JPH04369711A - 電子ディスクサブシステム - Google Patents
電子ディスクサブシステムInfo
- Publication number
- JPH04369711A JPH04369711A JP3146406A JP14640691A JPH04369711A JP H04369711 A JPH04369711 A JP H04369711A JP 3146406 A JP3146406 A JP 3146406A JP 14640691 A JP14640691 A JP 14640691A JP H04369711 A JPH04369711 A JP H04369711A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electronic disk
- data
- disk device
- interface
- electronic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、情報処理装置に使用す
る電子ディスク装置に関するもので、特に三重書された
データのチェックに関する。
る電子ディスク装置に関するもので、特に三重書された
データのチェックに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の電子ディスクサブシステ
ムでは、同じデータが書かれた3台の電子ディスク装置
のデータの比較を行う為には、ソフトウェアにより各々
の電子ディスク装置からデータを読み出し、ソフトウェ
アによって比較を行っていた。
ムでは、同じデータが書かれた3台の電子ディスク装置
のデータの比較を行う為には、ソフトウェアにより各々
の電子ディスク装置からデータを読み出し、ソフトウェ
アによって比較を行っていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の電子デ
ィスクサブシステムでは、ソフトウェアで各々の電子デ
ィスク装置からデータの読出しを行うため、少なくとも
3度の読出し処理を行わなければならない。また、比較
もソフトウェアにより行うことになるので、ソフトウェ
アの負荷が大きくなり、システムの性能が大幅に落ちて
しまうという問題点があった。
ィスクサブシステムでは、ソフトウェアで各々の電子デ
ィスク装置からデータの読出しを行うため、少なくとも
3度の読出し処理を行わなければならない。また、比較
もソフトウェアにより行うことになるので、ソフトウェ
アの負荷が大きくなり、システムの性能が大幅に落ちて
しまうという問題点があった。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の電子ディスクサ
ブシステムには、同じデータが書込れた、第1の電子デ
ィスク装置,第2の電子ディスク装置及び第3の電子デ
ィスク装置が処理装置と第1のインタフェースによって
ディジィチェン接続され、前記第2の電子ディスク装置
と前記第3の電子ディスク装置が第2のインタフェース
によって接続され、各々の電子ディスク装置は、前記第
1のインタフェースから送られてくるデータと自装置の
データを比較する第1の比較回路と、前記第2のインタ
フェースから送られてくるデータと自装置のデータの比
較を行う第2の比較回路を有し、前記処理装置が電子デ
ィスク装置からのデータを読み出す時に、前記第1の電
子ディスク装置から読み出されたデータを前記第1のイ
ンタフェースを通して、前記第2の電子ディスク装置及
び前記第3の電子ディスク装置それぞれの前記第1の比
較回路によりデータの比較を行い、前記第2の電子ディ
スク装置から読み出されたデータを前記第2のインタフ
ェースを通して前記第3の電子ディスク装置の前記第2
の比較回路によりデータの比較を行うことを特徴とする
。
ブシステムには、同じデータが書込れた、第1の電子デ
ィスク装置,第2の電子ディスク装置及び第3の電子デ
ィスク装置が処理装置と第1のインタフェースによって
ディジィチェン接続され、前記第2の電子ディスク装置
と前記第3の電子ディスク装置が第2のインタフェース
によって接続され、各々の電子ディスク装置は、前記第
1のインタフェースから送られてくるデータと自装置の
データを比較する第1の比較回路と、前記第2のインタ
フェースから送られてくるデータと自装置のデータの比
較を行う第2の比較回路を有し、前記処理装置が電子デ
ィスク装置からのデータを読み出す時に、前記第1の電
子ディスク装置から読み出されたデータを前記第1のイ
ンタフェースを通して、前記第2の電子ディスク装置及
び前記第3の電子ディスク装置それぞれの前記第1の比
