JPH05251684A - ブルーミング防止特性を向上させたccd画像センサ - Google Patents

ブルーミング防止特性を向上させたccd画像センサ

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JPH05251684A
JPH05251684A JP4315079A JP31507992A JPH05251684A JP H05251684 A JPH05251684 A JP H05251684A JP 4315079 A JP4315079 A JP 4315079A JP 31507992 A JP31507992 A JP 31507992A JP H05251684 A JPH05251684 A JP H05251684A
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JP4315079A
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Eric G Stevens
ゴードン スティーブンズ エリック
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Eastman Kodak Co
Original Assignee
Eastman Kodak Co
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/148Charge coupled imagers
    • H01L27/14887Blooming suppression

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 CCD画像センサのブルーミング防止特性を
向上させる。 【構成】 ブルーミング防止特性を向上させた画像セン
サは、複数の光検出器16を基板内でその表面に沿って
縦列と横列とに二次元配列し、光検出器の各縦列に沿っ
て、CCDシフトレジスタ18を設けている。各光検出
器に隣接してそれぞれ越流ドレイン26を備え、各光検
出器とそれに隣接したドレインとの間には越流バリヤ3
0を備えている。各光検出器は、n形かp形のいずれか
一方の導電率を有して第一及び第二の部分24a,24
bに分割される活性領域を有する。活性領域の第一の部
分は、同じ導電率形の第二の部分より不純物濃度が高
く、動作中、低ポテンシャルを維持している。かくし
て、第一の部分で生じた電荷キャリヤは、第二の部分に
流入し、そこに蓄積される。これにより、光検出器のキ
ャパシタンスは減少し、光検出器の感度を維持しつつブ
ルーミング防止特性を向上させている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ブルーミング防止特性
を備えた光検出器を有する電荷結合素子(CCD)画像
センサに関し、特に、光検出器の他の動作特性を損なう
ことなくブルーミング防止特性を向上させた画像センサ
に関する。
【0002】
【従来の技術】CCD画像センサとしては、一般に、横
列と縦列とに二次元配列された複数の光検出器と、光検
出器の縦列の間に配設されたCCDシフトレジスタより
構成されたものがある。各縦列の各光検出器は、伝達ゲ
ート等を介して、隣接したシフトレジスタに連結され、
各光検出器で生成されて蓄積された電荷キャリヤを、シ
フトレジスタに選択的に搬送するようにしている。各シ
フトレジスタは、電荷キャリヤを画像センサの読み出し
回路に搬送する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この種の画像センサで
生じた問題の一つは「ブルーミング」と呼ばれるもので
ある。仮に、画像センサの蓄積期間(即ち、光検出器が
画像から光子を受け取って、それを電荷キャリヤに変換
する期間)中に、ある光検出器が過度の電荷キャリヤを
蓄積したとすれば、電荷キャリヤの一部は、隣接したシ
フトレジスタ及び/又は光検出器内に溢れ出てしまう。
これが、読み出し回路に搬送されるシフトレジスタ内の
電荷キャリヤに影響を及ぼして「ブルーミング」を引き
起こす。
【0004】ブルーミングを防止するために使用される
従来の技術(即ち、ブルーミング防止技術)では、光検
出器に隣接して越流ドレインを設けている。このドレイ
ンは、ポテンシャルバリヤにより、光検出器から絶縁さ
