧ）とする。２）各インターリーブで検出されたエラーの合計数（セ
クタ内のエラー数）１５以上の場合、そのセクタはＮＧ
とする。

【００３８】上記の基準値は、３及び１５に限らず、自
由に設定できることはいうまでもない。また、１）の条
件だけ、あるいは２）の条件だけで判定するようにして
も良い。

【００３９】上記実施例においては、ＥＣＣ回路を用い
ずにエラーの検出を行っているため、図７に示すように
セクタデータを読み終わった時点で判定を行うことがで
き、ほぼリアルタイムのダイレクトベリファイが可能と
なる。

【００４０】上記の実施例では、データエラーの検出お
よび同期信号の検出レべルによって記録の良否を判定す
るものであったが、媒体の欠陥を検出し、検出された欠
陥の数も考慮して記録の良否を判定するようにすれば、
更に正確な判定が可能になる。この例を以下に説明す
る。

【００４１】図８は、制御回路４９の第２の実施例を示
すブロック図である。本実施例において、この制御回路
以外は図１〜図３のように第１の実施例と同様に構成さ
れる。図８において図４と同一の部材には同一の符号を
付した。

【００４２】図８において、光磁気ディスクコントロー
ラ（ＯＤＣ）１は、同期信号検出部を除いては、図１７
と同様に構成されている。ＯＤＣ１は、データを一時記
憶するためのバッファＲＡＭ２に接続されている。デー
タの記録を行う場合には、ディスク上に記録すべきセク
タのアドレスを確認すると、デイスクからの反射光より
検出された同期信号１２に同期してバッファＲＡＭ２か
らデータを取り出し、ＯＤＣ１内のＥＣＣ回路でデータ
に誤り訂正符号が付加される。誤り訂正符号が付加され
たデータは、変調回路でディスクに記録される信号形態
に変調（本実施例では１−７変調）されて、磁気ヘッド
ドライバ４８に送られる。磁気ヘッドドライバ４８は、
送られてきた記録信号に従って磁気ヘッド４７を駆動
し、光磁気ディスク４６にデータを記録する。

【００４３】前述の差動増幅器９３より送られてきたＲ
Ｆ信号Ｓ_RFは、２値化回路８５によってデジタル信号に
変換され、データセパレータ５に入力される。データセ
パレータ５では、入力信号に同期したクロック（ＶＣＯ
クロック）が生成され、再生データとともに同期信号検
出回路８及びＯＤＣ１内の復調回路に送られる。復調回
路は、記録時に変調された信号を、元のＮＺＲ（ノンリ
ターントウゼロ）信号に変換し、同期用のデータマー
ク、リシンクなどの部分を除去して、再生データ１５と
して比較／判定回路１４へ送る。

【００４４】同期信号検出回路８では、プリフォーマッ
ト部に記録されているアドレスマーク、データ部に記録
されるデータマーク、リシンクマークを検出し、ＯＤＣ
１およびタイミング調整用ディレイ回路１１へ供給す
る。データマークのパターンは２４ビットで、ディスク
の欠陥などで全パターンの内いくつかのパターンが部分
的に損なわれたとしても、再生可能なパターンで構成さ
れている。そこで、データマーク検出部ではデータマー
クが検出されたとき、そのデータマークの品位、すなわ
ち２４ビット中何ビットが一致しているかを検知し、予
め設定されている基準値と比較する。そして、一致した
ビット数が基準値に達していない場合、記録が不良とい
う同期パターン判定信号９を比較／判定回路１４に送
る。

【００４５】リシンクマークは１６ビットで構成されて
おり、全パターンの一致によって検出され、１セクタ中
に１５バイトごとに３９個存在する。パターンの比較は
データマークを基準に生成された検出ウインド内で行わ
れる。そして、検出ウインド内に検出されなかった場合
は補間パルスが挿入され、ウインド内に検出されなかっ
たことを示すエラー信号を発生させる。また、ウインド
内に検出されたとしても、予期した位置に検出されなか
った場合も同じくエラー信号を発生させる。このエラー
信号をセクタごとにリセットのかかるカウンタに入力
し、１セクタ中のエラーの個数をカウントする。カウン
ト値が予め決められた基準値を越えた場合、そのセクタ
を不良と判断し、不良を示す同期パターン判定信号９を
比較／判定回路１４に送る。