較回路によりデータの比較を行い、前記第2の電子ディ
スク装置から読み出されたデータを前記第2のインタフ
ェースを通して前記第3の電子ディスク装置の前記第2
の比較回路によりデータの比較を行うことを特徴とする
。
【0005】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【0006】図1は本発明の一実施例のブロック図であ
る。
る。
【0007】図1において、処理装置と第1の電子ディ
スク装置100と第2の電子ディスク装置200と第3
の電子ディスク装置300は、ディジチェン接続で第1
のインタフェース信号群400により接続されている。 また第1の電子ディスク装置100と第2の電子ディス
ク装置200と第3の電子ディスク装置300は、ディ
ジィチェン接続で第2のインタフェース信号群500に
よっても接続されている。
スク装置100と第2の電子ディスク装置200と第3
の電子ディスク装置300は、ディジチェン接続で第1
のインタフェース信号群400により接続されている。 また第1の電子ディスク装置100と第2の電子ディス
ク装置200と第3の電子ディスク装置300は、ディ
ジィチェン接続で第2のインタフェース信号群500に
よっても接続されている。
【0008】ここで第1の電子ディスク装置100が第
2のインタフェース信号群と接続されているのは、故障
などにより装置の動作の変更を行ったときのためである
。
2のインタフェース信号群と接続されているのは、故障
などにより装置の動作の変更を行ったときのためである
。
【0009】第1の電子ディスク装置100は、データ
を保存するメモリ部106と、データの読み出し時に、
データを一時的に記憶する読出バッファ105と第1の
インタフェース信号群400より送られるデータを一時
的に記憶する書込バッファ101と第2のインタフェー
ス信号群500より送られるデータを一時的に記憶する
書込バッファ103と、書込バッファ101のデータと
、読出バッファ105のデータの比較を行う第1の比較
回路102と、書込バッファ103のデータと読出バッ
ファ105のデータの比較を行う第2の比較回路104
を有している。また、第2の電子ディスク装置200及
び第3の電子ディスク装置300も同様の構成である。
を保存するメモリ部106と、データの読み出し時に、
データを一時的に記憶する読出バッファ105と第1の
インタフェース信号群400より送られるデータを一時
的に記憶する書込バッファ101と第2のインタフェー
ス信号群500より送られるデータを一時的に記憶する
書込バッファ103と、書込バッファ101のデータと
、読出バッファ105のデータの比較を行う第1の比較
回路102と、書込バッファ103のデータと読出バッ
ファ105のデータの比較を行う第2の比較回路104
を有している。また、第2の電子ディスク装置200及
び第3の電子ディスク装置300も同様の構成である。
【0010】次に動作について説明する。
【0011】データの書込み時に第1の電子ディスク装
置100では、第1のインタフェース400より送られ
たデータが書込バッファ101を経て、メモリ部106
に書込まれる。また同時に、第2の電子ディスク装置2
00及び第3の電子ディスク装置300にも同様に書込
まれる。
置100では、第1のインタフェース400より送られ
たデータが書込バッファ101を経て、メモリ部106
に書込まれる。また同時に、第2の電子ディスク装置2
00及び第3の電子ディスク装置300にも同様に書込
まれる。
【0012】データの読み出し時には、第1の電子ディ
スク装置100のメモリ部106から、読出バッファ1
05を経て、第1のインタフェース信号群400を通り
処理装置に送られるとともに、第2の電子ディスク装置
200の書込バッファ201及び第3の電子ディスク装
置300の書込バッファ301に書込まれる。
スク装置100のメモリ部106から、読出バッファ1
05を経て、第1のインタフェース信号群400を通り
処理装置に送られるとともに、第2の電子ディスク装置
200の書込バッファ201及び第3の電子ディスク装
置300の書込バッファ301に書込まれる。
【0013】第2の電子ディスク装置では、メモリ部2
06から読出バッファ205を経て読み出されたデータ
と、書込バッファ201にあるデータを第1の比較回路
202によって比較する。また比較と同時に第2の電子
ディスク装置200の読出しバッファ205の比較を行
うデータは、第2のインタフェース信号群500を通り
、第3の電子ディスク装置300の書込バッファ303
に書込まれる。
06から読出バッファ205を経て読み出されたデータ