れている。光検出器とブルーミング防止ドレインとの間
のポテンシャルバリヤは、キャリヤの蓄積期間中に光検
出器とCCDシフトレジスタとの間で伝達ゲートにより
形成されるバリヤよりポテンシャルが低い。従って、仮
に、光検出器内の電荷準位が、光検出器とブルーミング
防止ドレインとの間のバリヤより低い準位にまで光検出
器のポテンシャルを低下させる程度の量に達したとすれ
ば、余分な信号キャリヤは、ブルーミング防止ドレイン
内に一掃され、そこでドレインサプライにより除去され
る。これにより、過度の電荷が蓄積期間中にシフトレジ
スタ内に流入することを防ぎ、ブルーミングを防止して
いる。
【0005】ブルーミング防止量XABは、ブルーミング
を引き起こす露光準位の、飽和露光準位に対する比とし
て定義される。蓄積時間は一定、スミアはゼロか殆ど無
視し得る程に小さいものとすると、ブルーミング防止量
は、以下の式で求められる。 XAB = exp〔q(NCCD − NPD)/CVt 〕 ここで、qは電荷を、NCCD はCCDの電荷容量を、N
PDは飽和状態における検出素子の容量を、Cは検出器の
キャパシタンスを、Vt はnkT/qにより与えられる
熱電圧を、nはブルーミング防止構造の非理想因子を、
kはボルツマン定数を、Tは光検出器の絶対温度を表
す。従って、XABは、Cに指数関数的に従属している。
【0006】また、これらの条件下で作動している飽和
状態にある光検出器の非線形光応答性は、次の式で求め
られる。
【0007】 PRNL = 〔CVt /RESAT 〕ln(2) ここで、Rは検出器の応答性(amps/watt/m
2 )を、ESAT は飽和露光量(joules/m2 )を
表す。従って、非線形光応答性(PRNL)はCに線形
従属する。
【0008】光検出器の面積を単に減少させるだけでそ
のキャパシタンスが減少し、その結果ブルーミング防止
特性が向上したものの、これはまた、同時に光活性領域
の減少を招くが故に応答性の低下の原因にもなる。従っ
て、広範な光活性領域を維持しつつキャパシタンスを低
下させ、ブルーミング防止特性向上するように、光検出
器の蓄積領域を減少させることが本発明の目的である。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、前述の
目的は、p形かn形のいずれか一方の導電率を有すると
共に表面を有する半導体材料の本体と、その本体内で前
記表面に沿って位置する少なくとも一つの光検出領域で
あって、第一の部分と第二の部分とを有して、第一の部
分のポテンシャルを第二の部分のポテンシャルよりも低
くすることにより、第一の部分で生成した電荷キャリヤ
が第二の部分に流入するようにした光検出領域と、光検
出領域に沿って配設したシフトレジスタと、光検出領域
に隣接して本体内に設けたドレイン領域と、ドレイン領
域と光検出領域との間に設けたバリヤ手段と、を備えた
ことを特徴とする画像センサ、又はp形かn形のいずれ
か一方の導電率を有すると共に表面を有する半導体材料
の本体と、その本体内で前記表面に沿って位置して少な
くとも1列に配列された複数の光検出器であって、各光
検出器が第一の部分と第二の部分とを有して、第一の部
分のポテンシャルを第二の部分のポテンシャルよりも低
くすることにより、第一の部分で生成した電荷キャリヤ
が第二の部分に流入するようにした光検出器と、光検出
器の列に沿って本体内に配設したシフトレジスタと、光
検出器のそれぞれに隣接して本体内に設けたドレイン領
域と、各ドレイン領域とそれが隣接する光検出器の各部
分との間に設けたバリヤ手段と、を備えたことを特徴と
する画像センサによって達成される。
【0010】
【作用】各光検出器に隣接してブルーミング防止ドレイ
ンを備えたソリッドステート画像センサにおいて、光検
出器の一部のドーパント濃度を他の部分より高くするこ
とで光検出器の一部のポテンシャルを他の部分より低く
することにより、各光検出器の広範な光活性領域を維持
しつつ、そのキャリヤ蓄積領域を減少させることができ
る。これにより、光検出器の前記一部で生じた電荷キャ
リヤは、残りの部分に流入し、そこで蓄積される。
【0011】また、本発明に係るソリッドステート画像
センサは、表面を有すると共にp形かn形のいずれか一
方の導電率を有する半導体材料の本体と、この本体内で
表面に沿って位置する少なくとも1個の光検出領域とを
備えている。光検出領域に沿ってCCDシフトレジスタ
