JPH04315063A - 抵抗体の抵抗値測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、抵抗体（特にチップ抵
抗器）の抵抗値測定方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、抵抗体であるチップ抵抗器の抵抗
値を測定する場合は、図３に示すように行う。測定には
通常、４端子抵抗測定器２０が使用される。測定器２０
には、測定する抵抗体の数に相当する数の電力線２１、
２２と測定線２３、２４が設けられ、各電力線と各測定
線はリレーにより切り換えられるようになっている。図
３では、電力線２１と測定線２３が測定用プローブ３０
に、電力線２２と測定線２４が測定用プローブ３１に接
続されている。

【０００３】そして、測定用プローブ３０、３１を、例
えばセラミック基板１０上に形成した抵抗体１１の電極
（導体）１２、１３にそれぞれ接触させる。同様に、当
該抵抗体１１と並列する全ての抵抗体についても測定用
プローブを接触させる。抵抗値の測定は、リレーを順次
切り換えて１つの抵抗体ずつ行う。並列する全ての抵抗
体の測定が終了すると、順に隣接の並列についても同様
に測定する。

【０００４】このように、従来の測定方法では、測定対
象となる抵抗体が電極によって導通されていない並列毎
に行う。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
測定方法では、１つの抵抗体１１には２本の測定用プロ
ーブ３０、３１を必要とし、ｎ個の抵抗体では２ｎ本の
プローブを用意しなければならない。しかも、測定する
並列に多数のプローブが並び、プローブの間隔が狭くな
る。このため、特に極小抵抗体に対してはプローブが互
いに接触する可能性が高まり、測定し難くなる。

【０００６】更に、抵抗値の測定を１列（並列）毎に行
うため、ｎ列ではプローブの移動をｎ回行わなければな
らない。又、プローブの移動の度に各プローブを電極に
正確に位置決めする必要があり、測定作業が煩雑である
。このため、基板上の全抵抗体の測定を終了するまでの
時間が長くなる。従って、本発明の目的は、極小抵抗体
にも容易に対応できるようにすると共に、測定時間を短
縮する抵抗体の抵抗値測定方法を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の本発明の抵抗体の抵抗値測定方法は、列毎に直列接続
した多数の抵抗体において、２列分の各列の端に位置す
る電極に、４端子抵抗測定器の同じ極性の電力線と測定
線を接続した測定用プローブを接触させ、抵抗体を挟ん
で前記電極に連続する電極に、前記極性とは異なる極性
の電力線と測定線を接続した測定用プローブを接触させ
て、各列の全ての電極に交互に異なる極性の電力線と測
定線を接続した測定用プローブを接触させ、各抵抗体に
電流を流すと共に、各抵抗体に生ずる電圧を測定し、電
流と電圧から各抵抗体の抵抗値を算出することを特徴と
するものである。

【０００８】本発明の測定方法は、４端子抵抗測定器を
用い、列毎に直列接続した２列分の各抵抗体の両端の電
極から各抵抗体に電流を流すと共に、各抵抗体の電圧を
測定し、電流値と電圧値に基づいて各抵抗体の抵抗値を
算出するものである。この測定方法では、２列分の測定
を一度に行うため、基板上の全ての列に対するプローブ
の移動回数がほぼ半減する。しかも、１列の測定に使用
するプローブ数は１列の抵抗体の数よりも１つ多い数で
済む。

【０００９】

【実施例】以下、本発明の抵抗体の抵抗値測定方法を実
施例に基づいて説明する。図１は、チップ抵抗器に対す
る測定方法を示す。このチップ抵抗器は、例えばセラミ
ック基板１と、基板１上に形成した多数の抵抗体２と、
抵抗体２を列毎に直列接続する電極３、４とからなる。

【００１０】ここで、測定の一例として、１列当たりｎ
個の抵抗体が並ぶ場合の測定について述べる。まず、１
列目（図中の上側の列）の端に位置する抵抗体Ｒ１　の
電極ａ１　に、４端子抵抗測定器２０の正の電力線２１
と正の測定線２３を接続した測定用プローブＰ１　を接
触させる。抵抗体Ｒ１　を挟んで電極ａ１　に連続する
電極ａ２には、測定器２０の負の電力線２２と負の測定
線２４を接続した測定用プローブＰ２　を接触させる。 他の電極ａ３　（図中に符号は付せず）〜ａｎ＋１　に
も、交互に異なる極性の電力線と測定線を接続した測定
用プローブＰ３　〜Ｐｎ＋１　をそれぞれ接触させる。 この際、プローブを電極に強く接触させて、両者の接触
抵抗を十分に低くすることが好ましい。

