JPH0426158B2 - - Google Patents
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- JPH0426158B2 JPH0426158B2 JP59216479A JP21647984A JPH0426158B2 JP H0426158 B2 JPH0426158 B2 JP H0426158B2 JP 59216479 A JP59216479 A JP 59216479A JP 21647984 A JP21647984 A JP 21647984A JP H0426158 B2 JPH0426158 B2 JP H0426158B2
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- Japan
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- circuit
- scanning
- conductor
- periodic
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Links
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims abstract description 21
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 36
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 claims description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 13
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 8
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
- G01D5/244—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains
- G01D5/245—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains using a variable number of pulses in a train
- G01D5/2454—Encoders incorporating incremental and absolute signals
- G01D5/2455—Encoders incorporating incremental and absolute signals with incremental and absolute tracks on the same encoder
- G01D5/2457—Incremental encoders having reference marks
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Optical Transform (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は特に長さ又は角度の測定装置における
少なくとも２つの信号導線を備えた装置における
信号伝送方法にして、２つの信号状態を有する少
なくとも１つの周期的信号が第１信号導線上で、
そして少なくとも１つの非周期的信号が第２信号
導線上に伝送される信号伝送方法及びこの方法を
実施するための装置に関する。
少なくとも２つの信号導線を備えた装置における
信号伝送方法にして、２つの信号状態を有する少
なくとも１つの周期的信号が第１信号導線上で、
そして少なくとも１つの非周期的信号が第２信号
導線上に伝送される信号伝送方法及びこの方法を
実施するための装置に関する。
この種の信号伝送方法及びその装置は例えば数
値制御工作機械における加工物の加工のための工
具の位置決めに使用される。
値制御工作機械における加工物の加工のための工
具の位置決めに使用される。
（従来の技術）
***国特許公開公報3039483から測定尺の目盛
に同一の参照マークが絶対的に付設されており、
参照マークには各々識別のためにコードマークが
所属している。目盛の走査の際、走査ユニツトに
よつて２つの周期的走査信号が発生し、走査信号
90°だけ測定方向の識別のために相互に移送がず
らされており（目盛ピツチの1/4）、そして各々走
査信号導線を介して測定されるべき対象物の相対
位置の検出のための評価装置に供給される。参照
マークの走査の際、走査ユニツトによつて各々１
つの参照パルスが発生し、参照パスは参照パルス
導線を介して評価装置に供給される。同様に所属
のコードマークの走査の際に走査ユニツトによつ
て発生するコードパルスはコードパルス導線を介
して評価装置に供給される。
に同一の参照マークが絶対的に付設されており、
参照マークには各々識別のためにコードマークが
所属している。目盛の走査の際、走査ユニツトに
よつて２つの周期的走査信号が発生し、走査信号