を設け、本体内で表面に沿って且つ光検出領域に隣接し
てドレイン領域を設けている。ドレイン領域と光検出領
域との間には、バリヤを設けている。光検出領域は、第
一及び第二の部分より成り、第一の部分のポテンシャル
を第二の部分のポテンシャルより低くすることにより、
作動中、第一の部分で生じた電荷キャリヤを第二の部分
に流入させている。
【0012】本発明は、添付図面を参照した以下の詳細
な説明から、一層良く理解されよう。
【0013】
【実施例】図1、図2、及び図4を参照すると、本発明
に係るCCD画像センサ10の平面図(図1)、断面図
(図2、図4)が示されている。画像センサ10は、表
面14を備えた基板本体12を有する。基板本体12
は、一つの導電率形、一般にはp形の導電率を有する単
結晶シリコン等の半導体材料より成る。基板本体12内
で且つ表面14に沿って、複数の光検出器16を、互い
に離隔して一般には縦列と横列とに二次元配列してい
る。光検出器16の各縦列に沿って、CCDシフトレジ
スタ18を別個に設けている。各シフトレジスタ18
は、隣接した光検出器16の縦列から電荷キャリヤを受
け取って、出力回路(図示せず)に送出する。
【0014】チャネルストップ20は、光検出器16の
各縦列に係るシフトレジスタ18の反対側の当該縦列の
側部に沿って、基板本体12内に設けられている。チャ
ネルストップ20は、又、縦列内の隣接した各光検出器
16の間にも設けられている。図2及び図4に示したよ
うに、チャネルストップ20は、基板本体12と同一の
導電率形であるが、より導電率(p+ 形として示され
る)が大きい領域であり本体12内で表面14に沿って
延びている。
【0015】図示したように、各光検出器16は、ピン
型のフォトダイオードであるが、フォトキャパシタ等の
他の型でもよい。図2及び図4に示したように、各光検
出器16は、基板本体12内で表面14に沿って(一般
には、1017個/┰cm3 のドーパント濃度を有する)n
形導電率の第一の領域22を備えている。第一の領域2
2は、シフトレジスタ18からチャネルストップ20ま
で延びている。p形導電率の第二の領域24は、第一の
領域22の一部に設けられている。図1に示したよう
に、第二の領域24は、第一の部分24aと第二の部分
24bより成る。第一の部分24aは、第二の部分24
bのドーパント濃度より高いp形導電率のドーパント濃
度を有する。或いは、第二の部分24bが、第一の部分
24aより高いn形導電率のドーパント濃度を有しても
よい。
【0016】ドレイン26は、基板本体12内で各光検
出器16の一つの角部に設けられている。ドレイン26
は、n形導電率の第一の領域22の部分22aと、部分
22a内に位置するn+ 形導電率のコンタクト領域28
を含む。コンタクト領域28は、約1019個/cm3 のド
ーパント濃度を有する。ドレイン26の周囲には、ブル
ーミング防止バリヤ30を設けている。ブルーミング防
止バリヤ30は、基板本体12内で表面14に沿って設
けた導電性が高いp形領域(p+ 形として図示)を含
む。第二の領域24の第一の部分24aに沿ったブルー
ミング防止バリヤ30の部分30aは、第一の部分24
aよりドーパント濃度が高い。第二の領域24の第二の
部分24bに沿ったバリヤ30の部分30bは、第二の
部分24bよりドーパント濃度が高いが、バリヤ30の
部分30aよりは低い。光検出器16の第二の領域24
は、バリヤ30まで延びている。
【0017】基板本体12の表面14上には、一般に二
酸化シリコンより成る誘電体の薄層31を設けている。
各シフトレジスタ18は、基板本体12内で表面14に
沿った位置に、(約1017個/cm3 のドーパント濃度を
有する)n形導電率のチャネル領域32を有する。チャ
ネル領域32は、隣接した光検出器16の縦列に沿って
且つそれから離隔して延びている。誘電体薄層31上に
は、複数の導電性ゲート34を、チャネル領域32を横
切って設けている。各ゲート34は、チャネル領域32
に沿って位置しており、各光検出器16に対して少なく
とも1個のゲート34を設けている。少なくとも幾つか
のゲート34を、チャネル領域32と各光検出器16と
の間の空間を横切って設け、各光検出器16からチャネ
ル領域32へ電荷の搬送を行う伝達ゲートとして機能さ
せている。
【0018】画像センサ10の動作中、光は、図2及び
図4の矢印36で示したように、光検出器16に入射す
