JPS62294980A - 接点配列のピツチ変更用アダプタ - Google Patents
接点配列のピツチ変更用アダプタInfo
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- JPS62294980A JPS62294980A JP61138481A JP13848186A JPS62294980A JP S62294980 A JPS62294980 A JP S62294980A JP 61138481 A JP61138481 A JP 61138481A JP 13848186 A JP13848186 A JP 13848186A JP S62294980 A JPS62294980 A JP S62294980A
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Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
C産業上の利用分野]
この発明はプリント基板検査装置に用いられる接点配列
のピッチを変更するためのアダプタに関するものである
。
のピッチを変更するためのアダプタに関するものである
。
[従来の技術]
プリント基板検査装置は、プリント基板上の任意の2点
間の相互の接続関係を検査するものである。被検査対象
であるプリント基板のターミナル位置に合わせて、検査
用接点を格子状(例えば2゜54mmピッチ)に配列し
ていた。
間の相互の接続関係を検査するものである。被検査対象
であるプリント基板のターミナル位置に合わせて、検査
用接点を格子状(例えば2゜54mmピッチ)に配列し
ていた。
しかし、全てのプリン!・基板が一定の規格に統一され
ているわけではなく、個々のプリント基板により多種多
様のターミナル間隔を有している。
ているわけではなく、個々のプリント基板により多種多
様のターミナル間隔を有している。
したがって、プリント基板ごとに検査用接点を用意しな
ければならなかった。検査用接点としては、通常プロー
ブ等が用いられ、その数は数万本にも及ぶことが多い、
したがって、個々のプリント基板ごとに、検査用接点を
用意し、配列を行うことは極めて煩雑であった。
ければならなかった。検査用接点としては、通常プロー
ブ等が用いられ、その数は数万本にも及ぶことが多い、
したがって、個々のプリント基板ごとに、検査用接点を
用意し、配列を行うことは極めて煩雑であった。
この問題を解決するため、@6図に示すような装置が既
に考えられている(特開昭60−49270号)。
に考えられている(特開昭60−49270号)。
格子状に配列されたプローブピン12に、アダプタピン
52の根元が接触させられている。アダプタピン52の
根元は、メツシュボード15の格子状の穴50に挿入さ
れている。アダプタピン52の先端付近は、専用ボード
56の貫通穴54に挿入され保持されている0貫通穴5
4は、被検査基板のターミナル位置に合わせて設けられ
ている。したがって、アダプタピン52の接点5日は、
被検査基板のターミナル位置に合致させられる。
52の根元が接触させられている。アダプタピン52の
根元は、メツシュボード15の格子状の穴50に挿入さ
れている。アダプタピン52の先端付近は、専用ボード
56の貫通穴54に挿入され保持されている0貫通穴5
4は、被検査基板のターミナル位置に合わせて設けられ
ている。したがって、アダプタピン52の接点5日は、
被検査基板のターミナル位置に合致させられる。
[発明が解決しようとする問題点]
しかしながら、従来の装置では次のような問題点があっ
た。
た。
第一に、構造が複雑となり組立てが困難であった。
第二に、接点5日を動かし得る範囲が限定されており、
被検査基板のターミナル位置の配置によっては、 対応
できない場合があった。
被検査基板のターミナル位置の配置によっては、 対応
できない場合があった。
この発明は上記のような問題点を解決して、検査用接点
位置を簡易かつ自由に変更できるアダプタを提供するこ
とを目的とする。
位置を簡易かつ自由に変更できるアダプタを提供するこ
とを目的とする。
[問題点を解決するための手段コ
この発明にかかる接点配列のピッチ変更用アダプタは変