90°だけ測定方向の識別のために相互に移送がず
らされており（目盛ピツチの1/4）、そして各々走
査信号導線を介して測定されるべき対象物の相対
位置の検出のための評価装置に供給される。参照
マークの走査の際、走査ユニツトによつて各々１
つの参照パルスが発生し、参照パスは参照パルス
導線を介して評価装置に供給される。同様に所属
のコードマークの走査の際に走査ユニツトによつ
て発生するコードパルスはコードパルス導線を介
して評価装置に供給される。
この測定装置では参照マークで発生する電気的
参照パルスは種々の方法で例えばカウンタへのゼ
ロ位置のリセツトのため、測定のはじめに所定の
位置のスタートのために及び妨害パルスの遮断の
ために、並びに後続する制御装置の供給のために
使用されことができる。
参照パルスは種々の方法で例えばカウンタへのゼ
ロ位置のリセツトのため、測定のはじめに所定の
位置のスタートのために及び妨害パルスの遮断の
ために、並びに後続する制御装置の供給のために
使用されことができる。
（発明の課題）
本発明は冒頭に記載した形式の装置で必要な伝
送導線の数を減少させることを課題とする。
送導線の数を減少させることを課題とする。
（課題の解決のための手段）
本発明によれば、この課題は特許請求の範囲第
１項及び特許請求の範囲第４項記載の構成によつ
て解決される。
１項及び特許請求の範囲第４項記載の構成によつ
て解決される。
本発明の有利な他の構成はその他の特許請求の
範囲に記載されている。
範囲に記載されている。
（実施例）
第１図に密閉型インクリメンタル長さ測定装置
が横断面図で示されており、中空型材であるハウ
ジング１はねじ２により図示しない工作機械の往
復台である被測定物３に固定されている。ハウジ
ング１の内方には弾性接着層４によつて測定尺Ｍ
が固定されており、測定尺は走査装置Ａによつて
走査される。工作機械のベツドである被測定物５
には組立足部６が任意の方法で固定されており、
組立足部は連行体７を介して走査ユニツトＡと結
合している。ハウジング１は縦方向に延在するス
リツト８を有し、スリツト８はパツキング９によ
つて閉鎖されており、パツキング９の間を通り連
行体７がその剣形範囲7′を以て貫通している。走
査ユニツトＡはローラ１０によつて測定尺Ｍの案
内面に沿つてそしてローラ１１によつてハウジン
グ１の案内面１２に沿つて移動可能である。
が横断面図で示されており、中空型材であるハウ
ジング１はねじ２により図示しない工作機械の往
復台である被測定物３に固定されている。ハウジ
ング１の内方には弾性接着層４によつて測定尺Ｍ
が固定されており、測定尺は走査装置Ａによつて
走査される。工作機械のベツドである被測定物５
には組立足部６が任意の方法で固定されており、
組立足部は連行体７を介して走査ユニツトＡと結
合している。ハウジング１は縦方向に延在するス
リツト８を有し、スリツト８はパツキング９によ
つて閉鎖されており、パツキング９の間を通り連
行体７がその剣形範囲7′を以て貫通している。走
査ユニツトＡはローラ１０によつて測定尺Ｍの案
内面に沿つてそしてローラ１１によつてハウジン
グ１の案内面１２に沿つて移動可能である。
第２図によれば測定尺Ｍは線格子であるインク
リメンタル目盛Ｔを有し、目盛Ｔは走査ユニツト
Ａによつて走査される。目盛Ｔに沿つて測定尺Ｍ
上に一列の同一の参照マークRn（ｎ＝１、２、
３）が設けられており、参照マークは目盛Ｔに絶
対的（絶対的位置関係を以て）に付設されてい
る。識別のための各個々の参照マークRnにそれ
ぞれ１つのコードマークCnが付設されている。
リメンタル目盛Ｔを有し、目盛Ｔは走査ユニツト
Ａによつて走査される。目盛Ｔに沿つて測定尺Ｍ
上に一列の同一の参照マークRn（ｎ＝１、２、
３）が設けられており、参照マークは目盛Ｔに絶
対的（絶対的位置関係を以て）に付設されてい
る。識別のための各個々の参照マークRnにそれ
ぞれ１つのコードマークCnが付設されている。
測定尺Ｍの目盛Ｔの走査のために走査ユニツト
Ａに走査板APが配設されており、走査板APはピ
ツチＴの格子定数（ピツチ）の1/4だけ相互にず
らされた走査フイールドAT1，AT2を有し、そ
の目盛は目盛Ｔと同一である。参照マークRnの
走査のために走査板AP上に走査フイールドAR
が、コードマークCnの走査のために走査フイー
ルドACが設けられている。
Ａに走査板APが配設されており、走査板APはピ
ツチＴの格子定数（ピツチ）の1/4だけ相互にず
らされた走査フイールドAT1，AT2を有し、そ
の目盛は目盛Ｔと同一である。参照マークRnの
走査のために走査板AP上に走査フイールドAR
が、コードマークCnの走査のために走査フイー
ルドACが設けられている。
走査フイールドAT1，AT2，AR，ACには走
査ユニツトＡ中に各々１つの図示しない光電要素
が付設されている。走査フイールドAT1，AT2
に付設された光電要素は目盛Ｔの格子定数（ピツ
チ）の1/4だけの相互に位置のずれた２つの走査
信号を発生し、走査信号は走査ユニツトＡ中で図
示しない方法で増幅されかつ第３ａ図、第３ｂ図
による周期的な矩形の走査信号S1，S2の間の90°
の位相ずれは走査方向の弁別を可能にする。
査ユニツトＡ中に各々１つの図示しない光電要素
