JPH0367566B2 - - Google Patents
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- JPH0367566B2 JPH0367566B2 JP60107675A JP10767585A JPH0367566B2 JP H0367566 B2 JPH0367566 B2 JP H0367566B2 JP 60107675 A JP60107675 A JP 60107675A JP 10767585 A JP10767585 A JP 10767585A JP H0367566 B2 JPH0367566 B2 JP H0367566B2
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- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 36
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 36
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 5
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 4
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 3
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 2
- 101100313003 Rattus norvegicus Tanc1 gene Proteins 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Numerical Control (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔目次〕
概要 ……(3)
産業上の利用分野 ……(3)
従来の技術 ……(3)
発明が解決しようとする問題点 ……(4)
問題点を解決するための手段 ……(5)
発明の基本的原理 ……(6)
実施例
(i) 計測装置の構成 ……(13)
(ii) 計測処理 ……(15)
(iii) 他の実施例 ……(26)
発明の効果 ……(27)
〔概要〕
物体の空間的配置を、いわゆる両眼立体視法で
計測するには、2台のカメラでそれぞれ得た画像
を対応させる複雑な処理を必要とする。本発明
は、そのスリツト光面がマルチスリツト光の作る
複数のスリツト光面のひとつと一致する基準スリ
ツト光を物体に照射して、物体の空間的配置を1
台のカメラで短時間に計測し得る物体の三次元計
測方法を提供する。
計測するには、2台のカメラでそれぞれ得た画像
を対応させる複雑な処理を必要とする。本発明
は、そのスリツト光面がマルチスリツト光の作る
複数のスリツト光面のひとつと一致する基準スリ
ツト光を物体に照射して、物体の空間的配置を1
台のカメラで短時間に計測し得る物体の三次元計
測方法を提供する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、産業ロボツトの制御等に際して必要
となる物体の空間的配置を計測する方法に係り、
詳しくはマルチスリツト光を物体に照射し、その
画像を得ることによつて物体の空間的配置を計測
する物体の三次元計測方法に関するものである。
となる物体の空間的配置を計測する方法に係り、
詳しくはマルチスリツト光を物体に照射し、その
画像を得ることによつて物体の空間的配置を計測
する物体の三次元計測方法に関するものである。
従来、物体を三次元的に計測する方法として、
いわゆる両眼立体視法があつた。この方法は、第
9図に示すように、対象となる物体4の近くに2
台のカメラ1,2及びマルチスリツト光源5を固
定配置すると共に、マルチスリツト光源5を点灯
してマルチスリツト光3を物体4の表面に照射す
る。次に、上記物体4表面上のマルチスリツト光
3によるスリツト光投影像9を2台のカメラ1,
2で撮影する。2台のカメラ1,2でそれぞれ撮
影したスリツト光投影像9に対応した複数のスリ
ツト光撮影像から対応点(第9図において、カメ
ラ1の画像上の着目点Aに対するカメラ2の画像
上の点B)を求めて三角測量の原理に基づいて物
体を三次元的に計測する方法である。尚、カメラ
1,2の撮影した画像を第10図に示す。
いわゆる両眼立体視法があつた。この方法は、第
9図に示すように、対象となる物体4の近くに2
台のカメラ1,2及びマルチスリツト光源5を固
定配置すると共に、マルチスリツト光源5を点灯
してマルチスリツト光3を物体4の表面に照射す
る。次に、上記物体4表面上のマルチスリツト光
3によるスリツト光投影像9を2台のカメラ1,
2で撮影する。2台のカメラ1,2でそれぞれ撮
影したスリツト光投影像9に対応した複数のスリ
ツト光撮影像から対応点(第9図において、カメ
ラ1の画像上の着目点Aに対するカメラ2の画像
上の点B)を求めて三角測量の原理に基づいて物
体を三次元的に計測する方法である。尚、カメラ
1,2の撮影した画像を第10図に示す。
ところで、この従来の方法では、カメラ1で撮
影した複数のスリツト光撮影像とカメラ2で撮影
した複数のスリツト光撮影像との間の対応付け
(対応点Bを見付ける処理)が難しく、その処理
が複数で処理時間がかかるという欠点を有してい
た。
影した複数のスリツト光撮影像とカメラ2で撮影
した複数のスリツト光撮影像との間の対応付け
(対応点Bを見付ける処理)が難しく、その処理
が複数で処理時間がかかるという欠点を有してい
た。
そこで、本発明は、いわゆる両眼立体視法にお
ける2台のカメラで撮影したスリツト光撮影像間
の対応付けという複雑な処理をせずに、物体の三
次元的な計測を行なうことができる方法を提供す
ることを目的としてなされたものである。
ける2台のカメラで撮影したスリツト光撮影像間
の対応付けという複雑な処理をせずに、物体の三
次元的な計測を行なうことができる方法を提供す
ることを目的としてなされたものである。
本発明は、所定の座標系において配置が予め設
定された複数のスリツト光面を有するマルチスリ
ツト光を物体表面に照射する一方、上記マルチス
リツト光のひとつのスリツト光面と一致するスリ
ツト光面を有した所定の基準スリツト光を同物体
表面に照射し、上記物体表面上のマルチスリツト
光によるスリツト光投影像に対応した複数のスリ
ツト光撮影像と同物体表面上の基準スリツト光に
よるスリツト光投影像に対応した基準スリツト光
撮影像とを所定画像面上にて得る一方、上記複数
のスリツト光撮影像から基準スリツト光撮影像に
相当するスリツト光撮影像を特定し、この特定さ
れたスリツト光撮影像と他のスリツト光撮影像と
の相対的な位置関係に基づいて各スリツト光撮影
像とマルチスリツト光の各スリツト光面とを対応
