JPH03282376A - 回路配線板検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は、検査対象たる回路配線板表面に形成された
配線パターンの短絡、開放を検査するための回路配線板
検査装置に関するものである。

「従来の技術」 従来より、回路配線板に形成された配線パターンを検査
する目的で、この配線パターンの任意の２点間における
短絡、開放の検査が行われている。

従来、このような検査を行う装置としては、配線パター
ンのターミナル等に対応する検査用接点を平面的に多数
配列し、この検査用接点を回路配線板の配線パターンに
電気的に接続することで配線パターンの短絡、開放を検
査するような装置がある。

特に、近年は、検査用接点と回路用基板との間に検査位
置変換装置を介在させた形式の検査装置が使用されてい
る。これは、全ての回路用基板が一定の規格に統一され
ているわけではなく、個々の回路基板により多種多様の
ターミナル間隔を有しているため、回路用基板ごとに検
査用接点を用意していたのでは検査用接点の製作作業が
煩雑となる。そこで、検査用接点を一定間隔の格子状に
固定配置する一方、この検査用接点及び前記回路用基板
のターミナル等に対応する接点をそれぞれ形成するとと
もに、これら接点間を電気的に接続したような検査位置
変換装置を設け、変換装置の交換及び仕様変更のみで各
回路配線板に対応しようとするものである。

「発明が解決しようとする課題」 しかしながら、前記従来の回路配線板検査装置において
は、回路配線板の両面に配線パターンが形成されている
場合、この両面を一度に検査するためには、検査位置変
換装置は勿論、検査用接点も各面に必要である。従って
、従来は片面毎に検査を行い、一方の面の検査が終了し
たらこれを裏返して他方の面の検査を行う、といった作
業手順で両面の検査が行われていた。このため、検査作
業に手間と時間を必要としていた。

この発明は前記課題に鑑みてなされたものであり、検査
位置変換装置を用いた回路配線板検査装置において、回
路配線板の一方の面に検査用接点を設けるだけで、回路
配線板の両面の検査を一度に行うことの可能な回路配線
板検査装置の提供を目的としている。

「課題を解決するための手段」 そこでこの発明は、回路配線板検査装置を、中継用端子
が格子状に形成された検査機と、両面に配線パターンが
形成された回路配線板の上下にそれぞれ配置され、この
回路配線板より大形に形成された検査位置変換装置と、
これら検査位置変換装置間に介在され、前記回路配線板
と略同一厚に形成されたスペーサとを備えたものとし、
各検査位置変換装置の前記回路配線板に対向する一方の
面に、この回路配線板の配線パターンと電気的に接続す
る第１の接点をそれぞれ形成すると共に、一方の検査位
置変換装置の他方の面に、前記検査機の中継用端子に電
気的に接続する第２の接点を形成し、また、他方の検査
位置変換装置の前記回路検査板が配置されない部分に、
その上面が前記一方の検査位置変換装置の他方の面と略
面一となるように突出された接続部を形成すると共に、
この一方の検査位置変換装置にこの接続部が収納される
切欠部を形成し、さらに、この接続部の上面に前記検査
機の中継用端子に電気的に接続する第３の接点を形成し
、前記各第１の接点及び第２、第３の接点間を電気的に
接続することで、前記課題を解決せんとしている。

「作用」 この発明では、変換基板等が所定の位置に配置された状
態で、一方の変換基板の他方の面に形成された第２の接
点は、第１の接点を介して回路配線板の一方の面に形成
された配線パターンと電気的に接続される。一方、接続
部上面に形成された第３の接点は、他方の変換基板の他
方の面に形成された第２の接点、第１の接点を介して回
路配線板の他方の面に形成された配線パターンと電気的
に接続される。従って、検査機の中継用端子に信号を与
えれば、この中継用端子を介して回路配線板の両面に形
成された所定の配線パターンに同時に信号を与え、また
、両面に形成された配線パターンから同時に信号を受は
取り、回路配線板の短絡、開放を検査することができる
。

「実施例」 以下、図面を参照して、この発明の実施例について説明
する。

第１図ないし第２図は、この発明の一実施例である回路
配線板検査装置を示す図である。これら図において、符
号１全体で表されるのは、この実施例に係る回路配線板
検査装置（以下、単に「検査装置」と称するンであり、
この検査装置ｌは、検査対象たる回路配線板２をその上
下から挾むようにして配置された変換基板（検査位置変
換装置）３．４と、これら変換基板３．４間に介挿され
たスペーサ５と、回路配線板２の上方に位置する変換基
板３の上方に配置された検査機６とから概略構成されて
いる。

