JPH03165989A - レーザ加工装置 - Google Patents

レーザ加工装置

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Publication number
JPH03165989A
JPH03165989A JP1303782A JP30378289A JPH03165989A JP H03165989 A JPH03165989 A JP H03165989A JP 1303782 A JP1303782 A JP 1303782A JP 30378289 A JP30378289 A JP 30378289A JP H03165989 A JPH03165989 A JP H03165989A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
plasma
nozzle
capacitance
gap
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1303782A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhiro Morikawa
森川 和裕
Yoshinobu Sawada
沢田 善信
Akio Shimada
明夫 島田
Kazuhiro Taniyama
谷山 和弘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippei Toyama Corp
Original Assignee
Nippei Toyama Corp
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Publication date
Application filed by Nippei Toyama Corp filed Critical Nippei Toyama Corp
Priority to JP1303782A priority Critical patent/JPH03165989A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、レーザ加工時、ノズル先端にてワークとの間
の静電容量を検出することによりノズル先端とワーク間
のギャップ量をコントロールするようにしたレーザ加工
装置に関する。
[発明の詳細な説明] 従来、この種のレーザ加工装置は第6図で示すように、
レーザ発振器1から出力されたレーザ光1−はミラー2
によって加工ヘッド3内の集光レンズ4に導かれ、この
集光レンズ4によって集光されてワークW表面近傍に焦
点Pを結び、レーザ加工が行われる。ノズル5の先端部
にはノズル先端とワークWとの間のギャップ量Gを静電
容量にて検出する電極6が設けられ、この電極6にて検
出された静電容量はギャップ量検出装置7へ送られ電気
信号に変換される。この電気信号はギャップ量設定装置
8へ送られ、ここで設定されたギャップ値に対応する基
準信号に基づいてギャップ量Gが適正となるようにノズ
ル高さ調整機構19を駆動し、ギャップコントロールを
行っている。
レかレ、従来の構造では、溶接または切断等のレーザ加
工を行った場合に、ノズル5先端と焦点位置Pとの間に
発生するプラズマにより、電極6が検出する静電容量に
大きな影響を与える。つまり、プラズマが電極6に接近
したり接触したりするため、電I#l6は常に不安定な
プラズマの影響によりギャップ量に比例した静電容量を
検出するととができなかった。したがって、この検出値
がこのままギャップ量設定装置8に送られ、ノズル高さ
調整機構21が駆動された際、ノズル5は上下に細かく
振動するハンチング現象を起こしてしまい、良好な加工
が期待できないという問題点があった。
このような問題点を解決するために、例えば特開昭64
−22490号公報(第7図に示す)において、ノズル
5先端に設けたリング状の電極6にノズル下方にて光軸
側に集中するプラズマを避けるごとく下方に開口した凹
部6aを形或してプラズマとの接触を防止することによ
り、プラズマが発生してもギャップ量を一定に制御でき
るようにしたレーザ加工装置が提案されている。
しかしながら、このような構造においても、例えばプラ
ズマの大きさによっては、仮りに電極6との接触は避け
れても、電極6がその内周面からプラズマの影響を受け
、検出値が変化する。したがって正確なギャップ量を検
出できなかった。プラズマによる検出値への影響は、こ
れにおいても完全には避け得ないものであった。
そこで、本発明は、ギャップ量検出用の第1電極の内側
に第2電Fi!を設けただけの簡単な構成で、ワークと
の間の静電容量の検出にプラズマが影響することなく、
常に正確なギャップコントロールが行えるレーザ加工装
置を提供することを目的とするものである。
[問題を解決するための手段] 本発明は、ノズルに設けた環状のギャップ検出用の第1
電極の他に、この第1電極より内側において、絶縁部を
介して環状の第2電極を設け、この第2電極によって第
1電極をプラズマから電磁的に遮蔽することにより、プ
ラズマが発生してもプラズマの影響を受けることなく、