付けると共に、当該各スリツト光撮影像の相対的
な位置関係と各スリツト光撮影像に対応付けられ
たスリツト光面とに基づいて当該物体の上記座標
系における空間的配置を計測するようにした物体
の三次元計測方法である。
定された複数のスリツト光面を有するマルチスリ
ツト光を物体表面に照射する一方、上記マルチス
リツト光のひとつのスリツト光面と一致するスリ
ツト光面を有した所定の基準スリツト光を同物体
表面に照射し、上記物体表面上のマルチスリツト
光によるスリツト光投影像に対応した複数のスリ
ツト光撮影像と同物体表面上の基準スリツト光に
よるスリツト光投影像に対応した基準スリツト光
撮影像とを所定画像面上にて得る一方、上記複数
のスリツト光撮影像から基準スリツト光撮影像に
相当するスリツト光撮影像を特定し、この特定さ
れたスリツト光撮影像と他のスリツト光撮影像と
の相対的な位置関係に基づいて各スリツト光撮影
像とマルチスリツト光の各スリツト光面とを対応
付けると共に、当該各スリツト光撮影像の相対的
な位置関係と各スリツト光撮影像に対応付けられ
たスリツト光面とに基づいて当該物体の上記座標
系における空間的配置を計測するようにした物体
の三次元計測方法である。
次に本発明の基本原理を第1図と第2図とに基
づいて説明する。所定の座標系としてカメラ1の
焦点を原点とし、カメラ1の光軸方法をz軸とし
たカメラ直交座標系Oc−xcyczcを設定する。さら
に、マルチスリツト光源5を原点としたマルチス
リツト直交座標系OM−xMyMzMを設定し、マルチ
スリツト直交座標系を、yM軸に沿つて平行移動
させ、原点を基準スリツト光源6とした基準スリ
ツト直交座標系Os−xsyszsを設定する。カメラ直
交座標系とマルチスリツト直交座標系との間は、
一般に次の関係式で表わされる。
づいて説明する。所定の座標系としてカメラ1の
焦点を原点とし、カメラ1の光軸方法をz軸とし
たカメラ直交座標系Oc−xcyczcを設定する。さら
に、マルチスリツト光源5を原点としたマルチス
リツト直交座標系OM−xMyMzMを設定し、マルチ
スリツト直交座標系を、yM軸に沿つて平行移動
させ、原点を基準スリツト光源6とした基準スリ
ツト直交座標系Os−xsyszsを設定する。カメラ直
交座標系とマルチスリツト直交座標系との間は、
一般に次の関係式で表わされる。
XM
YM
ZM
1=h11 h12 h13 h14
h21 h22 h23 h24
h31 h32 h33 h34
h41 h42 h43 h44 xc
yc
zc
1 …(1)
但し、hij(i,j=1,2,3)は、i,j座
標軸間のなす角度の方向余弦を表わし、hi4(i=
1,2,3)は平行移動距離を表わす。
標軸間のなす角度の方向余弦を表わし、hi4(i=
1,2,3)は平行移動距離を表わす。
今、スリツト光3の各スリツト光面Mが、マル
チスリツト直交座標系で表わした平面XM=0を
yM軸を回転軸とした所定角度の回転によつて得
られるものとする。yM軸を回転軸として平面xM
=0をθj,j=1〜mだけ回転したスリツト光面
をMjとすると、Mjは XMcosθj−ZMsinθj=0 …(2) と表わされる。これをカメラ直交座標系で表わせ
ば(1)式を用いて、 Mj:(h11 xc+h12 yc+h13 zc+h14)cosθj−(h31 xc+h32 yc+h33 zc+h34)sinθj=0 (j=1〜m) …(3) となる。
チスリツト直交座標系で表わした平面XM=0を
yM軸を回転軸とした所定角度の回転によつて得
られるものとする。yM軸を回転軸として平面xM
=0をθj,j=1〜mだけ回転したスリツト光面
をMjとすると、Mjは XMcosθj−ZMsinθj=0 …(2) と表わされる。これをカメラ直交座標系で表わせ
ば(1)式を用いて、 Mj:(h11 xc+h12 yc+h13 zc+h14)cosθj−(h31 xc+h32 yc+h33 zc+h34)sinθj=0 (j=1〜m) …(3) となる。
一方、基準スリツト光8のスリツト光面Sは、
基準スリツト直交座標系で表わした平面xs=0を
ys軸(yM軸と一致している)を回転軸としてθsだ
け回転したものとする。このθsをマルチスリツト
光3によるk番目のスリツト光面Mkと一致する
ように、すなわち、 θs=θk …(4) と調整する。このとき、基準スリツト光8による
基準スリツト光面Sは、 Xscosθs−Zssinθs=0 …(5) と表わされる。これをカメラ直交座標系で表わせ
ば、(1)式を用いて S:(h11 xc+h12 yc+h13 zc+h14)cosθs−(h31
xc+h32 yc+h33 zc+h34)sinθs=0 …(6) となる。さて、m本のマルチスリツト光3の照射
によつて、物体4表面上に複数のスリツト光投影
像9ができ、それをカメラ1で撮影することによ
つてカメラ1の撮影素子等の画像面c上にスリツ
ト光投影像9に対応したl個のスリツト光撮影像
が得られたとする。ここで、物体4を説明の便宜
上線状とし、物体4上のスリツト光投影像9の座
標をPi(Xc pi,yc pi,zc pi),(i=1〜l)とし、各
スリツト光投影像9に対応するスリツト光撮影像
の座標をそれぞれIi(Xc Ii,yc Ii,zc Ii),(i=1〜
l)とする。ここで、簡単にするため画像面Cを
xcyc−平面に平行な平面zc=f(一定、焦点距離)
とする。そのとき、視線10を直線Li(=
OcIi――――――)とすると、Liは Li:xc/xc Ii=yc/yc Ii=zc/f …(7) で表わされる。点状のスリツト光投影像9のひと
つPiの三次元座標は視線10である直線LiとPiに
対応するスリツト光面Miとの交点として求まる。
基準スリツト直交座標系で表わした平面xs=0を
ys軸(yM軸と一致している)を回転軸としてθsだ
け回転したものとする。このθsをマルチスリツト
光3によるk番目のスリツト光面Mkと一致する
ように、すなわち、 θs=θk …(4) と調整する。このとき、基準スリツト光8による
基準スリツト光面Sは、 Xscosθs−Zssinθs=0 …(5) と表わされる。これをカメラ直交座標系で表わせ
ば、(1)式を用いて S:(h11 xc+h12 yc+h13 zc+h14)cosθs−(h31
xc+h32 yc+h33 zc+h34)sinθs=0 …(6) となる。さて、m本のマルチスリツト光3の照射
によつて、物体4表面上に複数のスリツト光投影
像9ができ、それをカメラ1で撮影することによ
つてカメラ1の撮影素子等の画像面c上にスリツ
ト光投影像9に対応したl個のスリツト光撮影像
が得られたとする。ここで、物体4を説明の便宜
上線状とし、物体4上のスリツト光投影像9の座
標をPi(Xc pi,yc pi,zc pi),(i=1〜l)とし、各
スリツト光投影像9に対応するスリツト光撮影像
の座標をそれぞれIi(Xc Ii,yc Ii,zc Ii),(i=1〜
