JPH0355983B2 - - Google Patents
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- JPH0355983B2 JPH0355983B2 JP61150323A JP15032386A JPH0355983B2 JP H0355983 B2 JPH0355983 B2 JP H0355983B2 JP 61150323 A JP61150323 A JP 61150323A JP 15032386 A JP15032386 A JP 15032386A JP H0355983 B2 JPH0355983 B2 JP H0355983B2
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- carriers
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- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 16
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 claims description 13
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 130
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
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-
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- Power Engineering (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
所望のウエーハキヤリアの間でウエーハを移し
替えるウエーハ移し替え装置において、 ウエーハキヤリアのウエーハ出し入れ開口を下
向きにしてウエーハを出し入れすることにより、 作動に関する従来の不安定要素を除去して、ウ
エーハの移し変えを安定化させたものである。
替えるウエーハ移し替え装置において、 ウエーハキヤリアのウエーハ出し入れ開口を下
向きにしてウエーハを出し入れすることにより、 作動に関する従来の不安定要素を除去して、ウ
エーハの移し変えを安定化させたものである。
本発明は、所望のウエーハキヤリアの間でウエ
ーハを移し替えるウエーハ移し替え装置の構成に
関す。
ーハを移し替えるウエーハ移し替え装置の構成に
関す。
半導体装置などの製造においては、通常、製造
途上に基板にウエーハを用い、これに種々の加工
を施す。その際、加工工程、運搬工程、保管工程
におけるウエーハの保持にウエーハキヤリア(以
下キヤリアと略称する)を使用する。
途上に基板にウエーハを用い、これに種々の加工
を施す。その際、加工工程、運搬工程、保管工程
におけるウエーハの保持にウエーハキヤリア(以
下キヤリアと略称する)を使用する。
そしてキヤリアは工程により使用が区分けされ
るので、前工程で使用したキヤリアから次工程で
使用するキヤリアにウエーハの移し替えが必要に
なるが、この移し替えに使用する装置は、安定に
作動することが重要である。
るので、前工程で使用したキヤリアから次工程で
使用するキヤリアにウエーハの移し替えが必要に
なるが、この移し替えに使用する装置は、安定に
作動することが重要である。
キヤリアは、第3図の斜視図a,bに示す如
く、外形が略直方体状をなしてその一面がウエー
ハ(図示W)の出し入れ開口となり、複数例えば
25枚のウエーハを例えばピツチが4.76mmと言つた
具合に規格化された間隔で積層状に並べて収容す
るものである。
く、外形が略直方体状をなしてその一面がウエー
ハ(図示W)の出し入れ開口となり、複数例えば
25枚のウエーハを例えばピツチが4.76mmと言つた
具合に規格化された間隔で積層状に並べて収容す
るものである。
そしてキヤリアには、石英ガラスまたはプラス
チツクス製で前記開口以外に背面などが開口した
枠状をなし加工工程や運搬工程に使用される図a
図示の一般キヤリアと、プラスチツクス製で前記
開口以外の閉塞された箱状をなし主として保管工
程に使用される図b図示の箱型キヤリアとがあ
る。
チツクス製で前記開口以外に背面などが開口した
枠状をなし加工工程や運搬工程に使用される図a
図示の一般キヤリアと、プラスチツクス製で前記
開口以外の閉塞された箱状をなし主として保管工
程に使用される図b図示の箱型キヤリアとがあ
る。
本発明に係るウエーハ移し替え装置は、先に述
べた必要性から所望のキヤリアの間でウエーハの
移し替えが可能でなければならない。
べた必要性から所望のキヤリアの間でウエーハの
移し替えが可能でなければならない。
第4図は、このキヤリア移し替え装置の従来例