第1電極の電気力線を常にワークに向けて平行線で作用
させるようにし、よって正確なギャップ量が検出でき、
高精度なギャップコントロールを行えるようにしたもの
である。
[作用] レーザ加工時、ノズル先端とワーク上の焦点位置との間
に発生するプラズマに対し、第2電極の電気力線がプラ
ズマを包囲するために、第1電極とはプラズマから完全
に電磁的に遮蔽され、第1電極の電気力線はワークに向
かって平行線となって作用する。したがって、第1電極
はプラズマに影響されることなく、常にワークとの間の
静電容量を正確に検出できるためギャップコントロール
が正確に行え、ギャップ量を常に適正に保持できる。
[実施例] 以下に、本発明のレーザ加工装置について具体的実施例
を挙げて説明する。
第1図は、本発明装置に係わるノズル先端の構造を示す
拡大断面図、第2図はギャップコントロールの回路構或
を示すブロック図、第3図は高周波発振回路を示す回路
図、、第4図は各電極からの電気力線を示す説明図であ
る。
第1図で示すように、ノズル9にノズル先端とワークW
との間の静電容量を検出するための環状の第1電極Aを
設け、この第1電極Aの内周に絶縁部10を設け、さら
にこの絶縁部10の内周に上記第1電極Aをレーザ加工
時に発生する高熱のプラズマから電磁的に遮蔽するため
の環状の第2電極Bを設けている。すなわち、このノズ
ル9は外周より第1電極A、絶縁部10、第2電極Bの
3層構造となっている。
そして、この第1電極Aおよび第2電極Bは例えば同軸
ケーブルの第1電線12および第2電線13を介して高
周波発振回路11に接続する。
この高周波発振回路11は、第3図で示すように、発振
器20、高人力インビーダンスパツファ一21、22お
よび高安定抵抗23等よりなり、上記第2電極Bに対し
第1電源Aと同位相でほぼ同電位の電圧を印加している
すなわち、発振器20で発振した高周波信号は高安定抵
抗23と上記第1電極Aによる静電容量cLに加えられ
る。この静電容量cLのインピーダンスはノズル9とワ
ークWとの間のギャップ量により変化するため、J点の
電圧が変化する。J点の電圧は高入力インビーダンスパ
ツファ−22によりK点に同位相で同電位の信号として
伝わる。
また、この高入力インビーダンスパッファ−22により
上記第2電極Bによる静電容量cyのインピーダンスが
変化してもK点の電圧変化はない。
第2図で示すように、この高周波発振回路11はギャッ
プ量検出回路14に接続され、このギャップ量検出回路
14は上記高周波発振回路11からの静電容量変化に基
づく交流信号を整流し、ギャップ量をアナログ電圧とし
て取り出し、ギャップ量設定回路15へ検出信号を送る
そして、ギャップ量設定回路15は上記検出信号とここ
で設定された設定信号とに基づいてギャップ量のコント
ロール信号をサーボアンプ16へ送り、ノズル高さ調整
用のサーポモータ17が駆動されることにより、ノズル
9先端とワークWとの間のギャップ量を常に適正に保持
するようにノズル9を光軸方向に移動調整するようにな
っている。
このように、第1電極Aと第2電極Bの電位を同一もし
くは略等しくしたため、各電極A,Bからの対ワークW
間との電気力線の分布は電気力線7 同志が互いに反発し合うことにより、第1電極Aからの
電気力線を第4図に示すように光軸に平行な向きに集中
させることができる。つまり、第2電極Bは第1電極A
に対し中心部で発生するプラズマの電磁的ゆらぎから守
るいわゆるガードリングとしての働きをなす。
また、レーザ加工時、ワークW上方でかつノズル下方の
中央付近のプラズマにより、第2電極Bとプラズマ間で
静電容量CYが変化するが、上述のようにギャップ量検
出回路14の出力値には何ら影響を与えるものではない
。また、第1電極Aと第2電極B間の静電容量CAも発
生するが、C6はごく僅かでありかつ一定の値であるた
め、ギャップ量検出のための静電容量検出には支障がな
い。
したがって、ギャップ量検出回路14の出力値は、第1
電極Aと、この第1電極Aがらの上記平行に作用する電
気力鯨に垂直なワークW面との間で検出される静電容量
CLの変化量によってのみ決まる。
8 このように、第21i@iBより外周に位置する第1電
極Aの電気力線は、プラズマに対しては何ら影響を受け
ず、第2電極Bによる電磁的ガードにより、その電気力
線は常に平行線に保たれ、静電容量CLのみがこの第1
電極Aにて検出される。
したがって、プラズマの発生に関係なく、第1電極Aは
ノズル9先端とワークW間の静電容量変化を正確に検出
でき、常に適正なノズル9とワークW間のギャップ量検
出を行うことができる。
さらに、第5図で示すように、第1図のノズル9の第1
電極Aに対しさらにその外周側面を覆うように、絶縁部
18を介して環状の電極Dを設け、この電極Dをノズル
9゜内側に設けた上記第2電極Bと電気的に導通させ第
2電極Bと同様にいわゆるガードリンクの働きをさせる
ようにしたノズル9“を用いることにより、一層正確な
ギャップコントロールを可能とする。
すなわち、レーザ加工時ノズル9゜がワークなどの突出
部Waに接近した場合、第1電極Aの外周側面は電極D
で覆われているために、この電極9 Dのガードリングの働きによって第1電極Aの電気力線
