JPH05128766A - 磁気デイスクのサーボ信号設定方式 - Google Patents
磁気デイスクのサーボ信号設定方式Info
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- JPH05128766A JPH05128766A JP31162791A JP31162791A JPH05128766A JP H05128766 A JPH05128766 A JP H05128766A JP 31162791 A JP31162791 A JP 31162791A JP 31162791 A JP31162791 A JP 31162791A JP H05128766 A JPH05128766 A JP H05128766A
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 ヘッド・ディスク・アッセンブリＨＤＡの磁
気ディスクに対して、サーボライターでＨＤＡに設けら
れた内、外周ストッパ間にサーボ信号を設定する。 【構成】 バイアス電流でＨＤＡの内部キャリッジ機構
を駆動し、回動片41を内周又は外周ストッパ42a ，42b
の一方に接触させ、ヘッド31でテスト信号の書込み、サ
ーボライターの外部キャリッジ機構５を動作して駆動ア
ーム52の誘導ピン53でヘッドをシーク移動してテスト信
号を読出し、その電圧が正常値よりやや低下した位置に
おける駆動アームの駆動位置をレーザ測長器54により測
定し、測定値を一方のストッパの位置データとしてメモ
リ62に記憶する。内部キャリッジ機構の移動中に駆動ア
ームの駆動位置をレーザ測長器で測定し、一定値に安定
した測定値を他方のストッパの位置データとしてメモリ
に記憶する。メモリに記憶された両位置データを参照し
て、内、外周ストッパ42a ，42b の間にサーボ信号を設
定する。
気ディスクに対して、サーボライターでＨＤＡに設けら
れた内、外周ストッパ間にサーボ信号を設定する。 【構成】 バイアス電流でＨＤＡの内部キャリッジ機構
を駆動し、回動片41を内周又は外周ストッパ42a ，42b
の一方に接触させ、ヘッド31でテスト信号の書込み、サ
ーボライターの外部キャリッジ機構５を動作して駆動ア
ーム52の誘導ピン53でヘッドをシーク移動してテスト信
号を読出し、その電圧が正常値よりやや低下した位置に
おける駆動アームの駆動位置をレーザ測長器54により測
定し、測定値を一方のストッパの位置データとしてメモ
リ62に記憶する。内部キャリッジ機構の移動中に駆動ア
ームの駆動位置をレーザ測長器で測定し、一定値に安定
した測定値を他方のストッパの位置データとしてメモリ
に記憶する。メモリに記憶された両位置データを参照し
て、内、外周ストッパ42a ，42b の間にサーボ信号を設
定する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ヘッド・ディスク・
アッセンブリの磁気ディスクに対してサーボライターに
よりサーボ信号を設定する方式に関するものである。
アッセンブリの磁気ディスクに対してサーボライターに
よりサーボ信号を設定する方式に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図３はヘッド・ディスク・アッセンブリ
（ＨＤＡ）１０の構成を示す。図において、複数枚（図
では４枚とする）のハード磁気ディスク（以下単にディ
スクという）１が、回転機構２のスピンドル21に積層さ
れて装着され駆動モータ22により回転する。これに対し
て、各ディスクの両面に対する複数の磁気ヘッド（以下
単にヘッドという）31がそれぞれのヘッドアーム32によ
り支持棒33に共通に支持されてヘッド・アッセンブリ３
が構成される。支持棒は内部キャリッジ機構４により回
転し、各ヘッドがディスクの円周１b と１c のシーク範
囲をシーク移動し、データの書込み／読出しがなされ
る。キャリッジ機構４はＶＣＭ143 により駆動されて支
持棒を回転する回動片41と、回動片の両端が接触して、
ヘッドがディスクの外周と内周の外側に逸脱するのを防
止する内周ストッパ42a および外周ストッパ42b とより
