JPH04166138A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
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- JPH04166138A JPH04166138A JP2291708A JP29170890A JPH04166138A JP H04166138 A JPH04166138 A JP H04166138A JP 2291708 A JP2291708 A JP 2291708A JP 29170890 A JP29170890 A JP 29170890A JP H04166138 A JPH04166138 A JP H04166138A
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 29
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は、被検体にＸ線を照射して得られる被検体のＸ
線吸収係数に関するデータを基にして被検体の断層像を
再構成するＸｌ１ＣＴ装置に係り、特にスキャン時に被
検体を体軸方向に移動させるいわゆるヘリカルスキャン
を行うＸＩＩＣＴ装置に関する。
線吸収係数に関するデータを基にして被検体の断層像を
再構成するＸｌ１ＣＴ装置に係り、特にスキャン時に被
検体を体軸方向に移動させるいわゆるヘリカルスキャン
を行うＸＩＩＣＴ装置に関する。
（従来の技術）
最近ＸＩＩＣＴ装置として、例えば第４図に示すように
、被検体Ｐを載置した寝台天板１００を被検体Ｐの体軸
方向に移動させるとともに、Ｘ線管１０１及び検出器１
０２を被検体Ｐの回りに回転させるいわゆるヘリカルス
キャンを行うものが′提案されている。この場合にはｊ
Ｉ５図に示すように、Ｘ線管１０】の被検体Ｐに対する
相対的な軌跡１０３はらせん形状を描き、画像の再構成
を行う際には、例えば軌跡１０３の点ａから点すに至る
部分に対応するデータを１回転分のデータとして用いて
画像の再構成を行い、被検体Ｐのスライス像（断層像）
を得ることができる。このようなヘリカルスキャンには
、短時間で被検体Ｐの３次元的な情報を得ることができ
るという長所がある。
、被検体Ｐを載置した寝台天板１００を被検体Ｐの体軸
方向に移動させるとともに、Ｘ線管１０１及び検出器１
０２を被検体Ｐの回りに回転させるいわゆるヘリカルス
キャンを行うものが′提案されている。この場合にはｊ
Ｉ５図に示すように、Ｘ線管１０】の被検体Ｐに対する
相対的な軌跡１０３はらせん形状を描き、画像の再構成
を行う際には、例えば軌跡１０３の点ａから点すに至る
部分に対応するデータを１回転分のデータとして用いて
画像の再構成を行い、被検体Ｐのスライス像（断層像）
を得ることができる。このようなヘリカルスキャンには
、短時間で被検体Ｐの３次元的な情報を得ることができ
るという長所がある。
しかし、上記したような点ａから点すまでのデータから
得られるスライス面は、第６図（ａ）に示すような通常
のスキャンにより得られるスライス面とは異なり、同図
（ｂ）に示すように回転角度０度と３６０度でスライス
面が一致せず、これらのデータをそのまま用いて画像を
再構成すると著しくアーチファクトが生じることが多い
。そのため、例えば次に説明するような補間により同一
スライス位置の３６０度分のデータを得て、スライス面
のずれによるデータの矛盾から生じるアーチファクトを
低減することが考えられている。
得られるスライス面は、第６図（ａ）に示すような通常
のスキャンにより得られるスライス面とは異なり、同図
（ｂ）に示すように回転角度０度と３６０度でスライス
面が一致せず、これらのデータをそのまま用いて画像を
再構成すると著しくアーチファクトが生じることが多い
。そのため、例えば次に説明するような補間により同一
スライス位置の３６０度分のデータを得て、スライス面
のずれによるデータの矛盾から生じるアーチファクトを
低減することが考えられている。
例えば第７図に示すように、Ｘ線管の軌跡１０３におい
て、所定のスライス位置上の点Ｃのデータを補間により
作成する場合には、点Ｃを挾んでこれと同じ回転位相の
点ＡのデータｄＡと点ＢのデータｄＢを用いて補間処理
を行う。すなわち、−次補間を行う場合には点Ａと点Ｃ
の距離ｌ、点Ｂと点Ｃの距離ｍを重み係数として用いて
、次式により点ＣのデータｄＣを作成する。
て、所定のスライス位置上の点Ｃのデータを補間により
作成する場合には、点Ｃを挾んでこれと同じ回転位相の
点ＡのデータｄＡと点ＢのデータｄＢを用いて補間処理