前記回路配線板２には、その両面に配線、ランド等の配
線パターン７．７が形成されている。また、前記変換基
板３．４は、例えばフェノール、ガラスエポキシ、ポリ
イミド等の材質から形成され、第１図に示すように、前
記回路配線板２よりその表面積が大きい矩形板状に形成
されている。

この変換基板３．４の回路配線板２に対向する一方の面
には、第１の接点８．８が形成されている。

これら第１の接点８．８は、それぞれ対向する回路配線
板２の各面の配線パターン７．７と対称的に形成されて
いる。

さらに、変換基板３．４の他方の面、すなわち上方に位
置する変換基板３の上面及び下方に位置する変換基板４
の下面には、第２の接点９．９が格子状に形成されてい
る。これら両接点８．９は、変換基板３．４を上下方向
に貫通する孔内に設けられた導電部材１０．１０により
電気的に接続されている。

なお、第１の接点８．８の形成方法は任意であるが、−
例として、変換基板３．４の一方の面に、回路配線板２
の配線パターン７．７の形成に使用したマスクを反転し
て用いて露光、現像を行い、更にエツチング等の一連の
処理を施して接点８．８を形成するような方法が好適に
挙げられる。

前記スペーサ５は前記回路配線板２と略同一厚に形成さ
れた絶縁体からなる矩形板体であり、その外形が前記変
換基板３．４と略同−に形成されている。このスペーサ
５には、その中央部に矩形状の切欠部１１が形成され、
この切欠部１１内に回路配線板２が収納されることで、
変換基板３．４間にスペーサ５が介挿されている。

前記検査機６の下面側には、上方に位置する変換基板３
の第２の接点９に対応して、プローブ１２が格子状に配
置され、これらプローブ１２はＣＰＵを有した検査回路
（図示略）に接続されている。プローブ１２には、その
内部にバネが内蔵されている。

なお、符号１４は、それぞれ変換基板３．４及び回路配
線板２間に介挿された感圧導電性ゴムであり、この感圧
導電性ゴム１４は、垂直方向に導電性を有する物質であ
る。

また、下方に位置する変換基板４の上面には、第１図に
示すように、前記回路用配線板２の両側方に接続部１６
．１６が突設されている。この接続部１６は、外形略直
方体状に形成され、第１図に示すように変換基板３．４
、感圧導電性ゴム１４、スペーサ５及び回路配線板２が
所定の位置に配置された状態で、その上面が上方に位置
する変換基板３の上面と略面一となるような高さに形成
されている。一方、前記変換基板３及びスペーサ５には
、この接続部１６．１６が収納される矩形状の切欠部１
７．１８がそれぞれ形成されている。

従って、第１図のように変換基板３．４等が所定の位置
に配置された状態で、接続部１６の上面は、上方に位置
する変換基板３の上面に露出された状態となる。

さらに、接続部１６の裏に相当する変換基板４の下面に
は、この変換基板４に形成された前記第２の接点９と同
じ個数だけ接続用接点１９が形成されている。この接続
用接点１９と第２の接点９との間は、変換基板４下面に
形成された配線パターン１５により電気的に接続されて
いる。

一方、接続部１６の上面には、前記接続治具６のプロー
ブ１２に対応する位置に格子状に配置された第３の接点
２０が、接続用接点１９に対応する個数だけ形成されて
いる。そして、これら両接点１９．２０は、変換基板４
及び接続部１６を上下方向に貫通する導電部材２１．２
１により電気的に接続されている。この導電部材２１は
、例えば周知の打ピンやスルーホール、あるいは前述の
感圧導電性ゴムであってもよく、何等限定されることは
ない。

