JPH0342874A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPH0342874A JPH0342874A JP17850789A JP17850789A JPH0342874A JP H0342874 A JPH0342874 A JP H0342874A JP 17850789 A JP17850789 A JP 17850789A JP 17850789 A JP17850789 A JP 17850789A JP H0342874 A JPH0342874 A JP H0342874A
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- substrate
- impurity
- insulating film
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- Pending
Links
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 41
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Landscapes
- Insulated Gate Type Field-Effect Transistor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
【産業上の利用分野】
本発明は半導体装置の構造の改良に関する。
［従来の技術１
第３図（ａ）に従来の構造を示す。
図に於いてｌは半導体基板、１はゲート絶縁膜、３はゲ
ート電極となる導体層、４はサイドウオール絶縁膜、５
ａはゲート電極３の外側に設けられた濃度の低い、半導
体基板ｌと逆の導電型の拡散層、５ｂは濃度の低い拡散
層と同一導電型の濃度の高い拡散層である。これは５ａ
より５ｂを外側に配置することにより、拡散層５ａのチ
ャンネル側への不純物の拡がりを抑えチャンネル長を確
保し、かつ、いわゆるホットキャリア現象の抑制を行う
ことができる。 ［発明が解決しようとする課題］ かかる構造に於いて外部との入出力端子から入った初め
の部分たとえば出力端子であれば第３図（ｂ）に示す様
な出力バッファのトランジスタに於いて静電気耐圧が低
いという問題があり、特にＮチャンネルトランジスタで
、５ａがＰ、５ｂがＡｓからなるトランジスタが特に問
題となっている。 本発明はかかる問題点を解決することを目的とする。 ［課題を解決するための手段］ 本発明の半導体装置は、少なくとも第一導電型からなる
半導体基板又は基板領域と該半導体基板又は基板領域上
に設けられた第一絶縁膜と該第一絶縁膜上に形成された
導体層からなるゲート電極と該ゲート電極の外側の該半
導体基板又は基板領域表面上に設けられた不純物濃度の
低い第２導電型からなる第一の不純物領域と該第一の不
純物領域の外側に設けられた第２導電型の第２の不純物
領域が設けられ、かつ該第一の不純物領域上の該ゲート
電極の側壁に設けられた第２の絶縁膜からなることを特
徴とする半導体装置に於いて、第一導電型でかつ該半導
体基板又は基板領域より不純物濃度の高い第３の不純物
領域が、少なくとも前記ゲート電極下のチャンネル領域
の前記半導体基板又は基板領域の表面の深い部分に配置
され少なくとも該第２の不純物領域と該半導体基板又は
基板領域との境界よりも該第３の不純物領域の一部が浅
くなって配置されてなることを特徴とする半導体装置で
ある。 ［実 施 例］ 第１図に本発明の実施例を示す。 図中に於いて、１０１は半導体基板又は基板領域、１０
２はゲート絶縁膜、１０３はゲート電極、１０４はサイ
ドウオール絶縁膜、１０５ａ、１０６ａは濃度の低い半
導体基板１０１とは異なる導電型の不純物拡散層、１０
５ｂ、１０６ｂは濃度の高い拡散層で１０５はドレイン
、１０６はソースを示す。 また１０７は基板１０１と同一導電型の不純物領域であ
り主としてソースドレイン間の少なくとも拡散層ｌ○５
．１０６の低面からやや表面側の不純物濃度が上がりか