が付設されている。走査フイールドAT1，AT2
に付設された光電要素は目盛Ｔの格子定数（ピツ
チ）の1/4だけの相互に位置のずれた２つの走査
信号を発生し、走査信号は走査ユニツトＡ中で図
示しない方法で増幅されかつ第３ａ図、第３ｂ図
による周期的な矩形の走査信号S1，S2の間の90°
の位相ずれは走査方向の弁別を可能にする。
走査フイールドARに付設された光電要素は参
照マークRnの走査の際に非周期的な参照パルス
を、そして走査フイールドACに付設された光電
要素は所属のコードマークCnの走査の際に非周
期的コードパルスを生じ、コードパルスは走査ユ
ニツトＡで増幅されかつ矩形参照パルスRSn（第
３ｃ図）及び所属の矩形コードパルスCSn（第３
ｄ図）に変換される。走査信号S1，S2及びパルス
RSn、CSnは第３図において被測定対象物３、５
の相対位置に依存して表わされている。
照マークRnの走査の際に非周期的な参照パルス
を、そして走査フイールドACに付設された光電
要素は所属のコードマークCnの走査の際に非周
期的コードパルスを生じ、コードパルスは走査ユ
ニツトＡで増幅されかつ矩形参照パルスRSn（第
３ｃ図）及び所属の矩形コードパルスCSn（第３
ｄ図）に変換される。走査信号S1，S2及びパルス
RSn、CSnは第３図において被測定対象物３、５
の相対位置に依存して表わされている。
得られた参照パルスRSnによつて種々の機能が
始動されることができる。参照パルスRSnの評価
によつて例えばインクリメンタル測定装置から各
参照マークRnに不変のゼロ点に関するその絶対
的な測定装置が示される。更に特定の参照マーク
Rnは特定の参照マークRnから得られる参照パル
スRSnの発生の際には測定装置のカウンタを値
「ゼロ」にリセツトするために使用される。
始動されることができる。参照パルスRSnの評価
によつて例えばインクリメンタル測定装置から各
参照マークRnに不変のゼロ点に関するその絶対
的な測定装置が示される。更に特定の参照マーク
Rnは特定の参照マークRnから得られる参照パル
スRSnの発生の際には測定装置のカウンタを値
「ゼロ」にリセツトするために使用される。
第４図によれば周期的走査信号S1，S2が走査ユ
ニツトＡによつて各々固有の導線L1，L2を介し
て被測定対象物３，５の相対位置の検出のための
評価装置Ｗに供給される。これらの導線L1，L2
は特に長さが長い場合端部にそれぞれ１つの送信
機T1，T2並びに受信機E1，E2を有する。同様な
方法で走査ユニツトＡによつて生じた参照パルス
RSnも導線LRを経て評価装置Ｗに供給され、導
線は同様に送信機TRと受信機ERを有する。送
信機T1，T2，TR及び受信機E1，E2，ERは伝達
の際に信号品質と妨害信号の防止のために使用さ
れる。
ニツトＡによつて各々固有の導線L1，L2を介し
て被測定対象物３，５の相対位置の検出のための
評価装置Ｗに供給される。これらの導線L1，L2
は特に長さが長い場合端部にそれぞれ１つの送信
機T1，T2並びに受信機E1，E2を有する。同様な
方法で走査ユニツトＡによつて生じた参照パルス
RSnも導線LRを経て評価装置Ｗに供給され、導
線は同様に送信機TRと受信機ERを有する。送
信機T1，T2，TR及び受信機E1，E2，ERは伝達
の際に信号品質と妨害信号の防止のために使用さ
れる。
走査ユニツトＡによつて生じたコードパルス
CSnの評価装置Ｗへの伝達は固有の導線を介して
行われるのではなく、本発明によれば参照パルス
RSnのための導線LRを介して行われ、即ち区別
のためにコードバルスCSnは例えば低い信号状態
SU1に、そして参照パルスRSnは両周期的走査信
号S1，S2の高い信号状態SO1，SO2に所属する
（高い信号状態SO1，SO2は論理１を表し、低い
信号状態SU1，SU2は周期的な矩形走査信号S1，
S2の論理０を表わす。
CSnの評価装置Ｗへの伝達は固有の導線を介して
行われるのではなく、本発明によれば参照パルス
RSnのための導線LRを介して行われ、即ち区別
のためにコードバルスCSnは例えば低い信号状態
SU1に、そして参照パルスRSnは両周期的走査信
号S1，S2の高い信号状態SO1，SO2に所属する
（高い信号状態SO1，SO2は論理１を表し、低い
信号状態SU1，SU2は周期的な矩形走査信号S1，
S2の論理０を表わす。
この目的で走査ユニツトＡに２つのアンド回路
U1，U2が接続している。両アンド回路U1，U2の
第１の入力は導線L1と、第２入力は導線L2と接
続している。アンド回路U1の第３入力には参照
パルスRSnが、そしてアンド回路U2の第３入力
にはコードパルスCSnが接続している。アンド回
路U2の第１入力及び第２入力は反転入力である。
アンド回路U1の入力に同時に参照パルスRSn及
び両走査信号S1，S2の高い信号状態SO1，SO2が
重なる場合、アンド回路U1の出力にピツチＴの
格子定数の1/4のパルス長さの参照パルスRSn′が
現れる。（第３ｅ図）。その両反転入力のためにア
ンド回路U2は走査信号S1，S2のこの高い信号状
態SO1，SO2では阻止される。アンド回路U2の入
力には同時にコードパルスCSnと両走査信号S1，
S2の低い信号状態SU1，SU2が重なると、アンド
