JPH05242939A - Ｐｌｃｃ測定用ｉｃソケット - Google Patents
Ｐｌｃｃ測定用ｉｃソケットInfo
- Publication number
- JPH05242939A JPH05242939A JP4262192A JP4262192A JPH05242939A JP H05242939 A JPH05242939 A JP H05242939A JP 4262192 A JP4262192 A JP 4262192A JP 4262192 A JP4262192 A JP 4262192A JP H05242939 A JPH05242939 A JP H05242939A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- socket
- plcc
- connector
- pin
- measurement
- Prior art date
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- Withdrawn
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Abstract
(57)【要約】
【目的】ＰＬＣＣ用のＩＣソケットをプリント基板に取
り付けた時にＰＬＣＣの入出力信号の長時間測定および
複数端子の同時測定ができるようにする。 【構成】ＰＬＣＣのピン受け端子５と導通しているソケ
ット側コネクタ部６を有するＰＬＣＣコネクタ付きソケ
ット１に接続される測定ピン４と導通しているカバー側
コネクタ部８を有する測定ピン付きコネクタカバー２で
構成され、ＰＬＣＣコネクタ付きソケット１と測定ピン
付きコネクタカバー２を係着部１０で固定している。
り付けた時にＰＬＣＣの入出力信号の長時間測定および
複数端子の同時測定ができるようにする。 【構成】ＰＬＣＣのピン受け端子５と導通しているソケ
ット側コネクタ部６を有するＰＬＣＣコネクタ付きソケ
ット１に接続される測定ピン４と導通しているカバー側
コネクタ部８を有する測定ピン付きコネクタカバー２で
構成され、ＰＬＣＣコネクタ付きソケット１と測定ピン
付きコネクタカバー２を係着部１０で固定している。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電子回路に使用されるＰ
ｌａｓｔｉｃ Ｌｅａｄｅｄ Ｃｈｉｐ Ｃａｒｒｉｅ
ｒ（以下ＰＬＣＣ）用ＩＣソケットに関する。
ｌａｓｔｉｃ Ｌｅａｄｅｄ Ｃｈｉｐ Ｃａｒｒｉｅ
ｒ（以下ＰＬＣＣ）用ＩＣソケットに関する。
【０００２】
【従来の技術】図３（ａ）は従来のＰＬＣＣ用ＩＣソケ
ットの一例の斜視図、（ｂ）はその基板への取付け状態
を示す断面図である。ＰＬＣＣ用ＩＣソケットはＰＬＣ
Ｃタイプの端子のＰｉｎ Ｇｒｉｄ Ａｒｒａｙ（以下
ＰＧＡ）タイプの端子への変換とＰＬＣＣのパッケージ
交換が容易にできる機能を有する。すなわち、図３
（ａ）においてＰＬＣＣ用ＩＣソケット１３にＰＬＣＣ
３を矢印Ｂで示すように組み込む。
ットの一例の斜視図、（ｂ）はその基板への取付け状態
を示す断面図である。ＰＬＣＣ用ＩＣソケットはＰＬＣ
Ｃタイプの端子のＰｉｎ Ｇｒｉｄ Ａｒｒａｙ（以下
ＰＧＡ）タイプの端子への変換とＰＬＣＣのパッケージ
交換が容易にできる機能を有する。すなわち、図３
（ａ）においてＰＬＣＣ用ＩＣソケット１３にＰＬＣＣ
３を矢印Ｂで示すように組み込む。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この従来のＰＬＣＣ用
ＩＣソケットでは、図３（ｂ）に示すようにプリント基
板（絶縁基板上に２次元的なパターンとして導体を残し
た物）１４にＰＬＣＣ用ＩＣソケット１３を半田１５で
取り付けた時にプリント基板１４の半田面１６へ出てく
るピンの長さが短いので、シンクロスコープ等で長時間
の測定や複数端子の測定ができず、部品面１７からの測
定もできないという問題点があった。
ＩＣソケットでは、図３（ｂ）に示すようにプリント基
板（絶縁基板上に２次元的なパターンとして導体を残し
た物）１４にＰＬＣＣ用ＩＣソケット１３を半田１５で
取り付けた時にプリント基板１４の半田面１６へ出てく
るピンの長さが短いので、シンクロスコープ等で長時間