る。光検出器16は、光を電子に変換してこれを蓄積す
る。適当なポテンシャルを各ゲート34に付与すること
により、蓄積されたキャリヤ(即ち電子)はCCDシフ
トレジスタ18のチャネル領域32に搬送される。再
び、クロックにより各ゲート34に適当なポテンシャル
を付与することにより、キャリヤはチャネル領域32に
沿って出力回路(図示せず)まで更に搬送される。
【0019】図3、図5、及び図6を参照すると、画像
センサ10の各部分におけるポテンシャル図が示されて
いる。図3は、図2の断面図で示された画像センサの各
部分のポテンシャルを示し、図5は、図4の断面図で示
された画像センサの各部分のポテンシャルを示し、図6
は、ある光検出器16におけるポテンシャルを表す三次
元図である。これらの図面から明らかなように、光検出
器16の第二の領域24の第一の部分24aと第二の部
分24bとでは不純物の濃度が異なるため、第一の部分
24aのポテンシャルP24aは第二の部分24bのポ
テンシャルP24bより低い。従って、第一の部分で生
じたキャリヤは、図6の矢印38で示したように、第二
の部分24bのより深いポテンシャルの谷に流入し、そ
こに蓄積される。
【0020】チャネルストップ20のポテンシャルP2
0は、第一の部分24aのポテンシャルP24a及び第
二の部分24bの第二のポテンシャルP24bのいずれ
よりも低い。これにより、ある光検出器16から次の光
検出器16へ、或いは光検出器16から隣接したCCD
シフトレジスタ18へと、キャリヤが流入するのを防ぐ
バリヤを形成している。
【0021】ドレイン26と第二の領域24の第一の部
分24aとの間に位置するバリヤ30の部分30aのポ
テンシャルP30aは、第一の部分24aのポテンシャ
ルP24aより低い。ドレイン26と第二の領域24の
第二の部分24bとの間に位置するバリヤ30の部分3
0bのポテンシャルP30bは、第二の部分24bのポ
テンシャルP24bより低い。従って、通常の状態で
は、第二の領域24からの電荷キャリヤがドレインに流
入することはない。しかしながら、第二の領域24の第
二の部分24b内に蓄積されたキャリヤ第二の部分24
bを満たすと、キャリヤはポテンシャルP24bにより
形成されたバリヤから溢れて、図6の矢印40で示した
ようにドレインコンタクト26内に流入する。これによ
り、ブルーミングを防止している。第二の部分24bと
バリヤ30の隣接した部分30bとの間の電位差は、第
二の領域24の第一の部分24aと第二の部分24bと
の間の電位差より小さい。従って、第二の部分24b内
に蓄積された余分なキャリヤは、第一の部分24aに逆
流する前に、バリヤ30bを越えてドレイン26に流入
する。
【0022】生成された電荷キャリヤを蓄積するために
光検出器16の一部のみを使用することにより、光検出
器16のキャパシタンスは大いに低減される。これによ
り、ブルーミング防止量を増加させると共に、非線形光
応答性を減少させる。しかしながら、検出された光を収
集してその光から電子を生成するために、まだ光検出器
16の全体を使用しているので、光検出器16の非線形
光応答性は低減されない。
【0023】光検出器16のキャパシタンスは減少して
いるので、飽和状態における光検出器16全体に亘る電
圧の最大振幅は増加する。即ち、第二の領域24の第二
の部分24bとバリヤ30の第二の部分30bとの間の
バリヤ高さは、蓄積面積の減少に反比例して増加する必
要がある。注入量、注入エネルギ、酸化膜の厚さの変動
等の処理パラメータの変動に対するバリヤ高さ(第二の
領域24の第二の部分24bとバリヤ30の第二の部分
30bとの間の電位差)の感度は、バリヤ高さに反比例
する。従って、キャパシタンスが減少するとき、飽和し
た光検出器の電圧振幅に対してバリヤ高さの変動が占め
る割合は、一層小さくなる。かくして、バリヤ高さを増
加させることにより、種々の処理パラメータに対する光
検出器の電荷容量の感度を低下させることができる。
【0024】このように、本発明によれば、電荷キャリ
ヤを光検出器から搬送するCCDシフトレジスタを備え
て列状に配置された複数の光検出器を有する画像センサ
が提供される。各光検出器は、ブルーミング防止ドレイ
ンと、ブルーミングを制御するバリヤ手段とを備えてい
る。また、各光検出器の電荷蓄積領域を、光検出器の全
面積より小さくして、光検出器のキャパシタンスを低減
している。これにより、ブルーミング防止特性を改善す