を行う。すなわち、−次補間を行う場合には点Ａと点Ｃ
の距離ｌ、点Ｂと点Ｃの距離ｍを重み係数として用いて
、次式により点ＣのデータｄＣを作成する。
ｄ ｏ、 −Ｘ ｄ Ａ＋ −Ｘ ｄ 。
１ ＋ｍ １ ＋ｍ
このような補間により任意のスライス面の３６０度分の
データが得られ、スライス像のアーチファクトを低減す
ることができる。
データが得られ、スライス像のアーチファクトを低減す
ることができる。
上記１．ｍとしては、Ｘ線管１０１と天板１００が等速
運動を行うと仮定した場合のＸ線管の軌跡１０３におけ
る点Ａ、Ｂの距離を用いている。
運動を行うと仮定した場合のＸ線管の軌跡１０３におけ
る点Ａ、Ｂの距離を用いている。
しかし、実際には、Ｘ線管１０１の回転むら、天板１０
０の移動速度の変動やスキャン開始位置のずれにより、
サンプリングデータが被検体Ｐ上の位置に正確に対応し
ないことが多い。そのため、Ｘ線管１０１の回転動作と
天板１００のスライド動作との同期をとることにより、
サンプリングデータと被検体Ｐ上の位置とを正確に対応
させることが提案されている。同期をとる方法としては
、機械的に両方の動作を同期させる方法や、いずれか一
方の動作をモニタして他方の動作にフィードバックする
方法がある。あるいは従来技術では、このようなデータ
のずれを無視して上記補間処理を行う。
０の移動速度の変動やスキャン開始位置のずれにより、
サンプリングデータが被検体Ｐ上の位置に正確に対応し
ないことが多い。そのため、Ｘ線管１０１の回転動作と
天板１００のスライド動作との同期をとることにより、
サンプリングデータと被検体Ｐ上の位置とを正確に対応
させることが提案されている。同期をとる方法としては
、機械的に両方の動作を同期させる方法や、いずれか一
方の動作をモニタして他方の動作にフィードバックする
方法がある。あるいは従来技術では、このようなデータ
のずれを無視して上記補間処理を行う。
（発明が解決しようとする課Ｉｌ）
しかしながら上記した従来技術において、Ｘ線管１０１
の動作と天板１００の動作との同期をとる場合には、装
置の構成が複雑になり、コストがかかるという欠点があ
り、データのずれを無視する場合には、再構成画像にア
ーチファクトが生じ、高画質の画像を得ることが難しい
という問題があった。
の動作と天板１００の動作との同期をとる場合には、装
置の構成が複雑になり、コストがかかるという欠点があ
り、データのずれを無視する場合には、再構成画像にア
ーチファクトが生じ、高画質の画像を得ることが難しい
という問題があった。
本発明は上記した従来技術の課題を解決するためになさ
れたもので、その目的とするところは、゛簡単な構成で
、正確な補間処理を行い、高画質の画像を得ることがで
きるＸ１ｉＣＴ装置を提供することにある。
れたもので、その目的とするところは、゛簡単な構成で
、正確な補間処理を行い、高画質の画像を得ることがで
きるＸ１ｉＣＴ装置を提供することにある。
［発明の構成コ
（課題を解決するための手段）
上記目的を達成するために、本発明にあっては、被検体
を載置した楼台天板を被検体の体軸方向に移動させると
ともに、被検体にＸ線を照射するＸ線管及び被検体を透
過したＸ線を検出する検出器を被検体の回りに回転させ
て、Ｘ線管の被検体に対する相対的な軌跡がらせん形状
を描くようなヘリカルスキャンを行い、このスキャンに
よりサンプルされるサンプリングデータを用いて補間処
理を行い所定のスライス位置のデータを得て、これらの
データを基にして画像の再構成を行うＸ線ＣＴ装置にお
いて、 前記各サンプリングデータに対応する天板上の位置を測
定する天板位置測定手段と、該天板位置測定手段により
得られるサンプリングデータの天板上の位置とスライス
位置の天板上の位置との距離を重み係数として用いて前
記補間処理を行う補間処理手段とが設けられて成ること
を特徴とする特 （作用） 上記構成を有する本発明のＸ線ＣＴ装置においては、上
記天板位置測定手段により各サンプリングデータに対応
する天板上の位置が得られ、補間処理時には、上記補間
処理手段により、サンプリングデータの天板上の位置と
スライス位置の天板上の位置との距離を重み係数として
用いて補間処理を行うので、天板に載置された被検体上
の位置にサンプリングデータが正確に対応し、所定のス
ライス位置の３６０度分のデータが高精度で得られる。
を載置した楼台天板を被検体の体軸方向に移動させると
ともに、被検体にＸ線を照射するＸ線管及び被検体を透
過したＸ線を検出する検出器を被検体の回りに回転させ
て、Ｘ線管の被検体に対する相対的な軌跡がらせん形状
を描くようなヘリカルスキャンを行い、このスキャンに
よりサンプルされるサンプリングデータを用いて補間処
