JPH04102366A - 2チップ回路の実装構造 - Google Patents
2チップ回路の実装構造Info
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- JPH04102366A JPH04102366A JP22020990A JP22020990A JPH04102366A JP H04102366 A JPH04102366 A JP H04102366A JP 22020990 A JP22020990 A JP 22020990A JP 22020990 A JP22020990 A JP 22020990A JP H04102366 A JPH04102366 A JP H04102366A
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- JP
- Japan
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- integrated circuit
- chip
- circuit
- solder
- bonding pads
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Links
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 title 1
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 17
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims abstract description 12
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 239000008188 pellet Substances 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
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- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、集積回路(IC)2個からなる2チップ回路
の実装構造に関する。
の実装構造に関する。
一般に第3図の回路図に示すように、2個の工C1,4
が、お互いの信号線を全て接続する回路構成をとる場合
がある。このような2個のICを小型に実装する構造と
しては、第4図のように、これらIC1,4をボンディ
ングワイヤ22により接続するワイヤボンディング法を
用いてセラミック配線基板21に実装している。ここで
特に小型化を要求される場合、TAB方式やフリップチ
ップ方式があるが、配線基板21は薄膜基板などの高精
度でファインパターンが可能な基板が必要とされており
、ガラスエポキシ基板等の有機系の基板ではファインパ
ターンは可能であるが、ICベレットの熱膨張率の違い
が大きいためフリップチップ方式には不適当である。
が、お互いの信号線を全て接続する回路構成をとる場合
がある。このような2個のICを小型に実装する構造と
しては、第4図のように、これらIC1,4をボンディ
ングワイヤ22により接続するワイヤボンディング法を
用いてセラミック配線基板21に実装している。ここで
特に小型化を要求される場合、TAB方式やフリップチ
ップ方式があるが、配線基板21は薄膜基板などの高精
度でファインパターンが可能な基板が必要とされており
、ガラスエポキシ基板等の有機系の基板ではファインパ
ターンは可能であるが、ICベレットの熱膨張率の違い
が大きいためフリップチップ方式には不適当である。
上述したワイヤボンディング方式では、例えば、25
(5x5)−のICベレットを実装した場合、ボンディ
ングによる占有面積が64 (8X8)−程度となり、
相互配線を含めると2個ICの占有面積として200−
以上の領域が必要となる。また、TAB方式、フリップ
チップ方式では、安価な有機系の基板が使えず、高価な
薄膜基板が必要となるという問題がある。
(5x5)−のICベレットを実装した場合、ボンディ
ングによる占有面積が64 (8X8)−程度となり、
相互配線を含めると2個ICの占有面積として200−
以上の領域が必要となる。また、TAB方式、フリップ
チップ方式では、安価な有機系の基板が使えず、高価な
薄膜基板が必要となるという問題がある。
本発明の目的は、このような問題を解決し、占有面積を
小さくすると共に、安価に構成できる2チップ回路の実
装構造を提供することにある。
小さくすると共に、安価に構成できる2チップ回路の実
装構造を提供することにある。
本発明の構成は、第1の集積回路の接続端子が、全て第
2の集積回路の接続端子と接続される2チップ回路の実
装構造において、前記第2の集積回路上に半田接続用電
極を設け、前記第1の集積回路上に半田バンプを設け、
この第1の集積回路を前記第2の集積回路上にフリップ
チップ方式で実装したことを特徴とする。
2の集積回路の接続端子と接続される2チップ回路の実
装構造において、前記第2の集積回路上に半田接続用電
極を設け、前記第1の集積回路上に半田バンプを設け、
この第1の集積回路を前記第2の集積回路上にフリップ
チップ方式で実装したことを特徴とする。
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図(a)、(b)は本発明の一実施例の側面図およ
びその平面図である。本実施例も、第3図のように、2
個のICI、4による回路を用いるとする。このICI
も信号及び電源は全てIC4と共通であり、IC4の外
部接続用ポンディングパッド3のみを外部に接続するこ
とにより、この回路を動作させることができる。
びその平面図である。本実施例も、第3図のように、2
個のICI、4による回路を用いるとする。このICI
も信号及び電源は全てIC4と共通であり、IC4の外
部接続用ポンディングパッド3のみを外部に接続するこ
とにより、この回路を動作させることができる。
IC4の表面にポリイミド樹脂による絶縁膜2を設け、
この絶縁M2の上にフリップチップ接続用半田付パッド
5を形成し、その外側にポンディングパッド3が形成さ
れている。一方、ICIはそのポンディングパッド6の
上に半田バンプ7を形成しておき、IC4の上にフェー
スダウンで搭載して半田リフロー法により相互に接続さ
れる。
この絶縁M2の上にフリップチップ接続用半田付パッド
5を形成し、その外側にポンディングパッド3が形成さ
れている。一方、ICIはそのポンディングパッド6の
上に半田バンプ7を形成しておき、IC4の上にフェー
スダウンで搭載して半田リフロー法により相互に接続さ
れる。
第2図は本発明の第2の実施例の平面図である。この場
合、LCIとIC4のパッド配置が一層のA(配線で接
続できない場合Affl多層配線技術を用いて、パッド
の再配列を行なう必要が生じる。この場合、図のように
、ポンディングパッド6aと半田付パッド5aとを対向
させないように配置して、ICIとIC4とを接続する
。この場合、半田付ランド5aはICベレットの中央部
に設けられ、ポンディングパッド6aとの電気的接続は
Aρ多層配線技術により行われる。この多層配線はIC
I側のみ、IC4側のみあるいは、TCl、IC4の両
者に形成する場合かある。
合、LCIとIC4のパッド配置が一層のA(配線で接
続できない場合Affl多層配線技術を用いて、パッド
