JPH0450677A - プリント基板の実装部品測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、プリント基板上の実装部品が正しく実装され
ているか、不良部品が実装されていないか、隣接゛する
測定点間にショート・オープンしている箇所がないか等
の測定を行うプリント基板の実装部品測定方法に関する
ものである。

（従来の技術） 従来、プリント基板上の抵抗、コンデンサ、コイル、ダ
イオード、トランジスタ等の実装部品の測定は、１部品
ずつプローブを移動させてその都度測定を繰り返すこと
により行っていた。

（発明が解決しようとする課題） しかしながら、このような従来の測定では、測定部品の
数だけプローブビンが移動しなければ、１枚のプリント
基板の検査が終了しないので、測定に時間を要する問題
点があった９ 本発明の目的は、能率よくプリント基板上の実装部品の
測定を行うことができるプリント基板の実装部品測定方
法を提出することにある。

（課題を解決するための手段） 上記の目的を達成するための本発明の詳細な説明すると
、本発明に係るプリント基板の実装部品の測定方法は、
プリント基板を第１〜第ｎの測定エリアに分割し、該プ
リント基板を搬送するコンベアの移動方向に沿って前記
第１〜第ｎの測定エリアの測定のために専用の第１〜第
ｎの移動プローブユニットを配置し、前記プリント基板
の前記第１の測定エリアが前記第１の移動プローブユニ
ットに対向した位置で該第１の測定エリアの実装部品を
前記第１の移動プローブユニットで測定し、前記プリン
ト基板が前記コンベアで移動されて前記第２の測定エリ
アが前記第２の移動プローブユニットに対向した位置で
該第２の測定エリアの実装部品を前記第２の移動プロー
ブユニットで測定し１、これらの測定を順次行い、全測
定エリアの実装部品の測定を行うことを特徴とする。

（作用） このようにプリント基板を複数の測定エリアに分割し、
該プリント基板をコンベアで移動させて各測定エリアが
そのエリアの測定のために専用に設けられている移動プ
ローブユニットに対応したときに当該測定エリアの各実
装部品の測定をそれぞれ行うようにすると、複数のプリ
ント基板を位置をずらせて同時に測定することができる
。例えば３枚のプリント基板を、第１番目のプリント基
板の第３の測定エリアを第３の移動プローブユニットで
測定しているときに、第２番目のプリン１へ基板の第２
の測定エリアを第２の移動プローブユニットで測定させ
、第３番目のプリント基板の第１の測定エリアを第１の
測定エリアを第１の移動プローブユニットで測定させる
ようにすると、１枚当りの測定に要する時間をプリント
基板の分割測定エリアの数Ｎ分の１即ち１／Ｎに短縮す
ることができる。

（実施例） 以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明する
。

第２図に示すように本発明では、測定しようとするプリ
ント基板１上の各実装部品２をｎ個、この実施例では４
個、即ち第１〜第４の測定エリア３１〜３４に分割する
。

第１図に示すようにこのプリント基板１を搬送するコン
ベア４上には、該コンベア４の移動方向にそって、これ
ら第１〜第４の測定エリア３１〜３４の測定のために専
用の第１〜第４の移動プローブユニット５１〜５４を配
置する。各移動プローブユニット５１〜５４は、第３図
に示すようにＸ方向レール６．６上にＸ方向レール７．
７かＸ方向に移動自在に搭載され、各Ｘ方向レール７７
上には移動プローブ８，８がＸ方向に移動自在に搭載さ
れた構造になっていて、これら移動プローブ８，８をサ
ーボモータでＸ、Ｘ方向に移動させて目的とする実装部
品２の半田付は部分を第４図に示すようにして測定する
ようになっている。

各移動プローブユニット５１〜５４の測定データは、第
５図に示すように測定ユニット９に集積されるようにな
っている。また、各移動プローブユニット５、〜５４に
おける各移動プローブ８の測定点への移動データは、移
動プローブ制御ユニット１０から与えられるようになっ
ている。さらに、各移動プローブ８の測定条件、移動量
等のデータの管理や、測定ユニット９及び移動プローブ
制御ユニット１０に逐次与えるテスト条件、移動量の指
示はコントローラー１１から与えられるようになってい
る。

