JPH04172625A - 光学式ピックアップ - Google Patents
光学式ピックアップInfo
- Publication number
- JPH04172625A JPH04172625A JP2299389A JP29938990A JPH04172625A JP H04172625 A JPH04172625 A JP H04172625A JP 2299389 A JP2299389 A JP 2299389A JP 29938990 A JP29938990 A JP 29938990A JP H04172625 A JPH04172625 A JP H04172625A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- beam splitter
- light
- optical axis
- parallel
- concave mirror
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 31
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims abstract description 10
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 14
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 5
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 abstract description 4
- 230000010287 polarization Effects 0.000 abstract description 4
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000010422 painting Methods 0.000 abstract 2
- 238000005488 sandblasting Methods 0.000 abstract 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 2
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 2
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、円板状記録媒体に光学式に各種情報を記録、
再生および再生のみを行う光デイスク装置の光学式とツ
クアップに関する6 0従来の技術。
再生および再生のみを行う光デイスク装置の光学式とツ
クアップに関する6 0従来の技術。
従来の光学式ピックアップについて図を9照して説明す
る。
る。
第5図は従来例を説明するための図、第6図は第5図の
対物レンズのファーフィールドよりみた正面図である。
対物レンズのファーフィールドよりみた正面図である。
第5図および第6図に示すように従来の光学式ピックア
ップにおいては、半導体レーザ1を出射した光束はコリ
メートレンズ2により平行光とされた後、前方に配置さ
れたヒーム整形プリズム3に入射し、半導体レーザ1の
PN接合面に平行な方向に25倍程度拡大され、円形光
束となって、偏光ビームスプリッタ4に入射する。この
時、偏光ビームスプリッタ4はコリン−1〜2出射後の
光束がS偏光て入射するように配置されているのて、偏
光ビームスプリッタ4に入射した光束は、その誘電体多
層膜をコートした接合面により100%反射され、λ2
/4板5を透過後、円偏光となって、対物レンズOによ
り、円板状記録媒体7上に集光される。
ップにおいては、半導体レーザ1を出射した光束はコリ
メートレンズ2により平行光とされた後、前方に配置さ
れたヒーム整形プリズム3に入射し、半導体レーザ1の
PN接合面に平行な方向に25倍程度拡大され、円形光
束となって、偏光ビームスプリッタ4に入射する。この
時、偏光ビームスプリッタ4はコリン−1〜2出射後の
光束がS偏光て入射するように配置されているのて、偏
光ビームスプリッタ4に入射した光束は、その誘電体多
層膜をコートした接合面により100%反射され、λ2
/4板5を透過後、円偏光となって、対物レンズOによ
り、円板状記録媒体7上に集光される。
かかる後に、円板状記録媒体7によって反射された光束
は再び対物レンズ6を透過し、λ、・′4板5を透過し
、半導体レーザ1出射後の光束となす方位角か90°と
なる直線偏光となり、再ひ偏光ビームスプリッタ4に入
射する。この時、二の光束は偏光ビームスプリッタに対