の再配列を行なう必要が生じる。この場合、図のように
、ポンディングパッド6aと半田付パッド5aとを対向
させないように配置して、ICIとIC4とを接続する
。この場合、半田付ランド5aはICベレットの中央部
に設けられ、ポンディングパッド6aとの電気的接続は
Aρ多層配線技術により行われる。この多層配線はIC
I側のみ、IC4側のみあるいは、TCl、IC4の両
者に形成する場合かある。
本実施例においては、ICIとIC4とのチップサイズ
の差が必要であるため、−辺の長さをそれぞれηl 、
!22とすると、!2tX0.4+n+j<!22と
なる必要がある。
の差が必要であるため、−辺の長さをそれぞれηl 、
!22とすると、!2tX0.4+n+j<!22と
なる必要がある。
この配線基板への搭載工程は、IC4のウェハ上にあら
かしめICIを搭載リフローした後、フルカットダイシ
ング法によりチップに分割して、配線基板にマウントボ
ンディングする第一の方法と、IC7を配線基板上にマ
ウントボンディングした後、ICIのフリップチップ実
装を行なう第2の方法とがある。
かしめICIを搭載リフローした後、フルカットダイシ
ング法によりチップに分割して、配線基板にマウントボ
ンディングする第一の方法と、IC7を配線基板上にマ
ウントボンディングした後、ICIのフリップチップ実
装を行なう第2の方法とがある。
以上説明したように本発明は、2つのICをフリップチ
ップ技術により一体化して構成するなめ、配線基板等へ
実装した場合、従来のマルチチップマウントボンディン
グ実装の場合と比較して、相互配線に要する面積も考慮
すると、40〜70%もの実装面積を削減が可能となり
、また配線基板として、一般の厚膜配線基板等が使用で
きるため、直接配線基板にフリップチップ実装を行なう
場合に必要となる高価な薄膜基板が不要になり、安価に
構成できるという高価がある。
ップ技術により一体化して構成するなめ、配線基板等へ
実装した場合、従来のマルチチップマウントボンディン
グ実装の場合と比較して、相互配線に要する面積も考慮
すると、40〜70%もの実装面積を削減が可能となり
、また配線基板として、一般の厚膜配線基板等が使用で
きるため、直接配線基板にフリップチップ実装を行なう
場合に必要となる高価な薄膜基板が不要になり、安価に
構成できるという高価がある。
第1図(a)、(b)は本発明の一実施例の断面図およ
びその平面図、第2図は本発明の第2の実施例の平面図
、第3図は2チップ回路の一例のブロック図、第4図は
従来例の2チツプICの実装構造の平面図である。 1.4・・・IC,2・・・絶縁膜、3・・・IC4の
ポンディングパッド、5,5a・・・半田付パッド、6
゜6a・・・ICIのポンディングパッド、7・・・半
田バンプ、21・・・配線基板、22・・・ボンディン
グワイヤ、23・・・外部端子ランド6
びその平面図、第2図は本発明の第2の実施例の平面図
、第3図は2チップ回路の一例のブロック図、第4図は
従来例の2チツプICの実装構造の平面図である。 1.4・・・IC,2・・・絶縁膜、3・・・IC4の
ポンディングパッド、5,5a・・・半田付パッド、6
゜6a・・・ICIのポンディングパッド、7・・・半
田バンプ、21・・・配線基板、22・・・ボンディン
グワイヤ、23・・・外部端子ランド6
Claims (1)
- 第1の集積回路の接続端子が、全て第2の集積回路の
接続端子と接続される2チップ回路の実装構造において
、前記第2の集積回路上に半田接続用電極を設け、前記
第1の集積回路上に半田バンプを設け、この第1の集積
回路を前記第2の集積回路上にフリップチップ方式で実
装したことを特徴とする2チップ回路の実装構造。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22020990A JPH04102366A (ja) | 1990-08-22 | 1990-08-22 | 2チップ回路の実装構造 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22020990A JPH04102366A (ja) | 1990-08-22 | 1990-08-22 | 2チップ回路の実装構造 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04102366A true JPH04102366A (ja) | 1992-04-03 |
Family
ID=16747600
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22020990A Pending JPH04102366A (ja) | 1990-08-22 | 1990-08-22 | 2チップ回路の実装構造 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04102366A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10142119A1 (de) * | 2001-08-30 | 2003-03-27 | Infineon Technologies Ag | Elektronisches Bauteil und Verfahren zu seiner Herstellung |
KR100415279B1 (ko) * | 2001-06-26 | 2004-01-16 | 삼성전자주식회사 | 칩 적층 패키지 및 그 제조 방법 |
JP2006237280A (ja) * | 2005-02-25 | 2006-09-07 | Sony Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
-
1990
- 1990-08-22 JP JP22020990A patent/JPH04102366A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100415279B1 (ko) * | 2001-06-26 | 2004-01-16 | 삼성전자주식회사 | 칩 적층 패키지 및 그 제조 방법 |
DE10142119A1 (de) * | 2001-08-30 | 2003-03-27 | Infineon Technologies Ag | Elektronisches Bauteil und Verfahren zu seiner Herstellung |
US6683374B2 (en) | 2001-08-30 | 2004-01-27 | Infineon Technologies Ag | Electronic component and process for producing the electronic component |
DE10142119B4 (de) * | 2001-08-30 | 2007-07-26 | Infineon Technologies Ag | Elektronisches Bauteil und Verfahren zu seiner Herstellung |
JP2006237280A (ja) * | 2005-02-25 | 2006-09-07 | Sony Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
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