JPH03159174A - 液晶表示装置 - Google Patents
液晶表示装置Info
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- JPH03159174A JPH03159174A JP1298327A JP29832789A JPH03159174A JP H03159174 A JPH03159174 A JP H03159174A JP 1298327 A JP1298327 A JP 1298327A JP 29832789 A JP29832789 A JP 29832789A JP H03159174 A JPH03159174 A JP H03159174A
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Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は、絶縁ゲート型薄膜トランジスタ(以下TPT
という)を用いたアクティブマトリクス型の液晶表示装
置に関する。
という)を用いたアクティブマトリクス型の液晶表示装
置に関する。
(ロ) 1;1:米の技術
近年、TPTを用いた高密度のTV用液晶表示装置が開
発され、表示画面の大型化と共に画素数の増大が図られ
ている。
発され、表示画面の大型化と共に画素数の増大が図られ
ている。
第2図は従来のTPTを用いた液晶表示装置の断面図で
ある。図において、ガラス基板(1)上の全面にはシリ
コン酸化物の絶縁膜(2)が形成され、絶縁膜(2)上
にクロム等の導電体からなるゲートを極(3)及びゲー
ト電極(3)と連続する選択電極(図示せず)が一体に
形成される。更に、デート電極(3)を覆って全面にゲ
ート絶縁膜(4)が形成され、この上にアモルファスシ
リコン(5)、保護絶縁膜(6)、及び、N+型不純物
がドープされたアモルファスシリコンからなるドレイン
(7)及びソース(8)が設けられ、更に、ドレイン(
7)に接続されたアルミニウムの表示電圧供給線(9)
とソース(8)を画素TL極(10)に接続するアルミ
ニウムの接続電極(11)が形成される。
ある。図において、ガラス基板(1)上の全面にはシリ
コン酸化物の絶縁膜(2)が形成され、絶縁膜(2)上
にクロム等の導電体からなるゲートを極(3)及びゲー
ト電極(3)と連続する選択電極(図示せず)が一体に
形成される。更に、デート電極(3)を覆って全面にゲ
ート絶縁膜(4)が形成され、この上にアモルファスシ
リコン(5)、保護絶縁膜(6)、及び、N+型不純物
がドープされたアモルファスシリコンからなるドレイン
(7)及びソース(8)が設けられ、更に、ドレイン(
7)に接続されたアルミニウムの表示電圧供給線(9)
とソース(8)を画素TL極(10)に接続するアルミ
ニウムの接続電極(11)が形成される。
このように、T P Tの設けられたガラス基板(1)
上にポリイミド配向膜の塗布、ラビングによる配向処理
、ガラス基板(1)の周辺のシール及び液晶の注入によ
って液晶表示装置が完成する。
上にポリイミド配向膜の塗布、ラビングによる配向処理
、ガラス基板(1)の周辺のシール及び液晶の注入によ
って液晶表示装置が完成する。
第2図の液晶表示装置において、選択電極に選択電圧を
印加するとTPTがオンして表示電圧供給線(9)に印
加された表示電圧が画業電極(10)に充電され、表示
がなされる。
印加するとTPTがオンして表示電圧供給線(9)に印
加された表示電圧が画業電極(10)に充電され、表示
がなされる。
このような液晶表示装置は、特開平1−1361.23
号公報に記載されている。
号公報に記載されている。
(ハ)発明が解決しようとする課題
第2図に示された液晶表示装置においては、絶縁膜(2
)上にゲート電極(3)、ゲート絶縁膜(4)、アモル
ファスシリコン(5)、ドレイン(7)及びソース(8
)、表示電圧供給線(9)及び接続電極(11)が積層
されるため、段差部のステンブカパレッジが悪化し、各
層間のショートが発生する危惧がある。
)上にゲート電極(3)、ゲート絶縁膜(4)、アモル
ファスシリコン(5)、ドレイン(7)及びソース(8
)、表示電圧供給線(9)及び接続電極(11)が積層