ると共に、応答性を損なうことなく光検出器の非線形光
応答性を減少させている。更に、処理パラメータの変動
に対する光検出器の感度も、低下させている。
【0025】本発明の特定の実施例が本発明の一般原理
の単なる例示に過ぎないことは理解されよう。詳細に説
明した原理と一貫性をもって、種々の変形例を構成して
もよい。例えば、光検出器16はピンダイオードとして
開示されているが、フォトキャパシタ及び/又はn形導
電率の基板を有する他の型の光検出器を使用してもよ
い。また、画像センサ10は、横方向に越流するドレイ
ン構造を有しているが、縦方向に越流するドレイン構造
であってもよい。更に、画像センサは、二次元配列され
ているが、直線状に配列してもよいし、また光検出器と
シフトレジスタを有するその他の型の画像センサでもよ
い。
【0026】
【発明の効果】本発明の画像センサによれば、光検出器
の一部のドーパント濃度を他の部分より高くすることで
光検出器の一部のポテンシャルを他の部分より低くする
ことにより、各光検出器の広範な光活性領域を維持しつ
つ、そのキャリヤ蓄積領域を減少させることができる。
これにより、光検出器の前記一部で生じた電荷キャリヤ
は、残りの部分に流入し、そこで蓄積される。
【0027】その結果、広範な光活性領域を維持しつつ
キャパシタンスを低下させ、ブルーミング防止特性が向
上するように、光検出器の蓄積領域を減少させることが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を組み込んだCCD画像センサの一部を
示す平面図である。
【図2】図1の線2−2に沿った断面図である。
【図3】図2の断面図に沿った画像センサの各部分のポ
テンシャルを示した図である。
【図4】図1の線4−4に沿った断面図である。
【図5】図4の断面図に沿った画像センサの各部分のポ
テンシャルを示した図である。
【図6】本発明の画像センサの各部分におけるチャネル
ポテンシャルの三次元図である。(各図面は、必ずしも
一定の比率で拡大されていない)
【符号の説明】
16 光検出器 18 シフトレジスタ 20 チャンネルストップ 22 第1の領域 24 第2の領域 26 ドレイン 28 コンタクト領域 30 バリヤ 32 チャンネル領域 34 ゲート

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 p形かn形のいずれか一方の導電率を有
    すると共に表面を有する半導体材料の本体と、 前記本体内で前記表面に沿って位置する少なくとも一つ
    の光検出領域であって、第一の部分と第二の部分とを有
    して、第一の部分のポテンシャルを第二の部分のポテン
    シャルよりも低くすることにより、第一の部分で生成し
    た電荷キャリヤが第二の部分に流入するようにした光検
    出領域と、 前記光検出領域に沿って配設したシフトレジスタと、 前記光検出領域に隣接して本体内に設けたドレイン領域
    と、 前記ドレイン領域と前記光検出領域との間に設けたバリ
    ヤ手段と、 を備えたことを特徴とする画像センサ。
  2. 【請求項2】 前記光検出領域が、p形かn形のいずれ
    か一方の導電率を有する少なくとも一つの活性領域を有
    し、前記活性領域の第一の部分の不純物濃度が第二の部
    分の不純物濃度より高いことを特徴とする請求項1記載
    の画像センサ。
  3. 【請求項3】 前記ドレイン領域と光検出領域との間に
    位置するバリヤ手段が、前記光検出領域の前記活性領域
    と同じ形の導電率を有すると共に前記活性領域より不純
    物濃度が高い領域から成ることを特徴とする請求項2記
    載の画像センサ。
  4. 【請求項4】 前記活性領域の第一及び第二の部分が、
    前記バリヤ手段の別々の部分までそれぞれ延びることを
    特徴とする請求項3記載の画像センサ。
  5. 【請求項5】 前記活性領域の第一の部分が接続する前
    記バリヤ手段の部分が、前記活性領域の第二の部分が接
    続する前記バリヤ手段の部分より、不純物濃度が高いこ
    とを特徴とする請求項4記載の画像センサ。
  6. 【請求項6】 前記活性領域の第一の領域と第二の領域
    との間の電位差が、前記活性領域の第二の部分とこの第
    二の部分が接続するバリヤ手段の部分との間の電位差よ
