JPH0294118A - 焦点誤差検出装置 - Google Patents
焦点誤差検出装置Info
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- JPH0294118A JPH0294118A JP24595188A JP24595188A JPH0294118A JP H0294118 A JPH0294118 A JP H0294118A JP 24595188 A JP24595188 A JP 24595188A JP 24595188 A JP24595188 A JP 24595188A JP H0294118 A JPH0294118 A JP H0294118A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的コ
(産業上の利用分野)
この発明は光ディスクを用いて情報の記録・m生を行な
う光ディスク装置に係り、特に光学ヘットにおける対物
レンズの焦点誤差検出装置に関する。
う光ディスク装置に係り、特に光学ヘットにおける対物
レンズの焦点誤差検出装置に関する。
(従来の技術)
光ディスク装置における焦点誤差の検出方式としては、
非点収差法、臨界角法、ナイフェツジ法、ビームサイズ
法などが知られている。非点収差法は少なくとも4つに
分割された光検出器を用いる必要があるため調整か困難
であり、臨界角法は特に精度の高いプリズムを用いる必
要があるため高価となり、またナイフェツジ法は光mの
損失がある」二、ナイフェツジの位置調整が難しい、と
いった難点がある。
非点収差法、臨界角法、ナイフェツジ法、ビームサイズ
法などが知られている。非点収差法は少なくとも4つに
分割された光検出器を用いる必要があるため調整か困難
であり、臨界角法は特に精度の高いプリズムを用いる必
要があるため高価となり、またナイフェツジ法は光mの
損失がある」二、ナイフェツジの位置調整が難しい、と
いった難点がある。
一方、ビームサイズ法は光検出器に入射するビームのサ
イズ(スポラ)・サイズ)の変化によって焦点誤差を検
出する方式である。このビームサイズ法を具体化した例
として、例えば特開昭60217535号公報に記載さ
れているように、光ディスクからの反射光を集光レンス
の後に置いたビムスプリツタにより2つに分岐し、それ
ぞれの光路」−での集光レンスの焦点位置より前及び後
に光検出器を置き、それぞれの光検出器へ入射する反射
光のビームサイスを検出し、その差をとって焦点誤差信
号を得る装置tかある。この構成によれば、特別な光学
素子を必要とせず、光検出器の位置調整も容易であり、
特に情報信号を1/2波長板と偏光ビームスプリッタの
組合せにより差動検出することの多い光磁気ディスク装
置では、光学ヘッドの小型化にも有利である。
イズ(スポラ)・サイズ)の変化によって焦点誤差を検
出する方式である。このビームサイズ法を具体化した例
として、例えば特開昭60217535号公報に記載さ
れているように、光ディスクからの反射光を集光レンス
の後に置いたビムスプリツタにより2つに分岐し、それ
ぞれの光路」−での集光レンスの焦点位置より前及び後
に光検出器を置き、それぞれの光検出器へ入射する反射
光のビームサイスを検出し、その差をとって焦点誤差信
号を得る装置tかある。この構成によれば、特別な光学
素子を必要とせず、光検出器の位置調整も容易であり、
特に情報信号を1/2波長板と偏光ビームスプリッタの
組合せにより差動検出することの多い光磁気ディスク装
置では、光学ヘッドの小型化にも有利である。
このビームサイズ法における焦点誤差検出感度は、光検
出器の焦点位置からの距離と、光検出器を構成する各エ
レメントの面積比に依存しており、ビーム中心を含む部
分が入射される中央エレメントの大きさを、ビーム径か
最小となる時にビーム全体かちょうど入る大きさに近イ
」けるほど検出感度か高(なる。しかしながら、従来の
構成では第5図(a)に示す信号F、、F2の差をとっ
て得られた焦点誤差信号P I F 2と焦点誤差信
号との関係を示す第5図(b)かられかるように、フォ
カシングサーボの引込み範囲両端部で焦点誤差信号F、
−F2の極性が反転し、光検出器の中央エレメントの面
積比が小さいほど、その反転領域か大きくなるという問
題がある。この問題を詳しく説明する。
出器の焦点位置からの距離と、光検出器を構成する各エ
レメントの面積比に依存しており、ビーム中心を含む部