l)とする。ここで、簡単にするため画像面Cを
xcyc−平面に平行な平面zc=f(一定、焦点距離)
とする。そのとき、視線10を直線Li(=
OcIi――――――)とすると、Liは Li:xc/xc Ii=yc/yc Ii=zc/f …(7) で表わされる。点状のスリツト光投影像9のひと
つPiの三次元座標は視線10である直線LiとPiに
対応するスリツト光面Miとの交点として求まる。
しかしながら、この時点では、各スリツト光撮
影像Ii(i=1〜l)とマルチスリツト光3によ
るスリツト光面Mjとの対応付け、すなわちI1〜
Iが物体4表面上に照射されている何番目のスリ
ツト光面M1〜Mに対応付けられるかは不明であ
る。そこで、本発明では、マルチスリツト光3に
よるひとつのスリツト光面Mkと一致するスリツ
ト光面Sをもつ基準スリツト光8をマルチスリツ
ト光3と時分割で照射する。ここで、基準スリツ
ト光8による物体4上のスリツト光投影像9の座
標をPs(xc ps,yc ps,zc ps)とし、そのスリツト光
投影像9に対応する基準スリツト光撮影像の座標
をIs(xc Is,yc Is,zc Is)、zc Is=fとする。そのとき
視線Ls(=OcIs)は Ls:xc/xc Is=yc/yc Is=zc/f …(8) で表わされる。点状のスリツト光投影像9である
Psは、直線LsとPsに対応するスリツト光面Sとの
交点として求まる。すなわち、(8)式から xc=xc Is/fzc,yc=yc Is/fzc …(9) が得られる、これを(6)式へ代入し、zcについてま
とめると、 {(h11xc Is/f+h12yc Is/f+h13)cosθs−(h31xc
Is/f+h32yc Is/f+h33)sinθs}zc=h14cosθs+h
34sinθs…(10) より、 zc=(h14cosθs+h34sinθs)/g …(11a) これを(9)式へ代入して、 xc=(h14cosθs+h34sinθs)xc Is/fg …(11b) yc=(h14cosθs+h34sinθs)yIs c/fg …(11c) が得られる。
影像Ii(i=1〜l)とマルチスリツト光3によ
るスリツト光面Mjとの対応付け、すなわちI1〜
Iが物体4表面上に照射されている何番目のスリ
ツト光面M1〜Mに対応付けられるかは不明であ
る。そこで、本発明では、マルチスリツト光3に
よるひとつのスリツト光面Mkと一致するスリツ
ト光面Sをもつ基準スリツト光8をマルチスリツ
ト光3と時分割で照射する。ここで、基準スリツ
ト光8による物体4上のスリツト光投影像9の座
標をPs(xc ps,yc ps,zc ps)とし、そのスリツト光
投影像9に対応する基準スリツト光撮影像の座標
をIs(xc Is,yc Is,zc Is)、zc Is=fとする。そのとき
視線Ls(=OcIs)は Ls:xc/xc Is=yc/yc Is=zc/f …(8) で表わされる。点状のスリツト光投影像9である
Psは、直線LsとPsに対応するスリツト光面Sとの
交点として求まる。すなわち、(8)式から xc=xc Is/fzc,yc=yc Is/fzc …(9) が得られる、これを(6)式へ代入し、zcについてま
とめると、 {(h11xc Is/f+h12yc Is/f+h13)cosθs−(h31xc
Is/f+h32yc Is/f+h33)sinθs}zc=h14cosθs+h
34sinθs…(10) より、 zc=(h14cosθs+h34sinθs)/g …(11a) これを(9)式へ代入して、 xc=(h14cosθs+h34sinθs)xc Is/fg …(11b) yc=(h14cosθs+h34sinθs)yIs c/fg …(11c) が得られる。
ここで、
g=(h11xc Is/f+h12yc Is/f+h13)cosθs−
(h31xcIs/f+h32ycIs/f+h33)sinθs …(12)
である。(11a)乃至(11c)式(以下、単に(11)式
という)、(12)式がPsをカメラ直交座標系によつて
表わしたものである。ところで、基準スリツト光
8によるスリツト光面Sは、マルチスリツト光3
によるスリツト光面MのひとつMkと一致するの
であるから、マルチスリツト光3によるスリツト
光撮影像Ii(i=1〜l)の中に必ず基準スリツ
ト光撮影像Isに相当するものが見つかるはずであ
る。こうして、Isによつて特定されたスリツト光
撮影像をIrとすると、Irは基準スリツト光8によ
るスリツト光面Sと対応付けられ、従つてマルチ
スリツト光3によるスリツト光面Mkと対応付け
られることになる。後は、マルチスリツト光3の
配置とスリツト光撮影像の配列から、両者間に入
れ換えがないとし、Ir-1がMk-1,Ii-2がMk-2…I1
がMk-r+1と、またIi+rがMk+1,Ir+2がMk+2…Ilが
Mk+l-rと順次対応付けられる。この対応関係から
(11)(12)式において、(xc Is,yc Is,θs)の代わりに
、
P1では(xc Is,yc Is,Ok-r+1)を、P2では(xc Is,
yc Is,Ok-r-2)を…Plでは(xc Il,yc Il,Ok+l-r)を
代入することによつて物体4のスリツト光投撮像
9のカメラ直交座標系による三次元座標を求める
ことができるので、物体3の三次元計測が可能と
なる。
という)、(12)式がPsをカメラ直交座標系によつて
表わしたものである。ところで、基準スリツト光
8によるスリツト光面Sは、マルチスリツト光3
によるスリツト光面MのひとつMkと一致するの
であるから、マルチスリツト光3によるスリツト
光撮影像Ii(i=1〜l)の中に必ず基準スリツ
ト光撮影像Isに相当するものが見つかるはずであ
る。こうして、Isによつて特定されたスリツト光
撮影像をIrとすると、Irは基準スリツト光8によ
るスリツト光面Sと対応付けられ、従つてマルチ
スリツト光3によるスリツト光面Mkと対応付け
られることになる。後は、マルチスリツト光3の
配置とスリツト光撮影像の配列から、両者間に入
れ換えがないとし、Ir-1がMk-1,Ii-2がMk-2…I1
がMk-r+1と、またIi+rがMk+1,Ir+2がMk+2…Ilが
Mk+l-rと順次対応付けられる。この対応関係から
(11)(12)式において、(xc Is,yc Is,θs)の代わりに
、
P1では(xc Is,yc Is,Ok-r+1)を、P2では(xc Is,
yc Is,Ok-r-2)を…Plでは(xc Il,yc Il,Ok+l-r)を
代入することによつて物体4のスリツト光投撮像
9のカメラ直交座標系による三次元座標を求める
ことができるので、物体3の三次元計測が可能と
なる。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。
る。
(i) 計測装置の構成
本発明に係る物体の三次元計測方法を実現する
装置は、例えば第3図に示すように構成される。