回路U2の出力にピツチＴの格子定数の1/4のパル
ス長さのコードパルスCSn′が現れ、アンド回路
U1、はこの低い信号状態SU1，SU2の際に阻止さ
れる。参照パルスRn′及びコードパルスCSn′パル
スは両走査信号S1，S2のともに高い信号状態
SO1，SO2及び両走査信号S1，S2のともに低い信
号状態SU1，SU2において信号を出すためにその
長さが制限されており、このパルス長さがこれよ
りも長いと上記の信号状態の識別が不可能とな
る。
U1，U2が接続している。両アンド回路U1，U2の
第１の入力は導線L1と、第２入力は導線L2と接
続している。アンド回路U1の第３入力には参照
パルスRSnが、そしてアンド回路U2の第３入力
にはコードパルスCSnが接続している。アンド回
路U2の第１入力及び第２入力は反転入力である。
アンド回路U1の入力に同時に参照パルスRSn及
び両走査信号S1，S2の高い信号状態SO1，SO2が
重なる場合、アンド回路U1の出力にピツチＴの
格子定数の1/4のパルス長さの参照パルスRSn′が
現れる。（第３ｅ図）。その両反転入力のためにア
ンド回路U2は走査信号S1，S2のこの高い信号状
態SO1，SO2では阻止される。アンド回路U2の入
力には同時にコードパルスCSnと両走査信号S1，
S2の低い信号状態SU1，SU2が重なると、アンド
回路U2の出力にピツチＴの格子定数の1/4のパル
ス長さのコードパルスCSn′が現れ、アンド回路
U1、はこの低い信号状態SU1，SU2の際に阻止さ
れる。参照パルスRn′及びコードパルスCSn′パル
スは両走査信号S1，S2のともに高い信号状態
SO1，SO2及び両走査信号S1，S2のともに低い信
号状態SU1，SU2において信号を出すためにその
長さが制限されており、このパルス長さがこれよ
りも長いと上記の信号状態の識別が不可能とな
る。
コードパルスCSn′と参照パルスRSn′は共にオ
ア回路０並びに導線LRの発信機TR及び受信機
ERを経てアンド回路U3の第３入力及びアンド回
路U4の第３入力に達する。両アンド回路U3，U4
の第１入力は導線L1と第２入力は導線L2と接続
している。アンド回路U4の第１入力及び第２入
力は反転入力である。アンド回路U4の入力に同
時にコードパルスCSn′及び両走査信号S1，S2の
低い信号状態SU1，SU2が重なると、コードパル
スCSn′はアンド回路U4の出力から評価装置Ｗの
コードパルス入力に供給される。アンド回路U3
はこの信号状態SU1，SU2では阻止されている。
アンド回路U3の入力に同時に参照パルスRSn′と
両走査信号S1，S2の高い信号状態SO1，SO2が重
なると、参照パルスRSn′はアンド回路U3の出力
から評価装置Ｗの参照パルス入力に供給される。
アンド回路U4はこの信号状態SO1，SO2では阻止
される。
ア回路０並びに導線LRの発信機TR及び受信機
ERを経てアンド回路U3の第３入力及びアンド回
路U4の第３入力に達する。両アンド回路U3，U4
の第１入力は導線L1と第２入力は導線L2と接続
している。アンド回路U4の第１入力及び第２入
力は反転入力である。アンド回路U4の入力に同
時にコードパルスCSn′及び両走査信号S1，S2の
低い信号状態SU1，SU2が重なると、コードパル
スCSn′はアンド回路U4の出力から評価装置Ｗの
コードパルス入力に供給される。アンド回路U3
はこの信号状態SU1，SU2では阻止されている。
アンド回路U3の入力に同時に参照パルスRSn′と
両走査信号S1，S2の高い信号状態SO1，SO2が重
なると、参照パルスRSn′はアンド回路U3の出力
から評価装置Ｗの参照パルス入力に供給される。
アンド回路U4はこの信号状態SO1，SO2では阻止
される。
第４図による切換回路では両アンド回路U1，
U2は参照パルスRSnとコードパルスCSnのパルス
長が周期的走査信号S1，S2の所属の信号状態
SO1，SO2，SU1，SU2の範囲内にある場合に省
略されうる。参照パルRSnとコードパルスCSnは
直接オア回路０の両入力に供給される。
U2は参照パルスRSnとコードパルスCSnのパルス
長が周期的走査信号S1，S2の所属の信号状態
SO1，SO2，SU1，SU2の範囲内にある場合に省
略されうる。参照パルRSnとコードパルスCSnは
直接オア回路０の両入力に供給される。
図示しない方法で参照パルスRSnもコードパル
スCSnのための信号導線に伝達されることがで
き、その結果参照パルスRSnのための信号導線
LRは省略されることができる。この場合参照パ
ルスRSnは例えば走査信号S1の高い信号状態SO1
と走査信号S2の低い信号状態SU2に、そしてコー
ドパルスCSnは走査信号S1の低い信号状態SU2に
そしてコードパルスCSnは走査信号S1の低い信号
状態SU1及び走査信号S2の高い信号状態SO2に所
属することができる。
スCSnのための信号導線に伝達されることがで
き、その結果参照パルスRSnのための信号導線
LRは省略されることができる。この場合参照パ
ルスRSnは例えば走査信号S1の高い信号状態SO1
と走査信号S2の低い信号状態SU2に、そしてコー
ドパルスCSnは走査信号S1の低い信号状態SU2に
そしてコードパルスCSnは走査信号S1の低い信号