【００１１】図１には、測定用プローブＰ３　〜Ｐｎ＋
１　と測定器２０との配線は特に示していないが、個々
のプローブにはそれぞれ同じ極性の電力線と測定線が接
続され、リレー（図示せず）により各プローブ毎に配線
を切り換えることができるようになっている。２列目に
ついても同様に、交互に異なる極性の電力線と測定線を
接続した測定用プローブを各電極に接触させる。各測定
用プローブと測定器２０との配線は１列目と同様であり
、リレーによって切り換えることができる。以上により
、１列目と２列目の全抵抗体２（Ｒ１〜Ｒｎ　）の抵抗
値を測定する準備が終了する。

【００１２】ここで、測定器２０の各リレーを順に切り
換えて、各抵抗体Ｒ１　〜Ｒｎ　に定電流を流せば、各
抵抗体Ｒ１　〜Ｒｎ　に生ずる電圧が分かるので、定電
流と各抵抗体Ｒ１　〜Ｒｎ　の電圧をオームの法則に適
用すれば、抵抗体Ｒ１　〜Ｒｎの抵抗値が求まる。なお
、各抵抗値は測定器２０に表示され、各抵抗値の算出も
測定器２０が行うことは言うまでもない。測定の順番は
、リレーの切換え方により異なるが、例えば１列目の抵
抗体Ｒ１　、２列目の抵抗体Ｒ１　、１列目の抵抗体Ｒ
２　、２列目の抵抗体Ｒ２　、・・・というような順序
である。

【００１３】この測定によって、２列分■の抵抗体２（
Ｒ１　〜Ｒｎ　）の抵抗値が分かる。次の２列分■の抵
抗体に対しても測定用プローブを移動させて同様に測定
する。このような測定を全列に対して行うことで、基板
１上の全ての抵抗体の抵抗値を知ることができる。ここ
で、本発明の測定方法に用いる４端子抵抗測定器の測定
原理について述べる。

【００１４】４端子抵抗測定器は図２に示すような基本
構成である。測定器は定電流電源５０と電圧計５１を備
え、電源５０からの電力線と電圧計５１からの測定線が
抵抗Ｒに並列に接続される。これにより、測定対象とな
る抵抗Ｒに電流が流れると共に、電圧が加わる。電圧計
５１から流れる電流ＩＶ　は、電源５０からの電流ＩＭ
　に比して無視できるので、つまりＩＶ　≒０とみなせ
るので、抵抗Ｒに流れる実際の電流ＩはＩ≒ＩＭ　とな
る。 又、電圧計５１に係る測定線の抵抗及び接続部の接触抵
抗ｒ３、ｒ４　による電圧降下は、ＩＶ　（ｒ３　＋ｒ
４　）≒０となる。このため、抵抗ｒ３　、ｒ４　の値
が変化しても、電圧計５１が抵抗Ｒに加える電圧ＥＭ　
は変わらず、ＥＭ　≒Ｅ（Ｅは抵抗Ｒに印加される実際
の電圧）とみなすことができる。故に、抵抗計回路５２
により、測定器が表示する抵抗Ｒの値ＲＭ　は、ＲＭ　
＝ＥＭ　／ＩＭ　＝Ｅ／Ｉ＝Ｒとなる訳である。

【００１５】

【発明の効果】本発明の抵抗体の抵抗値測定方法は、以
上説明したように列毎に直列接続した２列分の各抵抗体
に電流を流すと共に、各抵抗体の電圧を測定し、電流と
電圧から各抵抗体の抵抗値を算出するから、下記の効果
を奏する。 （１）一度に２列分の抵抗体の抵抗値を測定するので、
全列に対する測定用プローブの移動回数がほぼ半減する
。例えば、ｎ列ではｎ／２回の移動で済む。 （２）（１）により、全抵抗体の抵抗値の測定時間が約
半分に短縮される。 （３）１列の測定に必要なプローブの本数をほぼ半減で
きる。即ち、１列当たりのプローブ数は抵抗体の数より
も１つ多い本数でよい。 （４）（３）により、測定時に並べたプローブの間隔が
大きくなるので、極小抵抗体でも容易に測定することが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の測定方法を説明するための図である。

【図２】本発明の測定方法に使用する４端子抵抗測定器
の測定原理を示す回路図である。

【図３】従来の測定方法を説明するための図である。

【符号の説明】

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】列毎に直列接続した多数の抵抗体において
   、２列分の各列の端に位置する電極に、４端子抵抗測定
   器の同じ極性の電力線と測定線を接続した測定用プロー
   ブを接触させ、抵抗体を挟んで前記電極に連続する電極
   に、前記極性とは異なる極性の電力線と測定線を接続し
   た測定用プローブを接触させて、各列の全ての電極に交
   互に異なる極性の電力線と測定線を接続した測定用プロ
   ーブを接触させ、各抵抗体に電流を流すと共に、各抵抗
   体に生ずる電圧を測定し、電流と電圧から各抵抗体の抵
   抗値を算出することを特徴とする抵抗体の抵抗値測定方
   法。