と、書込バッファ201にあるデータを第1の比較回路
202によって比較する。また比較と同時に第2の電子
ディスク装置200の読出しバッファ205の比較を行
うデータは、第2のインタフェース信号群500を通り
、第3の電子ディスク装置300の書込バッファ303
に書込まれる。
【0014】第3の電子ディスク装置300では、書込
バッファ301及び書込バッファ303の両方にデータ
が存在していると、メモリ部306から読出バッファ3
05を経て読出されたデータと、書込バッファ301の
データとの比較を第1の比較回路302で書込バッファ
303のデータとの比較を第2の比較回路304によっ
て同時に行う。
バッファ301及び書込バッファ303の両方にデータ
が存在していると、メモリ部306から読出バッファ3
05を経て読出されたデータと、書込バッファ301の
データとの比較を第1の比較回路302で書込バッファ
303のデータとの比較を第2の比較回路304によっ
て同時に行う。
【0015】この結果第1の比較回路202と、第1の
比較回路302と第2の比較回路304の比較結果のす
べてか、第1の比較回路202と第1の比較回路302
のどちらか一方が正しい場合は、第1の電子ディスク装
置100のデータが正しいものとし、第1の比較回路2
02のみ一致したときは、第3の電子ディスク装置のデ
ータが不良であるとし、第1の比較回路302のみ一致
したときは、第2の電子ディスク装置200のデータが
不良であるとする。また、第2の比較回路304の比較
結果のみ一致した場合は、第1の電子ディスク装置10
0のデータが不良であるとし、第2の電子ディスク装置
200のメモリ部206のデータを第1のインタフェー
ス信号群400を経て処理装置に送るように処理を変更
する。
比較回路302と第2の比較回路304の比較結果のす
べてか、第1の比較回路202と第1の比較回路302
のどちらか一方が正しい場合は、第1の電子ディスク装
置100のデータが正しいものとし、第1の比較回路2
02のみ一致したときは、第3の電子ディスク装置のデ
ータが不良であるとし、第1の比較回路302のみ一致
したときは、第2の電子ディスク装置200のデータが
不良であるとする。また、第2の比較回路304の比較
結果のみ一致した場合は、第1の電子ディスク装置10
0のデータが不良であるとし、第2の電子ディスク装置
200のメモリ部206のデータを第1のインタフェー
ス信号群400を経て処理装置に送るように処理を変更
する。
【0016】また、すべての比較回路の結果が一致しな
い場合、正常なデータがないものとして、処理装置にエ
ラーを報告する。第1の電子ディスク装置100が故障
等により、機能が停止した場合は、第2の電子ディスク
装置200のデータを処理装置に送るとともに、第3の
電子ディスク装置300によってデータの比較を行う。
い場合、正常なデータがないものとして、処理装置にエ
ラーを報告する。第1の電子ディスク装置100が故障
等により、機能が停止した場合は、第2の電子ディスク
装置200のデータを処理装置に送るとともに、第3の
電子ディスク装置300によってデータの比較を行う。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の電子ディ
スクサブシステムは、一回の読み出し動作で3台の電子
ディスク装置のデータを互いに比較しながら動作するの
で、性能を落さずにデータの高信頼性を得ることができ
る。
スクサブシステムは、一回の読み出し動作で3台の電子
ディスク装置のデータを互いに比較しながら動作するの
で、性能を落さずにデータの高信頼性を得ることができ
る。
【図1】本発明の一実施例を示す構成図である。
101,103,201,203,301,303
書込バッファ
書込バッファ
Claims (1)
- 【請求項1】 同じデータが書込れた、第1の電子デ
ィスク装置,第2の電子ディスク装置及び第3の電子デ
ィスク装置が処理装置と第1のインタフェースによって
ディジィチェン接続され、前記第2の電子ディスク装置
と前記第3の電子ディスク装置が第2のインタフェース
によって接続され、各々の電子ディスク装置は、前記第
1のインタフェースから送られてくるデータと自装置の
データを比較する第1の比較回路と、前記第2のインタ
フェースから送られてくるデータと自装置のデータの比
較を行う第2の比較回路を有し、前記処理装置が電子デ
ィスク装置からのデータを読み出す時に、前記第1の電
子ディスク装置から読み出されたデータを前記第1のイ
ンタフェースを通して、前記第2の電子ディスク装置及
び前記第3の電子ディスク装置それぞれの前記第1の比
較回路によりデータの比較を行い、前記第2の電子ディ