してP偏光で入射するため、100%透過し、λ/4板
5を透過後、円偏光となり、凹面鏡9によって集光され
ながら反射する。そして、再びλ、・・′4板5を透過
し、S偏光となり、今度は偏光ビームスプリッタ4の誘
電体多層膜をコートした接合面により100%反射され
、ビームスプリッタ9に入射する。
は再び対物レンズ6を透過し、λ、・′4板5を透過し
、半導体レーザ1出射後の光束となす方位角か90°と
なる直線偏光となり、再ひ偏光ビームスプリッタ4に入
射する。この時、二の光束は偏光ビームスプリッタに対
してP偏光で入射するため、100%透過し、λ/4板
5を透過後、円偏光となり、凹面鏡9によって集光され
ながら反射する。そして、再びλ、・・′4板5を透過
し、S偏光となり、今度は偏光ビームスプリッタ4の誘
電体多層膜をコートした接合面により100%反射され
、ビームスプリッタ9に入射する。
ビームスプリッタ9に入射した光束は、その50%かコ
リメートレンズ2の光軸と平行な方向に透過する。残り
50%はそれと直交する方向に反射し、ビームスプリッ
タ9のコリメートしンズ2の光軸と平行な方向に出射し
た光束は前方にあるナイフ10により、さらに50%が
変更され受光素子11によって捕えられ、その差動出力
により、フォーカシンク制御を行う。
リメートレンズ2の光軸と平行な方向に透過する。残り
50%はそれと直交する方向に反射し、ビームスプリッ
タ9のコリメートしンズ2の光軸と平行な方向に出射し
た光束は前方にあるナイフ10により、さらに50%が
変更され受光素子11によって捕えられ、その差動出力
により、フォーカシンク制御を行う。
残りのコリーメートレンズ2の光軸に直交する方向に出
射した光束は受光素子12によって捕えられ、トラッキ
ング制御およびRF信号検出を行う。
射した光束は受光素子12によって捕えられ、トラッキ
ング制御およびRF信号検出を行う。
上述した従来の光学式ピックアップでは、フォーカス制
御を行うためにシングルナイフェツジ法を採用しており
、ビームスプリッタから凹面鏡の光軸に直交する方向に
出射した光束をナイフにより、コリメートレンズの光軸
に直交する内面において50%の光量の遮光を行い、2
分割以上の受光素子でその分割線かナイフのエツジと平
行になるよう捕らえ、差動出力により制御を行っている
。しかし、外部からの衝撃および温度変化により受光素
子の差動出力にオフセットを生じた場合にはフォーカス
制御か不能になるばかりでなく、フォーカス検出機能を
回復するためには再度、受講素子を調整し直さばならな
いという欠点かある。
御を行うためにシングルナイフェツジ法を採用しており
、ビームスプリッタから凹面鏡の光軸に直交する方向に
出射した光束をナイフにより、コリメートレンズの光軸
に直交する内面において50%の光量の遮光を行い、2
分割以上の受光素子でその分割線かナイフのエツジと平
行になるよう捕らえ、差動出力により制御を行っている
。しかし、外部からの衝撃および温度変化により受光素
子の差動出力にオフセットを生じた場合にはフォーカス
制御か不能になるばかりでなく、フォーカス検出機能を
回復するためには再度、受講素子を調整し直さばならな
いという欠点かある。
〔課題を解決するための手段J
本発明の光学式ピックアップは、半導体レーザと、半導
体レーザから出射した光束を平行光とするコリメートレ
ンズと、コリメートレンズの前方に配置され、コリメー
トレンズ出射の光束を半導体レーザのPN接合面と平行
な方向に拡大するヒーム整形プリズムと、ビーム整形ブ
リスムに接合されたコリメートレンズの光軸と直交する
方向の2つの出射面にそれぞれλ/4板が接合され、か
つ、その一方のλ/4板に凹面鏡が接合された偏光ビー
ムスプリッタと、偏光ビームスプリッタに接合された第
1のビームスプリッタと、第1のビームスプリッタに接
合され、第1のビームスプリッタから出射した光束をコ
リメートレンズの光軸と平行な方向と垂直な方向にそれ
ぞれ50%ずつ分割し、かつ、それぞれの光束の出射面
に部分的に光吸収用の黒色塗装と砂すり処理は施した第
2のビームスプリッタと、第1のビームスプリッタの凹
面鏡の光軸と平行な出射面の前方に配置された、少なく
とも・4分割以上の受光素子と、第2のビームスプリッ
タの凹面鏡力光軸と垂直な方向と平行な方向の出射面に
少なくとも2分割以上の第1およ第2の受光素子をそれ
ぞれ配置している。
体レーザから出射した光束を平行光とするコリメートレ
ンズと、コリメートレンズの前方に配置され、コリメー
トレンズ出射の光束を半導体レーザのPN接合面と平行
な方向に拡大するヒーム整形プリズムと、ビーム整形ブ
リスムに接合されたコリメートレンズの光軸と直交する