理を行い所定のスライス位置のデータを得て、これらの
データを基にして画像の再構成を行うＸ線ＣＴ装置にお
いて、 前記各サンプリングデータに対応する天板上の位置を測
定する天板位置測定手段と、該天板位置測定手段により
得られるサンプリングデータの天板上の位置とスライス
位置の天板上の位置との距離を重み係数として用いて前
記補間処理を行う補間処理手段とが設けられて成ること
を特徴とする特 （作用） 上記構成を有する本発明のＸ線ＣＴ装置においては、上
記天板位置測定手段により各サンプリングデータに対応
する天板上の位置が得られ、補間処理時には、上記補間
処理手段により、サンプリングデータの天板上の位置と
スライス位置の天板上の位置との距離を重み係数として
用いて補間処理を行うので、天板に載置された被検体上
の位置にサンプリングデータが正確に対応し、所定のス
ライス位置の３６０度分のデータが高精度で得られる。
従って、これらのデータを基にして再構成される画像は
アーチファクトが低減され、高画質の画像を得ることが
可能になる。また、この場合には、Ｘ線管の動作と天板
の動作とを同期させる必要がないので、装置の構成が簡
単である。
アーチファクトが低減され、高画質の画像を得ることが
可能になる。また、この場合には、Ｘ線管の動作と天板
の動作とを同期させる必要がないので、装置の構成が簡
単である。
（実施例）
以下に、本発明の実施例を図に基づいて説明する。第１
図は本発明の一実施例のＸ線ＣＴ装置の構成を概略的に
示すブロック図である。同図においてＸ線ＣＴ装置１に
は、被検体Ｐに対するスキャンを行うスキャナ部２が設
けられており、スキャナ部２は、被検体Ｐを載置し、被
検体Ｐの体軸方向（矢印ａ、ｂ方向）に移動可能に設け
られた接台天板３と、被検体ＰにＸ線を照射するＸ線管
４と、被検体Ｐを透過したＸ線を検出する検出器５とを
備えている。
図は本発明の一実施例のＸ線ＣＴ装置の構成を概略的に
示すブロック図である。同図においてＸ線ＣＴ装置１に
は、被検体Ｐに対するスキャンを行うスキャナ部２が設
けられており、スキャナ部２は、被検体Ｐを載置し、被
検体Ｐの体軸方向（矢印ａ、ｂ方向）に移動可能に設け
られた接台天板３と、被検体ＰにＸ線を照射するＸ線管
４と、被検体Ｐを透過したＸ線を検出する検出器５とを
備えている。
被検体Ｐの撮影時には、被検体Ｐを載置した天板３を被
検体Ｐの体軸方向に移動させるとともに、Ｘ線管４及び
検出器５を被検体Ｐの体軸の回りに回転させて、Ｘ線管
４の被検体Ｐに対する相対的な軌跡がらせん形状を描く
ようなヘリカルスキャンを行う。検出器５から出力され
るデータはデータ収集回路８により収集され、収集され
たサンプリングデータに対して補間処理手段９により補
間処理が行われた後、画像再構成部１０がこれらのデー
タを基にして画像を再構成する。この再構成画像を内容
とする映像信号が画像再構成部１０からＣＲＴデイスプ
レィ等の表示手段１１に送られ、表示手段１１上に被検
体Ｐのスライス像（断層像）等の撮像画像が表示される
。また、このＸ＠ＣＴ装置１には、各サンプリングデー
タに対応する天板３上の位置を測定する天板位置測定手
段１２か設けられている。
検体Ｐの体軸方向に移動させるとともに、Ｘ線管４及び
検出器５を被検体Ｐの体軸の回りに回転させて、Ｘ線管
４の被検体Ｐに対する相対的な軌跡がらせん形状を描く
ようなヘリカルスキャンを行う。検出器５から出力され
るデータはデータ収集回路８により収集され、収集され
たサンプリングデータに対して補間処理手段９により補
間処理が行われた後、画像再構成部１０がこれらのデー
タを基にして画像を再構成する。この再構成画像を内容
とする映像信号が画像再構成部１０からＣＲＴデイスプ
レィ等の表示手段１１に送られ、表示手段１１上に被検
体Ｐのスライス像（断層像）等の撮像画像が表示される
。また、このＸ＠ＣＴ装置１には、各サンプリングデー
タに対応する天板３上の位置を測定する天板位置測定手
段１２か設けられている。
天板位置測定手段１２としては、例えば各サンプリング
データ収集時に各サンプリングデータ毎に天板３の位置
を検知する不図示の検知手段により得られる天板位置情
報を収集するものが使用可能である。または、スキャン
開始時と終了時の天板３の位置からスキャン時の天板３
の移動距離を求め、この移動距離をサンプル数で等分す
ることにより各サンプリングデータに対する天板３上の
位置を算出するものも使用可能である。この場合には第
２図に示すように、操作者が指示したスキャン開始位置
１２．スキャン終了位置１３に対して実際のスキャン開
始位置１４．スキャン終了位置１５にはずれが生じるの