分が入射される中央エレメントの大きさを、ビーム径か
最小となる時にビーム全体かちょうど入る大きさに近イ
」けるほど検出感度か高(なる。しかしながら、従来の
構成では第5図(a)に示す信号F、、F2の差をとっ
て得られた焦点誤差信号P I F 2と焦点誤差信
号との関係を示す第5図(b)かられかるように、フォ
カシングサーボの引込み範囲両端部で焦点誤差信号F、
−F2の極性が反転し、光検出器の中央エレメントの面
積比が小さいほど、その反転領域か大きくなるという問
題がある。この問題を詳しく説明する。
ビームサイズ法において一つの光検出器てビムサイズを
検出する場合、光検出器をビーム中心を含む部分とビー
ム周辺を含む部分とを分けて入射させるように、光検出
器を例えば同心固状に2分割し、各エレメントからの出
力信号の差をとる方法か多くとられる。周辺エレメント
からの出力信号をA1中央エレメントからの出力信号を
Bとすると、光検出器の受光面がビームの広がりに対し
て十分大きければ、差信号B−Aは光検出器上のビーム
径か最小となる位置に光ディスクがあるとき最大値とな
り、原理的にはその位置より光ディスクが対物レンズ側
に近付いても遠さかっても、ビーム径の増加に伴なって
単調に減少するはずである。ずなわぢ、2つの光検出器
の出力信号についてそれぞれ得られた2つの差信号Fl
、F2は本来はほぼ同じ変化をし、ただ位相がずれるた
けなのであるから、フォーカシングサーボの引込み範囲
両端部での焦点誤差信号F、−F2の反転領域は生じな
いはずである。
検出する場合、光検出器をビーム中心を含む部分とビー
ム周辺を含む部分とを分けて入射させるように、光検出
器を例えば同心固状に2分割し、各エレメントからの出
力信号の差をとる方法か多くとられる。周辺エレメント
からの出力信号をA1中央エレメントからの出力信号を
Bとすると、光検出器の受光面がビームの広がりに対し
て十分大きければ、差信号B−Aは光検出器上のビーム
径か最小となる位置に光ディスクがあるとき最大値とな
り、原理的にはその位置より光ディスクが対物レンズ側
に近付いても遠さかっても、ビーム径の増加に伴なって
単調に減少するはずである。ずなわぢ、2つの光検出器
の出力信号についてそれぞれ得られた2つの差信号Fl
、F2は本来はほぼ同じ変化をし、ただ位相がずれるた
けなのであるから、フォーカシングサーボの引込み範囲
両端部での焦点誤差信号F、−F2の反転領域は生じな
いはずである。
しかし、実際には製造」二の問題などがら光検出器をあ
まり大きくできないので、デイフォーカス時にビームか
急速に広がると、光検出器からビムかはみ出てしまう。
まり大きくできないので、デイフォーカス時にビームか
急速に広がると、光検出器からビムかはみ出てしまう。
このとき中央エレメントの面積比か小さいと、ビームが
光検出器からはみ出したとき周辺エレメントへの入射光
間が少なくなるため、ビーム径の増大に応じて単調減少
するはずの差信号B−Aが増加することがある。これに
より他方の光検出器の出力信号から得た差信号BAとの
大小関係が入替わり、焦点誤差信号の極性が反転するの
である。
光検出器からはみ出したとき周辺エレメントへの入射光
間が少なくなるため、ビーム径の増大に応じて単調減少
するはずの差信号B−Aが増加することがある。これに
より他方の光検出器の出力信号から得た差信号BAとの
大小関係が入替わり、焦点誤差信号の極性が反転するの
である。
(発明が解決しようとする課題)
このように従来のビームサイズ法による焦点誤差検出装
置では、フォーカシングサーボの引込み範囲両端部で焦
点誤差信号の極性反転か生じ、安定したフォーカシング
サーボかできないという問題かあった。
置では、フォーカシングサーボの引込み範囲両端部で焦
点誤差信号の極性反転か生じ、安定したフォーカシング
サーボかできないという問題かあった。
この発明はビームサイズ法による焦点誤差検出において
、フォーカシングサーボの引込み範囲両端部で焦点誤差
信号の極性反転が生じない焦点誤差検出装置を提供する
ことを目的とする。
、フォーカシングサーボの引込み範囲両端部で焦点誤差
信号の極性反転が生じない焦点誤差検出装置を提供する
ことを目的とする。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
この発明においては、光ディスクからの反射光を集光レ
ンズを介して第1及び第2の光路に分岐させ、第1の光
路−1−の集光レンズの焦点位置前方及び第2の光路」