状態SU1及び走査信号S2の高い信号状態SO2に所
属することができる。
そのような測定装置では参照マークRSにコー
ドマークCnが付設されず、むしろ個々の同一の
参照マークRnの識別は個々の参照マークRnの間
の相異なる間隔によつて行われ、コードパルス
CSnの代わりに他の追加的信号パルス、例えば任
意の監視パルスも参照パルスRSnのための導線
LR上の伝送されることができる。
ドマークCnが付設されず、むしろ個々の同一の
参照マークRnの識別は個々の参照マークRnの間
の相異なる間隔によつて行われ、コードパルス
CSnの代わりに他の追加的信号パルス、例えば任
意の監視パルスも参照パルスRSnのための導線
LR上の伝送されることができる。
本発明は測定装置に制限されず、むしろ信号導
線を備えた任意の装置に使用されうる。
線を備えた任意の装置に使用されうる。
（発明の効果）
本発明によつて得られる利点は特に伝送導線の
多重化によつてその数を減少することができ、そ
の結果特に長い伝送導線ではかなりのコストダウ
ン及び簡単化並びに容易な組立が得られることが
できる。
多重化によつてその数を減少することができ、そ
の結果特に長い伝送導線ではかなりのコストダウ
ン及び簡単化並びに容易な組立が得られることが
できる。
第１図は密閉型インクリメンタル測定装置の横
断面図、第２ａ図及び第２ｂ図は測定尺及び走査
板、第３ａ図〜第３ｅ図はそれぞれの信号チヤー
ト、そして第４図は信号伝送回路図である。 図中符号、Ａ……走査ユニツト、CSn……コー
ドパルス、L1，L2……第１信号導線、LR……第
２信号導線、RSn……参照パルス、Ｏ……オア回
路、S1，S2……周期的走査信号、U1，U2，U3，
U4……アンド回路。
断面図、第２ａ図及び第２ｂ図は測定尺及び走査
板、第３ａ図〜第３ｅ図はそれぞれの信号チヤー
ト、そして第４図は信号伝送回路図である。 図中符号、Ａ……走査ユニツト、CSn……コー
ドパルス、L1，L2……第１信号導線、LR……第
２信号導線、RSn……参照パルス、Ｏ……オア回
路、S1，S2……周期的走査信号、U1，U2，U3，
U4……アンド回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 特に長さ又は角度の測定装置における少なく
とも２つの信号導線を備えた装置における信号伝
送方法にして、２つの信号状態を有する少なくと
も１つの周期的信号が第１信号導線上で、そして
少なくとも１つの非周期的信号が第２信号導線上
に伝送される信号伝送方法において、 第２信号導線LR上で少なくとも１つの追加的
非周期的信号RSn、CSnを伝送してアンド回路Ｕ
による論理演算の下に第１信号導線Ｌ上の少なく
とも１つの周期的走査信号Ｓのそれぞれ相異なる
信号状態SO，SUを識別するために、前記非周期
的信号RSn，CSnが第２信号導線LR上の前記ア
ンド回路Ｕに入力されることを特徴とする前記信
号伝送方法。 ２ 測定尺の目盛並びにこの目盛に絶対的に付設
され、コードバーを有する同一の参照マークは繰
作ユニツトによつて走査され、そして２つの信号
状態を有する少なくとも１つの周期的走査信号は
第１信号導線上でそして同一の参照パルスは第２
信号導線上で伝送される信号伝送方法において、 第２信号導線LR上で所属のコードパルスCSn
を伝送してアンド回路Ｕによる論理演算の下に第
１信号導線Ｌ上に少なくとも１つの周期的走査信
号Ｓのそれぞれ相異なる信号状態SO，SUを識別
するために、参照パルスRSn及びコードパルス
CSnが第２信号導線LR上の前記アンド回路Ｕに
入力される特許請求の範囲第１項記載の信号伝送
方法。 ３ 追加的非周期的信号が監視信号から成る、特
許請求の範囲第１項記載の信号伝送方法。 ４ 特に長さ又は角度の測定装置における少なく
とも２つの信号導線を備えた装置における信号伝
送方法にして、２つの信号状態を有する少なくと
も１つの周期的信号が第１信号導線上で、そして
少なくとも１つの非周期的信号が第２信号導線上
で伝送される信号伝送方法を実施するための装置
において、 第１アンド回路U1の少なくとも１つの反転さ
れない第１入力並びに第２アンド回路U2の少な
くとも１つの反転された第１入力はそれぞれ第１
信号導線Ｌと接続しており、第１アンド回路U1
の反転されない第２入力は非周期的信号RSnと、
そして第２アンド回路U2の反転されない第２入
力は追加的な非周期的信号CSnを入力され、両ア
ンド回路U1，U2の出力はオア回路Ｏの入力に接
続されており、その出力は第２信号導線LRを経
て第３アンド回路U3及び第４アンド回路U4の反
転されない第２入力と接続しており、そして第３
アンド回路U3の少なくとも１つの反転されない
第１入力と第４アンド回路U4の少なくとも１つ
の反転された第１入力とはそれぞれ少なくとも１
つの第１信号導線Ｌに接続していることを特徴と
する信号伝送装置。 ５ 少なくとも１つの第１信号導線Ｌと第３アン
ド回路U3及び第４アンド回路U4の出力が評価装
置Ｗに接続されている、特許請求の範囲第４項記
載の信号伝送装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3337653.0 | 1983-10-17 | ||