要部構成を示す側面図である。
要部構成を示す側面図である。
同図において、C1はウエーハWの移し替え元
になるキヤリア、C2はウエーハWの移し替え先
になるキヤリア、1はキヤリアC1およびC2を
載せ軸1aを軸にして回転する回転テーブル、2
はキヤリアC1およびC2に対してウエーハWを
出し入れするウエーハ搬送機構、である。
になるキヤリア、C2はウエーハWの移し替え先
になるキヤリア、1はキヤリアC1およびC2を
載せ軸1aを軸にして回転する回転テーブル、2
はキヤリアC1およびC2に対してウエーハWを
出し入れするウエーハ搬送機構、である。
搬送機構2はアーム2aを具え、アーム2a
は、キヤリアC1またはC2が収容するウエーハ
Wと同数あつて同ピツチに配列され、それぞれの
先端部にウエーハチヤツク2bを具えている。
は、キヤリアC1またはC2が収容するウエーハ
Wと同数あつて同ピツチに配列され、それぞれの
先端部にウエーハチヤツク2bを具えている。
ウエーハWの移し替えは、次の如くに一括して
行う。
行う。
先ず図示の位置にあるキヤリアC1に対し搬送
機構2が右方に移動して各アーム2aを各ウエー
ハWの下に挿入し、各チヤツク2bがそれぞれ直
上のウエーハWをチヤツクして支持する。次いで
搬送機構2が左方に移動してキヤリアC1からウ
エーハWを一括して取り出す。次いでテーブル1
が回転してキヤリアC1とC2との位置を交替す
る。次いで搬送機構2が右方に移動してキヤリア
C2にウエーハWを収納し、チヤツク2bがウエ
ーハWを解放する。次いで搬送機構2が左方に移
動してキヤリアC2から離れ、移し替えを完了す
る。
機構2が右方に移動して各アーム2aを各ウエー
ハWの下に挿入し、各チヤツク2bがそれぞれ直
上のウエーハWをチヤツクして支持する。次いで
搬送機構2が左方に移動してキヤリアC1からウ
エーハWを一括して取り出す。次いでテーブル1
が回転してキヤリアC1とC2との位置を交替す
る。次いで搬送機構2が右方に移動してキヤリア
C2にウエーハWを収納し、チヤツク2bがウエ
ーハWを解放する。次いで搬送機構2が左方に移
動してキヤリアC2から離れ、移し替えを完了す
る。
この場合、キヤリアC1に収容されているウエ
ーハWの間隔寸法が前述の如く小さいため、ウエ
ーハWの下に挿入するアーム2aは、厚さが薄く
なつて機械的に十分な強度を有するものにするこ
とが困難である。
ーハWの間隔寸法が前述の如く小さいため、ウエ
ーハWの下に挿入するアーム2aは、厚さが薄く
なつて機械的に十分な強度を有するものにするこ
とが困難である。
このため上記構成のウエーハ移し替え装置で
は、ウエーハWを支持するアーム2a先端部の位
置が不安定になり、ウエーハWの出し入れが滑ら
かに行われない場合が発生する。
は、ウエーハWを支持するアーム2a先端部の位
置が不安定になり、ウエーハWの出し入れが滑ら
かに行われない場合が発生する。
上記問題点は、キヤリアC1またはC2に収容
されたキヤリアWの下に挿入するアーム2aの如
き不安定な部材を必要としない本発明の下記ウエ
ーハ移し替え装置によつて解決される。
されたキヤリアWの下に挿入するアーム2aの如
き不安定な部材を必要としない本発明の下記ウエ
ーハ移し替え装置によつて解決される。
それは、、ウエーハキヤリアのウエーハ出し入
れ開口を下向きにさせるキヤリア回転機構と、該
キヤリア回転機構によりウエーハ出し入れ開口が
下向きになるウエーハキヤリアからウエーハが滑
落するのを適時防止するウエーハ押え機構と、ウ
エーハ保持部を有し、該ウエーハ保持部をウエー
ハ出し入れ開口が下向きになつている第一のウエ
ーハキヤリアの下に位置させて、該第一のウエー
ハキヤリアからウエーハをその自重を利用して該
ウエーハ保持部に取り込み、且つ該ウエーハ保持
部をウエーハ出し入れ開口が下向きになつている
第二のウエーハキヤリアの下に位置させて、該ウ
エーハ保持部からウエーハを押し上げて該第二の
ウエーハキヤリアに収納するウエーハ搬送機構と
を具えるウエーハ移し替え装置である。
れ開口を下向きにさせるキヤリア回転機構と、該
キヤリア回転機構によりウエーハ出し入れ開口が
下向きになるウエーハキヤリアからウエーハが滑
落するのを適時防止するウエーハ押え機構と、ウ
エーハ保持部を有し、該ウエーハ保持部をウエー
ハ出し入れ開口が下向きになつている第一のウエ
ーハキヤリアの下に位置させて、該第一のウエー
ハキヤリアからウエーハをその自重を利用して該
ウエーハ保持部に取り込み、且つ該ウエーハ保持
部をウエーハ出し入れ開口が下向きになつている
第二のウエーハキヤリアの下に位置させて、該ウ
エーハ保持部からウエーハを押し上げて該第二の
ウエーハキヤリアに収納するウエーハ搬送機構と
を具えるウエーハ移し替え装置である。
第4図で説明した従来例装置では、ウエーハの
出し入れの移動が水平方向であつた。このためウ
エーハ搬送機構2に問題のアーム2aを具えるこ
とが必要であつた。
出し入れの移動が水平方向であつた。このためウ
