JPH0481552B2 - - Google Patents

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JPH0481552B2
JPH0481552B2 JP61264718A JP26471886A JPH0481552B2 JP H0481552 B2 JPH0481552 B2 JP H0481552B2 JP 61264718 A JP61264718 A JP 61264718A JP 26471886 A JP26471886 A JP 26471886A JP H0481552 B2 JPH0481552 B2 JP H0481552B2
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JP
Japan
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phase synthesis
diamond
substrate
carbon
vapor phase
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JP61264718A
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JPS63117993A (ja
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Koji Kobashi
Kozo Nishimura
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Kobe Steel Ltd
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Kobe Steel Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はダイヤモンドの気相合成法に関し、詳
細にはダイヤモンド粒子や薄膜を安価に得ること
のできる気相合成法に関するものである。
[従来の技術] ダイヤモンドは、高硬度であることを利用して
古くは切削工具用途を中心に広く使用されてき
た。一方近年では、熱伝導度が大きいこと、不純
物ドーピングにより半導体として利用可能性があ
ること等に着目され、前者の特性を利用するもの
としてIC(集積回路)基板のヒートシンク(冷却
用放熱器)への適用が検討され、また後者の特性
を利用するものとして半導体素子等の電子技術分
野にも応用されるに至り、ダイヤモンドを形成す
る為の技術が急速に開発されつつある。
ダイヤモンドの合成法としては、黒鉛を炭素原
料とし、Ni,Cr,Mn等を触媒として4〜7万気
圧、1000〜2000℃の高温・高圧で行なう高圧法が
知られているが、その他気体状炭化水素を炭素原
料として低圧条件下で行なう気相合成法も開発さ
れている。気相合成法によるダイヤモンドの合成
は、高圧法と比べてダイヤモンドの結晶が小さく
なるという欠点が従来より指摘されてきたが、上
述した様な電子技術分野への応用が進められる
と、却つて薄膜の形成が容易であるという利点が
着目され、有用な技術であると位置付けられてい
る。
第2図は従来の気相合成装置の一例を示す概略
説明図である。当該装置はマイクロ波を応用した
技術であり、その概略は下記の如くである。
2図において、マグネトロン発振機1から発振
されたマイクロ波(2.45GHz)は、アイソレータ
2、パワーモニタ3、チユーナ4及び導波管5を
この記載順序で導かれ、前記導波管5を貫通して
設けられる石英製の反応管6内に設置された基板
7に照射される。前記基板7としてはTa,Co,
W,Mo等の金属材料が用いられる場合もある
が、一般的にはSiウエハが用いられ、該基板7は
石英製の支持台9によつて所定位置に配置されて
いる。そして反応管6内には反応管入口11側か
ら、H2ガスとCH4ガスを所定割合に混合(例え
ばCH41%−H299%)した混合ガスが約
100SCCM(Standard Cubic Centimeters per
Minute)の流量で導入される。導入された混合
ガスは排気口13側から所定量吸引排気され、反
応管6内は予め定めた圧力(例えば40〜50Torr)
とされる。
この様にして混合ガスが供給された反応管6内
にマイクロ波の様な振動電波(約300W)が導入
されると、高エネルギー電子によつて混合ガス成
分分子が原子・イオン・ラジカルに分解され、反
応管6内には定常的なプラズマが発生する。前記
基板7はプラズマ発生領域14に配置されてお
り、当該基板7上には混合ガス中の炭素を原料と
してダイヤモンド結晶が析出する。そして基板7
の種類や処理条件に応じて微結晶又は薄膜等の様
に異なつた形態のダイヤモンドが得られる。
第2図に示したダイヤモンド気相合成装置にお
いて、例えば基板としてSiウエハを用いた場合に
は、上述した処理条件で基板温度が約850℃とな
り、基板7上に約0.3μm/時間の成長速度で結晶
性ダイヤモンドが析出する。尚第2図中の参照符
号1はプランジヤーであり、基板7が正確にプラ
ズマ発生領域14の中央に位置する様にマイクロ
波の反射を調整する為のものである。又参照符号
20で示されている部材はアプリケーターであ
