JPH05223746A - 透明物体の欠陥検出方法とその装置 - Google Patents

透明物体の欠陥検出方法とその装置

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JPH05223746A
JPH05223746A JP5723092A JP5723092A JPH05223746A JP H05223746 A JPH05223746 A JP H05223746A JP 5723092 A JP5723092 A JP 5723092A JP 5723092 A JP5723092 A JP 5723092A JP H05223746 A JPH05223746 A JP H05223746A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光が大きく屈折する欠陥は勿論のこと、屈折
の小さい薄泡などの欠陥についても、その大小にかかわ
らず精度良くしかも簡単に検出できるようにする。 【構成】 光源からの光を明暗が交互の規則性をもった
識別パターンとして透明物体の検査領域に照射し、その
透過光を、焦点が検査領域の後方に位置するようにした
固体撮像素子カメラ10で撮影し、該カメラの出力の高
低を固体撮像素子9の配列順序に従って検出してその高
低の変化量が急峻な画素数を計数し、その画素数が予め
設定された個数以上存在しているとき欠陥有りと判定す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ガラスびん等の透明体
(半透明体も含む)の欠陥、例えばガラスびんの場合で
はその胴部の肉厚又は表面部に生ずる泡と言われる空洞
や表面の凹部等の有無を、固体撮像素子カメラを使用し
て検出する透明体の欠陥検査方法及び装置に関する。
【0002】
【従来の技術】本出願人は、この種の装置として特開昭
3−163340号公報に記載されているものを既に提
案している。この欠陥検出装置は、びんを回転させる回
転手段と、びんの軸線方向に長い帯状光を発するように
多数の光ファイバを配列しかつ互いの帯状光がびんの胴
部で角度をもって交叉するように配置された一対の投光
手段と、帯状光のびん胴部投射位置へ指向させた固体撮
像素子カメラと、該固体撮像素子カメラとびんとの間に
配置され、びんを透過した屈折・散乱光を通過させるス
リットを固体撮像素子カメラの視野中に有する第1の遮
光部材と、該第1の遮光部材と固体撮像素子カメラとの
間に配置され、第1の遮光部材のスリットを通過してき
た光を通過させるスリットを固体撮像素子カメラの視野
中に有する第2の遮光部材とで構成されている。
【0003】この欠陥検出装置では、一対の光源からの
2条の帯状光はびん胴部で交叉し、びん胴部を2方向か
ら透過する。その際、その透過部分に欠陥がなければ、
2条の帯状光は屈折することなく又は屈折しても極く少
ないため、透過光は第1の遮光部材で遮光される。とこ
ろが、泡などの欠陥があると大きく屈折又は散乱するた
め、第1の遮光部材のスリットを通過する。更に、その
通過光のうち、屈折角度がある所定角度範囲の屈折・散
乱光のみが第2の遮光部材のスリットを通過して固体撮
像素子カメラに入光し、この範囲外の光は第2の遮光部
材で遮光される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、ガラスびん
の胴部に生じて欠陥となる泡には、その発生する部位に
より次の3つのタイプに大別される。 (1) 図4に示すようにガラス内部に生ずる断面円形又は
楕円形の泡。 (2) 図5に示すようにびん外表面に発生し、金型に押し
付けられることで縁の部分が凹んだ泡。 (3) 図6に示すようにびん内表面に発生し、びん内側に
薄い膜を持ち、その膜とガラス壁面の浅い窪みで形成さ
れた泡(いわゆる薄泡)。
【0005】上述した従来の欠陥検出装置は、帯状光の
屈折角度の大小により欠陥の有無を判別するため、その
屈折角度が大きい上記(1) の泡及び(2) の泡については
検出可能であるが、屈折角度が小さい(3) の薄泡は検出
することができない。また、(1) の泡のなかでも、大き
く広がっているものは、ガラス外表面と泡内表面のなす
角度が小さいために屈折角を小さく検出しにくい。
【0006】本発明の目的は、光が大きく屈折する欠陥
は勿論のこと、上記のように屈折の小さい薄泡などの欠
陥についても、すなわちガラスの肉厚が変化する欠陥を
その大小にかかわらず精度良くしかも簡単に検出できる
ようにすることにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明では、光源からの
光を明暗が交互の規則性をもった識別パターンとして透
明物体の検査領域に照射する。そして、その透過光を、
焦点が上記検査領域の後方に位置するようにした固体撮
像素子カメラで撮影し、該カメラの出力の高低を固体撮
像素子の配列順序に従って検出してその高低の変化量が
急峻な画素数を計数し、その画素数が予め設定された個
数以上存在しているとき欠陥有りと判定する。
【0008】
【作用】いま、図1に示すように、複数の横長スリット
5を上下多段に設けたフィルタ4によって光源1からの
光を横縞状の識別パターンとしてガラスびん8に照射す
る場合を想定する。この場合、照射される識別パターン
の光量を連続した一連のアナログ波形にして表すと、同