の外側部分に対しても全て光軸に平行な向きに集中させ
ることができ、第1電極八の側面より突出部Wa’・ど
の間の静電容量を拾うことがない。
このとき、電極Dと突出部Waとの間に静電容量CZが
発生するが、この静電容量CZは前記CYと同様に、ギ
ャップ量検出回路14の出力値には何ら影響を与えるも
のではない。
これにより、凹凸のある複雑な立体形状のワークWに対
してもノズル9゛側面からの静電容量を拾うことなく、
かつ内側の第2電極Bのガードリングの作用でプラズマ
との間の静電容量を拾うことなく、より一層正確かつ安
定したギャップ量検出が行え、よって高精度なギャップ
コントロールを行える。
なお、第1図または第5図において、第1電極A、第2
電極Bおよび電極Dはそれぞれ金属材料にて形或するが
、絶縁部10、18についてはセラミックス等絶縁材料
にて形成することができる他、より絶縁性を高めるため
各電極A%B,Dと1 0 対向する面にそれぞれ絶縁被膜を形威し、さらには絶縁
空間を形成してスパッタ等による金属ブリッジの付着を
防止するような構造にすることもできる。
[発明の効果] 以上のように、本発明によれば、ノズルに設けた環状の
ギャップ検出用の第1電極の他に、この第1電極より内
側において、絶縁部を介してfll状の第2電極を設け
、この第2電極によって第1電極をプラズマから電磁的
に遮蔽するようにしたので、レーザ加工時、ノズル先端
とワーク上の焦点位置との間でプラズマが発生しても、
第2電極の電気力線がプラズマを包囲するために、第1
電極はプラズマから完全に電磁的に遮蔽され、第1電極
の電気力線はワークに向かって常に平行線となって作用
し、したがって、第1電極はプラズマに影響されること
なく、常にワークとの間の静電容量を正確に検出でき、
よってギャップコントロールが正確に行え、ギャップ量
を常に適正に保持できる。
11
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のレーザ加工装置に係わるノズル先端の
構造を示す拡大断面図、第2図はギャップコントロール
の回路構或を示すブロック図、第3図は高周波発振回路
を示す回路図、第4図はギャップ量検出時の各電極から
の電気力線を示す説明図、第5図は他の実施例としての
ノズル先端の構造を示す拡大断面図、第6図は従来のレ
ーザ加工装置を示す図、第7図は従来の改良型ノズル先
端の構造を示す拡大断面図である。 9・・・ノズル、10・・・絶縁部、11・・・高周波
発振回路、A・・・第1電極、B・・・第2電極、W・
・・ワーク。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ノズル先端とワークとの間の静電容量を検出する
    ことによりノズル先端とワーク間のギャップ量をコント
    ロールするようにしたレーザ加工装置において、ノズル
    に上記静電容量を検出するための環状の第1電極を設け
    、この第1電極の内周に絶縁部を設け、さらにこの絶縁
    部の内周に上記第1電極を加工時に発生するプラズマか
    ら電磁的に遮蔽するための環状の第2電極を設けたこと
    を特徴とするレーザ加工装置。
JP1303782A 1989-11-22 1989-11-22 レーザ加工装置 Pending JPH03165989A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1303782A JPH03165989A (ja) 1989-11-22 1989-11-22 レーザ加工装置

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JP1303782A JPH03165989A (ja) 1989-11-22 1989-11-22 レーザ加工装置

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JPH03165989A true JPH03165989A (ja) 1991-07-17

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ID=17925223

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JP1303782A Pending JPH03165989A (ja) 1989-11-22 1989-11-22 レーザ加工装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2002094498A1 (ja) * 2001-05-23 2004-09-02 三菱電機株式会社 レーザ加工装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2002094498A1 (ja) * 2001-05-23 2004-09-02 三菱電機株式会社 レーザ加工装置
JP4729245B2 (ja) * 2001-05-23 2011-07-20 三菱電機株式会社 レーザ加工装置

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