換基板を備えており、その第1の而には格子状に配され
た第1の接点ff−1’が設けられ、第2の面には被検
査基板の測定点に対応する位置に第2の接点君¥が設け
られている。対応する第1と第2の接点群は、第1と第
2の中間接続体により電気的に接続されている。
換基板を備えており、その第1の而には格子状に配され
た第1の接点ff−1’が設けられ、第2の面には被検
査基板の測定点に対応する位置に第2の接点君¥が設け
られている。対応する第1と第2の接点群は、第1と第
2の中間接続体により電気的に接続されている。
[作用]
変換基板は、中継用端子の格子状配列を被検査基板の測
定点に対応する位置に変換する作用を持つ。
定点に対応する位置に変換する作用を持つ。
[実施例コ
この発明の一実施例を第1図に示す、被検査基板10の
上に、垂直異方導電性を有する感圧導電性ゴム8、変換
基板6、感圧導電性ゴム4.中継用端子12が格子状に
配された治具2が重ねられる。
上に、垂直異方導電性を有する感圧導電性ゴム8、変換
基板6、感圧導電性ゴム4.中継用端子12が格子状に
配された治具2が重ねられる。
変換基板6の材質は例えば、フェノール、ガラスエポキ
シ、ポリイミド(フィルム状の物を含む)等が適当であ
る。
シ、ポリイミド(フィルム状の物を含む)等が適当であ
る。
第2図に変換基板6の詳細を示す、この変換基板6の第
1図の面6aには、格子状に配された第1の接点群16
が設けらている。第2の面である裏面には第2の接点群
1日が設けられているが、図示されていない、第1の面
、第2の面をそれそ゛れ表したのが第3図(A)と第3
図(B)である、第2の面には、被検査基板10の測定
点20に対応する位置に第3の接点群18が設けられて
いる。
1図の面6aには、格子状に配された第1の接点群16
が設けらている。第2の面である裏面には第2の接点群
1日が設けられているが、図示されていない、第1の面
、第2の面をそれそ゛れ表したのが第3図(A)と第3
図(B)である、第2の面には、被検査基板10の測定
点20に対応する位置に第3の接点群18が設けられて
いる。
変換基板6の断面は第1図に示されるようになっており
、第1の接点群16と第2の接点群]8は電気的に接続
されている。被検査基板10の測定点20は、感圧導電
性ゴム8を介して、変換基板Gの第2の接点群に接続さ
れる。第2の接点群は、第1の接点群16、感圧導電性
ゴム4を介して中継用端子2に接続される。各中継用端
子2は接続線14を通じて、検査回路(図示せず)につ
ながっている。
、第1の接点群16と第2の接点群]8は電気的に接続
されている。被検査基板10の測定点20は、感圧導電
性ゴム8を介して、変換基板Gの第2の接点群に接続さ
れる。第2の接点群は、第1の接点群16、感圧導電性
ゴム4を介して中継用端子2に接続される。各中継用端
子2は接続線14を通じて、検査回路(図示せず)につ
ながっている。
CPUを有する検査回路は、接続線14を介して各測定
点20に信号を与え、また各測定点20からの信号を受
は取り、被検査基板lOの良否を判断する。
点20に信号を与え、また各測定点20からの信号を受
は取り、被検査基板lOの良否を判断する。
第4図に、変換基u6の詳細を示す、変換基板6のベー
スはif!!11体からなっており、格子状に貫通穴6
Cが設けられている。この貫通穴6Cは、完全な格子状
となるようにあけてもよいが、必要な部分のみにあける
だけでもよい、また、完全な格子状に貫通穴6cをあけ
ておいて、後で不要な貫通穴6cをエポキシ樹脂などで
埋めるようにしてもよい0貫通穴6Cには、導電性ペー
ストが第2の面6拘の側から注入され第1の中間導電体
となっており、突出した先端は第1の接点16となって
いる。第2の面6bにおいて、貫通穴6C内の導電ペー
ストにつながるように導電ペーストが付着され、その端
部は第2の接点18として盛り上げられている。導電ペ
ーストを塗布したのち、熱硬化を行っている。塗布方法
としては、ディスペンサーによる桟面、噴射による付着
、スクリーン印刷などが好ましい。導電ペーストとして
は、銀、銅、カーボンなどの導電物を含んだ物を用いる
ことが出来る0例えば、大阪アサヒ化学(株)WJtの
LS−500、ACP−020Jなどを用いるとよい。
スはif!!11体からなっており、格子状に貫通穴6
