JP2009229221A - 光学デバイス欠陥検査方法及び光学デバイス欠陥検査装置 - Google Patents
光学デバイス欠陥検査方法及び光学デバイス欠陥検査装置 Download PDFInfo
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Abstract
曲率の違いや光学デバイスの位置に影響されない高速かつ安価な光学デバイス欠陥検査方法及び光学デバイス欠陥検査装置を提供すること。
【解決手段】
撮像手段3の焦点を被検査レンズ2に合わせ、撮像手段3により撮像される被検査レンズ2画像内のドットパターン8の濃度差が無くなる位置まで光源5を被検査レンズ2より移動させ、濃度差の無い画像内に生じる画像の歪み11により被検査レンズ2の欠陥を検出する。
【選択図】図1
Description
Claims (5)
- 遮光部と透光部とにより形成されるパターンを備えた光源装置より前記パターンを透過させて光学デバイスの一方の面へ光を照射し、前記光学デバイスの光が照射される面の反対側の面より前記光学デバイスを撮像手段で撮像することにより前記光学デバイスの欠陥を検査する光学デバイス欠陥検査方法において、
前記撮像手段の焦点を前記光学デバイスに合わせ、該撮像手段により撮像される前記光学デバイスの画像内の前記遮光部と前記透光部との濃度差が無くなる位置まで前記光源装置を移動させ、濃度差の無い前記画像内に生じる該画像の歪みにより該光学デバイスの欠陥を検出することを特徴とする光学デバイス欠陥検査方法。 - 前記光学デバイスは単一の非球面凸レンズであることを特徴とする請求項1に記載の光学デバイス欠陥検査方法。
- 前記パターンはドットパターンであることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の光学デバイス欠陥検査方法。
- 前記撮像手段は前記光学デバイスに焦点を合わせた後、該光学デバイスの軸方向又は軸方向に対して直交する方向であって該光学デバイスの近傍に焦点位置を移動させてから該光学デバイスを撮像することを特徴とする請求項1、2、または3のいずれか1項に記載の光学デバイス欠陥検査方法。
- 光学デバイスを一方から撮像する撮像手段と、
遮光部と透光部とにより形成されるパターンを備え、前記撮像手段が前記光学デバイスを撮像する面の反対側の面から前記パターンを透過させて該光学デバイスへ光を照射する光源装置と、
前記撮像手段と前記光源装置との間に位置し、前記光学デバイスが載置されるトレイと、
前記光源装置を移動させる移動手段と、
前記撮像手段により撮像された画像を表示する表示手段が設けられた制御手段と、を備え、
前記光学デバイスに焦点を合わせた前記撮像手段より撮像され、前記表示手段に表示された該光学デバイスの画像内の前記遮光部と前記透光部との濃度差が無くなる位置まで前記光源装置を移動させ、濃度差の無い前記画像内に生じる該画像の歪みにより該光学デバイスの欠陥を検出する光学デバイス欠陥検査装置。
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