図に示すように規則的に光量が変化する波形となる。
【0009】固体撮像素子カメラ10の焦点はガラスび
んの検査領域の後方にあるため、ガラスびん8の検査領
域に欠陥がないときは、その検査領域を光はそのまま透
過するため、固体撮像素子カメラ10に撮影される識別
パターンは、規則性は崩れないがピントをずらしている
ことにより明暗差ははっきりしないものとなる。従っ
て、固体撮像素子カメラ10の固体撮像素子群9からの
出力を一連のアナログ波形にして表すと、明暗による高
低の差が緩やかなしかも大きな振幅をもって交互に規則
的に連続したものとなる。
【0010】ところが、ガラスびんの検査面に上記(1)
、(2) 、(3) のような泡Bがあった場合、ガラスの肉
厚はその泡の部分で薄くなり、その薄くなった部分が一
種の凹レンズの作用をすることになるため、明暗交互の
規則性をもった識別パターンは、泡の部分を透過すると
固体撮像素子カメラ10の固体撮像素子9上でピントが
合ったような状態となる。この場合の固体撮像素子群9
からの出力を一連のアナログ波形にして表すと、明暗に
よる高低の差が急峻なしかも小さい振幅で交互に規則的
に連続したものとなる。
【0011】従って、固体撮像素子群9からの出力をデ
ジタル変換してメモリに記憶し、その高低の変化量を強
調するため必要に応じ微分処理した後、その変化量の大
小を固体撮像素子群の配列順序に従って調べ、その変化
量が所定以上に大きくしかもその高低変化が画素数にし
て所定以上存在していたときに、欠陥有り、それ以外の
ときは欠陥無しと判別することができる。
【0012】
【実施例】次に本発明の実施例について詳細に説明す
る。図2は本発明による欠陥検出装置の全体の概要構成
図である。ハロゲンランプ等の光源1からの光は投光器
2から投光され、ミラー3を反射して垂直に設置されて
いる縞フィルタ4に投射される。この縞フィルタ4は、
不透明板に複数の横長のスリット5を上下に一定の間隔
で多段に設けたもので、スリット5のところだけ光が透
過する。この縞フィルタ4の背面には拡散板6が垂直に
設置されており、該拡散板6を透過した光は、ターンテ
ーブル7上で回転される検査対象のガラスびん8に対
し、明暗の横縞による規則性をもった識別パターンにし
て投影される。
【0013】ガラスびん8に投影された識別パターンに
よる光はガラスびん8を透過し、その透過像が、多数の
固体撮像素子9をマトリックス配列している固体撮像素
子カメラ10により撮影される。この固体撮像素子カメ
ラ10は前面に拡大レンズ11を備え、ガラスびん8の
表面の一部分についてだけ検査領域12として透過像を
撮影する。該固体撮像素子カメラ10は、その焦点が検
査領域12より後方、つまりガラスびん8の内部空間中
に位置するように設置されており、ガラスびん8の検査
領域12の表面をそのまま撮影した像は、意図的にピン
トのずれたぼやけた像となるようにしてある。
【0014】従って、検査領域12に泡等の欠陥がなけ
れば、明暗の横縞による識別パターンは明暗の輝度の変
化が緩やかな、つまり輝度差がはっきりしない間延びし
た像として固体撮像素子カメラ10に撮影される。しか
し、検査領域12に例えば泡があれば、その泡の部分で
ガラスの肉厚が薄くなって一種の凹レンズのような作用
をするため、泡の部分を透過した識別パターンは固体撮
像素子カメラ10においてピントが合った状態となり、
明暗の輝度の変化が急峻な、つまり輝度差のはっきりと
したしかも明暗の幅が縦に圧縮された像として撮影され
る。
【0015】固体撮像素子カメラ10の固体撮像素子群
9からの出力は、カメラコントローラ13を通じてイメ
ージ処理ユニット14へ入力され、アナログ/デジタル
変換してメモリに記憶され、明暗による高低の変化量を
強調するため微分処理をされた後、コンピュータ15に
よりデジタルで画像処理される。イメージ処理ユニット
14による微分処理後の画像は、その処理程度を視覚確
認するためモニタCRT16により再生できるようにな
っている。ガラスびん8の泡の部分を透過した識別パタ
ーンの微分処理後の再生画像は例えば図3に示すように
なる。
【0016】コンピュータ15は、イメージ処理ユニッ
ト14で微分処理されたデジタルデータを、固体撮像素
子群9の配列順序に従って比較演算することにより、明
暗による輝度差による高低の変化量が所定以上に大きく
しかもその高低変化が画素数にして所定以上連続してい
たときに、欠陥有り、それ以外のときは欠陥無しと判別
する。
【0017】なお、上記の実施例では識別パターンを横
縞としたが、識別パターンは明暗が交互になるものであ
ればどんなものでも良い。更に、本発明はガラスびんに
生ずる泡以外の欠陥、例えばガラスびんの外表面又は内
表面に生ずる凸状又は凹状の欠陥、合わせ目やセッツル
ラインなどの線状段差となる欠陥などであっても検出で
きる。また、ガラスびんの欠陥の有無に限らず、その他
の透明物体(半透明体を含む)に生ずる上記のような欠
陥の検出にも適用できる。
【0018】
【発明の効果】本発明は、光源からの光を明暗が交互の
規則性をもった識別パターンとして透明物体の検査領域
に照射し、その透過光を、焦点が検査領域の後方に位置
するようにした固体撮像素子カメラで撮影することによ
り、その検査領域に泡等の欠陥があるときは、識別パタ
ーンが明暗の輝度差がはっきりとしたしかも明暗の幅が
縦に圧縮された像となり、欠陥がなければ、明暗の輝度