り、冷却水を供給管21から供給しつつ排出管2
2から排出して反応管6が過度に加熱されるのを
防ぐ機能を果たす。
[発明が解決しようとする問題点] 第2図に示した気相合成装置における炭素原料
としては、上述したメタン(CH4)の他、アセチ
レン、エチレン、エタン、ベンゼン等の様な気体
状炭化水素が一般的に用いられていた。
しかしながらこれらの気体状炭化水素を炭素原
料として用いた場合には、炭素濃度の制御が比較
的容易であるという点で好ましい結果を得ること
ができるが、次の様な欠点があることも事実であ
る。即ち上述した様な気体状炭化水素を炭素原料
として用いた場合には、これらの炭化水素は比
較的高価である、炭化水素を供給する為の設備
(図示していない)を反応装置に付加する必要が
あり、流量制御用配管やバルブ等の装置価格が高
価となる、ダイヤモンドの気相合成の開始・終
了時に、炭化水素が供給される配管内を不活性ガ
スで置換する手間が必要である、等の問題点があ
つた。
本発明はこれらの問題点を解決する為になされ
たものであつて、その目的とするところは、ダイ
ヤモンドを安価に合成し得ると共に、合成装置を
比較的簡単な構成にし得る様な気相合成法を提供
することにある。
[問題点を解決する為の手段] 上記目的を達成し得た本発明とは、ダイヤモン
ドの気相合成に当たり、炭素原料として固体炭素
を用い、該固体炭素を水素プラズマ雰囲気中で高
温に保ちつつ気相合成を行なう点に要旨を有する
ダイヤモンドの気相合成法である。
[作用] 本発明は上述の如く構成されるが、要は炭素原
料としてCH4ガスその他の気体状炭化水素を用い
る代りに、固体炭素を用いる点に最大の特徴を有
するものである。用いる固体炭素の種類や形状に
ついては何ら限定されないが、例えばグラフアイ
ト(黒鉛)や粉末炭素等は比較的容易に入手でき
且つ安価であり、最も好都合である。また表面積
を増大すると共に水素ガスの侵入を助ける為に多
孔質としたものが推奨される。
この様な固体炭素をプラズマ発生領域に予め設
置しておき、H2単独ガスを供給して気相合成を
行なうことによつて、前記固体炭素は水素プラズ
マ雰囲気中で高温に保たれ、恐らくは炭化水素等
を発生して基板上にダイヤモンド粒子や薄膜が得
られるのである。
本発明方法ではCH4ガスその他の炭化水素ガス
の様な比較的高価な炭素原料を用いることなく、
グラフアイトや粉末炭素等の比較的安価な炭素原
料を用いる様にしたので、従来よりも更に安価に
ダイヤモンドを合成することが可能となる。また
供給するガスはH2ガス単独でよく、気体状炭化
水素を供給していた為に必要とされていた気体原
料混合制御機構や複雑な配管・バルブ類が不要と
なり、本発明方法を実施する為の気相合成装置自
体も簡単な構成となり、生産コストの低減に寄与
し得るところが大きい。更に上述の理由によつ
て、炭化水素ガス配管内を不活性ガスで置換する
手間も省ける。
尚本発明方法においては、プラズマ雰囲気中の
炭素濃度の制御は、気体状炭化水素を用いた場合
と比べて多少困難さを増すが、固体炭素原料の表
面性状や温度、H2ガスの圧力や流量及びマイク
ロ波の出力等の条件を独立変数として予め合成ダ
イヤモンドの性状に与える影響を調査しておけ
ば、実操業におけるダイヤモンド粒子・薄膜の形
態制御は比較的簡単に実施できる。
[実施例] 第1図は本発明方法を実施する為に構成される
気相合成装置例の要部を示す概略説明図である。
第1図に示した装置における構成は基本的には第
2図に示した装置の構成と同様であり、対応する
部分には同一の参照番号を付すことにより重複説
明を回避する。尚前記第2図に示したマグネトロ
ン発振機1、アイソレータ2、パワーモニタ3、
チユーナ4は説明の便宜上第1図では省略した
が、これらの部材は本発明方法を実施する際にも
必要であるのは言う迄もない。
第1図において石英製の反応管6内のブラズマ
発生領域14内には支持台9上に基板7が配置さ
れると共に、該基板7の近傍(第1図では上方)
には炭素原料としての炭素板25が同じく前記支
持台9によつて配置される。
第1図に示した装置において、入口11側から
反応管6内にH2ガスを導入すると共に、導波管
5からマイクロ波を導入する。そうすると反応管
6内は水素プラズマ雰囲気となり炭素−水素プラ
ズマ反応が進行して高温に保たれる。その結果、
炭化水素ス、炭化水素イオン、炭化水素ラジカル
等が発生すると共に、分子状水素の分解により原
子状水素が発生し、これらが基板7上に移送され
ることにより、基板7上にダイヤモンド粒子やダ
イヤモンド薄膜が析出する。
第3図は本発明方法を実施する為に構成される
気相合成装置の他の例を示す概略説明図である。
この装置では、図示する様に反応管6が水平に配
置されると共に、該反応管6内には支持台9が設
置され、この支持台9上に炭素粉末26が載置さ
れ、更に炭素粉末よりも反応管6の下流側(第3
図における右側)には基板7が設置される。この
様な装置においても、前記第1図と同様の原理で
基板7上にダイヤモンド粒子やダイヤモンド薄膜
を析出することができる。
本発明者らは、前記第3図の気相合成装置を用
いて実験を行なつた。即ちマイクロの出力を
700Wとし、基板7を導波管6の中央部よりも少
しずらせて置き基板7の温度が800℃となる様に
し、反応管6の入口11側からH2ガスを