【００４６】ＯＤＣ１に入力された再生データは、記録
データとともに比較／判定回路１４に送られ、これらの
データを比較することによってエラーが検出される。こ
の時、記録データ１０はタイミング調整用ディレイ回路
１１へ入力され、再生された同期信号を基準として遅延
される。そして、再生データ１５と同期をとった信号１
３として比較／判定回路１４に入力される。

【００４７】一方、図３の加算器９４より出力された和
信号Ｓ_SUM は、ディスク欠陥検出回路１８に入力され
て、ディスクの欠陥が検知される。図９は、ディスク欠
陥検出回路の構成例を示すブロック図である。図９にお
いて、符号６１は微分器、符号６２は微分器の出力を電
圧源６３によって設定されるディスク欠陥検出用基準レ
ベルと比較する電圧コンパレータを示す。また、アンド
ゲート６４は、プリフォーマット部の信号を除去し、デ
ィスク欠陥検知信号６６を比較／判定回路１４に送る。

【００４８】次に、ディスク欠陥検出回路の動作を説明
する。図１０は、ディスク欠陥検出回路の各部における
信号波形を示す図である。一般に、ＲＦ信号検出用セン
サの和信号Ｓ_SUM は、図１０の符号５０に示すように直
流変動を含んだ信号形態をしている。符号５１は、信号
５０を時間軸方向に引き伸ばした信号波形である。ディ
スク上に欠陥が存在する場合、媒体の正常な部分に対
し、反射率が大きくなる場合と小さくなる場合とが考え
られる。したがって、ビームスポットがこの欠陥上を走
査した時、信号５１上には、符号５２に示すような波形
が現れる。この信号５１を、微分器６１を通すことによ
って、上記直流成分を除去し、反射率の変動が大小いず
れの場合でも検出可能なように、符号５３のような信号
とする。この信号５３をコンパレータ６２に通すことに
よって符号５６のような信号が出力される。

【００４９】信号５１の欠陥部を拡大して示すと、図１
１の信号５４のようになる。この信号５４は、微分器６
１によって信号５８のように変換される。コンパレータ
のしきい値、すなわち上記ディスク欠陥検出用基準レベ
ルを符号５９のように設定すると、欠陥部では符号６０
に示すようなパルス信号が出力される。

【００５０】コンパレータ６２の出力信号５６は、アン
ドゲート６４に入力される。このアンドゲート６４に
は、ＯＤＣ１よりプリフォーマット部でローレベル、デ
ータ部でハイレベルの信号５５が入力されている。アン
ドゲート６４は、信号５６と信号５５の論理積をとるこ
とにより、プリフォーマット部の光強度変動の影響を除
去する。したがって、アンドゲート６４の出力信号５７
は、ディスクの欠陥に対応する部分のみハイレベルのパ
ルスを有する欠陥検知信号となる。

【００５１】次に、第２の実施例の比較／判定回路にお
けるエラー検出および記録の良否の判定について説明す
る。図１２は、図８の比較／判定回路１４の構成例を示
すブロック図である。図１２において、図５と同一の部
材には同一の符号を付した。図１２において、符号１７
は比較回路、符号１８はＳＰ変換器、符号１９はデイン
ターリーブ制御回路、符号２０および２７はエラー・カ
ウンタ、符号２１はベリファイ判定回路、符号２２およ
び２８はレジスタ、符号２６はディレイ回路を各々示
す。本実施例においても、先の実施例と同様に図６に一
例を示すようなセクタ構成のデータが記録される。

【００５２】図１２の回路において、記録データ１３
は、図８のＯＤＣ１より送られ、ＦＩＦＯ等のタイミン
グ調整回路１１によって再生データと同期されて比較回
路１７に入力される。一方、再生データ１５は、前述の
ように同期処理及び復調処理が施され、記録データと同
じビット並びとなってＯＤＣ１より比較回路１７に入力
される。比較回路１７は、この記録データ１３と再生デ
ータ１５のビット比較を行う。ここで、エラーが検出さ
れたビットが１となる。続いて、シリアル−パラレル
（ＳＰ）変換器１８により、比較回路１７から出力され
た比較結果のビットの流れを、シリアルデータからパラ
レルデータに変換する。パラレルデータはバイト（８ビ
ット）単位となる。

【００５３】一方、図８のディスク欠陥検出回路１８か
ら送られたディスク欠陥検出信号６６は、ディレイ回路
２６によってＳＰ変換後の比較結果信号（エラー検出信
号）とバイト同期をとり、デインターリーブ制御回路１
９に入力される。デインターリーブ制御回路１９におい
ては、データ比較結果およびディスク欠陥検出結果共
に、各インターリーブ毎のデータ同期がとれるようにさ
れている。