二の集光レンズの焦点位置後方にそれぞれ第1及び第2
の光検出器を配置し、第1及び第2の光検出器の出力信
号を演算手段に導いて、光ディスクに対する対物レンズ
の焦点位置の相対誤差を示す焦点誤差信号を生成する場
合、第1及び第2の光検出器にそれぞれ入射する反射光
の全光量に対応する信号に対する、反射光のビームサイ
ズに応じた信号の相対値をそれぞれ求め、両相対価の差
の信号を焦点誤差信号として出力するようにしたもので
ある。
ンズを介して第1及び第2の光路に分岐させ、第1の光
路−1−の集光レンズの焦点位置前方及び第2の光路」
二の集光レンズの焦点位置後方にそれぞれ第1及び第2
の光検出器を配置し、第1及び第2の光検出器の出力信
号を演算手段に導いて、光ディスクに対する対物レンズ
の焦点位置の相対誤差を示す焦点誤差信号を生成する場
合、第1及び第2の光検出器にそれぞれ入射する反射光
の全光量に対応する信号に対する、反射光のビームサイ
ズに応じた信号の相対値をそれぞれ求め、両相対価の差
の信号を焦点誤差信号として出力するようにしたもので
ある。
より具体的には、例えば第1及び第2の光検出器は同心
固状に2分割され、演算手段は第1及び第2の光検出器
の周辺部及び中央部の出力信号をABとし、たとき、前
記相対値として(+3−A}/(A−1−B)を求める
。
固状に2分割され、演算手段は第1及び第2の光検出器
の周辺部及び中央部の出力信号をABとし、たとき、前
記相対値として(+3−A}/(A−1−B)を求める
。
また、他の例によれば第1及び第2の光検出器はそれぞ
れ所定方向に3分割され、演算手段は第1及び第2の光
検出器の両側部の出力信号をA。
れ所定方向に3分割され、演算手段は第1及び第2の光
検出器の両側部の出力信号をA。
Cとし、中央部の出力信号をBとしたとぎ、前記相対値
として(B−(A+C)}/ (A+B+C)を求める
。
として(B−(A+C)}/ (A+B+C)を求める
。
(作 用)
2つの光検出器を集光レンスの焦点位置からほぼ等距離
の位置に配置しておけは、光ディスクに対する対物レン
ズの焦点位置の相対誤差が小さい合焦点付近ではそれぞ
れに入射する反射光のビムサイスはほぼ等しいので、焦
点誤差信号のレベルは小さい。光ディスクに対する対物
レンズの焦点位置の関係が合焦点からずれてゆくと、2
つの光検出器にそれぞれ入射する反射光のビームサイズ
は、そのずれの方向に応じて一方では増加し、他方では
減少するので、焦点誤差信号のレベルが大きくなる。
の位置に配置しておけは、光ディスクに対する対物レン
ズの焦点位置の相対誤差が小さい合焦点付近ではそれぞ
れに入射する反射光のビムサイスはほぼ等しいので、焦
点誤差信号のレベルは小さい。光ディスクに対する対物
レンズの焦点位置の関係が合焦点からずれてゆくと、2
つの光検出器にそれぞれ入射する反射光のビームサイズ
は、そのずれの方向に応じて一方では増加し、他方では
減少するので、焦点誤差信号のレベルが大きくなる。
ここで、この発明において演算手段により得られる前記
相対値(B−A}/ (A+B)、 [B(A +
C) l / (A + B + C)を変形すると、
2 tB/ (A+B))−1,2tB/ (A+B+
C)l−1となる。これらの式の第1項に注目すると、
ビームサイズが大きくなるに従って、すなわち光の検出
器に入射する部分の強度分布が−様な分布に近付くにつ
れて、光検出器の全入射光量に対する中央部への入射光
量の割合は単調に減少することにより、前記相対値も減
少することかわかる。従って、2つの光検出器の出力信
号についての前記相対値の差をとって得られた焦点誤差
信号は、フォーカシングサーボの引込み範囲両端部で極
性反転を生しない。
相対値(B−A}/ (A+B)、 [B(A +
C) l / (A + B + C)を変形すると、
2 tB/ (A+B))−1,2tB/ (A+B+
C)l−1となる。これらの式の第1項に注目すると、
ビームサイズが大きくなるに従って、すなわち光の検出
器に入射する部分の強度分布が−様な分布に近付くにつ
れて、光検出器の全入射光量に対する中央部への入射光
量の割合は単調に減少することにより、前記相対値も減
少することかわかる。従って、2つの光検出器の出力信
号についての前記相対値の差をとって得られた焦点誤差
信号は、フォーカシングサーボの引込み範囲両端部で極
性反転を生しない。
(実施例)