なる。なお、各ストッパは回動片の接触によるヘッドア
ームの無用な振動を吸収するために、ゴム製のものが使
用される。さて、ＨＤＡの各ディスク１にはデータの書
込み／読出しのために必要なサーボ信号が、サーボライ
ターにより予め設定される。この設定においては、通
常、ヘッド31のシーク移動のために内部キャリッジ機構
４のＶＣＭ143 を使用せず、外部に設けた外部キャリッ
ジ機構により、ヘッドアーム32を駆動する方法がとられ
ている。
（ＨＤＡ）１０の構成を示す。図において、複数枚（図
では４枚とする）のハード磁気ディスク（以下単にディ
スクという）１が、回転機構２のスピンドル21に積層さ
れて装着され駆動モータ22により回転する。これに対し
て、各ディスクの両面に対する複数の磁気ヘッド（以下
単にヘッドという）31がそれぞれのヘッドアーム32によ
り支持棒33に共通に支持されてヘッド・アッセンブリ３
が構成される。支持棒は内部キャリッジ機構４により回
転し、各ヘッドがディスクの円周１b と１c のシーク範
囲をシーク移動し、データの書込み／読出しがなされ
る。キャリッジ機構４はＶＣＭ143 により駆動されて支
持棒を回転する回動片41と、回動片の両端が接触して、
ヘッドがディスクの外周と内周の外側に逸脱するのを防
止する内周ストッパ42a および外周ストッパ42b とより
なる。なお、各ストッパは回動片の接触によるヘッドア
ームの無用な振動を吸収するために、ゴム製のものが使
用される。さて、ＨＤＡの各ディスク１にはデータの書
込み／読出しのために必要なサーボ信号が、サーボライ
ターにより予め設定される。この設定においては、通
常、ヘッド31のシーク移動のために内部キャリッジ機構
４のＶＣＭ143 を使用せず、外部に設けた外部キャリッ
ジ機構により、ヘッドアーム32を駆動する方法がとられ
ている。
【０００３】図４(a) はＨＤＡ１０に対する外部キャリ
ッジ機構５の構成図で、(b) は外部キャリッジ機構を有
するサーボライター６の基本構成図を示す。図(a),(b)
によりディスク１に対するサーボ信号の書込み方法を説
明する。マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）61により、メモ
リ62に記憶されているヘッド31の位置データが外部キャ
リッジ制御回路63に与えられ、その制御電流が外部キャ
リッジ機構５のＶＣＭ251 に供給され、駆動アーム52に
設けられた誘導ピン53がヘッドアーム32を駆動してシー
ク移動させる。駆動アーム52にはミラー541 を設けてそ
の位置をレーザ測長器54により測定し、ヘッドのシーク
位置が確認される。一方、サーボ信号部64より出力され
るサーボ信号が、Ｒ／Ｗ制御回路65を経て内周側の円周
１c と外周側の円周１b の間のトラックに書込みされ、
さらにこれを読出してチェックされる。以上において注
意すべきことは、誘導ピン53はヘッドアーム32の片側に
接触して駆動するもので、その反対方向には駆動できな
いことであり、ヘッドアームに対する誘導ピンの位置は
ＨＤＡの機種などにより異なるものである。
ッジ機構５の構成図で、(b) は外部キャリッジ機構を有
するサーボライター６の基本構成図を示す。図(a),(b)
によりディスク１に対するサーボ信号の書込み方法を説
明する。マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）61により、メモ
リ62に記憶されているヘッド31の位置データが外部キャ
リッジ制御回路63に与えられ、その制御電流が外部キャ
リッジ機構５のＶＣＭ251 に供給され、駆動アーム52に
設けられた誘導ピン53がヘッドアーム32を駆動してシー
ク移動させる。駆動アーム52にはミラー541 を設けてそ
の位置をレーザ測長器54により測定し、ヘッドのシーク
位置が確認される。一方、サーボ信号部64より出力され
るサーボ信号が、Ｒ／Ｗ制御回路65を経て内周側の円周
１c と外周側の円周１b の間のトラックに書込みされ、
さらにこれを読出してチェックされる。以上において注
意すべきことは、誘導ピン53はヘッドアーム32の片側に
接触して駆動するもので、その反対方向には駆動できな
いことであり、ヘッドアームに対する誘導ピンの位置は