次に、以上のようなボードテスターを用いた本発明によ
るプリント基板の実装部品測定方法の一例を第６図（Ａ
）〜（Ｄ）を参照して説明する。

第６図（Ａ）に示すように第１番目のプリント基板１１
の最初の測定エリアである第１の測定エリア３１が第１
の移動プローブユニット５．に対向する位置にコンベア
４で搬送されたときに、該コンベア４を一旦止めて該第
１の測定エリア３１の各実装部品２の測定を第１の移動
プローブユニット・５１で行い、測定データを測定ユニ
ット９に集積する。

第１番目のプリント基板１１の第１の測定エリア３１の
測定が終了したら、コンベア４を駆動し、第６図（Ｂ）
に示すように該第１番目のプリント基板１１の第２の測
定エリア３２が第２の移動７０−ブユニツト５２に対向
し、且つ第２番目のプリント基板１２の第１の測定エリ
ア３１が第１の移動プローブユニット５１に対向する状
態になった時コンベア４の移動を停止させ、該第１番目
のプリント基板１１の第２の測定エリア３２の各実装部
品２の測定を第２の移動プローブユニット５２で行い、
且つ第２番目のプリント基板１２の第１の測定エリア３
１の各実装部品２の測定を第１の移動プローブユニット
５、で行い、得られた各測定データを測定ユニット９に
薬槽する。

第１番目のプリント基板１の第２の測定エリア３２の測
定と第２番目のプリント基板１□の第１の測定エリア３
□の測定が終了したら、コンベア４を駆動し、第６１１
（Ｃ）に示すように該第１番目のプリント基板１１の第
３の測定エリア３．が第３の移動プローブユニット５．
に対向し、且つ第２番目のプリント基板１２の第２の測
定エリア３２が第２の移動プローブユニット５２に対向
し、且つ第３番目のプリント基板１３の第１の測定エリ
ア３１が第１の移動プローブユニット５１に対向する状
態になったときにコンベア４の移動を停止させ、該第１
番目のプリント基板１１の第３の測定エリア３３の各実
装部品２の測定を第３の移動プローブユニット５．で行
い、且つ第２番目のプリント基板１２の第２の測定エリ
ア３２の各実装部品２の測定を第２の移動ブローツユニ
ット５２で行い、且つ第３番目のプリント基板］３の第
１の測定エリア３□の各実装部品２の測定を第１の移動
プローブユニット５１で行い、得られた各測定データを
測定ユニット９に集積する。

次に、コンベア４を駆動し、第６図（Ｄ＞に示すように
第１番目のプリント基板１１のＩ＆後の測定エリアであ
る第４の測定エリア３４か第４の移動プローブユニット
５４に対向し、且つ第２のプリント基板１２の第３の測
定エリア３３が第３の移動プローブユニット５３に対向
し、且つ第３のプリント基板１３の第２の測定エリア３
２が第２の移動プローブユニット５２に対向し、且つ第
４番目のプリント基板１４の第１の測定エリア３１が第
１の移動プローブユニット５１に対向する状態になった
ときにコンベア４の移動を停止させ、該第１番目のプリ
ント基板１１の第４の測定エリア３４の各実装部品２の
測定を第４の移動プローブユニット５４で行い、且つ第
２番目のプリント基板１□の第３の測定エリア３３の各
実装部品２の測定を第３の移動プローブユニット５３で
行い、且つ第３番目のプリント基板１３の第２の測定エ
リア３２の各実装部品２の測定を第２の移動プローブユ
ニット５２で行い、且つ第４番目のプリント基板１４の
第１の測定エリア３１の各実装部品の測定を第１の移動
プローブユニット５□で　行ない、得られた各測定デー
タを測定ユニット９に集積する。