されるため、段差部のステンブカパレッジが悪化し、各
層間のショートが発生する危惧がある。
そこで、ゲート電極(3)及び選択電極にタンタルを使
用し、その表面に陽極酸化によって緻密な絶縁膜を形成
してゲート電極(3)とドレイン(7)及びソース(8
)のショートを防止する技術が提案されている。しかし
ながら、大画面高密度になると選択電極の幅が狭くなる
と共に配線長が長くなるために、その電気抵抗が大きく
なり、特に、ゲート電極(3)及び選択電極を電気抵抗
の大きいタンタルで形成した場合には、抵抗の増大は顕
著になる。
用し、その表面に陽極酸化によって緻密な絶縁膜を形成
してゲート電極(3)とドレイン(7)及びソース(8
)のショートを防止する技術が提案されている。しかし
ながら、大画面高密度になると選択電極の幅が狭くなる
と共に配線長が長くなるために、その電気抵抗が大きく
なり、特に、ゲート電極(3)及び選択電極を電気抵抗
の大きいタンタルで形成した場合には、抵抗の増大は顕
著になる。
また、第2図の液晶表示装置のTPTは、その高さが高
くなり、ガラス基板をシールする際にその間隙を一定に
保持するためにいれるピラーがTF T lに存在する
と間隙がバラついてしまう欠点があった。
くなり、ガラス基板をシールする際にその間隙を一定に
保持するためにいれるピラーがTF T lに存在する
と間隙がバラついてしまう欠点があった。
(ニ)課題を解決するための手段
本発明は、上述した点に鑑みて創作されたものであり、
ガラス基板上に設けられた絶縁膜と、ゲート電極及び該
ゲート電極に連続する選択電極が形成される部分の前記
絶縁膜に形成された溝と、該溝に埋め込まれ前記ゲート
電極及び選択電極を形成する導電体と、前記ゲート電極
上に形成されたゲート絶縁膜と、該ゲート絶縁膜上に形
成されたアモルファスシリコン層とを具備することによ
り、選択電極の配線抵抗を低下させ、TPTの高さを低
く形成することのできる液晶表示装置を提供するもので
ある。
ガラス基板上に設けられた絶縁膜と、ゲート電極及び該
ゲート電極に連続する選択電極が形成される部分の前記
絶縁膜に形成された溝と、該溝に埋め込まれ前記ゲート
電極及び選択電極を形成する導電体と、前記ゲート電極
上に形成されたゲート絶縁膜と、該ゲート絶縁膜上に形
成されたアモルファスシリコン層とを具備することによ
り、選択電極の配線抵抗を低下させ、TPTの高さを低
く形成することのできる液晶表示装置を提供するもので
ある。
(ホ)作用
上述の手段によれば、ガラス基板上の絶縁膜に設けられ
た溝は、選択電極及びゲート@Iiiを埋め込み、選択
を極の厚さを厚く形成することを可能にし、その結果、
配線抵抗を減少するよう作用し、更に、ゲート電極の厚
さが厚くなっても、TPTの高さを低くするように作用
する。
た溝は、選択電極及びゲート@Iiiを埋め込み、選択
を極の厚さを厚く形成することを可能にし、その結果、
配線抵抗を減少するよう作用し、更に、ゲート電極の厚
さが厚くなっても、TPTの高さを低くするように作用
する。
(へン実施例
第1図(a)(b)は、本発明の実施例を示す断面図で
あり、第1図(a)は選択電極部のllIr面図、第1
図(b)はTFT部の断面図である。
あり、第1図(a)は選択電極部のllIr面図、第1
図(b)はTFT部の断面図である。
第1図(a)(b)において、ガラス基板(12)の−
主面上にCVD法等によって3000人程度0厚さにS
in、の絶縁膜(13)が設けられ、更に、この絶縁膜
(13)にはフォトリソによって形成された溝(14)
が設けられる。この溝(14)内には選択電極(15)
及びゲート電極(16)が埋め込まれ設けられる。こで
、選択電極(15)及びゲート電極(16)は、溝(1
4)を形成したフォトレジストを残した状態で、Crを
スッパタリング法によって絶縁膜(13)と略同じ厚さ
に付着し、7オトレジストを除去するり7トオフ法によ
り形成さ・れる。従って、選択電極(15)とゲート電
極(16)の上面は、絶縁膜(13)の表面と略一致し
、平坦面を形成している。また、選択電極(15)は並
行に複数配置され、各選択型[i (15)から突出し
てゲート電pi(16)が一体化されている。
主面上にCVD法等によって3000人程度0厚さにS