同図において、1はカメラであり、本実施例では
テレビカメラを用いる。11はアナログ・デジタ
ル変換器であり、12は物体4表面を照射する通
常照明である。13,14はそれぞれマルチスリ
ツト光源5と基準スリツト光源6とからなる光源
セツトであり、物体4の配置に応じて適宜選択し
て使用する。15は画像プロセツサであり、物体
4の輪郭を抽出するための濃淡画像処理部16
と、線状の物体4の中心線を太さ1画素幅のライ
ンを抽出するための尾根点処理部17と、局所的
ピーク点を抽出するための極点処理部18と、デ
ジタル信号を2値化する2値化処理部19と、画
像間AND演算機能を有する画像間AND演算部2
0とからなる。尚、この画像プロセツサ15は、
特願昭58−091309号に示した装置に極点処理部1
8と画像間AND演算部20と付加したものであ
る。21,22は画像メモリであり、カメラ1の
画像面Cに得られた画像を格納しておく装置であ
る。23は線方向画像計算部であつて、物体4の
配置に基づいて、相異なる向きをもつ2つの光源
セツト13と光源セツト14との選択するための
計算を行なうものである。24は対応付け計算部
であり、マルチスリツト光3によるスリツト光撮
影像の中から基準スリツト光8による基準スリツ
ト光撮影像に相当するスリツト光撮影像を特定
し、スリツト光撮影像とスリツト光面Mとの対応
付けの計算を行うものである。25は距離計算部
であり、(11)(12)式を用いて三次元座標の計算を行う
ものである。26,27はバツフアである。29
はCPUであり、以上の全装置と接続され、全装
置の制御や演算等を行うものである。
装置は、例えば第3図に示すように構成される。
同図において、1はカメラであり、本実施例では
テレビカメラを用いる。11はアナログ・デジタ
ル変換器であり、12は物体4表面を照射する通
常照明である。13,14はそれぞれマルチスリ
ツト光源5と基準スリツト光源6とからなる光源
セツトであり、物体4の配置に応じて適宜選択し
て使用する。15は画像プロセツサであり、物体
4の輪郭を抽出するための濃淡画像処理部16
と、線状の物体4の中心線を太さ1画素幅のライ
ンを抽出するための尾根点処理部17と、局所的
ピーク点を抽出するための極点処理部18と、デ
ジタル信号を2値化する2値化処理部19と、画
像間AND演算機能を有する画像間AND演算部2
0とからなる。尚、この画像プロセツサ15は、
特願昭58−091309号に示した装置に極点処理部1
8と画像間AND演算部20と付加したものであ
る。21,22は画像メモリであり、カメラ1の
画像面Cに得られた画像を格納しておく装置であ
る。23は線方向画像計算部であつて、物体4の
配置に基づいて、相異なる向きをもつ2つの光源
セツト13と光源セツト14との選択するための
計算を行なうものである。24は対応付け計算部
であり、マルチスリツト光3によるスリツト光撮
影像の中から基準スリツト光8による基準スリツ
ト光撮影像に相当するスリツト光撮影像を特定
し、スリツト光撮影像とスリツト光面Mとの対応
付けの計算を行うものである。25は距離計算部
であり、(11)(12)式を用いて三次元座標の計算を行う
ものである。26,27はバツフアである。29
はCPUであり、以上の全装置と接続され、全装
置の制御や演算等を行うものである。
(ii) 計測処理
計測すべき物体として線状の物体を想定する。
まず、第1図に示すように、対象となる線状の物
体4の近くに、カメラ1、マルチスリツト光源
5、及び基準スリツト光源6を固定配置する。マ
ルチスリツト光源5及び基準スリツト光源6は、
それぞれ発明の基本原理に述べたようなマルチス
リツト光3及び基準スリツト光8を照射し、物体
4の位置に応じて、光源セツト13と光源セツト
14との中から選択されたものである。以下、第
4図の流れ図に従つて説明する。物体4近くに配
置された通常照明12を点灯することにより物体
4を照射する(41)。但し、物体4と背景とを明
確に区別することができる場合には点灯する必要
はない。次に、通常照明12により照射された物
体4をカメラ1としてのテレビカメラで撮影し、
物体4の輪郭を撮影素子等の画像面C上にとらえ
る。その後、撮影された画像をアナログ・デジタ
ル変換器11によつて濃淡レベルを有するデジタ
ル信号に変換し(80)、さらに該信号を画像プロ
セツサへ入力する。画像プロセツサ15へ入力さ
れた信号は、濃淡画像処理部16で、第5図の流
れ図に示すように平滑化処理あるいはラプラシア
ン処理81、又は平滑化処理及びラプラシアン処
理82がなされる。次に、該信号は尾根点処理部
17において尾根点処理83がなされ、さらに、
2値化処理部19によつて2値化処理84がなさ
れる。もし、物体4の中心線にひげ状ノイズが多
く存在するときは、2値化処理84後、雑音除去
処理85を行つてノイズを除く。
まず、第1図に示すように、対象となる線状の物
体4の近くに、カメラ1、マルチスリツト光源
5、及び基準スリツト光源6を固定配置する。マ
ルチスリツト光源5及び基準スリツト光源6は、
それぞれ発明の基本原理に述べたようなマルチス
リツト光3及び基準スリツト光8を照射し、物体
4の位置に応じて、光源セツト13と光源セツト
14との中から選択されたものである。以下、第
4図の流れ図に従つて説明する。物体4近くに配
置された通常照明12を点灯することにより物体
4を照射する(41)。但し、物体4と背景とを明
確に区別することができる場合には点灯する必要
はない。次に、通常照明12により照射された物
体4をカメラ1としてのテレビカメラで撮影し、
物体4の輪郭を撮影素子等の画像面C上にとらえ
る。その後、撮影された画像をアナログ・デジタ
ル変換器11によつて濃淡レベルを有するデジタ
ル信号に変換し(80)、さらに該信号を画像プロ
セツサへ入力する。画像プロセツサ15へ入力さ
れた信号は、濃淡画像処理部16で、第5図の流
れ図に示すように平滑化処理あるいはラプラシア
ン処理81、又は平滑化処理及びラプラシアン処
理82がなされる。次に、該信号は尾根点処理部
17において尾根点処理83がなされ、さらに、
2値化処理部19によつて2値化処理84がなさ
れる。もし、物体4の中心線にひげ状ノイズが多
く存在するときは、2値化処理84後、雑音除去
処理85を行つてノイズを除く。
以上述べた処理によつて物体4の中心線を太さ
1画素幅のラインとして抽出し、画像30として
画像メモリ21への格納処理86を行う(42)。
次に、得られたデータから線方向計算部23によ
つて線状の物体4の配置方向を計算する。その方
法は、まずカメラ直交座標系によつて、画像面C
上の物体4の始点Ls(xs c,ys c)と終点Le(xe c,ye
c)とを求める。ここで扱う物体4はあまり複雑
な形状でない細長い線状部材とすれば、LsとLe
とから物体4の配置方向を示す角度θが決まる。
すなわち方向θは θ=arc tanye c−ys c/xe c−Xs c である。これによつて物体4の配置を示す方向ベ