この工程で第１番目のプリント基板１１は総ての測定エ
リア３１〜３４の測定が終了し、第２番目のプリント基
板１２は、第１〜第３の測定エリア３１〜３３即ち３／
４の測定エリアの測定が終了し、第３番目のプリント基
板１．は第１〜第２の測定エリア３１〜３□即ち２／４
の測定エリアの測定が終了し、第４番目のプリント基板
１４は第１の測定エリア３Ｉ即ち１／４の測定エリアの
測定が終了する。

従って、第１番目のプリント基板１１は総ての測定が終
了したので、各測定データを合せて該第１番目のプリン
ト基板１１の良否の判定を行う。

このような操作を順次繰り返して各プリント基板の測定
を行う。

上記実施例では、共通の測定ユニット９と移動プローブ
制御ユニット１０とコントローラ１１とを用いて測定を
行ったが、第７図に示すような測定ユニットを９１〜９
４及び移動プローブ制御ユニットを１０．〜１０４を各
移動プローブユニット５１〜５４に対応させて設け、且
つこれらを移動プローブユニット５１〜５４にそれぞれ
附属させ、共通のコントローラー１１により制御するこ
ともできる。

また、上記実施例では、各移動ブローブユニッ）５＋〜
５４はそれぞれ２個の移動プローブ８を用いたが、２個
以上の移動プローブ８を有する構造にすることもできる
。

（発明の効果） 以上説明したように本発明に係るプリント基板の実装部
品測定方法では、プリント基板を複数の測定エリアに分
割し、該プリント基板をコンベアで移動させて各測定エ
リアかそのエリアの測定のためにそれぞれ設けられてい
る移動プローブユニットに対応したときに当該測定エリ
アの各実装部品の測定をそれぞれ行うので、複数のプリ
ント基板を位置をずらせて同時に測定することができる
。このような方法により複数のプリント基板を連続的に
同時に測定すると、１枚のプリント基板の測定に要する
時間を、該プリント基板の分割測定エリアの数Ｎ分の１
、即ち１／Ｎに短縮することができ、能率よく測定を行
うことがてきる。

４、ｚｉ管５階 第１図は本発明に係る測定方法を実施する装置の一例を
示す側面図、第２図は本発明で測定の対象としているプ
リント基板の測定エリア分割状態を示す平面図、第３図
は本発明で用いている移動プローブユニットの一例を示
す平面図、第４図は該移動プローブユニットによるプリ
ント基板の測定状態を示す側面図、第５図は本実施例で
用いているボードテスターの構成を示すブロック図、第
６図（Ａ）〜（Ｄ）は本実施例により各測定エリアの測
定工程を示す説明図、第７図は本発明で用いるボードテ
スターの他の例を示すブロック図である。

１・・プリント基板、 １１〜１４・・・第１〜第４番目のプリント基板、２・
・・実装部品、 ３１〜３４・・・第１〜第４の測定エリア、５１〜５４
・・・第１〜第４の移動プローブユニット、 ６・・・Ｘ方向レール、７・・・Ｙ方向レール、８・・
・移動プローブ、 ９．９１〜９４・・・測定ユニット、 １０．１０＋〜１０４・・・移動プローブ制御ユニット
、 １１・・・コントローラ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. プリント基板を第１〜第ｎの測定エリアに分割し、該プ
   リント基板を搬送するコンベアの移動方向に沿って前記
   第１〜第ｎの測定エリアの測定のために専用の第１〜第
   ｎの移動プローブユニットを配置し、前記プリント基板
   の前記第１の測定エリアが前記第１の移動プローブユニ
   ットに対向した位置で該第１の測定エリアの実装部品を
   前記第１の移動プローブユニットで測定し、前記プリン
   ト基板が前記コンベアで移動されて前記第２の測定エリ
   アが前記第２の移動プローブユニットに対向した位置で
   該第２の測定エリアの実装部品を前記第２の移動プロー
   ブユニットで測定し、これらの測定を順次行い、全測定
   エリアの実装部品の測定を行うことを特徴とするプリン
   ト基板の実装部品測定方法。