なお、前記接続治具６には、この第３の接点２０に対応
する位置にもプローブ１２が形成され、このプローブ１
２も前記検査回路に接続されている。

以上より、第１図に示すように変換基板３．４等が所定
の位置に配置された状態で、上方に位置する変換基板３
の上面（他方の面）に形成された第２の接点９は、導電
部材１０、第１の接点８、感圧導電性ゴム１４を介して
回路配線板２の上面に形成された配線パターン７と電気
的に接続される。一方、接続部１６上面に形成された第
３の接点２０は、導電部材２１、接続用接点１９、下方
に位置する変換基板４の下面（他方の面）に形成された
第２の接点９、導電部材１０．第１の接点８、感圧導電
性ゴム１４を介して回路配線板２の下面に形成された配
線パターン７と電気的に接続される。従って、前記検査
回路は、プローブ１２に信号を与えれば、このプローブ
１２を介して回路配線板２の両面に形成された所定の配
線パターン７．７に同時に信号を与え、また、両面に形
成された配線パターン７．７がら同時に信号を受は取り
、回路配線板２の短絡、開放を検査してその良否を判断
することができる。

よって、この実施例によれば、両面に配線パターン７．
７が形成された回路配線板２の両面を同時に検査するこ
とができる。しかも、プローブ１２は回路配線板２の上
方にのみ配置すれば良く、構成が一部品であると共に、
従来から供用されている検査装置をそのまま転用するこ
とができ、コスト的なメリットも大きい。

なお、この発明の回路配線板検査装置は、その細部が前
記実施例に限定されず、種々の変形例が可能である。−
例として、前記実施例では検査位置変換装置に変換基板
３．４を用いていたが、これに限定されず、例えば中空
箱体の上下面にそれぞれ第１、第２の接点を形成し、こ
れらの間を配線で接続するような構成の検査位置変換装
置であってもよいことは勿論である。また、検査装置の
空間分解能を向上させる目的で、第１、第２の接点８．
９の表面の一部に導電性インク層等を設け、これら接点
８．９の一部のみで回路配線板２の配線パターン７に接
続するような構成であってもよい。同様の目的で、前記
変換基板３．４の上下面間に中間導通層を設けた、いわ
ゆる多層基板としてもよい。

「発明の効果」 以上詳細に説明したように、この発明の回路配線板検査
装置によれば、検査機の中継用端子に信号を与えれば、
この中継用端子を介して回路配線板の両面に形成された
所定の配線パターンに同時に信号を与え、また、両面に
形成された配線パターンから同時に信号を受は取り、回
路配線板の短絡、開放を検査してその良否を判断するこ
とができる。よって、この発明によれば、両面に配線パ
ターンが形成された回路配線板の両面を同時に検査する
ことができる。しかも、中継用端子は回路配線板の一方
の面の側にのみ配置すれば良く、構成が簡易であると共
に、従来がら供用されている検査装置をそのまま転用す
ることができ、コスト的なメリットも大きい。

【図面の簡単な説明】

第１図ないし第２図はこの発明の一実施例である回路配
線板検査装置を示す図であって、第１図は全体構成を示
す分解斜視図、第２図は一部断面図である。 １・・・・・・回路配線板検査装置、２・・・・・・回
路配線板、３．４・・・・・・変換基板（検査位置変換
装置）　　５・・・・・・スペーサ、６・・・・・・検
査機、７・・・・、・配線パターン、８・・・・・・第
１の接点、９・・・・・・第２の接点、１０．２１・・
・・・・導電部材、１２・・・・・・プローブ（中継用
端子）、１６・・・・・・接続部、１７．１８・・・・
・・切欠部、２ｏ・・・・・・第３の端子。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　中継用端子が格子状に形成された検査機と、両面に配
   線パターンが形成された回路配線板の上下にそれぞれ配
   置され、この回路配線板より大形に形成された検査位置
   変換装置と、これら検査位置変換装置間に介在され、前
   記回路配線板と略同一厚に形成されたスペーサとを備え
   、各検査位置変換装置の前記回路配線板に対向する一方
   の面には、この回路配線板の配線パターンと電気的に接
   続する第１の接点がそれぞれ形成されていると共に、一
   方の検査位置変換装置の他方の面には、前記検査機の中
   継用端子に電気的に接続する第２の接点が形成され、ま
   た、他方の検査位置変換装置の前記回路検査板が配置さ
   れない部分には、その上面が前記一方の検査位置変換装
   置の他方の面と略面一となるように突出された接続部が
   形成されていると共に、この一方の検査位置変換装置に
   はこの接続部が収納される切欠部が形成され、さらに、
   この接続部の上面には前記検査機の中継用端子に電気的
   に接続する第３の接点が形成され、前記各第１の接点及
   び第２、第３の接点間は電気的に接続されている回路配
   線板検査装置。