ＨＤＡの機種などにより異なるものである。
【０００４】ここで、内周ストッパ42a および外周スト
ッパ42b の取り付け位置とデータの記録範囲について図
５により説明する。図５において、各ストッパ42a,42b
はＨＤＡ１０の組み立て工程の都合上、予め所定の位置
に取り付けられる場合が多い。ただし取り付け位置には
バラツキがあるので、その最大値を考慮し、両ストッパ
に対して余裕領域Δｒi,Δｒj をもって円周１b と１c
を定め、これらの間にサーボ信号を設定してデータの記
録範囲とされている。
ッパ42b の取り付け位置とデータの記録範囲について図
５により説明する。図５において、各ストッパ42a,42b
はＨＤＡ１０の組み立て工程の都合上、予め所定の位置
に取り付けられる場合が多い。ただし取り付け位置には
バラツキがあるので、その最大値を考慮し、両ストッパ
に対して余裕領域Δｒi,Δｒj をもって円周１b と１c
を定め、これらの間にサーボ信号を設定してデータの記
録範囲とされている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】図５における余裕領域
Δｒi,Δｒj は、単に両ストッパ42a,42b の位置のバラ
ツキのためにやむをえず設けられた、いわば無駄なもの
である。そこで可能なればこの領域もデータの記録に使
用して、ディスクの記録容量を増加することが望まし
い。このためには、ＨＤＡに両ストッパの位置を検出す
る検出器を付加し、検出した位置データをメモリに記憶
し、その範囲にサーボ信号を設定すればよい。しかし、
このような検出器はＨＤＡの稼働には不要であって付加
することは好ましくない。そこで、サーボライター側で
各ストッパの位置を測定することが必要となる。この場
合、回動片41を各ストッパに接触させることが必要であ
るが、前記の注意のように、外部キャリッジ機構は内部
キャリッジ機構を一方向にのみ駆動するので、反対方向
には内部キャリッジ機構自身で移動することが必要であ
る。この発明は上記に鑑みてなされたもので、サーボラ
イター６に両ストッパの位置を測定する手段を設け、測
定値を参照して両ストッパの間にサーボ信号を設定する
方式を提供することを目的とするものである。
Δｒi,Δｒj は、単に両ストッパ42a,42b の位置のバラ
ツキのためにやむをえず設けられた、いわば無駄なもの
である。そこで可能なればこの領域もデータの記録に使
用して、ディスクの記録容量を増加することが望まし
い。このためには、ＨＤＡに両ストッパの位置を検出す
る検出器を付加し、検出した位置データをメモリに記憶
し、その範囲にサーボ信号を設定すればよい。しかし、
このような検出器はＨＤＡの稼働には不要であって付加
することは好ましくない。そこで、サーボライター側で
各ストッパの位置を測定することが必要となる。この場
合、回動片41を各ストッパに接触させることが必要であ
るが、前記の注意のように、外部キャリッジ機構は内部
キャリッジ機構を一方向にのみ駆動するので、反対方向
には内部キャリッジ機構自身で移動することが必要であ
る。この発明は上記に鑑みてなされたもので、サーボラ
イター６に両ストッパの位置を測定する手段を設け、測
定値を参照して両ストッパの間にサーボ信号を設定する
方式を提供することを目的とするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明は上記の目的を
達成するサーボ信号設定方式であって、バイアス電流に
より内部キャリッジ機構を駆動して内周ストッパまたは
外周ストッパの一方のストッパに接触させ、ヘッドによ
りテスト信号の書込みを行う。これに対して、外部キャ
リッジ機構の動作によりヘッドをシーク移動してテスト
信号の読出しを行い、読出し電圧が正常値よりやや低下
した位置における駆動アームの駆動位置をレーザ測長器
により測定し、測定値を一方のストッパの位置データと
してメモリに記憶する。次に、外部キャリッジ機構に一
定電流を供給して内部キャリッジ機構を移動して他方の
ストッパに接触させる。移動中に駆動アームの駆動位置
をレーザ測長器により測定し、一定値に安定した測定値
を他方のストッパの位置データとしてメモリに記憶す
