JPH05257563A - 発振回路 - Google Patents

発振回路

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Publication number
JPH05257563A
JPH05257563A JP4089379A JP8937992A JPH05257563A JP H05257563 A JPH05257563 A JP H05257563A JP 4089379 A JP4089379 A JP 4089379A JP 8937992 A JP8937992 A JP 8937992A JP H05257563 A JPH05257563 A JP H05257563A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
clock signal
output
oscillation
circuit
terminal
Prior art date
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Pending
Application number
JP4089379A
Other languages
English (en)
Inventor
Ryosaku Taniguchi
良作 谷口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP4089379A priority Critical patent/JPH05257563A/ja
Publication of JPH05257563A publication Critical patent/JPH05257563A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 クロック信号の可観測性と可制御性を向上さ
せ、クロック変動検査や回路動作試験を容易に行えるよ
うにする。 【構成】 NANDゲート31は、制御端子5から入力
された制御信号により発振部1からの発振クロック信号
の出力端子4への出力及び停止の制御を行う。NAND
ゲート32は、クロック供給端子6に供給された外部ク
ロック信号を入力し出力端子4へ出力する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はマイクロコンピュータ
等に使用されクロック信号を発生する発振回路に関し、
特に外部から出力を制御できる構成を有する発振回路に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】図6は例えば特開昭64−57806号
公報に示された従来の発振回路の内部回路構成図であ
る。図6において、10a,10b,10cは異なる発
振周波数f1,f2,f3のクロック信号をそれぞれ発生
する水晶発振回路モジュール、11は水晶発振回路モジ
ュール10a,10b,10cのうちの何れかの発振ク
ロック信号を選択するスイッチ、12は出力端子、21
は水晶発振回路モジュール10a,10b,10c及び
スイッチ11を実装するパッケージである。図7にパッ
ケージ21の外観構成を示す。
【0003】次に動作について説明する。スイッチ11
はパッケージ21の上部に回転可能に取り付けられ、こ
のスイッチ11を回転させ予め定めた3個所の設定位置
の何れかに設定することにより、パッケージ21内の水
晶発振回路モジュール10a,10b,10cの出力ク
ロック信号の何れかが選択され、パッケージ21の出力
端子12から外部へ出力される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の発振回路は以上
のように構成されているので、クロック信号の可観測性
や可制御性が悪く、人手によりクロック信号の出力を切
り換え、その出力を測定器等により観測したりしてクロ
ック変動検査や回路機能試験を行っている。したがっ
て、このような従来の発振回路では、クロック変動検査
や回路機能試験に手間がかかり、製造効率の向上を図る
ことが難しいという問題点があった。
【0005】この発明は上記のような問題点を解決する
ためになされたものでクロック信号の可観測性と可制御
性を向上させ、クロック変動検査や回路機能試験を容易
に行える発振回路を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明に係る発振回路
は、発振部1からの発振クロック信号の出力端子4への
出力及び停止の制御を行う第1の論理回路(NANDゲ
ート31)と、外部からのクロック信号を入力し出力端
子4へ出力する第2の論理回路(NANDゲート32)
と、上記第1の論理回路を制御する制御信号を入力する
ための制御端子5と、上記第2の論理回路に外部クロッ
ク信号供給するためのクロック供給端子6とを備えたも
のである。
【0007】
【作用】第1の論理回路(NANDゲート31)は、制
御端子5から入力された制御信号により発振部1からの
発振クロック信号の出力端子4への出力及び停止の制御
を行う。第2の論理回路(NANDゲート32)はクロ
ック供給端子6に供給された外部クロック信号を入力し
出力端子4へ出力する。
【0008】
【実施例】図1はこの発明の一実施例に係る発振回路の
回路構成図である。図1において、1は発振クロック信
号を発生する発振部、4は発振クロック信号を外部へ出
力するための出力端子、2は発振部1からの発振クロッ
ク信号を反転して整形するNANDゲート(NOTゲー
トでもよい)、31はNANDゲート2からの発振クロ
ック信号の上記出力端子4への出力及び停止の制御を行
う第1の論理回路としてのNANDゲート、32はNA
NDゲート31の出力信号が与えられると共に外部から
のクロック信号を入力し上記出力端子4へ出力する第2
の論理回路としてのNANDゲート、5はNANDゲー
ト31を制御する制御信号を入力するための制御端子、
6はNANDゲート32に外部クロック信号を供給する
ためのクロック供給端子、7は電源電圧端子、8はGN
D端子、R1,R2はプルアップ抵抗である。
【0009】図2は通常の発振クロック信号の出力を行
っているときのタイミングチャート、図3は発振クロッ
ク信号の出力が停止されているときのタイミングチャー
ト、図4は外部よりクロック信号が注入されているとき
のタイミングチャートである。図2〜図4において、a