方向の2つの出射面にそれぞれλ/4板が接合され、か
つ、その一方のλ/4板に凹面鏡が接合された偏光ビー
ムスプリッタと、偏光ビームスプリッタに接合された第
1のビームスプリッタと、第1のビームスプリッタに接
合され、第1のビームスプリッタから出射した光束をコ
リメートレンズの光軸と平行な方向と垂直な方向にそれ
ぞれ50%ずつ分割し、かつ、それぞれの光束の出射面
に部分的に光吸収用の黒色塗装と砂すり処理は施した第
2のビームスプリッタと、第1のビームスプリッタの凹
面鏡の光軸と平行な出射面の前方に配置された、少なく
とも・4分割以上の受光素子と、第2のビームスプリッ
タの凹面鏡力光軸と垂直な方向と平行な方向の出射面に
少なくとも2分割以上の第1およ第2の受光素子をそれ
ぞれ配置している。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の光学式ピックアップの側面
図、第2図は第1図の対物レンズ側のファーフィールド
よりみた正面図、第3図は本発明の一実施例のプリズム
郡を説明するための斜視図、第4図は本発明の一実施例
のフォーカス検出を説明するための図である。
図、第2図は第1図の対物レンズ側のファーフィールド
よりみた正面図、第3図は本発明の一実施例のプリズム
郡を説明するための斜視図、第4図は本発明の一実施例
のフォーカス検出を説明するための図である。
第1図および第2図において、半導体レーザ1を比射し
た光束はコリメートレンズ2により平行光とされた後、
前方に配置されたヒーム整形プリスム3に入射し、半導
体レーザ1のそのPN接合面に平行な方向に2.5倍程
度拡大され、円形光束となって偏光ビームスプリッタ4
に入射する。
た光束はコリメートレンズ2により平行光とされた後、
前方に配置されたヒーム整形プリスム3に入射し、半導
体レーザ1のそのPN接合面に平行な方向に2.5倍程
度拡大され、円形光束となって偏光ビームスプリッタ4
に入射する。
この時、偏光ビームスプリッタ4は半導体し−サ1出射
後の光束に対しては、例えば、P偏光を100%透過し
、S偏光を1000g反射するような特性を持たせであ
るが、この場合、偏光ヒーふスプリッタ4はコリメート
レンズ2出射後の光束かS偏光で入射するように配置さ
れているため、偏光ビームスプリッタ4に入射した光束
は、その誘電体多層膜をコートした接合面を100%反
射され、λ/4板5を透過後、円偏光となり対′Sしン
ス6により、円板状記録媒体7上に集光される。
後の光束に対しては、例えば、P偏光を100%透過し
、S偏光を1000g反射するような特性を持たせであ
るが、この場合、偏光ヒーふスプリッタ4はコリメート
レンズ2出射後の光束かS偏光で入射するように配置さ
れているため、偏光ビームスプリッタ4に入射した光束
は、その誘電体多層膜をコートした接合面を100%反
射され、λ/4板5を透過後、円偏光となり対′Sしン
ス6により、円板状記録媒体7上に集光される。
かかる後に、円板状記録媒体7によって反射された光束
は再ひ対物レンズ6およびλ/′4板5を透過し、半導
体レーザ1出射後の光束となす方位角か90’となる直
線偏光となる。そして、再び、偏光ビームスプリッタ4
に入射するため、その誘電体多層膜をコートした接合面
を今度は透過し、λ/4板5を透過して、円偏光となり
、凹面鏡8に入射する。
は再ひ対物レンズ6およびλ/′4板5を透過し、半導
体レーザ1出射後の光束となす方位角か90’となる直
線偏光となる。そして、再び、偏光ビームスプリッタ4
に入射するため、その誘電体多層膜をコートした接合面
を今度は透過し、λ/4板5を透過して、円偏光となり
、凹面鏡8に入射する。
凹面鏡8に入射した光束は100%の光量か集光されな
から反射し、λ/4板5を透過して、再ひ、S偏光とな
るため、偏光ビームスブリ・ツタ4の誘電体多層膜をコ
ート接合面により反射され第1のビームスプリッタ9に
入射する。
から反射し、λ/4板5を透過して、再ひ、S偏光とな
るため、偏光ビームスブリ・ツタ4の誘電体多層膜をコ
ート接合面により反射され第1のビームスプリッタ9に
入射する。
第1のビームスプリッタ9に入射した光束はその50%
の光量が誘電体多層膜をコートした接合面により反射し
、前方にある受光素子12によ−)て捕えられ、その差
動出力によりトラッキング制御およびRF信号検出を行
う。
の光量が誘電体多層膜をコートした接合面により反射し
、前方にある受光素子12によ−)て捕えられ、その差
動出力によりトラッキング制御およびRF信号検出を行
う。
次に、第1のビームスプリツタ9誘電体多層膜をコート
した接合面を透過した残りの光束は第2のビームスプリ