る。メモリに記憶された両位置データを参照して、内周
ストッパと外周ストッパの間にサーボ信号を設定するも
のである。
達成するサーボ信号設定方式であって、バイアス電流に
より内部キャリッジ機構を駆動して内周ストッパまたは
外周ストッパの一方のストッパに接触させ、ヘッドによ
りテスト信号の書込みを行う。これに対して、外部キャ
リッジ機構の動作によりヘッドをシーク移動してテスト
信号の読出しを行い、読出し電圧が正常値よりやや低下
した位置における駆動アームの駆動位置をレーザ測長器
により測定し、測定値を一方のストッパの位置データと
してメモリに記憶する。次に、外部キャリッジ機構に一
定電流を供給して内部キャリッジ機構を移動して他方の
ストッパに接触させる。移動中に駆動アームの駆動位置
をレーザ測長器により測定し、一定値に安定した測定値
を他方のストッパの位置データとしてメモリに記憶す
る。メモリに記憶された両位置データを参照して、内周
ストッパと外周ストッパの間にサーボ信号を設定するも
のである。
【０００７】
【作用】上記のサーボ信号設定方式においては、まず、
バイアス電流により内部キャリッジ機構を一方のストッ
パに接触させ、接触した状態でヘッドによりテスト信号
を書込む。外周キャリッジ機構の動作によりヘッドをシ
ーク移動してテスト信号を読出すと、読出し電圧は内部
キャリッジ機構がストッパに接触した位置では正常であ
るが、接触位置を離れるに従って低下する。読出し電圧
が正常値よりやや低下した位置における駆動アームの駆
動位置をレーザ測長器により測定する。この測定値は接
触位置、すなわち一方のストッパの位置に対応するの
で、これを位置データとしてメモリに記憶する。次に、
外部キャリッジ機構に一定電流を供給し、内部キャリッ
ジ機構を移動して他方のストッパに接触させ、移動中の
駆動アームの位置をレーザ測長器により測定すると、測
定値は駆動アームの移動中は変化するが、ストッパに接
触するとストッパのゴムの弾性により駆動アームは僅か
に振動した後、停止して一定値に安定する。この安定し
た測定値を他方のストッパの位置データとしてメモリに
記憶する。メモリに記憶された両位置データを参照し
て、両ストッパの間にサーボ信号が設定される。
バイアス電流により内部キャリッジ機構を一方のストッ
パに接触させ、接触した状態でヘッドによりテスト信号
を書込む。外周キャリッジ機構の動作によりヘッドをシ
ーク移動してテスト信号を読出すと、読出し電圧は内部
キャリッジ機構がストッパに接触した位置では正常であ
るが、接触位置を離れるに従って低下する。読出し電圧
が正常値よりやや低下した位置における駆動アームの駆
動位置をレーザ測長器により測定する。この測定値は接
触位置、すなわち一方のストッパの位置に対応するの
で、これを位置データとしてメモリに記憶する。次に、
外部キャリッジ機構に一定電流を供給し、内部キャリッ
ジ機構を移動して他方のストッパに接触させ、移動中の
駆動アームの位置をレーザ測長器により測定すると、測
定値は駆動アームの移動中は変化するが、ストッパに接
触するとストッパのゴムの弾性により駆動アームは僅か
に振動した後、停止して一定値に安定する。この安定し
た測定値を他方のストッパの位置データとしてメモリに
記憶する。メモリに記憶された両位置データを参照し
て、両ストッパの間にサーボ信号が設定される。
【０００８】
【実施例】図１はこの発明の一実施例を示す。(a) はＨ
ＤＡ１０に対するサーボライターの構成を示し、サーボ
ライター６は前記した図４(b) の構成に対して、内部キ
ャリッジ機構４のＶＣＭ143 にバイアス電流を供給する
バイアス電流発生回路66と、テスト信号を発生するテス
ト信号発生回路67、およびトラックの１周に対するテス
ト信号の平均値を算出する平均値回路68を付加して構成
される。なお、この実施例においては、テスト信号の書
込み/ 読出しはトラックの１周について行い、その読出
し電圧はトラックの１周の平均値をとるものとする。次
に(b) はＨＤＡのヘッドアーム32、内部キャリッジ機構
４の回動片41、両ストッパ42a,42b 、および外部キャリ
ッジ機構５の誘導ピン53の位置関係を示す。図２は図１
に対するサーボ信号の設定手順のフローチャートであ
る。