クトル l→=(cosθ,sinθ) が求まる。次に、この方向ベクトルl→を用いて、
相異なる向きに配置された光源セツトA,Bの選
択を行う。その方法は、光源セツト13と光源セ
ツト14とのスリツト面の法線方向の方向ベクト
ルをそれぞれSA―→,SB―→とするとき、内積l→・
SA―→の絶対値と内積l・SB―→との絶対値を計算し
、
両者の大小を比較して内積の絶対値の小さい方の
光源セツトを選択する(43)。これはマルチスリ
ツト光3に対してより多くのスリツト光投影像9
を得て計測分解能を向上させるためである。但
し、光源セツト13,14のうち必ずしもどちら
か一方のみを選択しなくても、両方の光源セツト
13,14を使つて異なる方向から2回計測して
もよい。
1画素幅のラインとして抽出し、画像30として
画像メモリ21への格納処理86を行う(42)。
次に、得られたデータから線方向計算部23によ
つて線状の物体4の配置方向を計算する。その方
法は、まずカメラ直交座標系によつて、画像面C
上の物体4の始点Ls(xs c,ys c)と終点Le(xe c,ye
c)とを求める。ここで扱う物体4はあまり複雑
な形状でない細長い線状部材とすれば、LsとLe
とから物体4の配置方向を示す角度θが決まる。
すなわち方向θは θ=arc tanye c−ys c/xe c−Xs c である。これによつて物体4の配置を示す方向ベ
クトル l→=(cosθ,sinθ) が求まる。次に、この方向ベクトルl→を用いて、
相異なる向きに配置された光源セツトA,Bの選
択を行う。その方法は、光源セツト13と光源セ
ツト14とのスリツト面の法線方向の方向ベクト
ルをそれぞれSA―→,SB―→とするとき、内積l→・
SA―→の絶対値と内積l・SB―→との絶対値を計算し
、
両者の大小を比較して内積の絶対値の小さい方の
光源セツトを選択する(43)。これはマルチスリ
ツト光3に対してより多くのスリツト光投影像9
を得て計測分解能を向上させるためである。但
し、光源セツト13,14のうち必ずしもどちら
か一方のみを選択しなくても、両方の光源セツト
13,14を使つて異なる方向から2回計測して
もよい。
次に、通常照明12を消し、選択した光源セツ
ト13又は光源セツト14の基準スリツト光源6
を点灯して物体4表面に基準スリツト光8を照射
する(44)。ここで、基準スリツト光8の作るス
リツト光面Sはマルチスリツト光3のひとつのス
リツト光面Mkと予め一致させておく。基準スリ
ツト光8によつて物体4表面を横切るようにして
輝線7が引かれ、物体4表面上にはスリツト光投
影像9ができる。スリツト光投影像9を含む輝線
7をカメラ1で撮影し、カメラ1の撮影素子等の
画像面C上に基準スリツト光8によるスリツト光
投影像9に対応した基準スリツト光撮影像38を
含む線画像37を得る。撮影された線画像37
は、第3図に示したアナログ・デジタル変換器1
1によつて濃淡レベルを有するデジタル信号に変
換され(90)、さらに該信号を画像プロセツサ1
5へ力する。画像プロセツサ15へ入力された信
号は、濃淡画像処理部16で、第6図の流れ図に
示すように、平滑化処理あるいはラプラシアン処
理91又は平滑化処理及びラプラシアン処理92
がなされる。次に、該信号は尾根点処理部17に
おいて尾根点処理93がなされ、さらに2値化処
理部19で2値化処理95がなされ、基準スリツ
ト光8による線画像37の中心線を抽出し、画像
31として画像メモリ22へ格納処理96をする
(45)。このとき、尾根点処理部17による尾根点
処理93の代わりに極点処理部18による極点処
理94を適用してもよい。この場合は、基準スリ
ツト光8による線画像37の中心線というより局
所的ピークをもつ点が抽出されることになる。特
に、基準スリツト光撮影像38が1画素として抽
出される場合には、第8図に示す統合処理が不要
となり能率的である。
ト13又は光源セツト14の基準スリツト光源6
を点灯して物体4表面に基準スリツト光8を照射
する(44)。ここで、基準スリツト光8の作るス
リツト光面Sはマルチスリツト光3のひとつのス
リツト光面Mkと予め一致させておく。基準スリ
ツト光8によつて物体4表面を横切るようにして
輝線7が引かれ、物体4表面上にはスリツト光投
影像9ができる。スリツト光投影像9を含む輝線
7をカメラ1で撮影し、カメラ1の撮影素子等の
画像面C上に基準スリツト光8によるスリツト光
投影像9に対応した基準スリツト光撮影像38を
含む線画像37を得る。撮影された線画像37
は、第3図に示したアナログ・デジタル変換器1
1によつて濃淡レベルを有するデジタル信号に変
換され(90)、さらに該信号を画像プロセツサ1
5へ力する。画像プロセツサ15へ入力された信
号は、濃淡画像処理部16で、第6図の流れ図に
示すように、平滑化処理あるいはラプラシアン処
理91又は平滑化処理及びラプラシアン処理92
がなされる。次に、該信号は尾根点処理部17に
おいて尾根点処理93がなされ、さらに2値化処
理部19で2値化処理95がなされ、基準スリツ
ト光8による線画像37の中心線を抽出し、画像
31として画像メモリ22へ格納処理96をする
(45)。このとき、尾根点処理部17による尾根点
処理93の代わりに極点処理部18による極点処
理94を適用してもよい。この場合は、基準スリ
ツト光8による線画像37の中心線というより局
所的ピークをもつ点が抽出されることになる。特
に、基準スリツト光撮影像38が1画素として抽
出される場合には、第8図に示す統合処理が不要
となり能率的である。
続いて、画像メモリ21と画像メモリ22とか
ら同時に画像データを読み出し、画像間AND演
算部20で画像30と画像31とのAND演算を
行つて、基準スリツト光撮影像38を抽出する。
基準スリツト光撮影像38は、物体4が線状であ
つても、一般に複数の点が集まつた場合があり得
る。そこで、それらの座標をカメラ直交座標系で
Bj(xc,yc)j=1〜nと表わしバツフア26に
格納しておく(46)。これらの処理の流れは第7
図の100から102に示されている。
ら同時に画像データを読み出し、画像間AND演
算部20で画像30と画像31とのAND演算を
行つて、基準スリツト光撮影像38を抽出する。
基準スリツト光撮影像38は、物体4が線状であ
つても、一般に複数の点が集まつた場合があり得
る。そこで、それらの座標をカメラ直交座標系で
Bj(xc,yc)j=1〜nと表わしバツフア26に
格納しておく(46)。これらの処理の流れは第7
図の100から102に示されている。
次に、基準スリツト光源6を消して、マルチス
リツト光源5を点灯する(47)。マルチスリツト
光3によるスリツト光撮影像39の抽出も基準ス
リツト光8による基準スリツト光撮影像38の抽
出と同様な処理をする。その処理の流れは、第4
図47から50までに記述されており、基準スリ
ツト光8の場合の44から47までに対応してい