100SCCMの流量で供給した。尚反応管6内の圧
力は、H2ガスを排気口13側から所定量排気す
ることによつて70Torrに調整した。そして反応
を7時間進行させたところ、基板7上に直径約
2μmのダイヤモンド微粒子が析出した。
本発明方法と実施する為の気相合成装置は前記
第1図及び第3図に示した構成に限られず、その
他各種の構成を採用することもできる。例えば下
記第4〜8図はその一例であり以下これらの図面
を参照しつつ説明するが、基本的な原理は第1,
3図の場合と同様であるので構成の違いを簡単に
説明するにとどめる。
まず第4図に示した気相合成装置は、反応室2
7内に基板7及び炭素板25を対向して配置した
例である。この装置においては、H2ガスは供給
管28から反応室27内に供給されると共に排気
管29から排気され、一方マイクロ波が導波管5
から導入され、反応室27内には基板7及び炭素
板25を包む様にして水素プラズマを発生させる
ものである。尚第4図中参照符号30はマイクロ
波導入用ウインドウである。
次に第5図に示した気相合成装置は第4図に示
した装置とほぼ同様であり、相違点は炭素板25
の代りに炭素粉末26を用いた点である。
更に、第6図に示した気相合成装置は、導波管
5を2箇所設けた例である。即ち、反応管6の上
流側に配置した導波管5aによつて炭素粉末26
を加熱して水素プラズマと反応させると共に、反
応管6の下流側に配置した導波管5bによつて基
板7の周囲を水素プラズマ雰囲気とするものであ
る。そして生じた炭化水素・ラジカル・イオン種
等がH2ガスによつて基板7上に移送され、基板
7上にダイヤモンドが析出する。
第7図に示した気相合成装置では、炭素粉末2
6をプラズマ発生領域14中におき、H2ガスが
導入される反応管6の下流側を比較的大きな容量
を有する反応室27aとし、この反応室27a内
に面積を広くした基板7を設置し、この基板7上
にダイヤモンドを析出させるものである。尚この
際基板7は補助加熱用ヒータ33で800〜1000℃
に加熱される。
第8図に示した気相合成装置では、反応室27
の内壁に断熱材34を内張りすると共に、該断熱
材34上に炭素板25を配置するものである。そ
してH2ガスを供給管28から反応室27内に供
給すると共に、導波管5からマイクロ波を導入す
ることによつて、反応室27内を高温の水素プラ
ズマ雰囲気として基板7上にダイヤモンドを析出
させる。
[発明の効果] 以上述べた如く本発明方法によれば、炭素原料
として安価な固体炭素を用いる様にしたので、ダ
イヤモンドが安価に合成できると共に、気相合成
装置の構成も比較的簡単なものとすることがで
き、従来の問題点を一挙に解決し得た。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法を実施する為に構成される
気相合成装置例の要部を示す概略説明図、第2図
は従来の気相合成装置の一例を示す概略説明図、
第3図は本発明方法を実施する為に構成される気
相合成装置の他の例を示す概略説明図、第4〜8
図は本発明方法を実施する為に構成される気相合
成装置の各種の例を示す概略説明図である。 1…マグネトロン発振機、5,5a,5b…導
波管、6…反応管、7…基板、9…支持台、14
…プラズマ発生領域、15…プランジヤー、25
…炭素板、26…炭素粉末、27,27a…反応
室。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 ダイヤモンドの気相合成に当たり、炭素原料
    として固体炭素を用い、該固体炭素を水素プラズ
    マ雰囲気中で高温に保ちつつ気相合成を行なうこ
    とを特徴とするダイヤモンドの気相合成法。
JP61264718A 1986-11-05 1986-11-05 ダイヤモンドの気相合成法 Granted JPS63117993A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61264718A JPS63117993A (ja) 1986-11-05 1986-11-05 ダイヤモンドの気相合成法

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JP61264718A JPS63117993A (ja) 1986-11-05 1986-11-05 ダイヤモンドの気相合成法

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JPS63117993A JPS63117993A (ja) 1988-05-21
JPH0481552B2 true JPH0481552B2 (ja) 1992-12-24

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US5635254A (en) * 1993-01-12 1997-06-03 Martin Marietta Energy Systems, Inc. Plasma spraying method for forming diamond and diamond-like coatings
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