以下、この発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図はこの発明の一実施例に係る焦点誤差検出装置を
適用した光磁気ディスク装置の要部の構成を示したもの
である。同図において、光源1は例えば半導体レーザで
あり、ここから出射された光ビームはコリメートレンズ
2により平行光にされた後、2つのビーム整形プリズム
3,4により整形され、ビームスプリッタ5及び対物レ
ンズ6を経て光ディスク7の記録面上に集束照射される
。
適用した光磁気ディスク装置の要部の構成を示したもの
である。同図において、光源1は例えば半導体レーザで
あり、ここから出射された光ビームはコリメートレンズ
2により平行光にされた後、2つのビーム整形プリズム
3,4により整形され、ビームスプリッタ5及び対物レ
ンズ6を経て光ディスク7の記録面上に集束照射される
。
光ディスク7は光ビームにより情報の記録・再生か可能
で、場合によってはさらに消去も可能な媒体であり、こ
の例では光磁気ディスクか用いられる。
で、場合によってはさらに消去も可能な媒体であり、こ
の例では光磁気ディスクか用いられる。
光ディスク7の記録面から反射された反射光は、対物レ
ンズ6を入射ビームと逆方向に通った後、ビームスプリ
ッタ5により反射されて入射ビームと分離される。ビー
ムスプリッタ5により入射ビムと分離された複数の反射
光は、後述する情報信号の差動検出を効率的に行なうた
めに 172波長板8により偏光軸か45°回転された
後、集光レンズ9に入射する。集光レンズ9を出たビー
ムは、偏光ビームスプリッタ10により偏光成分か分離
され、第1及び第2の光路11,12に分岐される。
ンズ6を入射ビームと逆方向に通った後、ビームスプリ
ッタ5により反射されて入射ビームと分離される。ビー
ムスプリッタ5により入射ビムと分離された複数の反射
光は、後述する情報信号の差動検出を効率的に行なうた
めに 172波長板8により偏光軸か45°回転された
後、集光レンズ9に入射する。集光レンズ9を出たビー
ムは、偏光ビームスプリッタ10により偏光成分か分離
され、第1及び第2の光路11,12に分岐される。
第1の光路]1にには集光レンス9の焦点位置前方で、
焦点位置から所定距離dの位置に第1の光検出器13が
配置され、第2の光路12−1−には集光レンズ9の焦
点位置後方で、焦点位置から同しく距離dの位置に第2
の光検出器14が配置されている。光検出器13.14
からの出力信号は演算回路15に入力され、再生情報信
号と焦点誤差信号が演算により求められる。
焦点位置から所定距離dの位置に第1の光検出器13が
配置され、第2の光路12−1−には集光レンズ9の焦
点位置後方で、焦点位置から同しく距離dの位置に第2
の光検出器14が配置されている。光検出器13.14
からの出力信号は演算回路15に入力され、再生情報信
号と焦点誤差信号が演算により求められる。
演算回路]5から出力される焦点誤差信号は、アクチュ
エータトライバ16に供給される。アクチュエータドラ
イバ]6は、焦点誤差信号に基ついて対物レンス6を光
軸方向に移動さぜる。これにより光ディスク7の記録面
に対する対物レンズ6の焦点位置の相対誤差、すなわち
焦点誤差か捕正される。
エータトライバ16に供給される。アクチュエータドラ
イバ]6は、焦点誤差信号に基ついて対物レンス6を光
軸方向に移動さぜる。これにより光ディスク7の記録面
に対する対物レンズ6の焦点位置の相対誤差、すなわち
焦点誤差か捕正される。
なお、実際の装置ではトラッキングサーホ系その他も必
要となるか、この発明の要旨には直接関係ないため第1
図では省略している。
要となるか、この発明の要旨には直接関係ないため第1
図では省略している。
第2図に光検出器1:3.14の構成例を示す。
同図(a)は同心固状に分割された2分割光検出器であ
り、ビーム周辺部を主として受光する周辺エレメント2
]と、ビーム中心部を受光する中央エレメント22から
なっている。また、同図(b)は所定方向に短冊状に分
割された3分割光検出器であり、両側ニレメン1−23
.25と中央エレメント24からなっている。
り、ビーム周辺部を主として受光する周辺エレメント2
]と、ビーム中心部を受光する中央エレメント22から
なっている。また、同図(b)は所定方向に短冊状に分
割された3分割光検出器であり、両側ニレメン1−23
.25と中央エレメント24からなっている。
第3図は演算回路15の情報信号及び焦点誤差信号の生
成に関する部分の構成例を示したもので、光検出器1.