る。すなわち、マルチスリツト光3によつて物体
4表面を横切るようにして複数の輝線7が引か
れ、物体4表面上には複数のスリツト光撮影像9
ができる。複数のスリツト光投影像9を含む複数
の輝線7をカメラ1で撮影し、カメラ1の撮影素
子等の画像面C上にマルチスリツト光3による複
数のスリツト光投影像9に対応した複数のスリツ
ト光撮影像39を含む複数の線画像37を得る。
撮影された線画像37は、基準スリツト光8の場
合と同様に処理されマルチスリツト光3による線
画像37の中心線を抽出し、画像33として画像
メモリ22へ格納処理96を行う(48)。
リツト光源5を点灯する(47)。マルチスリツト
光3によるスリツト光撮影像39の抽出も基準ス
リツト光8による基準スリツト光撮影像38の抽
出と同様な処理をする。その処理の流れは、第4
図47から50までに記述されており、基準スリ
ツト光8の場合の44から47までに対応してい
る。すなわち、マルチスリツト光3によつて物体
4表面を横切るようにして複数の輝線7が引か
れ、物体4表面上には複数のスリツト光撮影像9
ができる。複数のスリツト光投影像9を含む複数
の輝線7をカメラ1で撮影し、カメラ1の撮影素
子等の画像面C上にマルチスリツト光3による複
数のスリツト光投影像9に対応した複数のスリツ
ト光撮影像39を含む複数の線画像37を得る。
撮影された線画像37は、基準スリツト光8の場
合と同様に処理されマルチスリツト光3による線
画像37の中心線を抽出し、画像33として画像
メモリ22へ格納処理96を行う(48)。
続いて、画像メモリ21と画像メモリ22とか
ら同時に画像データを読み出し、画像間AND演
算部20で画像30と画像33とのAND演算を
行つて、複数のスリツト光撮影像39を抽出す
る。各々のスリツト光撮影像39は、物体4が線
状であつても、一般に複数の点が集まつたもので
あり、得られたスリツト光撮影像39の座標をカ
メラ直交座標系でCk(xc,yc),k=1〜kと表わ
しバツフア27に格納する(49)。尚、基準スリ
ツト光8の場合に行われた他の処理についてはマ
ルチスリツト光3の場合においても同様に対応す
る処理を行なう。その後、マルチスリツト光源5
を消す(50)。
ら同時に画像データを読み出し、画像間AND演
算部20で画像30と画像33とのAND演算を
行つて、複数のスリツト光撮影像39を抽出す
る。各々のスリツト光撮影像39は、物体4が線
状であつても、一般に複数の点が集まつたもので
あり、得られたスリツト光撮影像39の座標をカ
メラ直交座標系でCk(xc,yc),k=1〜kと表わ
しバツフア27に格納する(49)。尚、基準スリ
ツト光8の場合に行われた他の処理についてはマ
ルチスリツト光3の場合においても同様に対応す
る処理を行なう。その後、マルチスリツト光源5
を消す(50)。
さらに、スリツト光撮影像39間に入れ換えが
ないと仮定し、マルチスリツト光3による複数の
スリツト光撮影像39の中から基準スリツト光8
の基準スリツト光撮影像38に対応するスリツト
光撮影像39を特定する。そのために、対応付け
計算部24によつて、第8図に示すような対応付
け処理を行う。まず、基準スリツト光撮影像38
の位置座標データBj(xc,yc),j=1〜nの平均
B(x,y)をとつて、基準スリツト光撮影像3
8の座標を代表させる(61)。すなわち、 B(xc,yc)=1/no 〓j=1 Bj(xc,yc) である。
ないと仮定し、マルチスリツト光3による複数の
スリツト光撮影像39の中から基準スリツト光8
の基準スリツト光撮影像38に対応するスリツト
光撮影像39を特定する。そのために、対応付け
計算部24によつて、第8図に示すような対応付
け処理を行う。まず、基準スリツト光撮影像38
の位置座標データBj(xc,yc),j=1〜nの平均
B(x,y)をとつて、基準スリツト光撮影像3
8の座標を代表させる(61)。すなわち、 B(xc,yc)=1/no 〓j=1 Bj(xc,yc) である。
次に、この基準スリツト光撮影像38と、マル
チスリツト光3による各スリツト光撮影像39と
の距離と方向とを求める(62)。すなわち、画像
面C上の距離dkと角度ηkとは、それぞれ dk=|Ck(xc,yc)−B(xc,yc)| ηk=arc tanCk(yc)−B(yc)/Ck(xc)−B(xc) k=1〜k である。続いて、Ck(xc,yc)をdkの小さい方か
ら並べ換え、それをDk(xc,yc)とする(63)。
Dk(xc,yc)において、Dkがある距離rよりも小
さいものをクラスOとする(65)。次にηkの符号
が正のものに対して特願昭58−235898号のクラス
タ方式によつてクラス分けをし、B(xc,yc)に
近いクラスから1,2,3…とする(68)。同様
に、ηkの符号が負のものに対しても同様な処理を
して、B(xc,yc)に近いクラスから−1,−2,
−3…とする。尾根点処理93を行つた場合に
は、スリツト光撮影像39が数画素の大きさで抽
出されることがあるので同一クラス内の平均をと
り代表させる(69)。それらをEp(xc,yc),p=
1〜lとする。
チスリツト光3による各スリツト光撮影像39と
の距離と方向とを求める(62)。すなわち、画像
面C上の距離dkと角度ηkとは、それぞれ dk=|Ck(xc,yc)−B(xc,yc)| ηk=arc tanCk(yc)−B(yc)/Ck(xc)−B(xc) k=1〜k である。続いて、Ck(xc,yc)をdkの小さい方か
ら並べ換え、それをDk(xc,yc)とする(63)。
Dk(xc,yc)において、Dkがある距離rよりも小
さいものをクラスOとする(65)。次にηkの符号
が正のものに対して特願昭58−235898号のクラス
タ方式によつてクラス分けをし、B(xc,yc)に
近いクラスから1,2,3…とする(68)。同様
に、ηkの符号が負のものに対しても同様な処理を
して、B(xc,yc)に近いクラスから−1,−2,
−3…とする。尾根点処理93を行つた場合に
は、スリツト光撮影像39が数画素の大きさで抽
出されることがあるので同一クラス内の平均をと
り代表させる(69)。それらをEp(xc,yc),p=
1〜lとする。
極点処理94を行つて、各スリツト光撮影像3
9が1画素で抽出される場合には平均値を求める
必要はない。Ep(xc,yc)をクラスの小さい方か
ら並べ換える(70)。このとき、p=rがクラス
Oであつたとすると、Er(xc,yc)が基準スリツ
ト光撮影像38に相当することになり、この処理
によつてスリツト光撮影像39の中から基準スリ
ツト光撮影像38に対応するものが特定されたこ
とになる。したがつて、基準スリツト光8による
スリツト光面Sの照射角θsはk番目のマルチスリ
ツト光3によるスリツト光面Mkと一致している
ので、Er(xc,yc)はθkと対応付けられることに
なる。すると、その他のスリツト光撮影像39に
ついても、入れ換えがないとすると、Er+1(xc,