ＤＡ１０に対するサーボライターの構成を示し、サーボ
ライター６は前記した図４(b) の構成に対して、内部キ
ャリッジ機構４のＶＣＭ143 にバイアス電流を供給する
バイアス電流発生回路66と、テスト信号を発生するテス
ト信号発生回路67、およびトラックの１周に対するテス
ト信号の平均値を算出する平均値回路68を付加して構成
される。なお、この実施例においては、テスト信号の書
込み/ 読出しはトラックの１周について行い、その読出
し電圧はトラックの１周の平均値をとるものとする。次
に(b) はＨＤＡのヘッドアーム32、内部キャリッジ機構
４の回動片41、両ストッパ42a,42b 、および外部キャリ
ッジ機構５の誘導ピン53の位置関係を示す。図２は図１
に対するサーボ信号の設定手順のフローチャートであ
る。
【０００９】図１と図２により上記の構成による各部の
動作を説明する。ここで仮に、内部キャリッジ機構４に
対する外部キャリッジ機構５の駆動方向を内周から外周
方向とする。まず内周ストッパ42a の位置を測定する。
ＭＰＵ61の指令により、外部キャリッジ制御回路63より
制御電流が出力され、ＶＣＭ251 に入力して誘導ピン53
を、図２(a) に示す動作範囲外に停止し（フローチャー
トのステップ番号）、ついで、バイアス電流発生回路
66よりのバイアス電流をＶＣＭ143 に供給して回動片41
を内周ストッパ42a に接触させる。これに対して、テ
スト信号発生回路67よりのテスト信号をＲ／Ｗ制御回路
65を経てヘッド31に供給し、トラックの１周に対してテ
スト信号の書込み／読出しを行って、トラックの１周に
対する平均値Ｖm を算出する。ついで、外部キャリッ
ジ機構を動作してヘッド31を外周方向に逐次にシーク移
動し、各トラックの１周に対するテスト信号の読出し
と、それぞれに対する平均値Ｖの算出を行い、平均値Ｖ
が平均値Ｖm より低下し始める位置で外部キャリッジ機
構の動作を停止する。駆動アーム52の停止位置をレー
ザ測長器54により測定し、測定値を内周ストッパ42a の
位置データとしてメモリ62に記憶する。次に外周スト
ッパ42b の位置を測定する。外部キャリッジ機構を動作
して回動片41を回動し、外周ストッパ42b の手前でひと
まず停止する。ついでＶＣＭ251 に一定電流を供給し
て回動片41を外周ストッパ42b に接触させ、この間に移
動する駆動アーム52の位置をレーザ測長器により測定す
る。測定値は駆動アームが移動中は変化するが、接触
位置では駆動アームが停止するので一定値に安定する。
この場合、各ストッパはゴム製のため回動片41が接触し
たときいくらか振動して測定値が変動するので、この変
動が止まるまで若干の間をおいて測定値を安定化する。
安定した測定値を外周ストッパの位置データとしてメモ
リに記憶する。以上により、メモリに記憶された両ス
トッパの位置データを参照して、内周ストッパと外周ス
トッパの間にサーボ信号が設定される。以上において
は、外部キャリッジ機構５による内部キャリッジ機構４
の駆動方向を内周から外周方向としたが、駆動方向がこ
れと反対の場合は上記の内周ストッパと外周ストッパを
入れ替えることにより、両ストッパの位置がそれぞれ測
定される。
動作を説明する。ここで仮に、内部キャリッジ機構４に
対する外部キャリッジ機構５の駆動方向を内周から外周
方向とする。まず内周ストッパ42a の位置を測定する。
ＭＰＵ61の指令により、外部キャリッジ制御回路63より
制御電流が出力され、ＶＣＭ251 に入力して誘導ピン53
を、図２(a) に示す動作範囲外に停止し（フローチャー
トのステップ番号）、ついで、バイアス電流発生回路
66よりのバイアス電流をＶＣＭ143 に供給して回動片41
を内周ストッパ42a に接触させる。これに対して、テ
スト信号発生回路67よりのテスト信号をＲ／Ｗ制御回路
65を経てヘッド31に供給し、トラックの１周に対してテ
スト信号の書込み／読出しを行って、トラックの１周に
対する平均値Ｖm を算出する。ついで、外部キャリッ
ジ機構を動作してヘッド31を外周方向に逐次にシーク移
動し、各トラックの１周に対するテスト信号の読出し
と、それぞれに対する平均値Ｖの算出を行い、平均値Ｖ
が平均値Ｖm より低下し始める位置で外部キャリッジ機