3.14か第2図(a)に示した2分割光検出器の場合
の例である。光検出器13.14の周辺エレメント21
の出力信号をA1中央エレメント22の出力信号をBと
したとき、第1の光検出器1Bにおける出力信号A、B
はB −Aの演算を行なう減3′1回路31と、A −
1−Bの演算を行な]2 う加算回路32に人力され、さらに加算回路31及び減
算回路32の出力信号は除算回路35に入力され、F+
−(B−A}/ (A+B) 、すなわち光検出器1
3に入射する反射光の全光量に対応する信号(A+B)
に対する、反射光のビームサイズに応じた信号(B−A
)の相対値か演算される。第2の光検出器1Bにおける
出力信号A、 Bも同様に、13−Aの演算を行なう
減算回路33と、A+Bの演算を行なう加算回路34に
入力され、さらに加算回路33及び減算回路34の出力
信号は除算回路36に入力され、F2= (B−A}/
(A+B)なる相対値が演算される。そして、除算回路
35.36の出力信号F、、F2は減算回路37に入力
され、焦点誤差信号F、−F2が生成される。一方、加
算回路32.34の出力信号は加算回路38によって加
算されることにより、再生情報信号か生成される。
成に関する部分の構成例を示したもので、光検出器1.
3.14か第2図(a)に示した2分割光検出器の場合
の例である。光検出器13.14の周辺エレメント21
の出力信号をA1中央エレメント22の出力信号をBと
したとき、第1の光検出器1Bにおける出力信号A、B
はB −Aの演算を行なう減3′1回路31と、A −
1−Bの演算を行な]2 う加算回路32に人力され、さらに加算回路31及び減
算回路32の出力信号は除算回路35に入力され、F+
−(B−A}/ (A+B) 、すなわち光検出器1
3に入射する反射光の全光量に対応する信号(A+B)
に対する、反射光のビームサイズに応じた信号(B−A
)の相対値か演算される。第2の光検出器1Bにおける
出力信号A、 Bも同様に、13−Aの演算を行なう
減算回路33と、A+Bの演算を行なう加算回路34に
入力され、さらに加算回路33及び減算回路34の出力
信号は除算回路36に入力され、F2= (B−A}/
(A+B)なる相対値が演算される。そして、除算回路
35.36の出力信号F、、F2は減算回路37に入力
され、焦点誤差信号F、−F2が生成される。一方、加
算回路32.34の出力信号は加算回路38によって加
算されることにより、再生情報信号か生成される。
第4図は(a)及び(b)は焦点誤差に対する信号F1
.F2及び焦点誤差信号P I F 2の変化をそれ
ぞれ示したものである。焦点誤差とは光デイスフ7に対
する対物レンス6の焦点位置の相対誤差であり、+は光
ディスク7に対して対物レンズ6の焦点位置か近づく方
向、−は遠さかる方向にそれぞれ対応し5ている。第4
図(b)に示すように焦点誤差信号F、−F2は焦点誤
差のずれの方向に応じた極性とずれの大きさに応じたレ
ベルを持つから、この信号を用いて焦点誤差の補正を行
なうことかできる。
.F2及び焦点誤差信号P I F 2の変化をそれ
ぞれ示したものである。焦点誤差とは光デイスフ7に対
する対物レンス6の焦点位置の相対誤差であり、+は光
ディスク7に対して対物レンズ6の焦点位置か近づく方
向、−は遠さかる方向にそれぞれ対応し5ている。第4
図(b)に示すように焦点誤差信号F、−F2は焦点誤
差のずれの方向に応じた極性とずれの大きさに応じたレ
ベルを持つから、この信号を用いて焦点誤差の補正を行
なうことかできる。
ここで、第4図(a)を見ると、従来技術の場合の第5
図(a)で見られたようなデイフォーカス時のビームの
広がりにより光検出器からビームがはみ出ることに起因
する信号F、、l”2の増加かなく、信号F1.F2は
焦点誤差の増加に伴ない単調減少する。この理由は次の