エーハ搬送機構2に問題のアーム2aを具えるこ
とが必要であつた。
これに対し本発明の装置は、ウエーハの出し入
れの移動を垂直方向に変えているので、ウエーハ
の出し入れにその自重を利用することが出来る。
れの移動を垂直方向に変えているので、ウエーハ
の出し入れにその自重を利用することが出来る。
即ち、本装置のウエーハ搬送機構では、ウエー
ハの下側部で自重を受ける単純構成のウエーハ支
持台によりウエーハを支持し、その上下動によつ
てキヤリアに対するウエーハの出し入れを行うこ
とが出来る。キヤリアから出されたウエーハの位
置ずれに対しては、ウエーハ保持部を設けウエー
ハ側部を適宜ガイドすれば良い。
ハの下側部で自重を受ける単純構成のウエーハ支
持台によりウエーハを支持し、その上下動によつ
てキヤリアに対するウエーハの出し入れを行うこ
とが出来る。キヤリアから出されたウエーハの位
置ずれに対しては、ウエーハ保持部を設けウエー
ハ側部を適宜ガイドすれば良い。
このことから、本装置のウエーハ搬送機構は、
従来例のアーム2aの如き不安定な部材を必要と
しないで、ウエーハに対する所望の搬送を行うこ
とが出来る。
従来例のアーム2aの如き不安定な部材を必要と
しないで、ウエーハに対する所望の搬送を行うこ
とが出来る。
なお上記ウエーハ押え機構は、上記キヤリア回
転機構がキヤリアを下向きにさせる時から上記ウ
エーハ支持台がウエーハを支持するまでの間にウ
エーハが滑落するのを防止するものである。
転機構がキヤリアを下向きにさせる時から上記ウ
エーハ支持台がウエーハを支持するまでの間にウ
エーハが滑落するのを防止するものである。
以下、本発明のウエーハ移し変え装置実施例に
ついてその要部構成を示す第1図の斜視図および
第2図の動作説明図a〜dを用い説明する。全図
を通じ同一符号は同一対象物を示す。
ついてその要部構成を示す第1図の斜視図および
第2図の動作説明図a〜dを用い説明する。全図
を通じ同一符号は同一対象物を示す。
同図において、10はウエーハWを水平にする
方向で載置されたキヤリアC1およびC2を固定
しウエーハ出し入れ開口を下向きにさせるキヤリ
ア回転機構、20はウエーハ出し入れ開口が下向
きになるキヤリアC1またはC2からウエーハW
が滑落するのを適時防止するウエーハ押え機構、
30はウエーハ出し入れ開口が下向きになつてい
るキヤリアC1およびC2を対象にウエーハWを
をキヤリアC1から取り出しキヤリアC2に収納
するウエーハ搬送機構、である。
方向で載置されたキヤリアC1およびC2を固定
しウエーハ出し入れ開口を下向きにさせるキヤリ
ア回転機構、20はウエーハ出し入れ開口が下向
きになるキヤリアC1またはC2からウエーハW
が滑落するのを適時防止するウエーハ押え機構、
30はウエーハ出し入れ開口が下向きになつてい
るキヤリアC1およびC2を対象にウエーハWを
をキヤリアC1から取り出しキヤリアC2に収納
するウエーハ搬送機構、である。
キヤリア回転機構10は、キヤリアC1とC2
とを横並びに固定するテーブル11を具え、テー
ブル11は軸12を軸にして回転する。キヤリア
C1およびC2は、ウエーハ出し入れ開口を共に
軸12側に向けて固定される。
とを横並びに固定するテーブル11を具え、テー
ブル11は軸12を軸にして回転する。キヤリア
C1およびC2は、ウエーハ出し入れ開口を共に
軸12側に向けて固定される。
ウエーハ押え機構20は、軸12を軸にして回
転するアーム21を具え、アーム21には軟質プ
ラスチツクス製のひれ状押え板22が取付けられ
ており、アーム21がキヤリアC1またはC2の
方に回転した際に、押え板22がキヤリアC1ま
たはC2に収容されているウエーハWを出て来な
いように押さえる。
転するアーム21を具え、アーム21には軟質プ
ラスチツクス製のひれ状押え板22が取付けられ
ており、アーム21がキヤリアC1またはC2の
方に回転した際に、押え板22がキヤリアC1ま
たはC2に収容されているウエーハWを出て来な
いように押さえる。
ウエーハ搬送機構30は、キヤリアC1から一
括して取り出したウエーハWをそのままの間隔に
保つ平行溝のウエーハガイド31を有するウエー
ハ保持部32と、ウエーハ保持部32の中央部に
あつてウエーハWの下端部で自重を受けることに
よりウエーハWを支持し且つ上下動するウエーハ
支持台33とを具え、ウエーハ出し入れ開口が下
向きになつたキヤリアC1およびC2の下側に位
置して両キヤリア間の間を移動する。
括して取り出したウエーハWをそのままの間隔に
保つ平行溝のウエーハガイド31を有するウエー
ハ保持部32と、ウエーハ保持部32の中央部に
あつてウエーハWの下端部で自重を受けることに
よりウエーハWを支持し且つ上下動するウエーハ
支持台33とを具え、ウエーハ出し入れ開口が下
向きになつたキヤリアC1およびC2の下側に位
置して両キヤリア間の間を移動する。
ウエーハWの移し変えは、第2図の動作説明図
a〜dに示す如くに一括して行う。