で、実際のスキャン開始位置１４．スキャン終了位置１
５に対する天板３上の位置１６．１７を測定し、移動距
離りをサンプル数で等分して各サンプリングデータの天
板３上の位置を求める。
データ収集時に各サンプリングデータ毎に天板３の位置
を検知する不図示の検知手段により得られる天板位置情
報を収集するものが使用可能である。または、スキャン
開始時と終了時の天板３の位置からスキャン時の天板３
の移動距離を求め、この移動距離をサンプル数で等分す
ることにより各サンプリングデータに対する天板３上の
位置を算出するものも使用可能である。この場合には第
２図に示すように、操作者が指示したスキャン開始位置
１２．スキャン終了位置１３に対して実際のスキャン開
始位置１４．スキャン終了位置１５にはずれが生じるの
で、実際のスキャン開始位置１４．スキャン終了位置１
５に対する天板３上の位置１６．１７を測定し、移動距
離りをサンプル数で等分して各サンプリングデータの天
板３上の位置を求める。
上記天板位置測定手段１２により得られた各サンプリン
グデータの天板３上の位置情報は補間処理手段９に送ら
れ、補間処理手段９は、サンプリングデータの天板３上
の位置とスライス位置の天板３上の位置との距離より求
めた重み係数を用いて補間処理を行う。ここで、スライ
ス位置の指定は天板３上の位置に対して行い、指定した
スライス位置に最も近い位置のサンプリングデータを補
間処理の際のセンターサンプルとする。そして、第３図
に示すように、Ｘ線管４の被検体Ｐに対する相対的な軌
跡２０における点ＨのデータＤＨと点ＪのデータＤ、と
を用いて、スライス位置２１上０点にのデータＤＫを補
間により作成する場合には、データＤｕ、Ｄｘに対応す
る天板上の位置ＰＨ，ＰＫの距離をＬＨＫｓデータＤ、
、Ｄ、に対応する天板上の位置ｐ、、ｐにの距離をＬＪ
Ｋとすると、次式によりデータＤＫが得られる。
グデータの天板３上の位置情報は補間処理手段９に送ら
れ、補間処理手段９は、サンプリングデータの天板３上
の位置とスライス位置の天板３上の位置との距離より求
めた重み係数を用いて補間処理を行う。ここで、スライ
ス位置の指定は天板３上の位置に対して行い、指定した
スライス位置に最も近い位置のサンプリングデータを補
間処理の際のセンターサンプルとする。そして、第３図
に示すように、Ｘ線管４の被検体Ｐに対する相対的な軌
跡２０における点ＨのデータＤＨと点ＪのデータＤ、と
を用いて、スライス位置２１上０点にのデータＤＫを補
間により作成する場合には、データＤｕ、Ｄｘに対応す
る天板上の位置ＰＨ，ＰＫの距離をＬＨＫｓデータＤ、
、Ｄ、に対応する天板上の位置ｐ、、ｐにの距離をＬＪ
Ｋとすると、次式によりデータＤＫが得られる。
Ｌ ＨＫ＋Ｌ ＪＫ
上記したように、本実施例においては、サンプリングデ
ータとスライス位置との天板３上の距離を重み係数とし
て用いて補間処理を行うので、補間処理時に天板３上の
位置、すなわち被検体Ｐ上の位置にサンプリングデータ
が正確に対応することになり、所望のスライス位置の３
６０度分のデータを高精度で得ることができる。従って
、アーチファクトが低減され、高画質の画像を得ること
ができる。また、この場合には、Ｘ線管４の回転動作と
天板３のスライド動作とを同期させる必要がないので、
装置の構成が簡単であり、低コストで済むという効果が
ある。
ータとスライス位置との天板３上の距離を重み係数とし
て用いて補間処理を行うので、補間処理時に天板３上の
位置、すなわち被検体Ｐ上の位置にサンプリングデータ
が正確に対応することになり、所望のスライス位置の３
６０度分のデータを高精度で得ることができる。従って
、アーチファクトが低減され、高画質の画像を得ること
ができる。また、この場合には、Ｘ線管４の回転動作と
天板３のスライド動作とを同期させる必要がないので、
装置の構成が簡単であり、低コストで済むという効果が
ある。
以上本発明の実施例について説明したが、本発明はこれ
に限定されるものではなく、種々変形実施が可能である
。
に限定されるものではなく、種々変形実施が可能である
。
［発明の効果］
本発明のＸ線ＣＴ装置は以上の構成及び作用を有するも
ので、ヘリカルスキャンを行う場合に、Ｘ線管の動作と
天板の動作を同期させることなく、簡単な構成で、低コ
ストで、正確に、サンプリングデータを被検体上の位置
に対応させて補間処理を行うことができる。従って、ア
ーチファクトを低減して、高画質の画像を得ることがで
きる。
ので、ヘリカルスキャンを行う場合に、Ｘ線管の動作と
天板の動作を同期させることなく、簡単な構成で、低コ
ストで、正確に、サンプリングデータを被検体上の位置