の測定や複数端子の測定ができず、部品面１７からの測
定もできないという問題点があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明のＰＬＣＣ測定用
ＩＣソケットは、測定ピン付きソケットカバーとの接続
用コネクタを有するＰＬＣＣコネクタ付きＩＣソケット
と、測定器と接続可能な前記測定ピン付きソケットカバ
ーとを備えている。
ＩＣソケットは、測定ピン付きソケットカバーとの接続
用コネクタを有するＰＬＣＣコネクタ付きＩＣソケット
と、測定器と接続可能な前記測定ピン付きソケットカバ
ーとを備えている。
【０００５】そして、前記測定ピン付きソケットカバー
は前記ＰＬＣＣコネクタ付きＩＣソケットに着脱可能な
係着機構を有し、且つ前記ＰＬＣＣコネクタ付きＩＣソ
ケットはＰＬＣＣのピンと接続された実装用端子を有
し、前記測定ピン付きソケットカバーは前記ＰＬＣＣコ
ネクタ付きＩＣソケットに被着したとき前記接続用コネ
クタを介して前記実装用端子と接続された判定ピンが上
面に突出していることを特徴とする。
は前記ＰＬＣＣコネクタ付きＩＣソケットに着脱可能な
係着機構を有し、且つ前記ＰＬＣＣコネクタ付きＩＣソ
ケットはＰＬＣＣのピンと接続された実装用端子を有
し、前記測定ピン付きソケットカバーは前記ＰＬＣＣコ
ネクタ付きＩＣソケットに被着したとき前記接続用コネ
クタを介して前記実装用端子と接続された判定ピンが上
面に突出していることを特徴とする。
【０００６】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。図１は本発明のＰＬＣＣ測定用ＩＣソケットの一実
施例を示す断面図である。
る。図１は本発明のＰＬＣＣ測定用ＩＣソケットの一実
施例を示す断面図である。
【０００７】ＰＬＣＣ３をＰＬＣＣコネクタ付きソケッ
ト１に組み込んでＰＬＣＣ３のピンとピン受け端子５を
接触させることによりＰＬＣＣ３の入出力信号が実装用
端子９とソケット側コネクタ部６のコネクタピン７に出
力される。そして、係着部１０によりＰＬＣＣコネクタ
付きソケット１に測定ピン付きソケットカバー２を被着
すると、ソケット側コネクタ部６のコネクタピン７とカ
バー側コネクタ部８のコネクタピン７が接続され、ＰＬ
ＣＣ３の入出力信号が測定ピン４にも出力される。な
お、ＰＬＣＣコネクタ付きソケット１と測定ピン付きコ
ネクタカバー２の係着部１０により測定ピン付きコネク
タカバー２が容易には外れない。
ト１に組み込んでＰＬＣＣ３のピンとピン受け端子５を
接触させることによりＰＬＣＣ３の入出力信号が実装用
端子９とソケット側コネクタ部６のコネクタピン７に出
力される。そして、係着部１０によりＰＬＣＣコネクタ
付きソケット１に測定ピン付きソケットカバー２を被着
すると、ソケット側コネクタ部６のコネクタピン７とカ
バー側コネクタ部８のコネクタピン７が接続され、ＰＬ
ＣＣ３の入出力信号が測定ピン４にも出力される。な
お、ＰＬＣＣコネクタ付きソケット１と測定ピン付きコ
ネクタカバー２の係着部１０により測定ピン付きコネク
タカバー２が容易には外れない。
【０００８】次に図２（ａ），（ｂ）は本発明のＰＬＣ
Ｃ測定用ＩＣソケットの組立前，後の状態を示す斜視図
である。図２（ａ）に示すようにソケット側コネクタ部
６へカバー側コネクタ部８を矢印Ａのように挿入するこ
とにより、測定ピン４に出力されるＰＬＣＣ３の入出力
信号を図２（ｂ）に示すように、シンクロスコープ１２
の測定用プローブ１１を測定用ピン４に接続して複数の
現象を同時に測定することができる。
Ｃ測定用ＩＣソケットの組立前，後の状態を示す斜視図
である。図２（ａ）に示すようにソケット側コネクタ部
６へカバー側コネクタ部８を矢印Ａのように挿入するこ
とにより、測定ピン４に出力されるＰＬＣＣ３の入出力
信号を図２（ｂ）に示すように、シンクロスコープ１２
の測定用プローブ１１を測定用ピン４に接続して複数の
現象を同時に測定することができる。
【０００９】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ＰＬＣＣ
用ＩＣソケットに測定ピン付きコネクタカバーを必要に
応じて被着脱できるようにしたので、長時間の信号測定
や複数端子の測定ができ、且つ部品面からの測定もでき
るという効果を有する。