a〜dに示す如くに一括して行う。
即ち先ず図aに示す如く、テーブル11上にキ
ヤリアC1およびC2を上記した横並びに固定す
る。
ヤリアC1およびC2を上記した横並びに固定す
る。
次いで図bに示す如く、キヤリアC1側のアー
ム21を回転して押え板22がウエーハWを押さ
える。なおアーム21の定位置は破線で示す位置
である。
ム21を回転して押え板22がウエーハWを押さ
える。なおアーム21の定位置は破線で示す位置
である。
次いで図cに示す如く、テーブル11とアーム
21とを一緒に回転してキヤリアC1およびC2
を倒しウエーハ出し入れ開口を下向きにし、ウエ
ーハ保持部32をキヤリアC1の下に位置させた
後、ウエーハ支持台33上方に移動してキヤリア
C1内のウエーハWを支持する。この間は、押え
板22がウエーハWの滑落を防止している。
21とを一緒に回転してキヤリアC1およびC2
を倒しウエーハ出し入れ開口を下向きにし、ウエ
ーハ保持部32をキヤリアC1の下に位置させた
後、ウエーハ支持台33上方に移動してキヤリア
C1内のウエーハWを支持する。この間は、押え
板22がウエーハWの滑落を防止している。
次いで図dに示す如く、アーム21を定位置に
戻し、ウエーハ支持台33を下方に移動してキヤ
リアC1内のウエーハWを一括してウエーハ保持
部32に取り込む。
戻し、ウエーハ支持台33を下方に移動してキヤ
リアC1内のウエーハWを一括してウエーハ保持
部32に取り込む。
次いでウエーハ保持部32をキヤリアC2の下
に移動した後、上記と逆の手順を経て、即ち、ウ
エーハ支持台33を上方に移動しウエーハWを押
し上げてキヤリアC2に収納し、キヤリアC2側
の押え板22でウエーハを押えながらテーブル1
1を先と逆方向に回転してキヤリアC2およびC
1を起こし、押え板22を定位置に戻して、所望
の移し変えを完了する。
に移動した後、上記と逆の手順を経て、即ち、ウ
エーハ支持台33を上方に移動しウエーハWを押
し上げてキヤリアC2に収納し、キヤリアC2側
の押え板22でウエーハを押えながらテーブル1
1を先と逆方向に回転してキヤリアC2およびC
1を起こし、押え板22を定位置に戻して、所望
の移し変えを完了する。
上記の動作を行う本発明のウエーハ移し変え装
置においては、従来例の如き不安定な要素が無い
ので、ウエーハWの移し変えが滑らかに行われ
る。然もキヤリアC1およびC2に所望のキヤリ
アを使用してそのように作動する。
置においては、従来例の如き不安定な要素が無い
ので、ウエーハWの移し変えが滑らかに行われ
る。然もキヤリアC1およびC2に所望のキヤリ
アを使用してそのように作動する。
以上説明したように本発明の構成によれば、所
望のウエーハキヤリアの間でウエーハを移し替え
るウエーハ移し替え装置において、作動に関する
不安定要素が除去されて、ウエーハの移し変えが
安定している当該装置の提供を可能にさせる効果
がある。
望のウエーハキヤリアの間でウエーハを移し替え
るウエーハ移し替え装置において、作動に関する
不安定要素が除去されて、ウエーハの移し変えが
安定している当該装置の提供を可能にさせる効果
がある。
第1図は本発明実施例の要部構成を示す斜視
図、第2図は実施例の動作説明図a〜d、第3図
はウエーハキヤリアの斜視図a,b、第4図は従
来例の要部構成を示す側面図、である。 図において、10はキヤリア回転機構、11は
テーブル、20はウエーハ押え機構、21はアー
ム、22は押え板、30はウエーハ搬送機構、3
2はウエーハ保持部、33はウエーハ支持台、C
1,C2はウエーハキヤリア、Wはウエーハ、で
ある。
図、第2図は実施例の動作説明図a〜d、第3図
はウエーハキヤリアの斜視図a,b、第4図は従
来例の要部構成を示す側面図、である。 図において、10はキヤリア回転機構、11は
テーブル、20はウエーハ押え機構、21はアー
ム、22は押え板、30はウエーハ搬送機構、3
2はウエーハ保持部、33はウエーハ支持台、C
1,C2はウエーハキヤリア、Wはウエーハ、で
ある。
Claims (1)
- 1 ウエーハキヤリアのウエーハ出し入れ開口を
下向きにさせるキヤリア回転機構と、該キヤリア
回転機構によりウエーハ出し入れ開口が下向きに
なるウエーハキヤリアからウエーハが滑落するの
を適時防止するウエーハ押え機構と、ウエーハ保
持部を有し、該ウエーハ保持部をウエーハ出し入
れ開口が下向きになつている第一のウエーハキヤ
リアの下に位置させて、該第一のウエーハキヤリ
アからウエーハをその自重を利用して該ウエーハ
保持部に取り込み、且つ該ウエーハ保持部をウエ
ーハ出し入れ開口が下向きになつている第二のウ
エーハキヤリアの下に位置させて、該ウエーハ保
持部からウエーハを押し上げて該第二のウエーハ
キヤリアに収納するウエーハ搬送機構とを具える
ことを特徴とするウエーハ移し替え装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61150323A JPS636857A (ja) | 1986-06-26 | 1986-06-26 | ウエ−ハ移し替え装置 |