Cが設けられている。この貫通穴6Cは、完全な格子状
となるようにあけてもよいが、必要な部分のみにあける
だけでもよい、また、完全な格子状に貫通穴6cをあけ
ておいて、後で不要な貫通穴6cをエポキシ樹脂などで
埋めるようにしてもよい0貫通穴6Cには、導電性ペー
ストが第2の面6拘の側から注入され第1の中間導電体
となっており、突出した先端は第1の接点16となって
いる。第2の面6bにおいて、貫通穴6C内の導電ペー
ストにつながるように導電ペーストが付着され、その端
部は第2の接点18として盛り上げられている。導電ペ
ーストを塗布したのち、熱硬化を行っている。塗布方法
としては、ディスペンサーによる桟面、噴射による付着
、スクリーン印刷などが好ましい。導電ペーストとして
は、銀、銅、カーボンなどの導電物を含んだ物を用いる
ことが出来る0例えば、大阪アサヒ化学(株)WJtの
LS−500、ACP−020Jなどを用いるとよい。
この実施例では、第2の接点1日以外の部分は、エポキ
シ樹脂詣30などの絶縁性材[[により、オーバーコー
トされている。なお、オーバーコートを行う必要がない
場合には、第2の接点1日の部分を盛り上げなくてもよ
い。
シ樹脂詣30などの絶縁性材[[により、オーバーコー
トされている。なお、オーバーコートを行う必要がない
場合には、第2の接点1日の部分を盛り上げなくてもよ
い。
上記の実施例では、第1の導電体として導電ペーストを
用いたが、次のようにして形成してもよい。
用いたが、次のようにして形成してもよい。
貫通穴6cを通常のプリント基板のようにメッキする。
この場合に、貫通穴6cの周囲の第1面(もしくは第2
面)にもメッキ面を設けておけば、これを第1の接点(
第2の接点)として用いることが出来る。
面)にもメッキ面を設けておけば、これを第1の接点(
第2の接点)として用いることが出来る。
他の方法として1貫通穴6cに導電性のピンを打ち込ん
で、第1の導電体を形成してもよい、この場合には、ピ
ンの頭を第1の接点(第2の接点)として用いることが
出来る。
で、第1の導電体を形成してもよい、この場合には、ピ
ンの頭を第1の接点(第2の接点)として用いることが
出来る。
次に、第2の導電体の形成方法について述べる。
上記の実施例では、導電ペーストを用いているが、次の
ようにしてもよい。
ようにしてもよい。
先ず、エツチング法がある。即ち、銅張積層板を材料と
して、エツチングにより第2の導電体を形成するもので
ある。
して、エツチングにより第2の導電体を形成するもので
ある。
また、絶縁板を材t1として、無電解銅メッキ等の化学
処理によって第2の導電体を形成してもよい。
処理によって第2の導電体を形成してもよい。
銅張積層板の銅箔を工作機誠やンーザ加工機などにより
除去して、第2の導電体を形成する方法もある。
除去して、第2の導電体を形成する方法もある。
以上説明した各実施例では、第2の面に第2の導電体を
形成する場合について説明したが、第1の面に第2の導
電体を形成してもよい。Jだ、第1第2の面の双方に第
2の導電体を形成することも出来る。
形成する場合について説明したが、第1の面に第2の導
電体を形成してもよい。Jだ、第1第2の面の双方に第
2の導電体を形成することも出来る。
第1の面に第2の導電体を設けた場合の一実施例を第5
図(A)、(B)に示す。第1の面6aには、正方形の
銅箔26が形成され第2の導電体及び接点となっている
。貫通穴6Cには導電ペースト/lf注入され、突出し
た先端は第2の接点1日となっている。この実施例によ
れば、銅箔26の範囲内であれば、第2の接点1日を形
成するのに導電ペーストを引き回す必要がなく、 容易
に作ることが出来る。
図(A)、(B)に示す。第1の面6aには、正方形の
銅箔26が形成され第2の導電体及び接点となっている
。貫通穴6Cには導電ペースト/lf注入され、突出し
た先端は第2の接点1日となっている。この実施例によ
れば、銅箔26の範囲内であれば、第2の接点1日を形
成するのに導電ペーストを引き回す必要がなく、 容易
に作ることが出来る。
、[発明の効果]
この発明に係る接点配列のピッチ変更用アダプタによれ
ば、検査装置の格子状に配列された中継用端子を、変換
基板によって、測定点に対応するよう変換している。し