in、の絶縁膜(13)が設けられ、更に、この絶縁膜
(13)にはフォトリソによって形成された溝(14)
が設けられる。この溝(14)内には選択電極(15)
及びゲート電極(16)が埋め込まれ設けられる。こで
、選択電極(15)及びゲート電極(16)は、溝(1
4)を形成したフォトレジストを残した状態で、Crを
スッパタリング法によって絶縁膜(13)と略同じ厚さ
に付着し、7オトレジストを除去するり7トオフ法によ
り形成さ・れる。従って、選択電極(15)とゲート電
極(16)の上面は、絶縁膜(13)の表面と略一致し
、平坦面を形成している。また、選択電極(15)は並
行に複数配置され、各選択型[i (15)から突出し
てゲート電pi(16)が一体化されている。
そして、第1図(b)に示すごとく、ゲート電極(16
)Iニは、3000人の厚さのシリコン窒化mtSiN
x)からなるゲート絶縁膜(17)と、チャンネル領域
となる2000人の厚さのアモルファスシリコン(a−
5i)層(18)と、N9不純物のドープされた500
人の厚さのアモルファスシリコン(N”a−3i)から
なるドレイン(2o)及びソース(21)が設けられる
。これらゲート絶縁膜(17)と、アモルファスシリコ
ン(a−5i)層(18)と、N4a−8iは、プラズ
マCVD法によって連続して積層され、ゲート電極(1
6)上のTPTが形成される部分のみを残しその池をエ
ツチング除去することによって形成される。
)Iニは、3000人の厚さのシリコン窒化mtSiN
x)からなるゲート絶縁膜(17)と、チャンネル領域
となる2000人の厚さのアモルファスシリコン(a−
5i)層(18)と、N9不純物のドープされた500
人の厚さのアモルファスシリコン(N”a−3i)から
なるドレイン(2o)及びソース(21)が設けられる
。これらゲート絶縁膜(17)と、アモルファスシリコ
ン(a−5i)層(18)と、N4a−8iは、プラズ
マCVD法によって連続して積層され、ゲート電極(1
6)上のTPTが形成される部分のみを残しその池をエ
ツチング除去することによって形成される。
更に、選択電極(15)と直交してA1で形成された表
示電圧供給線(22)がドレイン(20)に重畳して設
けられ、ソース(21)と重畳してAIで形成された接
続電極(23)が設けられる。ドレイン(20)とソー
ス(21)は、表示電圧供給線(22)と接続電極(2
3)をマスクとしてN”a −S iをエツチング除去
することによって形成される。ITOからなる画素電極
(24)はその一部が接続電極(23)に重畳されて設
けられ、TPTのソース(21)に接続される。更に、
シリコン窒化膜のパッシベーション膜(25)がT P
Tを覆って設けられる。
示電圧供給線(22)がドレイン(20)に重畳して設
けられ、ソース(21)と重畳してAIで形成された接
続電極(23)が設けられる。ドレイン(20)とソー
ス(21)は、表示電圧供給線(22)と接続電極(2
3)をマスクとしてN”a −S iをエツチング除去
することによって形成される。ITOからなる画素電極
(24)はその一部が接続電極(23)に重畳されて設
けられ、TPTのソース(21)に接続される。更に、
シリコン窒化膜のパッシベーション膜(25)がT P
Tを覆って設けられる。
第1図(a )(b )の構造によると、選択電極(1
5)は、比較的厚く形成されるため、その線幅が狭くな
−)ても配線抵抗は十分低くなる。また、選択電極(1
5)と一体向の構成されたゲート電極(16)と絶縁膜
(13)の段差がなくなるために、ゲート電極(16)
とドレイン(20)及びソース(21)とのショートが
なくなり、更に、表示電圧供給線(22)や接続電極(
23)の断線が防止できる。
5)は、比較的厚く形成されるため、その線幅が狭くな
−)ても配線抵抗は十分低くなる。また、選択電極(1
5)と一体向の構成されたゲート電極(16)と絶縁膜
(13)の段差がなくなるために、ゲート電極(16)
とドレイン(20)及びソース(21)とのショートが
なくなり、更に、表示電圧供給線(22)や接続電極(
23)の断線が防止できる。
尚、第1図(a )(b )の実施例では、選択電極(
15)及びゲート4極(16)は、Crで形成したが、