つ、チャンネル領域つまり基板表面近傍の不純物濃度を
変えないような形成の仕方によって形成された不純物層
である。 さて次の文献ｒＴｈｅ Ｅｆｆｅｃｔ ｏｆ Ｉｎｔｅ
ｒｃｏｎｎｅｃｔＰｒｏｃｅｓｓ ａｎｄ ５ｎａｐｂ
ａｃｋ Ｖｏｌｔａｇｅ ｏｎ Ｔｈｅ ＥＳＤＦａｉ
ｌｕｒｅ Ｔｈｒｅｓｈｏｌｄ ｏｆ ＮＭＯ３Ｔｒａ
ｎｓｉｓｔｏｒＪＩＥＥＥ ＴＲＡＮＳＡＣＴＩＯＮ
ｏｎ ＥＬＥＣＴＲＯＮ ＤＥＶＩＣＥ ＶＯＬ３５゜
Ｎｏ１２．ＤＥＣ１９８８に開示されているように、静
電気耐圧特にＮチャンネルの静電気耐圧がトランジスタ
ーのパターンパラメータおよび５ｎａｐ Ｂａｃｋ電圧
に依存することがわかって来ており、またこの５ｎａｐ
Ｂａｃｋ電圧はＮｃｈ）−ランジスタのソース、ドレ
イン、チャンネル領域からなるＮ” −Ｐ−Ｎｏの寄生
バイポーラトランジスタの動作によるちのである。この
５ｎａｐ Ｂａｃｋ電圧を下げるためには実効チャンネ
ル長を短かくするかチャンネル部分の不純物濃度を上げ
る必要がある。 しかし、実効チャンネル長を短かくするのはパンチスル
ーやゲート長のバラツキによる出力部の特性変動があり
、これを用いることは難しい。 よってチャンネル部分の不純物濃度を上げる方法を用い
る必要があるが、チャンネル部分全ての不純物濃度を上
げるとしきい値電圧ｖｔｈｔ＋変化してしまうので、少
なくとｖｖｔｈに影響をほとんど与えないような構造つ
まり基板表面より深い領域に不純物濃度の高い領域つま
り第１図１０７を形成すれば良い。 次に製造方法の一例を示す。 第２図（ａ）は半導体基板１０１上にゲート絶縁膜１０
２を形成した状態であり、第２図（ｂ）は高電圧加速イ
オン打ち込みたとえばＮチャンネルの例をとればｌ ｌ
Ｂ６を１５０〜２５０ｋｅｖで５ｘ ｌ Ｑｌ！〜５
×１０”ｃｍ−”という条件で導入することにより実現
でき１０７の不純物層を形成する０次に第２図（Ｃ）は
ゲート電極を形成した状態である。第２図（ｄ）は濃度
の低い拡散層１０５ａ、１０６ａをイオン打ち込みによ
り形成したところである。これにさらにサイドウォール
絶縁ＩＩ！ １０４と濃度の高い拡散層１０５ｂ、＋０
６ｂをイオン打ち込みして形成したのが第１図である。 以上本発明の構造が実現できた。 ［発明の効果］ 本発明の構造を用いることにより、 ５ｎａｐ Ｂａｃ
ｋ電圧を下げることができ、これにより静電気耐圧を向
上できた。
ート電極となる導体層、４はサイドウオール絶縁膜、５
ａはゲート電極３の外側に設けられた濃度の低い、半導
体基板ｌと逆の導電型の拡散層、５ｂは濃度の低い拡散
層と同一導電型の濃度の高い拡散層である。これは５ａ
より５ｂを外側に配置することにより、拡散層５ａのチ
ャンネル側への不純物の拡がりを抑えチャンネル長を確
保し、かつ、いわゆるホットキャリア現象の抑制を行う
ことができる。 ［発明が解決しようとする課題］ かかる構造に於いて外部との入出力端子から入った初め
の部分たとえば出力端子であれば第３図（ｂ）に示す様
な出力バッファのトランジスタに於いて静電気耐圧が低
いという問題があり、特にＮチャンネルトランジスタで
、５ａがＰ、５ｂがＡｓからなるトランジスタが特に問
題となっている。 本発明はかかる問題点を解決することを目的とする。 ［課題を解決するための手段］ 本発明の半導体装置は、少なくとも第一導電型からなる
半導体基板又は基板領域と該半導体基板又は基板領域上
に設けられた第一絶縁膜と該第一絶縁膜上に形成された
導体層からなるゲート電極と該ゲート電極の外側の該半
導体基板又は基板領域表面上に設けられた不純物濃度の
低い第２導電型からなる第一の不純物領域と該第一の不
純物領域の外側に設けられた第２導電型の第２の不純物
領域が設けられ、かつ該第一の不純物領域上の該ゲート
電極の側壁に設けられた第２の絶縁膜からなることを特
徴とする半導体装置に於いて、第一導電型でかつ該半導
体基板又は基板領域より不純物濃度の高い第３の不純物
領域が、少なくとも前記ゲート電極下のチャンネル領域
の前記半導体基板又は基板領域の表面の深い部分に配置
され少なくとも該第２の不純物領域と該半導体基板又は
基板領域との境界よりも該第３の不純物領域の一部が浅