は発振部1の出力信号、bはNANDゲート2の出力信
号、cは制御端子5からの制御信号、dはNANDゲー
ト31の出力信号、eはクロック供給端子6からの信
号、fはNANDゲート32の出力信号である。
【0010】次に図1〜図4を参照してこの実施例の動
作について説明する。発振部1は所定の周波数の発振ク
ロック信号を発生する回路から構成されており、制御端
子5及びクロック供給端子6が共に開放されている場
合、各種NANDゲート2,31,32を経由して図2
に示すタイミングチャートに示すようにクロック信号f
が出力端子4より規定周波数で出力される。
【0011】次に制御端子5の制御信号cを図3に示す
ようにL(ローレベル)にした場合(この種の論理操作
はインサーキットテスタやファンクションテスタ等で簡
単に実施できる)、出力端子4からの出力信号fはLと
なり、発振部1からの発振クロック信号aは外部へ出力
されない。即ち制御端子5のGNDレベルとのショート
とオープン操作により、出力端子4への発振クロック信
号aは停止と起動を繰り返すことになり、発振回路のク
ロック信号の可観測性や可制御性が実現できる。
【0012】次に制御端子5の制御信号cを図4に示す
ようにL(GNDレベル)とし、クロック供給端子6よ
り外部クロック信号eを注入した場合、発振器1からの
発振クロック信号aは停止即ちブロックされ、外部クロ
ック信号eがクロック信号fとなり出力端子4から外部
へ出力される。
【0013】以上のように制御端子5を論理操作するこ
とにより、出力端子4からの発振クロック信号は停止
し、これにより回路固有の基準クロック信号の周波数を
測定することが可能となる。即ち起動、停止操作による
起動時間でのパルス数の計数ができる。また、制御端子
5とクロック供給端子6の操作により、基準クロック信
号とは別のクロック信号を注入することが可能となり、
回路診断が簡単に可能となる(可制御性が実現する)。
即ちステップ発振動作や基準発振周波数±αでの動作確
認が市販テスタを用いて簡単に行える。また、制御端子
5とクロック供給端子6の操作により、クロック信号の
デュティ比を変化させることもできる。
【0014】ところで、発振回路の機能テストを行う場
合、複合マージンテストというものがある。この複合マ
ージンテストとは、電源電圧、基準発振周波数(クロッ
ク)、温度などの条件を組み合わせて機能テストを実施
するテストを言う。電源電圧とクロックの複合マージン
テストのテスト範囲は、例えば図5に示す四角形の範囲
である。電源電圧とクロックの2条件の組み合わせのた
め、要注意点は4個所(図5の○の点)である。さら
に、温度(例えば0℃〜50℃など)条件も含めるとテ
スト範囲の条件図は3次元となり、要注意点も8個所と
なる。目標とした範囲での動作が保証されたら、次にど
の程度まで動作に余裕があるかをテストすることにより
製品の限界を評価する。この評価作業中に思わぬ欠陥や
弱点を見い出すことがある。
【0015】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、発振部か
らの発振クロック信号の出力端子への出力及び停止の制
御を行う第1の論理回路と、外部からのクロック信号を
入力し出力端子へ出力する第2の論理回路と、第1の論
理回路を制御する制御信号を入力するための制御端子
と、第2の論理回路に外部クロック信号を供給するため
のクロック供給端子とを設けて構成したので、可観測性
と可制御性が向上し、クロック変動検査や回路機能試験
を容易に行え、また、回路の動作範囲も診断できるとい
う効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例に係る発振回路の回路構成
図である。
【図2】この実施例において通常の発振クロック信号の
出力を行っているときのタイミングチャートである。
【図3】この実施例において発振クロック信号の出力が
停止されているときのタイミングチャートである。
【図4】この実施例において外部よりクロック信号が注
入されているときのタイミングチャートである。
【図5】複合マージンテストを説明するためのマトリク
ス図である。
【図6】従来の発振回路の内部回路構成図である。
【図7】従来の発振回路の外観構成図である。
【符号の説明】
1 発振部 31 NANDゲート(第1の論理回路) 32 NANDゲート(第2の論理回路) 4 出力端子 5 制御端子 6 クロック供給端子

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 発振クロック信号を発生する発振部と、
    この発振部からの発振クロック信号を外部へ出力するた
    めの出力端子とを備えた発振回路において、上記発振部
    からの発振クロック信号の上記出力端子への出力及び停
    止の制御を行う第1の論理回路と、外部からのクロック
    信号を入力し上記出力端子へ出力する第2の論理回路
    と、上記第1の論理回路を制御する制御信号を入力する
    ための制御端子と、上記第2の論理回路に外部クロック
    信号を供給するためのクロック供給端子とを設けたこと
    を特徴とする発振回路。
JP4089379A 1992-03-13 1992-03-13 発振回路 Pending JPH05257563A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4089379A JPH05257563A (ja) 1992-03-13 1992-03-13 発振回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4089379A JPH05257563A (ja) 1992-03-13 1992-03-13 発振回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05257563A true JPH05257563A (ja) 1993-10-08

Family

ID=13969049

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4089379A Pending JPH05257563A (ja) 1992-03-13 1992-03-13 発振回路

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