yc)がθk+1,Er+2(xc,yc)がθk+2,…El(xc,yc)
がθk+l-r、同様にEr-1(xc,yc)がθk-1,Er-2(xc,
yc)がθk-2,…E(xc,yc)がθk-r+1にそれぞれ対
応付けられる(71)。尚、以上では簡単のため、
カメラ直交座標系で、画像面C上の座標を表現し
たが、一般には、画像面C上に画像面座標系を設
定し、その座標で表現してもよい。その場合に
は、画像面座標系をカメラ直交座標系に変更する
処理72が必要となる。こうして、特定されたス
リツト光撮影像39と他のスリツト光撮影像39
との相対的な位置関係に基づいて各スリツト光撮
影像39とマルチスリツト光3のスリツト光面
Mjとを対応付けることになる(51)。こうして求
めた各画像面C上のスリツト光撮影像39の座標
と角度とを発明の基本原理に述べた(11)式と(12)式の
(Xc Is,yc Is,θs)に代入すると共に、予めカメラ
座標系とマルチスリツト及び基準スリツト座標系
との関係をキヤリブレーシヨン等で求めた上で
((1)式のhij(i,j=1〜4)を求める)、スリツ
ト光撮影像9の座標と座標間の距離とを求めるこ
とができる(73,75)ので、物体4の三次元計測
がされることになる。
9が1画素で抽出される場合には平均値を求める
必要はない。Ep(xc,yc)をクラスの小さい方か
ら並べ換える(70)。このとき、p=rがクラス
Oであつたとすると、Er(xc,yc)が基準スリツ
ト光撮影像38に相当することになり、この処理
によつてスリツト光撮影像39の中から基準スリ
ツト光撮影像38に対応するものが特定されたこ
とになる。したがつて、基準スリツト光8による
スリツト光面Sの照射角θsはk番目のマルチスリ
ツト光3によるスリツト光面Mkと一致している
ので、Er(xc,yc)はθkと対応付けられることに
なる。すると、その他のスリツト光撮影像39に
ついても、入れ換えがないとすると、Er+1(xc,
yc)がθk+1,Er+2(xc,yc)がθk+2,…El(xc,yc)
がθk+l-r、同様にEr-1(xc,yc)がθk-1,Er-2(xc,
yc)がθk-2,…E(xc,yc)がθk-r+1にそれぞれ対
応付けられる(71)。尚、以上では簡単のため、
カメラ直交座標系で、画像面C上の座標を表現し
たが、一般には、画像面C上に画像面座標系を設
定し、その座標で表現してもよい。その場合に
は、画像面座標系をカメラ直交座標系に変更する
処理72が必要となる。こうして、特定されたス
リツト光撮影像39と他のスリツト光撮影像39
との相対的な位置関係に基づいて各スリツト光撮
影像39とマルチスリツト光3のスリツト光面
Mjとを対応付けることになる(51)。こうして求
めた各画像面C上のスリツト光撮影像39の座標
と角度とを発明の基本原理に述べた(11)式と(12)式の
(Xc Is,yc Is,θs)に代入すると共に、予めカメラ
座標系とマルチスリツト及び基準スリツト座標系
との関係をキヤリブレーシヨン等で求めた上で
((1)式のhij(i,j=1〜4)を求める)、スリツ
ト光撮影像9の座標と座標間の距離とを求めるこ
とができる(73,75)ので、物体4の三次元計測
がされることになる。
尚、本実施例では、物体4を線状として考えた
が、物体4は線状の場合に限らず、一般の立体の
場合にも適用することができる。この際、物体上
のスリツト光撮影像が線状のものとして処理され
る(実施例では点状のものとして処理された)。
が、物体4は線状の場合に限らず、一般の立体の
場合にも適用することができる。この際、物体上
のスリツト光撮影像が線状のものとして処理され
る(実施例では点状のものとして処理された)。
(iii) 他の実施例
上記実施例ではマルチスリツト光面とそのスリ
ツト光撮影像との対応付けを、マルチスリツト光
源とは別の基準スリツト光源を用いることによつ
て行つたが、マルチスリツト光源の前面にシヤツ
タを設け、シヤツタによつて基準スリツト光のみ
の照射とマルチスリツト光全体の照射とを時分割
的に実現してもよい。また、マルチスリツト光中
で基準スリツト光に対応するものを他の異なる波
長をもつ光としてもよい。例えば、基準スリツト
光に対応するものをブルー、他をレツドとして照
射し、カラーのTVカメラを使つて、まずブルー
のみを処理して基準スリツト光撮影像を抽出し、
次にレツドとブルーを一緒に処理してマルチスリ
ツト光撮影像を抽出してもよい。
ツト光撮影像との対応付けを、マルチスリツト光
源とは別の基準スリツト光源を用いることによつ
て行つたが、マルチスリツト光源の前面にシヤツ
タを設け、シヤツタによつて基準スリツト光のみ
の照射とマルチスリツト光全体の照射とを時分割
的に実現してもよい。また、マルチスリツト光中
で基準スリツト光に対応するものを他の異なる波
長をもつ光としてもよい。例えば、基準スリツト
光に対応するものをブルー、他をレツドとして照
射し、カラーのTVカメラを使つて、まずブルー
のみを処理して基準スリツト光撮影像を抽出し、
次にレツドとブルーを一緒に処理してマルチスリ
ツト光撮影像を抽出してもよい。
以上説明してきたように、本発明によれば、マ
ルチスリツト光と基準スリツト光とを物体に照射
し、その際、得られる画像及び各スリツト光間の
関係に基づいて当該物体の三次元計測を行うこと
ができる。従つて、本発明に係る方法を実施する
装置ではカメラ1台で物体の計測が可能となり、
その処理も簡単なものとなる。また、本発明で
は、物体上の投影像のみに着目しているため、背
景とのコントラスト、背景の凹凸等に全く依存せ
ずに計測することができるため、配線の自動化等
に広く適用することができるものである。
ルチスリツト光と基準スリツト光とを物体に照射
し、その際、得られる画像及び各スリツト光間の
関係に基づいて当該物体の三次元計測を行うこと
ができる。従つて、本発明に係る方法を実施する
装置ではカメラ1台で物体の計測が可能となり、
その処理も簡単なものとなる。また、本発明で
は、物体上の投影像のみに着目しているため、背
景とのコントラスト、背景の凹凸等に全く依存せ
ずに計測することができるため、配線の自動化等
に広く適用することができるものである。
第1図は本発明の原理説明図、第2図は本発明
の基本原理図、第3図は本発明に係る実施例の全
体構成図、第4図は本発明に係る実施例の処理の
流れ図、第5図は物体輪郭抽出処理の流れ図、第
6図は基準スリツト光またはマルチスリツト光に
よる線画像抽出処理の流れ図、第7図は基準スリ
ツト画像またはスリツト光撮影像抽出処理の流れ
図、第8図は対応付け計算処理の流れ図、第9図
は従来の物体の三次元計測方法に係る空間配置
図、第10図はカメラ1,2の撮影した画像を示
す図である。 1,2…カメラ、3…マルチスリツト光、4…
物体、5…マルチスリツト光源、6…基準スリツ
ト光源、8…基準スリツト光、9…スリツト光投
影像、38…基準スリツト光撮影画、39…スリ
ツト光撮影像。