    り大きいことを特徴とする請求項5記載の画像センサ。
  7. 【請求項7】 前記光検出領域が、前記本体内で前記表
    面に沿って位置すると共に本体の導電率形と反対の導電
    率形を有する第一の領域と、前記第一の領域内に位置す
    ると共に第一の領域との間にp−n接合を形成するよう
    な一方の導電率形を有する第二の領域とを備え、前記第
    二の領域が、第一の部分と第二の部分とを有することを
    特徴とする請求項6記載の画像センサ。
  8. 【請求項8】 p形かn形のいずれか一方の導電率を有
    すると共に表面を有する半導体材料の本体と、 前記本体内で前記表面に沿って位置して少なくとも1列
    に配列された複数の光検出器であって、各光検出器が第
    一の部分と第二の部分とを有して、第一の部分のポテン
    シャルを第二の部分のポテンシャルよりも低くすること
    により、第一の部分で生成した電荷キャリヤが第二の部
    分に流入するようにした光検出器と、 前記光検出器の列に沿って本体内に配設したシフトレジ
    スタと、 前記光検出器のそれぞれに隣接して本体内に設けたドレ
    イン領域と、 前記各ドレイン領域とそれが隣接する光検出器の各部分
    との間に設けたバリヤ手段と、 を備えたことを特徴とする画像センサ。
  9. 【請求項9】 前記各光検出器が、p形かn形のいずれ
    か一方の導電率を有する少なくとも一つの活性領域を有
    し、前記活性領域の第一の部分の不純物濃度が同じ導電
    率形の第二の部分の不純物濃度より高いことを特徴とす
    る請求項8記載の画像センサ。
  10. 【請求項10】 前記各ドレイン領域とそれが隣接する
    光検出器との間に位置するバリヤ手段が、前記光検出器
    の前記活性領域と同じ形の導電率を有すると共に前記活
    性領域より不純物濃度が高い領域から成ることを特徴と
    する請求項9記載の画像センサ。
  11. 【請求項11】 前記各光検出器の活性領域の第一及び
    第二の部分が、各バリヤ手段の別々の部分までそれぞれ
    延びることを特徴とする請求項10記載の画像センサ。
  12. 【請求項12】 前記各活性領域の第一の部分が接続す
    る前記各バリヤ手段の部分が、前記各活性領域の第二の
    部分が接続する前記バリヤ手段の部分より、不純物濃度
    が高いことを特徴とする請求項11記載の画像センサ。
  13. 【請求項13】 前記光検出器の活性領域の第一の領域
    と第二の領域との間の電位差が、前記活性領域の第二の
    部分とこの第二の部分が接続するバリヤ領域の部分との
    間の電位差より大きいことを特徴とする請求項12記載
    の画像センサ。
  14. 【請求項14】 前記各光検出器が、前記本体内で前記
    表面に沿って位置すると共に本体の導電率形と反対の第
    二の導電率形を有する第一の領域と、前記第一の領域内
    に位置すると共に第一の領域との間にp−n接合を形成
    するような一方の導電率形を有する第二の領域とを備
    え、前記第二の領域が、第一の部分と第二の部分とを有
    することを特徴とする請求項13記載の画像センサ。
  15. 【請求項15】 前記光検出器を、複数の横列と複数の
    直線状の縦列とに配列すると共に、別個のシフトレジス
    タを各光検出器の各縦列に沿って設けたことを特徴とす
    る請求項8記載の画像センサ。
  16. 【請求項16】 チャネルストップ領域を、前記シフト
    レジスタの反対側の光検出器の列の側部に沿って、及び
    隣接する各光検出器の間に更に設けたことを特徴とする
    請求項8記載の画像センサ。
  17. 【請求項17】 前記各シフトレジスタが、光検出器の
    縦列に沿って且つそれから離隔して基板内に設けたチャ
    ネル領域と、このチャネル領域を横切って延び且つそれ
    から絶縁された複数のゲートとを有するCCDシフトレ
    ジスタであることを特徴とする請求項8記載の画像セン
    サ。
JP4315079A 1991-11-25 1992-11-25 ブルーミング防止特性を向上させたccd画像センサ Pending JPH05251684A (ja)

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