ッタ13に入射する。この時、第2のビームスプリッタ
13は第3図に示すようにビームスプリッタ13から出
射する2つの光束をそれぞれ凹面鏡8の光軸と平行な両
面において、50%ずつ遮光するように13aおよび1
3b部分が砂ずり面で、しかも、光吸収用の黒色塗装か
施しであるため、断面か半円状の光束となって受光素子
11および13に入射する。
した接合面を透過した残りの光束は第2のビームスプリ
ッタ13に入射する。この時、第2のビームスプリッタ
13は第3図に示すようにビームスプリッタ13から出
射する2つの光束をそれぞれ凹面鏡8の光軸と平行な両
面において、50%ずつ遮光するように13aおよび1
3b部分が砂ずり面で、しかも、光吸収用の黒色塗装か
施しであるため、断面か半円状の光束となって受光素子
11および13に入射する。
受光素子13aおよび13bに入射した光束は第4図に
示すように受光されるが、この時、受光素子13aおよ
び13bはそれぞれ2分割の受光面を有しているのて、
(A+D) −(B+C)のような差動出力によりフォ
ーカス制御を行う。
示すように受光されるが、この時、受光素子13aおよ
び13bはそれぞれ2分割の受光面を有しているのて、
(A+D) −(B+C)のような差動出力によりフォ
ーカス制御を行う。
以上説明したように本発明によれば、部分的な砂ずり処
理と光吸収用の黒色塗装を施したビームスプリッタによ
ってきた2つのフォーカス検出系を用いてダブルナイフ
ェツジ法を形成する二とにより、外部からの衝撃および
環境変化によるフォーカス検出系のオフセットをキャン
セルてきるという効果がある。
理と光吸収用の黒色塗装を施したビームスプリッタによ
ってきた2つのフォーカス検出系を用いてダブルナイフ
ェツジ法を形成する二とにより、外部からの衝撃および
環境変化によるフォーカス検出系のオフセットをキャン
セルてきるという効果がある。
また、マスキングにより予めフォーカス検出用の光束を
その光軸に垂直な面内で遮光することによりナイフェツ
ジの調整を省略てきるという効果かある。
その光軸に垂直な面内で遮光することによりナイフェツ
ジの調整を省略てきるという効果かある。
第1図は本発明の一実施例の光学式ピックアップの側面
図、第2図は第1図の対物レンズ側のファーフィールド
よりみた正面図、第3図は本発明の一実施例のプリスム
郡を説明するための斜視図よりみた正面図、第4図は本
発明の一実施例のフォーカス検出を説明するための図、
第5図は従来例を説明するための図、第6図は第5図の
対物レンズのファーフィールドよりみた正面図である。 1・半導体レーザ、2・・・コリメートレンズ。 3・・・ビーム整形プリスム、4・・偏光ヒームスプリ
ツタ、5・・・^/4板、6・・・対物レンズ、7・・
・円板状記録媒体、8・・・凹面鏡、9・・第1のヒー
ムスプリツタ、10・・・ナイフ、11.12.14・
・・受光素子、13・・第2のヒームスプリツタ、13
a、13b・・・マスキング部。
図、第2図は第1図の対物レンズ側のファーフィールド
よりみた正面図、第3図は本発明の一実施例のプリスム
郡を説明するための斜視図よりみた正面図、第4図は本
発明の一実施例のフォーカス検出を説明するための図、
第5図は従来例を説明するための図、第6図は第5図の
対物レンズのファーフィールドよりみた正面図である。 1・半導体レーザ、2・・・コリメートレンズ。 3・・・ビーム整形プリスム、4・・偏光ヒームスプリ
ツタ、5・・・^/4板、6・・・対物レンズ、7・・
・円板状記録媒体、8・・・凹面鏡、9・・第1のヒー
ムスプリツタ、10・・・ナイフ、11.12.14・
・・受光素子、13・・第2のヒームスプリツタ、13
a、13b・・・マスキング部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 円板状記録媒体に光学的に記録された情報を再生する光
ディスク装置において、 半導体レーザと、 前記半導体レーザから出射した光束を平行光とするコリ
メートレンズと、 前記コリメートレンズの前方に配置され前記コリメート
レンズ出射の光束を前記半導体レーザのPN接合面と平
行な方向に拡大するビーム整形プリズムと、 前記ビーム整形プリズムに接合された前記コリメートレ
ンズの光軸と直交する方向の2つの出射面にそれぞれλ
/4板が接合され、かつ、その一方のλ/4板に凹面鏡
が接合された偏光ビームスプリッタと、 前記偏光ビームスプリッタに接合された第1のビームス
プリッタと、 前記第1のビームスプリッタに接合され前記第1のビー
ムスプリッタから出射した光束を前記コリメートレンズ
の光軸と平行な方向と垂直な方向にそれぞれ50%ずつ
分割し、かつ、それぞれの光束の出射面に部分的に光吸