構の動作を停止する。駆動アーム52の停止位置をレー
ザ測長器54により測定し、測定値を内周ストッパ42a の
位置データとしてメモリ62に記憶する。次に外周スト
ッパ42b の位置を測定する。外部キャリッジ機構を動作
して回動片41を回動し、外周ストッパ42b の手前でひと
まず停止する。ついでＶＣＭ251 に一定電流を供給し
て回動片41を外周ストッパ42b に接触させ、この間に移
動する駆動アーム52の位置をレーザ測長器により測定す
る。測定値は駆動アームが移動中は変化するが、接触
位置では駆動アームが停止するので一定値に安定する。
この場合、各ストッパはゴム製のため回動片41が接触し
たときいくらか振動して測定値が変動するので、この変
動が止まるまで若干の間をおいて測定値を安定化する。
安定した測定値を外周ストッパの位置データとしてメモ
リに記憶する。以上により、メモリに記憶された両ス
トッパの位置データを参照して、内周ストッパと外周ス
トッパの間にサーボ信号が設定される。以上において
は、外部キャリッジ機構５による内部キャリッジ機構４
の駆動方向を内周から外周方向としたが、駆動方向がこ
れと反対の場合は上記の内周ストッパと外周ストッパを
入れ替えることにより、両ストッパの位置がそれぞれ測
定される。
【００１０】
【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明によるサ
ーボ信号設定方式においては、内周ストッパと外周スト
ッパの位置がレーザ測長器などにより測定され、メモリ
に記憶された両ストッパの位置データを参照して、両ス
トッパの間にサーボ信号が設定されるもので、従来使用
されていない両ストッパの近傍の余裕領域が有効に使用
され、磁気ディスクの記録容量の増加に大きく寄与する
ものである。
ーボ信号設定方式においては、内周ストッパと外周スト
ッパの位置がレーザ測長器などにより測定され、メモリ
に記憶された両ストッパの位置データを参照して、両ス
トッパの間にサーボ信号が設定されるもので、従来使用
されていない両ストッパの近傍の余裕領域が有効に使用
され、磁気ディスクの記録容量の増加に大きく寄与する
ものである。
【図１】 この発明の一実施例を示し、(a) はヘッド・
ディスク・アッセンブリ（ＨＤＡ）に対するサーボライ
ターの構成図、(b) はＨＤＡと、外部キャリッジ機構の
それぞれの要部の位置関係を示す図である。
ディスク・アッセンブリ（ＨＤＡ）に対するサーボライ
ターの構成図、(b) はＨＤＡと、外部キャリッジ機構の
それぞれの要部の位置関係を示す図である。
【図２】 図１に対するサーボ信号設定手順を示すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【図３】 ＨＤＡの構成図を示す。
【図４】 (a) はＨＤＡに対する外部キャリッジ機構の
概要構成図、(b) は外部キャリッジ機構を有するサーボ
ライターの基本構成と、サーボ信号の従来の設定方法の
説明図である。
概要構成図、(b) は外部キャリッジ機構を有するサーボ
ライターの基本構成と、サーボ信号の従来の設定方法の
説明図である。
【図５】 磁気ヘッドのシーク範囲に対するディスクの
余裕領域の説明図である。
余裕領域の説明図である。
１…ハード磁気ディスク、またはディスク、１a …外周
エッジ、１d …内周エッジ、１b,１c …円周、２…回転
機構、21…スピンドル、22…駆動モータ、３…ヘッド・
アッセンブリ、31…磁気ヘッド、またはヘッド、32…ヘ
ッドアーム、33…支持棒、４…内部キャリッジ機構、41
…回動片、42a …内周ストッパ、42b…外周ストッパ、4
3…ＶＣＭ1 、５…外部キャリッジ機構、51…ＶＣＭ
2 、52…駆動アーム、541 …ミラー、53…誘導ピン、54
…レーザ測長器、６…サーボライター、61…マイクロプ
ロセッサ（ＭＰＵ）、62…メモリ（ＭＥＭ）、63…外部
キャリッジ制御回路、64…サーボ信号部、65…Ｒ／Ｗ制
御回路、66…バイアス電流発生回路、67…テスト信号発
生回路、68…平均値回路、１０…ヘッド・ディスク・ア
ッセンブリ（ＨＤＡ）、〜…フローチャートのステ
ップ番号。
エッジ、１d …内周エッジ、１b,１c …円周、２…回転