【００５４】デインターリーブ制御回路１９の出力よ
り、エラー・カウンタ２０及び２７でそれぞれデータ比
較によって検出されたエラーの数および検出された欠陥
の数がカウントされる。ここで、エラー・カウンタ２０
は、各インターリーブ内のエラー数と、１セクタ内の全
インターリーブで発生したエラーの合計数の２つの値を
カウントするように形成されている。同様に、エラー・
カウンタ２７は、各インターリーブ内の欠陥数と、１セ
クタ内の全インターリーブに存在する欠陥の合計数をカ
ウントする。これに対し、レジスタ２２には、検出され
たエラー数と比較することによって、記録を良または不
良（ベリファイエラー）と判断するためのエラー数の基
準値があらかじめ設定されている。この基準値は、エラ
ー・カウンタに対応して、各インターリーブ内のエラー
数の許容値と、１セクタ内の全インターリーブで発生し
たエラーの合計数の許容値の２つの値が設定されてい
る。同様にレジスタ２８には、検出された欠陥数と比較
することによって、記録を良または不良と判断するため
の欠陥数の基準値があらかじめ設定されている。レジス
タ２８に記憶された基準値は、各インターリーブ内の欠
陥数の許容値と、１セクタ内の全インターリーブに存在
する欠陥の合計数の許容値の２つである。

【００５５】ベリファイ判定回路２１は、エラー・カウ
ンタ２０及び２７のカウント値と、レジスタ２２及び２
８に格納された基準値を比較して、記録を不良とするか
どうかの判断を行い、この判定信号１６を、同期信号の
判定結果と合わせてＯＤＣ１に送る。ベリファイ判定回
路２１の判断基準の例は、以下の通りである。１）１インターリーブ当たりのエラーが検出されたバイ
ト数および欠陥が検出されたバイト数のいずれかが６バ
イト以上の場合、そのセクタは不良（ＮＧ）とする。２）１インターリーブ当たりのエラーが検出されたバイ
ト数が４バイト以上であっても、欠陥が検出されたバイ
ト数が２個以下であれば、記録を良（ベリファイＯＫ）
とする。３）１セクタ当たりのエラーが検出されたバイト数の合
計および欠陥が検出されたバイト数の合計のいずれかが
２０バイト以上の場合、そのセクタはＮＧとする。４）１セクタ当たりのエラーが検出されたバイト数の合
計が１５バイト以上であっても、欠陥が検出されたバイ
ト数の合計が１０個以下であれば、ベリファイＯＫとす
る。

【００５６】上記の記録の良否の判定基準を整理する
と、表１のようになる。

【００５７】

【表１】

【００５８】本実施例では、記録良否の判定のエラー及
び欠陥のしきい値を、１インターリーブ当たりそれぞれ
６バイト及び３個、１セクタ当たり２０バイト及び１１
個としたが、これらのしきい値がこの例に限らず、自由
に設定できることはいうまでもない。また、１インター
リーブ当たりのエラー数および欠陥数のみで判定を行う
ようにしても良い。同様に、１セクタ当たりのエラー数
および欠陥数のみで判定を行うようにすることもでき
る。

【００５９】また、本実施例の発展形として、さらに第
３のエラー・カウンタを設け、デインターリーブ制御回
路において、検出されたエラーと欠陥とが同一の位置
（バイト単位）であったことを検出するようにしても良
い。ここで、同一位置の検出結果は、第３のエラー・カ
ウンタに入力し、このカウント値と、前述の２つのカウ
ンタのカウント値よりべリファイ判定が行われる。この
例は、欠陥を原因とするエラーのカウント値を補正し、
記録の良否をより正確に判定しようとするものである。

【００６０】以上の実施例では、複数の光ビームを用い
たダイレクトベリファイを例としたが、本発明は媒体に
よる記録ビームの反射光よりデータを再生してベリファ
イを行う、所謂ワンビームダイレクトベリファイに適用
することもできる。図１３は、このような本発明のデー
タ記録装置の第３実施例を示す概略図である。図１３に
おいて、図１６と同一の部材には同一の符号を付し、詳
細な説明は省略する。