差がはっきりしない間延びした像となることを利用して
欠陥の有無を判別するため、光が大きく屈折する欠陥は
勿論のこと、屈折の小さい薄泡などの欠陥についても、
その大小にかかわらず精度良くしかも簡単に検出でき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の方法を説明する模式図である。
【図2】本発明による欠陥検出装置の一例の概要構成図
である。
【図3】ガラスびんに泡があった場合の微分処理後の再
生画像である。
【図4】ガラスびんのガラス内部に生じた泡を示す断面
図である。
【図5】ガラスびんの外表面に生じた泡を示す断面図で
ある。
【図6】ガラスびんの内表面に生じた泡を示す断面図で
ある。
【符号の説明】 1 光源 4 縞フィルタ 8 ガラスびん 9 固体撮像素子 10 固体撮像素子カメラ 15 コンピュータ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光源からの光を明暗が交互の規則性をもっ
    た識別パターンとして透明物体の検査領域に照射し、そ
    の透過光を、焦点が上記検査領域の後方に位置するよう
    にした固体撮像素子カメラで撮影し、該カメラの出力の
    高低を固体撮像素子の配列順序に従って検出してその高
    低の変化量が急峻な画素数を計数し、その画素数が予め
    設定された個数以上存在しているとき欠陥有りと判定す
    ることを特徴とする透明物体の欠陥検出方法。
  2. 【請求項2】透明体を回転させる回転手段と、光源と、
    該光源からの光を明暗が交互の規則性をもった識別パタ
    ーンとして透明体の検査領域に照射するため上記回転手
    段と光源との間に配置されたフィルタと、焦点が上記検
    査領域の後方に位置するようにした固体撮像素子カメラ
    と、該カメラの出力の高低を固体撮像素子の配列順序に
    従って検出してその高低の変化量が急峻な画素数を計数
    し、その画素数が予め設定された個数以上存在している
    とき欠陥有りと判定する判別手段とを備えてなることを
    特徴とする透明物体の欠陥検出装置。
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Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08178869A (ja) * 1994-08-19 1996-07-12 Owens Brockway Glass Container Inc 透明容器の点検方法および装置
JPH08178855A (ja) * 1994-12-20 1996-07-12 Asahi Glass Co Ltd 透光性物体あるいは鏡面性物体の検査方法
JP2000162155A (ja) * 1998-11-30 2000-06-16 Kirin Techno System:Kk 壜胴部の欠陥検出方法
FR2794242A1 (fr) * 1999-05-25 2000-12-01 Emhart Glass Sa Machine pour l'inspection de recipients
JP2001004553A (ja) * 1999-05-25 2001-01-12 Emhart Glass Sa 瓶の壁を検査する機械
JP2008076223A (ja) * 2006-09-21 2008-04-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd 円筒状透明体の検査方法とそれに用いる検査装置
JP2009229221A (ja) * 2008-03-21 2009-10-08 Fujifilm Corp 光学デバイス欠陥検査方法及び光学デバイス欠陥検査装置
JP2010014599A (ja) * 2008-07-04 2010-01-21 Asahi Glass Co Ltd 透明管体の外観検査装置及び外観検査システム
CN101825582A (zh) * 2010-05-19 2010-09-08 山东明佳包装检测科技有限公司 一种检测圆柱体透明瓶壁的方法和装置
JP2011167642A (ja) * 2010-02-19 2011-09-01 Npo Hiroshima Junkangata Shakai Suishin Kiko 透明容器の識別方法
WO2017144634A1 (en) * 2016-02-24 2017-08-31 Becton Dickinson France System and method for inspecting a transparent cylinder
US20180156740A1 (en) * 2016-12-07 2018-06-07 Applied Vision Corporation Identifying defects in transparent containers
CN113310993A (zh) * 2021-06-24 2021-08-27 宗子凯 一种透明板材点状缺陷检测***及方法
JP6954484B1 (ja) * 2021-01-20 2021-10-27 オムロン株式会社 検査装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018158824A1 (ja) * 2017-02-28 2018-09-07 東洋ガラス株式会社 容器の検査装置及び容器の検査方法