収用の黒色塗装と砂ずり処理を施した第2のビームスプ
リッタと、前記第1のビームスプリッタの前記凹面鏡の
光軸と平行な出射面の前方に配置された少なくとも4分
割以上の受光素子と、 前記第2のビームスプリッタの前記凹面鏡の光軸と垂直
な方向と平行な方向の出射面に少なくとも2分割以上の
第1およ第2の受光素子とをそれぞれ配置したことを特
徴とする光学式ピックアップ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2299389A JPH04172625A (ja) | 1990-11-05 | 1990-11-05 | 光学式ピックアップ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2299389A JPH04172625A (ja) | 1990-11-05 | 1990-11-05 | 光学式ピックアップ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04172625A true JPH04172625A (ja) | 1992-06-19 |
Family
ID=17871926
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2299389A Pending JPH04172625A (ja) | 1990-11-05 | 1990-11-05 | 光学式ピックアップ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04172625A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100269161B1 (ko) * | 1993-02-27 | 2000-10-16 | 윤종용 | 광헤드 |
-
1990
- 1990-11-05 JP JP2299389A patent/JPH04172625A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100269161B1 (ko) * | 1993-02-27 | 2000-10-16 | 윤종용 | 광헤드 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5293569A (en) | Magneto-optical recording/reproducing apparatus including an optical head with an optical element having a plurality of prisms | |
JPH01317250A (ja) | 磁気光学記録担体を光学的に走査する装置 | |
JP2798185B2 (ja) | 光磁気式情報再生装置用光学ヘッド | |
JP3362912B2 (ja) | ビーム整形及びビーム分離装置 | |
JPH04172625A (ja) | 光学式ピックアップ | |
JPH0321973B2 (ja) | ||
JPH0474319A (ja) | 光学式ピックアップ | |
JP2806197B2 (ja) | 光ピックアップ | |
JPH06203420A (ja) | 光磁気検出器 | |
JPS6047241A (ja) | 光ヘツド装置 | |
JP3356814B2 (ja) | 光磁気記録再生装置における光束分離光学系 | |
JPH04172626A (ja) | 光学式ピックアップ | |
JPH04170724A (ja) | 光学式ピックアップ装置 | |
JPS59146458A (ja) | 光学的記録再生装置 | |
JPS59195344A (ja) | 光学ヘツド | |
JPH0323521A (ja) | 光学式ピックアップ装置 | |
JPS62226454A (ja) | 光磁気記録再生装置 | |
JPH01294236A (ja) | 光ヘツド | |
JPS63228423A (ja) | 光学的情報処理装置 | |
JPH02201742A (ja) | 光学式ピックアップ | |
JPS59116605A (ja) | 光学系の焦点検出方法 | |
JPH0294118A (ja) | 焦点誤差検出装置 | |
JPH04286745A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
JPS63131333A (ja) | フオ−カス誤差検出装置 | |
JPS62252535A (ja) | 光学的情報検出装置 |