ように説明できる。
図(a)で見られたようなデイフォーカス時のビームの
広がりにより光検出器からビームがはみ出ることに起因
する信号F、、l”2の増加かなく、信号F1.F2は
焦点誤差の増加に伴ない単調減少する。この理由は次の
ように説明できる。
本実施例の場合、F、(F2)の式は(B−A}/ (
A+B)=2 {B/ (A+B)l −1のように変
形される。従って、焦点誤差の増加によるビームサイズ
の広かりに伴ない、光検出器13(14)の全入射光量
(A+Bに対応する)に対する中央エレメント22への
入射光m(Bに対応する)の割合B/ (A+B) 、
すなわち」−の式の第1項が単調減少することにより、
信号F1F2も単調減少するのである。
A+B)=2 {B/ (A+B)l −1のように変
形される。従って、焦点誤差の増加によるビームサイズ
の広かりに伴ない、光検出器13(14)の全入射光量
(A+Bに対応する)に対する中央エレメント22への
入射光m(Bに対応する)の割合B/ (A+B) 、
すなわち」−の式の第1項が単調減少することにより、
信号F1F2も単調減少するのである。
従って、信号F、、F2の差をとることにより得られる
第4図(1))に示す焦点誤差信号F1F2は、第5図
(1])に見られたようなフォーカシングサーホの引込
み範囲両端部で極性反転を生じることがなく、安定なフ
ォーカシングサーボを可能とする。
第4図(1))に示す焦点誤差信号F1F2は、第5図
(1])に見られたようなフォーカシングサーホの引込
み範囲両端部で極性反転を生じることがなく、安定なフ
ォーカシングサーボを可能とする。
一方、光検出器13.14が第2図(b)に示した3分
割光検出器の場合は、両側ニレメンl−23。
割光検出器の場合は、両側ニレメンl−23。
25の出力信号をA、Cとし、中央エレメント24の出
力信号をBとしたとき、演算回路15において光検出器
1’3.14の各々の出力信号についてF、(F2)
−1B−(A−4−C)l / (A+B+C)なる相
対値を求め、その後F、−F2を求めればよい。その場
合の信号F1.F2及び焦点誤差信号F、−F2の特性
は、第4図と同様である。
力信号をBとしたとき、演算回路15において光検出器
1’3.14の各々の出力信号についてF、(F2)
−1B−(A−4−C)l / (A+B+C)なる相
対値を求め、その後F、−F2を求めればよい。その場
合の信号F1.F2及び焦点誤差信号F、−F2の特性
は、第4図と同様である。
[発明の効果]
この発明によれは、ビームサイス法において焦点誤差を
検出する場合、フォーカシングサーボの引込み範囲両端
部での焦点誤差信号の極性反転かなく、光量変動等に対
しても安定な焦点誤差検出か可能となる。
検出する場合、フォーカシングサーボの引込み範囲両端
部での焦点誤差信号の極性反転かなく、光量変動等に対
しても安定な焦点誤差検出か可能となる。
第1図はこの発明の一実施例に係る光ディスク装置の構
成図、第2図は同実施例における光検出器の構成を示す
図、第3図は同実施例における演算回路の(1′4成を
示す図、第4図は同実施例における焦点誤差検出特性を
示す図、第5図は従来の技術における焦点誤差検出特性
を示す図である。 1 ・光源、2・コリメートレンス、34・・ビム整形
プリズム、5 ビームスプリッタ、6 対物レンズ、7
.光ディスク、8・ 1/2波長板、9 ・集光レンズ
、10 ・偏光ビームスプリッタ、11,1.2・・・
第1及び第2の光路、13゜]4・第1及び第2の光検
出器、]5・・・演算回路、]6・アクチュエータドラ
イバ 17 対物しンズアクチユエータ、21・周辺エ
レメント、22・・・中央ニレメンl−123,24・
・両側ニレメンI・、25・・中央エレメント、31.