【００６１】図１３において、符号８８は記録媒体たる
光磁気ディスクを示す。このディスク８８は、高いキュ
リー温度を有する高保磁力層と、低いキュリー温度を有
する低保磁力層とが交換結合されて成る磁気記録層を有
する。このような２層構成の記録層を有する媒体を用い
たダイレクトベリファイの原理に関しては、例えば特願
平３−１７５１５９に詳細に説明されている。ディスク
８８は、不図示のモータによって回転され、矢印Ｄの方
向に移動する。

【００６２】図１３の装置の構成は、基本的に図１６の
装置と同一であるが、光源７２から発した光ビームをデ
ィスク８８に照射してデータを記録すると同時に、この
光ビームの媒体による反射光を検出している。この反射
光は、磁気光学効果によってディスクに記録されたデー
タに応じて、偏光方向に変調を受けている。したがっ
て、この反射光をウォラストンプリズム８９で分割し
て、分割された光を光検出器９０の分割された受光面９
０ａ及び９０ｂでそれぞれ受光することによって、図３
の反射光９５の場合と同様にデータを読み出すことがで
きる。受光面９０ａ及び９０ｂの出力は、差動増幅器９
６及び加算器９７に入力され、それぞれから再生信号Ｓ
_RF及び和信号Ｓ_SUM が制御回路９８に入力される。

【００６３】制御回路９８は、基本的に図８に示すよう
な構成を有している。ここでは、差動増幅器９６からの
信号が２値化回路に入力され、加算器９７からの信号が
ディスク欠陥検出回路に入力される。

【００６４】制御回路９８において、記録の良否の判定
は、第２の実施例と同様に行われる。ただし、制御回路
９８においては、判定の基準が第２の実施例と異なって
いる。すなわち、判定の基準は以下の通りである。１）１インターリーブ当たりのエラーが検出されたバイ
ト数および欠陥が検出されたバイト数のいずれかが６バ
イト以上の場合、そのセクタは不良（ＮＧ）とする。２）１インターリーブ当たりのエラーが検出されたバイ
ト数が３バイト以下であっても、欠陥が検出されたバイ
ト数が４個以上であれば、ベリファイＮＧとする。３）１セクタ当たりのエラーが検出されたバイト数の合
計および欠陥が検出されたバイト数の合計のいずれかが
２０バイト以上の場合、そのセクタはＮＧとする。４）１セクタ当たりのエラーが検出されたバイト数の合
計が１５バイト以下であっても、欠陥が検出されたバイ
ト数の合計が１６個以上であれば、ベリファイＮＧとす
る。

【００６５】本実施例では、記録良否の判定のエラー及
び欠陥のしきい値を、１インターリーブ当たりそれぞれ
６バイト及び４個、１セクタ当たり２０バイト及び１６
個としたが、これらのしきい値がこの例に限らず、自由
に設定できることはいうまでもない。また、１インター
リーブ当たりのエラー数および欠陥数のみで判定を行う
ようにしても良い。同様に、１セクタ当たりのエラー数
および欠陥数のみで判定を行うようにすることもでき
る。

【００６６】本実施例の記録の良否の判定基準を整理す
ると、表２のようになる。

【００６７】

【表２】

【００６８】以上の実施例においては、媒体の反射率が
急激に変化した部分を欠陥として検出したが、読み出さ
れたデータ信号の振幅をモニターすることによって欠陥
を検出することもできる。これは、欠陥の部分において
は、読み出されたデータ信号の振幅が正常な部分に比べ
て小さくなるからである。このような媒体欠陥検出回路
の例を図１４に示す。図１４の回路は、図８のディスク
欠陥検出回路１８に置換して用いることができる。ただ
しこの場合には、欠陥検出回路には加算器からの和信号
ではなく、差動増幅器からの再生信号が入力される。

【００６９】図１５は、図１４の回路の各部における波
形を示す図である。図１４の回路で、まず符号１１０で
示すような再生信号波形がエンベロープ検波回路１０１
に入力される。この波形１１０は欠陥部１１５で振幅が
小さくなっている。エンベロープ検波回路１０１は破線
１１１で示すエンベロープ信号を出力する。このエンベ
ロープ信号１１１は、コンパレータ１０２において電圧
源１０３の電圧で決定される基準値Ｖと比較される。そ
して、コンパレータ１０２は、基準値Ｖよりも低いとき
にハイレベルとなる信号１１２を出力する。記録された
情報の内、あらかじめアドレス等が記録されたプリフォ
ーマット部は、光磁気信号が存在しないため、欠陥がな
くても信号１１２がハイレベルとなっている。この影響
を取り除くため、ＯＤＣよりプリフォーマット部に対応
したタイミングでローレベルとなる信号１１３が送ら
れ、アンドゲートで信号１１２と信号１１３の論理積信
号を求めることにより、符号１１４に示すように欠陥部
のみハイレベルのパルスを発する欠陥検出信号１０５が
得られる。この欠陥検出信号は、第１実施例の場合と同
様に、比較／判定回路に送られる。