くなって配置されてなることを特徴とする半導体装置で
ある。 ［実 施 例］ 第１図に本発明の実施例を示す。 図中に於いて、１０１は半導体基板又は基板領域、１０
２はゲート絶縁膜、１０３はゲート電極、１０４はサイ
ドウオール絶縁膜、１０５ａ、１０６ａは濃度の低い半
導体基板１０１とは異なる導電型の不純物拡散層、１０
５ｂ、１０６ｂは濃度の高い拡散層で１０５はドレイン
、１０６はソースを示す。 また１０７は基板１０１と同一導電型の不純物領域であ
り主としてソースドレイン間の少なくとも拡散層ｌ○５
．１０６の低面からやや表面側の不純物濃度が上がりか
つ、チャンネル領域つまり基板表面近傍の不純物濃度を
変えないような形成の仕方によって形成された不純物層
である。 さて次の文献ｒＴｈｅ Ｅｆｆｅｃｔ ｏｆ Ｉｎｔｅ
ｒｃｏｎｎｅｃｔＰｒｏｃｅｓｓ ａｎｄ ５ｎａｐｂ
ａｃｋ Ｖｏｌｔａｇｅ ｏｎ Ｔｈｅ ＥＳＤＦａｉ
ｌｕｒｅ Ｔｈｒｅｓｈｏｌｄ ｏｆ ＮＭＯ３Ｔｒａ
ｎｓｉｓｔｏｒＪＩＥＥＥ ＴＲＡＮＳＡＣＴＩＯＮ
ｏｎ ＥＬＥＣＴＲＯＮ ＤＥＶＩＣＥ ＶＯＬ３５゜
Ｎｏ１２．ＤＥＣ１９８８に開示されているように、静
電気耐圧特にＮチャンネルの静電気耐圧がトランジスタ
ーのパターンパラメータおよび５ｎａｐ Ｂａｃｋ電圧
に依存することがわかって来ており、またこの５ｎａｐ
Ｂａｃｋ電圧はＮｃｈ）−ランジスタのソース、ドレ
イン、チャンネル領域からなるＮ” −Ｐ−Ｎｏの寄生
バイポーラトランジスタの動作によるちのである。この
５ｎａｐ Ｂａｃｋ電圧を下げるためには実効チャンネ
ル長を短かくするかチャンネル部分の不純物濃度を上げ
る必要がある。 しかし、実効チャンネル長を短かくするのはパンチスル
ーやゲート長のバラツキによる出力部の特性変動があり
、これを用いることは難しい。 よってチャンネル部分の不純物濃度を上げる方法を用い
る必要があるが、チャンネル部分全ての不純物濃度を上
げるとしきい値電圧ｖｔｈｔ＋変化してしまうので、少
なくとｖｖｔｈに影響をほとんど与えないような構造つ
まり基板表面より深い領域に不純物濃度の高い領域つま
り第１図１０７を形成すれば良い。 次に製造方法の一例を示す。 第２図（ａ）は半導体基板１０１上にゲート絶縁膜１０
２を形成した状態であり、第２図（ｂ）は高電圧加速イ
オン打ち込みたとえばＮチャンネルの例をとればｌ ｌ
Ｂ６を１５０〜２５０ｋｅｖで５ｘ ｌ Ｑｌ！〜５
×１０”ｃｍ−”という条件で導入することにより実現
でき１０７の不純物層を形成する０次に第２図（Ｃ）は
ゲート電極を形成した状態である。第２図（ｄ）は濃度
の低い拡散層１０５ａ、１０６ａをイオン打ち込みによ
り形成したところである。これにさらにサイドウォール
絶縁ＩＩ！ １０４と濃度の高い拡散層１０５ｂ、＋０
６ｂをイオン打ち込みして形成したのが第１図である。 以上本発明の構造が実現できた。 ［発明の効果］ 本発明の構造を用いることにより、 ５ｎａｐ Ｂａｃ
ｋ電圧を下げることができ、これにより静電気耐圧を向
上できた。
第１図、第２図は本発明の説明図、
来技術の説明図である。
図中に於いて、
第３図は従
１ 、１０１
２、１０２
３、１０３
４、１０４
ａ
５ ｂ ・ ・ ・
半導体基板又は基板領域
ゲート絶縁膜
ゲート電極
サイドウオール絶縁膜
濃度の低い拡散層領域
〃 高い 〃
１０５ ａ
０５ｂ
０６ａ
０６ｂ
０７
・ドレインの濃度の低い拡散
層領域
・ドレインの濃度の高い拡散
層領域
・ソースの濃度の低い拡散層
領域
・ソースの濃度の高い拡散層
領域
・基板と同一導電型の基板よ
りの濃度の高い不純物領域
以上
Claims (1)
- 半導体装置少なくとも第一導電型からなる半導体基板又
は基板領域と該半導体基板又は基板領域上に設けられた
第一絶縁膜と該第一絶縁膜上に形成された導体層からな
るゲート電極と該ゲート電極の外側の該半導体基板又は
基板領域表面上に設けられた不純物濃度の低い第２導電
型からなる第一の不純物領域と該第一の不純物領域の外
側に設けられた第２導電型の第２の不純物領域が設けら
れ、かつ該第一の不純物領域上の該ゲート電極の側壁に