| DE19833337653 DE3337653A1 (de) | 1983-10-17 | 1983-10-17 | Verfahren zur signaluebertragung und einrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60101700A JPS60101700A (ja) | 1985-06-05 |
| JPH0426158B2 true JPH0426158B2 (ja) | 1992-05-06 |
Family
ID=6212016
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59216479A Granted JPS60101700A (ja) | 1983-10-17 | 1984-10-17 | 信号伝送方法及びその方法の実施のための装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4688019A (ja) |
| EP (1) | EP0155348B1 (ja) |
| JP (1) | JPS60101700A (ja) |
| AT (1) | ATE60966T1 (ja) |
| DE (2) | DE3337653A1 (ja) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5068529A (en) * | 1988-12-22 | 1991-11-26 | Nikon Corporation | Absolute position detection encoder |
| US4965446A (en) * | 1989-04-20 | 1990-10-23 | Ivac Corporation | Optical interrupter system with vibration compensation |
| AT394446B (de) * | 1990-10-11 | 1992-03-25 | Rsf Elektronik Gmbh | Inkrementales laengenmesssystem |
| JPH04295719A (ja) * | 1991-03-25 | 1992-10-20 | Nikon Corp | アブソリュ−ト・エンコ−ダ |
| US5294793A (en) * | 1991-08-23 | 1994-03-15 | Rsf-Elektronik Gesellschaft M.B.H. | System for measuring lengths or angles with a high-velocity movable scanning unit |
| AT401820B (de) * | 1991-11-22 | 1996-12-27 | Rsf Elektronik Gmbh | Längen- oder winkelmesssystem |
| US5336884A (en) * | 1992-07-01 | 1994-08-09 | Rockwell International Corporation | High resolution optical hybrid absolute incremental position encoder |
| DE59305801D1 (de) * | 1993-12-08 | 1997-04-17 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Längenmesssystem |
| JP3506613B2 (ja) | 1998-09-21 | 2004-03-15 | 株式会社ミツトヨ | 原点検出方式 |
| DE102008049140A1 (de) * | 2008-09-26 | 2010-04-01 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Anordnung und Verfahren zur Erzeugung eines Referenzimpulses für ein Positionsmessgerät |
| JP5155223B2 (ja) * | 2009-03-17 | 2013-03-06 | 株式会社ミツトヨ | アブソリュート型リニアエンコーダ、及び、その位置調整方法 |
Family Cites Families (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2986726A (en) * | 1957-04-08 | 1961-05-30 | Baldwin Piano Co | Analog to digital encoder |
| NL288951A (ja) * | 1963-02-14 | |||
| US3534360A (en) * | 1966-12-27 | 1970-10-13 | Baldwin Electronics Inc | Analog to digital encoder |