スク装置から読み出されたデータを前記第2のインタフ
ェースを通して前記第3の電子ディスク装置の前記第2
の比較回路によりデータの比較を行うことを特徴とする
電子ディスクサブシステム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3146406A JPH04369711A (ja) | 1991-06-19 | 1991-06-19 | 電子ディスクサブシステム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3146406A JPH04369711A (ja) | 1991-06-19 | 1991-06-19 | 電子ディスクサブシステム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04369711A true JPH04369711A (ja) | 1992-12-22 |
Family
ID=15406982
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3146406A Pending JPH04369711A (ja) | 1991-06-19 | 1991-06-19 | 電子ディスクサブシステム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04369711A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH076048A (ja) * | 1993-06-21 | 1995-01-10 | Nec Corp | 電子ディスクシステム |
JP2013214242A (ja) * | 2012-04-03 | 2013-10-17 | Isd Corp | 密封型半導体記憶装置およびこれを用いた記憶システム |
-
1991
- 1991-06-19 JP JP3146406A patent/JPH04369711A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH076048A (ja) * | 1993-06-21 | 1995-01-10 | Nec Corp | 電子ディスクシステム |
JP2013214242A (ja) * | 2012-04-03 | 2013-10-17 | Isd Corp | 密封型半導体記憶装置およびこれを用いた記憶システム |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6349390B1 (en) | On-board scrubbing of soft errors memory module | |
JPS63202000A (ja) | アドレス・ライン・テスト方法 | |
JPH04369711A (ja) | 電子ディスクサブシステム | |
JP2704062B2 (ja) | 情報処理装置 | |
KR100564361B1 (ko) | 시스템 메모리의 결함 억제회로 | |
JPH04364552A (ja) | パリティ監視回路付きメモリ回路 | |
KR100538486B1 (ko) | 시스템 메모리의 결함 검출회로 | |
JP3071846B2 (ja) | パリティーエラー検出方法及びパリティーエラー検出回路 | |
JPH01233642A (ja) | メモリプリント板 | |
JPH05158810A (ja) | 誤り検出回路 | |
JPH0553924A (ja) | 記憶装置の試験方式 | |
JPH0357015A (ja) | 電子ディスクサブシステム | |
JPS617947A (ja) | 制御記憶装置 | |
JPS62293582A (ja) | メモリ装置 | |
JPS639259B2 (ja) | ||
JPH02137045A (ja) | アドレスチェック方式 | |
JPH0266668A (ja) | マルチプロセツサバスのデータトレース方法 | |
JPS60549A (ja) | メモリ試験方式 | |
JPH04125751A (ja) | パリティチェック回路 | |
JPH04162141A (ja) | 情報処理装置 | |
JPS60179968A (ja) | デイスクキヤツシユのデ−タ保障方式 | |
JPH04336643A (ja) | 情報処理装置 | |
JPH0460851A (ja) | 計算機システム | |
JPH04220729A (ja) | 情報処理装置 | |
JPS61256449A (ja) | パス診断方式 |