設けられた第２の絶縁膜からなることを特徴とする半導
体装置に於いて、第一導電型でかつ該半導体基板又は基
板領域より不純物濃度の高い第３の不純物領域が、少な
くとも前記ゲート電極下のチャンネル領域の前記半導体
基板又は基板領域の表面より深い部分に配置され少なく
とも該第２の不純物領域と該半導体基板又は基板領域と
の境界よりも該第３の不純物領域の一部が浅くなって配
置されてなることを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17850789A JPH0342874A (ja) | 1989-07-11 | 1989-07-11 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17850789A JPH0342874A (ja) | 1989-07-11 | 1989-07-11 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0342874A true JPH0342874A (ja) | 1991-02-25 |
Family
ID=16049677
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17850789A Pending JPH0342874A (ja) | 1989-07-11 | 1989-07-11 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0342874A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5185275A (en) * | 1992-03-30 | 1993-02-09 | Micron Technology, Inc. | Snap-back preventing method for high voltage MOSFET |
| US5512770A (en) * | 1994-04-26 | 1996-04-30 | United Microelectronics Corporation | MOSFET device structure three spaced-apart deep boron implanted channel regions aligned with gate electrode of NMOSFET device |
| JP2009238936A (ja) * | 2008-03-26 | 2009-10-15 | Nec Electronics Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
-
1989
- 1989-07-11 JP JP17850789A patent/JPH0342874A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5185275A (en) * | 1992-03-30 | 1993-02-09 | Micron Technology, Inc. | Snap-back preventing method for high voltage MOSFET |
| US5512770A (en) * | 1994-04-26 | 1996-04-30 | United Microelectronics Corporation | MOSFET device structure three spaced-apart deep boron implanted channel regions aligned with gate electrode of NMOSFET device |
| JP2009238936A (ja) * | 2008-03-26 | 2009-10-15 | Nec Electronics Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
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