用ＩＣソケットに測定ピン付きコネクタカバーを必要に
応じて被着脱できるようにしたので、長時間の信号測定
や複数端子の測定ができ、且つ部品面からの測定もでき
るという効果を有する。
【図１】本発明のＰＬＣＣ測定用ＩＣソケットの一実施
例を示す断面図である。
例を示す断面図である。
【図２】（ａ），（ｂ）は本発明のＰＬＣＣ測定用ＩＣ
ソケットの組立前，後の状態を示す斜視図である。
ソケットの組立前，後の状態を示す斜視図である。
【図３】（ａ）は従来のＰＬＣＣ用ＩＣソケットの一例
の斜視図、（ｂ）はその基板への取付け状態を示す断面
図である。
の斜視図、（ｂ）はその基板への取付け状態を示す断面
図である。
１ ＰＬＣＣコネクタ付きソケット ２ 測定ピン付きコネクタカバー ３ ＰＬＣＣ ４ 測定ピン ５ ピン受け端子 ６ ソケット側コネクタ部 ７ コネクタピン ８ カバー側コネクタ部 ９ 実装用端子 １０ 係着部 １１ 測定用プローブ １２ シンクロスコープ
Claims (3)
- 【請求項１】 測定ピン付きソケットカバーとの接続用
コネクタを有するＰＬＣＣコネクタ付きＩＣソケット
と、測定器と接続可能な前記測定ピン付きソケットカバ
ーとを備えることを特徴とするＰＬＣＣ測定用ＩＣソケ
ット。 - 【請求項２】 前記測定ピン付きソケットカバーは前記
ＰＬＣＣコネクタ付きＩＣソケットに着脱可能な係着機
構を有することを特徴とする請求項１記載のＰＬＣＣ測
定用ＩＣソケット。 - 【請求項３】 前記ＰＬＣＣコネクタ付きＩＣソケット
はＰＬＣＣのピンと接続された実装用端子を有し、前記
測定ピン付きソケットカバーは前記ＰＬＣＣコネクタ付
きＩＣソケットに被着したとき前記接続用コネクタを介
して前記実装用端子と接続された判定ピンが上面に突出
していることを特徴とする請求項１または２記載のＰＬ
ＣＣ測定用ＩＣソケット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4262192A JPH05242939A (ja) | 1992-02-28 | 1992-02-28 | Ｐｌｃｃ測定用ｉｃソケット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4262192A JPH05242939A (ja) | 1992-02-28 | 1992-02-28 | Ｐｌｃｃ測定用ｉｃソケット |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05242939A true JPH05242939A (ja) | 1993-09-21 |
Family
ID=12641096
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4262192A Withdrawn JPH05242939A (ja) | 1992-02-28 | 1992-02-28 | Ｐｌｃｃ測定用ｉｃソケット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05242939A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100704394B1 (ko) * | 2006-04-12 | 2007-04-09 | 리노공업주식회사 | 양면 사용 칩 테스트 소켓 |
| JP2007121222A (ja) * | 2005-10-31 | 2007-05-17 | Sharp Corp | 半導体チップテストソケット |
-
1992
- 1992-02-28 JP JP4262192A patent/JPH05242939A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007121222A (ja) * | 2005-10-31 | 2007-05-17 | Sharp Corp | 半導体チップテストソケット |
| KR100704394B1 (ko) * | 2006-04-12 | 2007-04-09 | 리노공업주식회사 | 양면 사용 칩 테스트 소켓 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990518 |