【００７０】本発明は以上説明した実施例の他にも種々
の応用が可能である。例えば、本発明は、実施例の光磁
気ディスク装置に限らず、特開昭５９−１６７８５５号
で提案されているような光磁気以外の光学的データ記録
装置、あるいは光ビームを用いない磁気記録装置にも適
用することができる。また、記録媒体の形状は、ディス
ク状の他、カード状、テープ状など、どのような形状で
あっても構わない。本発明は、特許請求の範囲を逸脱し
ない限りにおいて、このような応用例を全て包含するも
のである。

【００７１】

【発明の効果】以上説明したように本発明の記録判定方
法およびデータ記録装置は、媒体から読み出されたデー
タと遅延されたデータとを比較してエラーを検出する際
に、データと共に読み出された同期信号に基づいてタイ
ミングの調整を行なうようにしたので、ディスクの回転
速度の変動などによらず、正確なベリファイができる。
また、本発明の記録判定方法およびデータ記録装置は、
記録媒体から読み出されたデータのエラーを検出すると
ともに、データが記録された部分の媒体の欠陥を検出
し、エラー検出および欠陥検出の両方の結果に基づいて
記録の良否を判定するようにしたので、記録と同時にベ
リファイを行う場合にも正確な判定を行うことができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を光磁気ディスク装置に適用した第１実
施例の構成を示す概略図である。