33゜37・減算回路、32,34.38・・・加算回
路、35.36・・除算回路。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 +埴 十刊已
成図、第2図は同実施例における光検出器の構成を示す
図、第3図は同実施例における演算回路の(1′4成を
示す図、第4図は同実施例における焦点誤差検出特性を
示す図、第5図は従来の技術における焦点誤差検出特性
を示す図である。 1 ・光源、2・コリメートレンス、34・・ビム整形
プリズム、5 ビームスプリッタ、6 対物レンズ、7
.光ディスク、8・ 1/2波長板、9 ・集光レンズ
、10 ・偏光ビームスプリッタ、11,1.2・・・
第1及び第2の光路、13゜]4・第1及び第2の光検
出器、]5・・・演算回路、]6・アクチュエータドラ
イバ 17 対物しンズアクチユエータ、21・周辺エ
レメント、22・・・中央ニレメンl−123,24・
・両側ニレメンI・、25・・中央エレメント、31.
33゜37・減算回路、32,34.38・・・加算回
路、35.36・・除算回路。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 +埴 十刊已
Claims (3)
- (1)光ビームを対物レンズにより光ディスク上に照射
し、情報の記録及び再生を行なう光ディスク装置におけ
る焦点誤差検出装置において、前記光ディスクからの反
射光を集光する集光レンズと、 この集光レンズを通過した反射光を第1及び第2の光路
に分岐する手段と、 第1の光路上の前記集光レンズの焦点位置前方及び第2
の光路上の前記集光レンズの焦点位置後方にそれぞれ配
置され、且つそれぞれが複数に分割された第1及び第2
の光検出器と、 これら第1及び第2の光検出器の出力信号から演算によ
り前記光ディスクの記録面に対する前記対物レンズの焦
点位置の相対誤差を示す焦点誤差信号を得る演算手段と
を備え、 前記演算手段は、前記第1及び第2の光検出器にそれぞ
れ入射する反射光の全光量に対応する信号に対する、反
射光のビームサイズに応じた信号の相対値をそれぞれ求
め、両相対値の差の信号を前記焦点誤差信号として出力
することを特徴とする焦点誤差検出装置。 - (2)前記第1及び第2の光検出器は同心円状に2分割
され、前記演算手段は第1及び第2の光検出器の周辺部
及び中央部の出力信号をA、Bとしたとき、前記相対値
として(B−A)/(A+B)を求めることを特徴とす
る請求項1記載の焦点誤差検出装置。 - (3)前記第1及び第2の光検出器はそれぞれ所定方向
に3分割され、前記演算手段は第1及び第2の光検出器
の両側部の出力信号をA、Cとし、中央部の出力信号を
Bとしたとき、前記相対値として{B−(A+C)}/
(A+B+C)を求めることを特徴とする請求項1記載
の焦点誤差検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24595188A JPH0294118A (ja) | 1988-09-30 | 1988-09-30 | 焦点誤差検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24595188A JPH0294118A (ja) | 1988-09-30 | 1988-09-30 | 焦点誤差検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0294118A true JPH0294118A (ja) | 1990-04-04 |
Family
ID=17141280
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24595188A Pending JPH0294118A (ja) | 1988-09-30 | 1988-09-30 | 焦点誤差検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0294118A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1991006097A1 (en) * | 1989-10-14 | 1991-05-02 | Copal Company Limited | Device for adjusting focal point of an optical pickup device |
JPH0414626A (ja) * | 1990-05-08 | 1992-01-20 | Copal Co Ltd | 光記録装置 |
-
1988
- 1988-09-30 JP JP24595188A patent/JPH0294118A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1991006097A1 (en) * | 1989-10-14 | 1991-05-02 | Copal Company Limited | Device for adjusting focal point of an optical pickup device |
US5200942A (en) * | 1989-10-14 | 1993-04-06 | Copal Company Ltd. | Focus adjusting apparatus for an optical pickup apparatus |
JPH0414626A (ja) * | 1990-05-08 | 1992-01-20 | Copal Co Ltd | 光記録装置 |
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