機構、21…スピンドル、22…駆動モータ、３…ヘッド・
アッセンブリ、31…磁気ヘッド、またはヘッド、32…ヘ
ッドアーム、33…支持棒、４…内部キャリッジ機構、41
…回動片、42a …内周ストッパ、42b…外周ストッパ、4
3…ＶＣＭ1 、５…外部キャリッジ機構、51…ＶＣＭ
2 、52…駆動アーム、541 …ミラー、53…誘導ピン、54
…レーザ測長器、６…サーボライター、61…マイクロプ
ロセッサ（ＭＰＵ）、62…メモリ（ＭＥＭ）、63…外部
キャリッジ制御回路、64…サーボ信号部、65…Ｒ／Ｗ制
御回路、66…バイアス電流発生回路、67…テスト信号発
生回路、68…平均値回路、１０…ヘッド・ディスク・ア
ッセンブリ（ＨＤＡ）、〜…フローチャートのステ
ップ番号。
Claims (1)
- 【請求項１】 磁気ディスクと、先端に磁気ヘッドが取
り付けられたヘッドアームと、該磁気ヘッドをシーク移
動する内部キャリッジ機構、および該内部キャリッジ機
構の移動範囲を制限する内周ストッパと外周ストッパを
有するヘッド・ディスク・アッセンブリに対して、該ヘ
ッドアームを駆動する駆動アームを有する外部キャリッ
ジ機構と、該駆動アームの位置を測定するレーザ測長器
を有するサーボライターによるサーボ信号の設定におい
て、バイアス電流により前記内部キャリッジ機構を駆動
し、前記内周ストッパまたは外周ストッパの一方のスト
ッパに接触させて前記磁気ヘッドによりテスト信号の書
込みを行い、前記外部キャリッジ機構の動作により前記
磁気ヘッドをシーク移動して該テスト信号の読出しを行
い、読出し電圧が正常値よりやや低下した位置における
前記駆動アームの位置を前記レーザ測長器により測定
し、該測定値を前記一方のストッパの位置データとして
メモリに記憶し、ついで、前記外部キャリッジ機構に一
定電流を供給し、前記内部キャリッジ機構を移動して他
方のストッパに接触させ、該移動中に駆動アームの位置
をレーザ測長器により測定し、一定値に安定した該測定
値を他方のストッパの位置データとして前記メモリに記
憶し、前記メモリに記憶された両位置データを参照し
て、前記内周ストッパと外周ストッパの間に前記サーボ
信号を設定することを特徴とする、磁気ディスクのサー
ボ信号設定方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31162791A JPH05128766A (ja) | 1991-10-30 | 1991-10-30 | 磁気デイスクのサーボ信号設定方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31162791A JPH05128766A (ja) | 1991-10-30 | 1991-10-30 | 磁気デイスクのサーボ信号設定方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05128766A true JPH05128766A (ja) | 1993-05-25 |
Family
ID=18019541
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31162791A Pending JPH05128766A (ja) | 1991-10-30 | 1991-10-30 | 磁気デイスクのサーボ信号設定方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05128766A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0778433A (ja) * | 1993-09-10 | 1995-03-20 | Nec Corp | サーボトラックライタ |
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-
1991
- 1991-10-30 JP JP31162791A patent/JPH05128766A/ja active Pending
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