【図２】図１の装置におけるディスク上のビームスポッ
トの様子を示す概略図である。

【図３】図１の装置における検出系をさらに詳細に説明
するための概略図である。

【図４】図１の装置における制御回路の構成例を示すブ
ロック図である。

【図５】図４の回路における比較／判定回路の構成例を
示すブロック図である。

【図６】第１実施例で判定されるデータのセクタ構成を
説明するための図である。

【図７】本発明と従来の方法とのベリファイ判定時点の
違いを説明するための図。

【図８】制御回路の第２の実施例を示すブロック図であ
る。

【図９】図８の回路におけるディスク欠陥検出回路の構
成例を示すブロック図である。

【図１０】図９の回路の各部における信号波形を示す図
である。

【図１１】図９の回路における欠陥検出の様子を説明す
るための波形の拡大図である。

【図１２】図８の回路における比較／判定回路の構成例
を示すブロック図である。

【図１３】本発明を光磁気ディスク装置に適用した第３
実施例の構成を示す概略図である。

【図１４】本発明で用いる欠陥検出回路の他の構成例を
示すブロック図である。

【図１５】図１４の回路における欠陥検出の様子を説明
するための波形図である。

【図１６】従来の光磁気ディスク装置の構成例を示す概
略図である。

【図１７】図１６の装置における光磁気ディスクドライ
ブコントローラの構成例を示すブロック図である。

【符号の説明】

１光磁気ディスクドライブコントローラ２バッファＲＡＭ５データセパレータ８同期信号検出回路１１タイミング調整用ディレイ回路１４比較／判定回路１８ディスク欠陥検出回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光学的記録媒体を第１の光ビームで走査
して記録データを記録すると同時に、前記媒体を第１の
光ビームに後行した第２の光ビームで走査してデータを
読み出し、読み出されたデータと前記記録データを遅延
したデータとを比較することによってエラーを検出する
記録判定方法において、前記データに同期信号を付加し
て第１の光ビームで記録し、前記第２の光ビームによっ
て媒体に記録されたデータ及び同期信号を読み出し、読
み出された同期信号に基づいて読み出されたデータと前
記記録データを遅延したデータとのタイミングを調整し
て、これらのデータを比較することによってエラーを検
出することを特徴とする記録判定方法。
【請求項２】光学的記録媒体を第１の光ビームで走査
して同期信号を付加した記録データを記録する手段と、
前記媒体を第１の光ビームに後行した第２の光ビームで
走査して記録されたデータ及び同期信号を読み出す手段
と、読み出されたデータと前記記録データを遅延したデ
ータとを比較することによってエラーを検出する手段と
から成るデータ記録装置において、前記第２の光ビーム
で読み出された同期信号に基づき、前記読み出されたデ
ータと前記記録データを遅延したデータとのタイミング
を調整する手段を設けたことを特徴とするデータ記録装
置。
【請求項３】記録媒体にデータを記録すると同時に、
記録の良否を判定する方法において、前記媒体から記録
されたデータを読み出し、読み出されたデータのエラー
を検出するとともに、データが記録された部分の媒体の
欠陥を検出し、エラー検出及び欠陥検出の両方の結果に
基づいて記録の良否を判定することを特徴とする記録判
定方法。
【請求項４】光学的記録媒体を第１の光ビームで走査
してデータを記録すると同時に、前記媒体を第１の光ビ
ームに後行した第２の光ビームで走査して記録の良否を
判定する方法において、前記第２の光ビームによって媒
体に記録されたデータを読み出し、読み出されたデータ
のエラーを検出するとともに、第２の光ビームによって
データが記録された部分の媒体の欠陥を検出し、エラー
検出及び欠陥検出の両方の結果が予め設定された判定基
準以下であった場合には記録を良とし、エラー検出及び
欠陥検出の少なくとも一方の結果が前記判定基準を越え
た場合に記録を不良と判定することを特徴とする記録判
定方法。
【請求項５】光学的記録媒体を光ビームで走査してデ
ータを記録すると同時に、前記光ビームの媒体からの反
射光を検出して記録の良否を判定する方法において、前
記反射光から媒体に記録されたデータを読み出し、読み
出されたデータのエラーを検出するとともに、反射光か
らデータが記録された部分の媒体の欠陥を検出し、エラ
ー検出及び欠陥検出の両方の結果が予め設定された判定
基準以下であった場合には記録を良とし、エラー検出及
び欠陥検出の少なくとも一方の結果が前記判定基準を越
えた場合に記録を不良と判定することを特徴とする記録
判定方法。
【請求項６】記録媒体にデータを記録する手段と、記
録と同時に前記媒体から記録されたデータを読み出す手
段と、読み出されたデータのエラーを検出する手段と、
エラー検出の結果に応じて記録の良否を判定する手段と
から成るデータ記録装置において、前記データが記録さ
れた部分の媒体の欠陥を検出する手段を有し、前記判定
手段が前記エラー検出および欠陥検出の両方の結果に基
づいて記録の良否を判定することを特徴とするデータ記
録装置。
【請求項７】光学的記録媒体を第１の光ビームで走査
してデータを記録する手段と、前記媒体を第１の光ビー
ムに後行した第２の光ビームで走査して記録されたデー
タを読み出す手段と、読み出されたデータのエラーを検
出する手段と、エラー検出の結果に応じて記録の良否を
判定する手段とから成るデータ記録装置において、前記
第２の光ビームの媒体からの反射光からデータが記録さ
れた部分の媒体の欠陥を検出する手段を有し、前記判定
手段は、エラー検出及び欠陥検出の両方の結果が予め設
定された判定基準以下であった場合には記録を良とし、
エラー検出及び欠陥検出の少なくとも一方の結果が前記
判定基準を越えた場合に記録を不良と判定することを特
徴とするデータ記録装置。
【請求項８】前記欠陥検出手段は、前記反射光から媒
体の反射率が急激に変化する部分または読み出されたデ
ータ信号の振幅が低下する部分を欠陥として検出する請
求項７のデータ記録装置。
【請求項９】光学的記録媒体を光ビームで走査してデ
ータを記録する手段と、前記光ビームの媒体からの反射
光から記録されたデータを読み出す手段と、読み出され
たデータのエラーを検出する手段と、エラー検出の結果
に応じて記録の良否を判定する手段とから成るデータ記
録装置において、前記反射光からデータが記録された部
分の媒体の欠陥を検出する手段を有し、前記判定手段
は、エラー検出及び欠陥検出の両方の結果が予め設定さ
れた判定基準以下であった場合には記録を良とし、エラ
ー検出及び欠陥検出の少なくとも一方の結果が前記判定
基準を越えた場合に記録を不良と判定することを特徴と
するデータ記録装置。
【請求項１０】前記欠陥検出手段は、前記反射光から
媒体の反射率が急激に変化する部分または読み出された
データ信号の振幅が低下する部分を欠陥として検出する
請求項９のデータ記録装置。