たがって、被検査基板が変わった場合でも、変換基板を
かえるだけで検査を行うことが出来る。すなわち、この
発明によれば、検査用の接点位置を簡易に変更すること
力f出来る。
ば、検査装置の格子状に配列された中継用端子を、変換
基板によって、測定点に対応するよう変換している。し
たがって、被検査基板が変わった場合でも、変換基板を
かえるだけで検査を行うことが出来る。すなわち、この
発明によれば、検査用の接点位置を簡易に変更すること
力f出来る。
第1図はこの発明の一実施例を示す図、第21”1は′
Ir:Ir:全基板斜視図、第3図(A)は変換基板の
第1の面を示す図、第3図(B)は変換基板の第2の面
を示す図、第4図は変換基板の詳細を示す断面図、第5
図(A)は他の実施例による変換基板を示す平面図、第
5図(B)は第5図(A)の断面を示す図、第6図は従
来の接点配列のピッチ変更用アダプタを示す図である。 6 ・・・ 変換基板 6a・・・ 第1の面 6b・・・ 第2の而 8 ・・・ 感圧導電性ゴム 10 ・・・ 被検査基板 16 ・・・ 第1の接点 18 ・・・ 第2の接点 20 ・・・ 測定点 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 弁理士 束 島 隆 治 第 1 図 8 : 、イミ(トニ1已1シi@−コ゛ム 2
0; ラ3^2・1 声乙、市、第2図 第3図(A) 第3図(B) 第4図 第5図(A) 第5図(B) 図面の浄書(内容に変更なし) 第6図 手 続 補 正 書 (方式) %式% 1、事件の表示 昭和61年特許願第138481号 2、発明の名称 接点配列のピッチ変更用アゲブタ 3、補正をする者 特許出願人 住所 京都府宇治市+頁島町目川87番地名称 株
式会社 金子電器製作所 、代理人 住所 〒530大阪市北区横用三丁目2番14号5、補
正命令の日付(発送日) 昭和61年8月26日 6、補正の対象 図面 ゝ7、補正の
内容 wJ書に最初に添付した図面第6図の浄書・別紙のとお
り (内容に変更なし)
Ir:Ir:全基板斜視図、第3図(A)は変換基板の
第1の面を示す図、第3図(B)は変換基板の第2の面
を示す図、第4図は変換基板の詳細を示す断面図、第5
図(A)は他の実施例による変換基板を示す平面図、第
5図(B)は第5図(A)の断面を示す図、第6図は従
来の接点配列のピッチ変更用アダプタを示す図である。 6 ・・・ 変換基板 6a・・・ 第1の面 6b・・・ 第2の而 8 ・・・ 感圧導電性ゴム 10 ・・・ 被検査基板 16 ・・・ 第1の接点 18 ・・・ 第2の接点 20 ・・・ 測定点 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 弁理士 束 島 隆 治 第 1 図 8 : 、イミ(トニ1已1シi@−コ゛ム 2
0; ラ3^2・1 声乙、市、第2図 第3図(A) 第3図(B) 第4図 第5図(A) 第5図(B) 図面の浄書(内容に変更なし) 第6図 手 続 補 正 書 (方式) %式% 1、事件の表示 昭和61年特許願第138481号 2、発明の名称 接点配列のピッチ変更用アゲブタ 3、補正をする者 特許出願人 住所 京都府宇治市+頁島町目川87番地名称 株
式会社 金子電器製作所 、代理人 住所 〒530大阪市北区横用三丁目2番14号5、補
正命令の日付(発送日) 昭和61年8月26日 6、補正の対象 図面 ゝ7、補正の
内容 wJ書に最初に添付した図面第6図の浄書・別紙のとお
り (内容に変更なし)
Claims (8)
- (1)第1と第2の面を有する絶縁基板、第1の面に格
子状に配された第1の接点群、第2の面に被検査基板の
測定点に対応する位置に配された第2の接点群、第1も
しくは第2の接点群に接続され第1第2の面にほぼ垂直
に設けられた第1の中間接続体、第1の中間接続体と第
2もしくは第1の接点群に接続された第2の中間接続体
を有する変換基板、 変換基板の第2の面と被検査基板との間に設けられ垂直
異方導電性を有する感圧導電性弾力部材、を備えたこと
を特徴とする接点配列のピッチ変更用アダプタ。 - (2)第1の中間接続体は変換基板の貫通穴にメッキさ