Taを使用しその表面を陽極酸化した構造にしてもよい
。
15)及びゲート4極(16)は、Crで形成したが、
Taを使用しその表面を陽極酸化した構造にしてもよい
。
(ト)発明の効果
本発明によれば、選択電極の配線抵抗を小さくできるの
で、動作速度が早く、高密度の液晶表示装置が実現でき
る。また、TPT全体の高さを低くできるので、ピラー
による間隙の制胛が正確に行え、表示品質の向上となる
利点がある。
で、動作速度が早く、高密度の液晶表示装置が実現でき
る。また、TPT全体の高さを低くできるので、ピラー
による間隙の制胛が正確に行え、表示品質の向上となる
利点がある。
第1図(a )(b )は、本発明の実施例を示す断面
図、第2図は従来例を示す断面図である。 (12)・・・ガラス基板、(13)・・・絶縁膜、(
14)・・・溝、(15)・・・選択電極、(16)・
・・ゲート電極、(17)・・・ゲート絶縁膜、(18
)・・・a−5i層、(20)・・・ドレイン、(21
)・・・ソース、(22)・・・表示電圧供給線、(2
3)・・・接続電極、(24)・・・画素電極、(25
)・;・パッシベーション膜。 第1図 出頭人 三洋電機株式会社
図、第2図は従来例を示す断面図である。 (12)・・・ガラス基板、(13)・・・絶縁膜、(
14)・・・溝、(15)・・・選択電極、(16)・
・・ゲート電極、(17)・・・ゲート絶縁膜、(18
)・・・a−5i層、(20)・・・ドレイン、(21
)・・・ソース、(22)・・・表示電圧供給線、(2
3)・・・接続電極、(24)・・・画素電極、(25
)・;・パッシベーション膜。 第1図 出頭人 三洋電機株式会社
Claims (2)
- (1)ガラス基板上に設けられた絶縁膜と、ゲート電極
及び該ゲート電極に連続する選択電極が形成される部分
の前記絶縁膜に形成された溝と、 該溝に埋め込まれ前記ゲート電極及び選択電極を形成す
る導電体と、 前記ゲート電極上に形成されたゲート絶縁膜該ゲート絶
縁膜上に形成されたアモルファスシリコン層と、 を具備した液晶表示装置。 - (2)前記溝に埋め込まれた導電体が前記絶縁膜と略同
じ厚さであることを特徴とする請求項第1項記載の液晶
表示装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1298327A JPH03159174A (ja) | 1989-11-16 | 1989-11-16 | 液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1298327A JPH03159174A (ja) | 1989-11-16 | 1989-11-16 | 液晶表示装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03159174A true JPH03159174A (ja) | 1991-07-09 |
Family
ID=17858225
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1298327A Pending JPH03159174A (ja) | 1989-11-16 | 1989-11-16 | 液晶表示装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03159174A (ja) |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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KR100358162B1 (ko) * | 1995-02-24 | 2003-01-24 | 주식회사 하이닉스반도체 | 박막트랜지스터제조방법 |
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-
1989
- 1989-11-16 JP JP1298327A patent/JPH03159174A/ja active Pending
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