EP87108515A EP0250990B1 (en) | 1986-06-26 | 1987-06-12 | Wafer transfer apparatus |
DE8787108515T DE3773761D1 (de) | 1986-06-26 | 1987-06-12 | Umladevorrichtung fuer wafer. |
US07/065,749 US4744715A (en) | 1986-06-26 | 1987-06-24 | Wafer transfer apparatus |
KR1019870006460A KR900004442B1 (ko) | 1986-06-26 | 1987-06-25 | 웨이퍼를 옮겨싣는 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61150323A JPS636857A (ja) | 1986-06-26 | 1986-06-26 | ウエ−ハ移し替え装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS636857A JPS636857A (ja) | 1988-01-12 |
JPH0355983B2 true JPH0355983B2 (ja) | 1991-08-27 |
Family
ID=15494508
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61150323A Granted JPS636857A (ja) | 1986-06-26 | 1986-06-26 | ウエ−ハ移し替え装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4744715A (ja) |
EP (1) | EP0250990B1 (ja) |
JP (1) | JPS636857A (ja) |
KR (1) | KR900004442B1 (ja) |
DE (1) | DE3773761D1 (ja) |
Families Citing this family (42)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3637880C2 (de) * | 1986-11-06 | 1994-09-01 | Meissner & Wurst | Transportierbares Behältnis zur Handhabung von Halbleiterelementen während ihrer Herstellung sowie Verfahren zur partikelfreien Übergabe von Produkten |
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JP2812642B2 (ja) * | 1993-07-01 | 1998-10-22 | 三菱電機株式会社 | ウエハ整列機 |
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-
1986
- 1986-06-26 JP JP61150323A patent/JPS636857A/ja active Granted
-
1987
- 1987-06-12 EP EP87108515A patent/EP0250990B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-06-12 DE DE8787108515T patent/DE3773761D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1987-06-24 US US07/065,749 patent/US4744715A/en not_active Expired - Fee Related
- 1987-06-25 KR KR1019870006460A patent/KR900004442B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR900004442B1 (ko) | 1990-06-25 |
KR880001047A (ko) | 1988-03-31 |
DE3773761D1 (de) | 1991-11-21 |
US4744715A (en) | 1988-05-17 |
EP0250990A1 (en) | 1988-01-07 |
JPS636857A (ja) | 1988-01-12 |
EP0250990B1 (en) | 1991-10-16 |
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