Cited By (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08178869A (ja) * 1994-08-19 1996-07-12 Owens Brockway Glass Container Inc 透明容器の点検方法および装置
JPH08178855A (ja) * 1994-12-20 1996-07-12 Asahi Glass Co Ltd 透光性物体あるいは鏡面性物体の検査方法
US7781723B1 (en) 1998-02-19 2010-08-24 Emhart Glass S.A. Container inspection machine using light source having spatially cyclically continuously varying intensity
JP2000162155A (ja) * 1998-11-30 2000-06-16 Kirin Techno System:Kk 壜胴部の欠陥検出方法
FR2794242A1 (fr) * 1999-05-25 2000-12-01 Emhart Glass Sa Machine pour l'inspection de recipients
JP2001027616A (ja) * 1999-05-25 2001-01-30 Emhart Glass Sa 瓶の壁を検査する機械
JP2001004553A (ja) * 1999-05-25 2001-01-12 Emhart Glass Sa 瓶の壁を検査する機械
JP4612151B2 (ja) * 1999-05-25 2011-01-12 エムハート・グラス・ソシエテ・アノニム 瓶の壁を検査する機械
JP4700784B2 (ja) * 1999-05-25 2011-06-15 エムハート・グラス・ソシエテ・アノニム 瓶の壁を検査する機械
JP2008076223A (ja) * 2006-09-21 2008-04-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd 円筒状透明体の検査方法とそれに用いる検査装置
JP2009229221A (ja) * 2008-03-21 2009-10-08 Fujifilm Corp 光学デバイス欠陥検査方法及び光学デバイス欠陥検査装置
JP2010014599A (ja) * 2008-07-04 2010-01-21 Asahi Glass Co Ltd 透明管体の外観検査装置及び外観検査システム
JP2011167642A (ja) * 2010-02-19 2011-09-01 Npo Hiroshima Junkangata Shakai Suishin Kiko 透明容器の識別方法
CN101825582A (zh) * 2010-05-19 2010-09-08 山东明佳包装检测科技有限公司 一种检测圆柱体透明瓶壁的方法和装置
WO2017144634A1 (en) * 2016-02-24 2017-08-31 Becton Dickinson France System and method for inspecting a transparent cylinder
JP2019506616A (ja) * 2016-02-24 2019-03-07 ベクトン ディキンソン フランス 透明シリンダを検査するためのシステムおよび方法
US10663409B2 (en) 2016-02-24 2020-05-26 Becton Dickinson France System and method for inspecting a transparent cylinder
US11125699B2 (en) 2016-02-24 2021-09-21 Becton Dickinson France System and method for inspecting a transparent cylinder
US20180156740A1 (en) * 2016-12-07 2018-06-07 Applied Vision Corporation Identifying defects in transparent containers
US10422755B2 (en) * 2016-12-07 2019-09-24 Applied Vision Corporation Identifying defects in transparent containers
JP6954484B1 (ja) * 2021-01-20 2021-10-27 オムロン株式会社 検査装置
JP2022111631A (ja) * 2021-01-20 2022-08-01 オムロン株式会社 検査装置
CN113310993A (zh) * 2021-06-24 2021-08-27 宗子凯 一种透明板材点状缺陷检测***及方法

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JPH0711490B2 (ja) 1995-02-08

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