| US3601634A (en) * | 1970-07-13 | 1971-08-24 | Michel A Ebertin | Field effect transistor multiplexing circuit for time sharing a common conductor |
| DE2046019B2 (de) * | 1970-09-17 | 1977-02-10 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zur fernsteuerung mit einer sende-, einer uebertragungs- und einer empfangseinrichtung |
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| DE2758525B1 (de) * | 1977-12-28 | 1979-06-28 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Messeinrichtung mit codierter Unterteilung |
| IT1159657B (it) * | 1978-05-05 | 1987-03-04 | Rai Radiotelevisione Italiana | Codificatore stereofonico utilizzante un sistema di commutazione multilivello per la formazione del segnale stereofonico |
| JPS601563B2 (ja) * | 1978-12-27 | 1985-01-16 | 株式会社日本自動車部品総合研究所 | 回転検出装置 |
| CH637234A5 (de) * | 1979-05-16 | 1983-07-15 | Ssih Equipment Sa | Einrichtung zur stellungsdetektion, insbesondere zur winkelstellungsdetektion, eines markierungstraegers. |
| GB2076147B (en) * | 1980-05-15 | 1984-07-11 | Ferranti Ltd | Position encoder |
| DE3039483C2 (de) * | 1980-10-18 | 1986-09-11 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Inkrementale Längen- oder Winkelmeßeinrichtung |
| US4465928A (en) * | 1981-08-17 | 1984-08-14 | Itek Corporation | Optically multiplexed encoder system |
| JPS58205211A (ja) * | 1982-05-26 | 1983-11-30 | Fanuc Ltd | 障害自己診断機能付パルスエンコ−ダ |
-
1983
- 1983-10-17 DE DE19833337653 patent/DE3337653A1/de active Granted
-
1984
- 1984-08-28 EP EP84110201A patent/EP0155348B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1984-08-28 AT AT84110201T patent/ATE60966T1/de not_active IP Right Cessation
- 1984-08-28 DE DE8484110201T patent/DE3484139D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1984-10-05 US US06/658,112 patent/US4688019A/en not_active Expired - Fee Related
- 1984-10-17 JP JP59216479A patent/JPS60101700A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3337653A1 (de) | 1985-05-02 |
| JPS60101700A (ja) | 1985-06-05 |
| ATE60966T1 (de) | 1991-03-15 |
| EP0155348B1 (de) | 1991-02-20 |
| US4688019A (en) | 1987-08-18 |
| DE3484139D1 (de) | 1991-03-28 |
| EP0155348A3 (en) | 1988-05-04 |
| DE3337653C2 (ja) | 1988-04-07 |
| EP0155348A2 (de) | 1985-09-25 |
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