の基本原理図、第3図は本発明に係る実施例の全
体構成図、第4図は本発明に係る実施例の処理の
流れ図、第5図は物体輪郭抽出処理の流れ図、第
6図は基準スリツト光またはマルチスリツト光に
よる線画像抽出処理の流れ図、第7図は基準スリ
ツト画像またはスリツト光撮影像抽出処理の流れ
図、第8図は対応付け計算処理の流れ図、第9図
は従来の物体の三次元計測方法に係る空間配置
図、第10図はカメラ1,2の撮影した画像を示
す図である。 1,2…カメラ、3…マルチスリツト光、4…
物体、5…マルチスリツト光源、6…基準スリツ
ト光源、8…基準スリツト光、9…スリツト光投
影像、38…基準スリツト光撮影画、39…スリ
ツト光撮影像。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 所定の座標系において配置が予め設定された
複数のスリツト光面を有するマルチスリツト光を
物体表面に照射する一方、 上記マルチスリツト光のひとつのスリツト光面
と一致するスリツト光面を有した所定の基準スリ
ツト光を前記マルチスリツト光の光源とは別個に
設けられた光源から同物体表面に照射し、 上記物体表面上のマルチスリツト光によるスリ
ツト光投影像に対応した複数のスリツト光撮影像
と同物体表面上の基準スリツト光によるスリツト
光投影像に対応した基準スリツト光撮影像とを所
定画像面上にて得る一方、 上記複数のスリツト光撮影像から基準スリツト
光撮影像に対応するスリツト光撮影像を特定し、 その複数のスリツト光撮影像間に入れ換えがな
いとして、この特定されたスリツト光撮影像と他
のスリツト光撮影像との相対的な位置関係に基づ
いて各スリツト光撮影像とマルチスリツト光の各
スリツト光面とを対応付けると共に、 当該各スリツト光撮影像の相対的な位置関係と
各スリツト光撮影像に対応付けられたスリツト光
面とに基づいて当該物体の上記座標系における空
間的配置を計測するようにした物体の三次元計測
方法。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10767585A JPS61274207A (ja) | 1985-05-20 | 1985-05-20 | 物体の三次元計測方法 |
EP91100068A EP0424359B1 (en) | 1985-05-20 | 1986-05-20 | Device for emitting multislit lights |
DE8686401056T DE3683423D1 (de) | 1985-05-20 | 1986-05-20 | Verfahren zum messen einer dreidimensionalen lage eines objektes. |
EP86401056A EP0212992B1 (en) | 1985-05-20 | 1986-05-20 | Method for measuring a three-dimensional position of an object |
DE3650479T DE3650479T2 (de) | 1985-05-20 | 1986-05-20 | Vorrichtung zur Aussendung von Lichtflächen |
US06/864,846 US4846576A (en) | 1985-05-20 | 1986-05-20 | Method for measuring a three-dimensional position of an object |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10767585A JPS61274207A (ja) | 1985-05-20 | 1985-05-20 | 物体の三次元計測方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61274207A JPS61274207A (ja) | 1986-12-04 |
JPH0367566B2 true JPH0367566B2 (ja) | 1991-10-23 |
Family
ID=14465136
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10767585A Granted JPS61274207A (ja) | 1985-05-20 | 1985-05-20 | 物体の三次元計測方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61274207A (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH076776B2 (ja) * | 1990-09-20 | 1995-01-30 | 工業技術院長 | ホットコイル巻取形状の検出装置 |
JP2582215B2 (ja) * | 1993-03-26 | 1997-02-19 | 鹿島建設株式会社 | 三次元位置姿勢計測方法 |
JPH08136217A (ja) * | 1994-11-04 | 1996-05-31 | Daihatsu Motor Co Ltd | 位置検出装置 |
JP5431078B2 (ja) * | 2009-09-03 | 2014-03-05 | 株式会社東芝 | 積層紙葉類の状態判定装置、及び紙葉類処理装置 |
WO2012005226A1 (ja) * | 2010-07-05 | 2012-01-12 | 株式会社メガトレード | 厚み検査装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5256556A (en) * | 1975-11-04 | 1977-05-10 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Object measuring system by coded grid projection |
-
1985
- 1985-05-20 JP JP10767585A patent/JPS61274207A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5256556A (en) * | 1975-11-04 | 1977-05-10 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Object measuring system by coded grid projection |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS61274207A (ja) | 1986-12-04 |
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