れた導電物であることを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載の接点配列のピッチ変更用アダプタ。 - (3)第1の中間接続体は変換基板の貫通穴に注入され
た導電ペーストであることを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の接点配列のピッチ変更用アダプタ。 - (4)第1の接点群は正方形に形成された銅箔であるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の接点配列の
ピッチ変更用アダプタ。 - (5)第1の接点もしくは第2の接点と第1の中間接続
体は変換基板に打ち込まれた導電ピンであることを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の接点配列のピッチ変
更用アダプタ。 - (6)第2の中間接続体は導電ペーストであることを特
徴とする特許請求の範囲第2項ないし第5項の何れか1
つに記載の接点配列のピッチ変更用アダプタ。 - (7)第2の中間接続体は無電解銅メッキであることを
特徴とする特許請求の範囲第2項ないし第5項の何れか
1つに記載の接点配列のピッチ変更用アダプタ。 - (8)第2の中間接続体は機械加工によってパタン形成
されたものであることを特徴とする特許請求の範囲第2
項ないし第5項の何れか1つに記載の接点配列のピッチ
変更用アダプタ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61138481A JPS62294980A (ja) | 1986-06-13 | 1986-06-13 | 接点配列のピツチ変更用アダプタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61138481A JPS62294980A (ja) | 1986-06-13 | 1986-06-13 | 接点配列のピツチ変更用アダプタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62294980A true JPS62294980A (ja) | 1987-12-22 |
Family
ID=15223083
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61138481A Pending JPS62294980A (ja) | 1986-06-13 | 1986-06-13 | 接点配列のピツチ変更用アダプタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62294980A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0243796A (ja) * | 1988-08-04 | 1990-02-14 | Toppan Printing Co Ltd | パターン形成方法 |
JPH08240635A (ja) * | 1995-03-03 | 1996-09-17 | Nec Corp | 印刷配線板の検査装置 |
JP2007071699A (ja) * | 2005-09-07 | 2007-03-22 | Rika Denshi Co Ltd | 垂直型プローブカード |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS5654096A (en) * | 1979-10-05 | 1981-05-13 | Nippon Electric Co | Device for inspecting printed board |
JPS6071970A (ja) * | 1983-09-29 | 1985-04-23 | Japan Synthetic Rubber Co Ltd | プリント回路基板の検査装置 |
-
1986
- 1986-06-13 JP JP61138481A patent/JPS62294980A/ja active Pending
Patent Citations (2)
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