に対応させて補間処理を行うことができる。従って、ア
ーチファクトを低減して、高画質の画像を得ることがで
きる。
第１図は本発明の一実施例のＸ線ＣＴ装置の構成を概略
的にに示すブロック図、第２図は同実施例におけるサン
プリングデータの天板上の位置を示す説明図、第３図は
同実施例における補間処理を説明するための説明図、第
４図は従来例のＸ線ＣＴ装置の一部を示す図、第５図は
同従来例におけるＸ線管の被検体に対する相対的な軌跡
を示す図、第６図（ａ） 、 （ｂ）はＸ線ＣＴ装置に
より得られるスライス面を示す図、第７図はヘリカルス
キャンにおける補間処理を説明するための説明図である
。 １・・・Ｘ１ｌＣＴ装置 ３・・・寝台天板４・・・
Ｘ線管 ５・・・検出器９・・・補間処理手段
１２・・・天板位置測定手段Ｐ・・・被検体
的にに示すブロック図、第２図は同実施例におけるサン
プリングデータの天板上の位置を示す説明図、第３図は
同実施例における補間処理を説明するための説明図、第
４図は従来例のＸ線ＣＴ装置の一部を示す図、第５図は
同従来例におけるＸ線管の被検体に対する相対的な軌跡
を示す図、第６図（ａ） 、 （ｂ）はＸ線ＣＴ装置に
より得られるスライス面を示す図、第７図はヘリカルス
キャンにおける補間処理を説明するための説明図である
。 １・・・Ｘ１ｌＣＴ装置 ３・・・寝台天板４・・・
Ｘ線管 ５・・・検出器９・・・補間処理手段
１２・・・天板位置測定手段Ｐ・・・被検体
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被検体を載置した寝台天板を被検体の体軸方向に移動さ
せるとともに、被検体にＸ線を照射するＸ線管及び被検
体を透過したＸ線を検出する検出器を被検体の回りに回
転させて、Ｘ線管の被検体に対する相対的な軌跡がらせ
ん形状を描くようなヘリカルスキャンを行い、このスキ
ャンによりサンプルされるサンプリングデータを用いて
補間処理を行い所定のスライス位置のデータを得て、こ
れらのデータを基にして画像の再構成を行うＸ線ＣＴ装
置において、 前記各サンプリングデータに対応する天板上の位置を測
定する天板位置測定手段と、該天板位置測定手段により
得られるサンプリングデータの天板上の位置とスライス
位置の天板上の位置との距離を重み係数として用いて前
記補間処理を行う補間処理手段とが設けられて成ること
を特徴とするＸ線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2291708A JPH04166138A (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2291708A JPH04166138A (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04166138A true JPH04166138A (ja) | 1992-06-12 |
Family
ID=17772372
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2291708A Pending JPH04166138A (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04166138A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6287137A (ja) * | 1985-10-14 | 1987-04-21 | 株式会社日立メディコ | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JPH02211129A (ja) * | 1989-02-13 | 1990-08-22 | Toshiba Corp | Ｃｔ装置 |
-
1990
- 1990-10-31 JP JP2291708A patent/JPH04166138A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6287137A (ja) * | 1985-10-14 | 1987-04-21 | 株式会社日立メディコ | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JPH02211129A (ja) * | 1989-02-13 | 1990-08-22 | Toshiba Corp | Ｃｔ装置 |
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