JPH03123881A - γ線核種分析方法及び装置 - Google Patents
γ線核種分析方法及び装置Info
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- JPH03123881A JPH03123881A JP26029989A JP26029989A JPH03123881A JP H03123881 A JPH03123881 A JP H03123881A JP 26029989 A JP26029989 A JP 26029989A JP 26029989 A JP26029989 A JP 26029989A JP H03123881 A JPH03123881 A JP H03123881A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、γ線核種分析装置、特に高計数率下で使用す
るのに好適なγ線核種分析方法及び装置に関する。
るのに好適なγ線核種分析方法及び装置に関する。
従来のγ線核種分析装置を第２図に示す。γ線源１は、
各種のγ線を放出する線源であり、原子炉の配管や廃棄
物等が該当する。ここで、各種のγ線とは、γ線にはエ
ネルギーを異にする多数のγ線が存在する故にこれらの
エネルギーを異にする複数のγ線を総称したものである
。
各種のγ線を放出する線源であり、原子炉の配管や廃棄
物等が該当する。ここで、各種のγ線とは、γ線にはエ
ネルギーを異にする多数のγ線が存在する故にこれらの
エネルギーを異にする複数のγ線を総称したものである
。
ゲルマニューム検出器２は、半導体放射線検出器の一種
であり、バイアス電源７からの直流電圧印加のもとで、
入射γ線を電気パルスに変換する。
であり、バイアス電源７からの直流電圧印加のもとで、
入射γ線を電気パルスに変換する。
この電気パルスは、前置増幅器３で増幅され、次いで主
増幅器４で波形整形及び増幅され、マルチチャネル波高
分析器５に入力する。主増幅器４からの出力値は、γ線
エネルギーに比例した波高のパルスであり、これがマル
チチャネル波高分析器５の入力となる。
増幅器４で波形整形及び増幅され、マルチチャネル波高
分析器５に入力する。主増幅器４からの出力値は、γ線
エネルギーに比例した波高のパルスであり、これがマル
チチャネル波高分析器５の入力となる。
マルチチャネル波高分析器５は、入力してくる波高パル
スを波高分析し、γ線スペクトルを抽出する。コンピュ
ータ６は、このγ線スペクトルを解析し、スペクトル内
のピーク面積からγ線核種の単位濃度を求める。ここで
、γ線は、核種特有のエネルギーを持っており、且つ、
核種個有の発生割合も決まっているので、γ線スペクト
ルでは、特定の波高位置にピークが現われ、このピーク
の面積を核種の定量に用いることとしたのである。
スを波高分析し、γ線スペクトルを抽出する。コンピュ
ータ６は、このγ線スペクトルを解析し、スペクトル内
のピーク面積からγ線核種の単位濃度を求める。ここで
、γ線は、核種特有のエネルギーを持っており、且つ、
核種個有の発生割合も決まっているので、γ線スペクト
ルでは、特定の波高位置にピークが現われ、このピーク
の面積を核種の定量に用いることとしたのである。
第３図には、横軸にγ線エネルギー（種別）、縦軸にそ
の計数値の例を示した・”Ｃｏ、 ”Ｍｎ。
の計数値の例を示した・”Ｃｏ、 ”Ｍｎ。
４０Ｋ （ＫＯＨ）等おいて、特有のエネルギーを持っ
ており、且つ特定の計数値をとることが第３図かられか
る。
ており、且つ特定の計数値をとることが第３図かられか
る。
さて、γ線の計数には、パイルアップの問題がある。パ
イルアップとは、短時間に入射するγ線量が多くなると
、パルス同士で積み重ねが生じ、時間的にみて入射γ線
相互の区別がつきにくくなる現象を云う。パイルアップ
の生ずる原因は、同一時刻近傍で異なるγ線が発生する
ことが基本であるが、増幅器３，４．マルチチャネル波
高分析器５の処理能力に限界があることも理由の１つで
ある。
イルアップとは、短時間に入射するγ線量が多くなると
、パルス同士で積み重ねが生じ、時間的にみて入射γ線
相互の区別がつきにくくなる現象を云う。パイルアップ
の生ずる原因は、同一時刻近傍で異なるγ線が発生する
ことが基本であるが、増幅器３，４．マルチチャネル波
高分析器５の処理能力に限界があることも理由の１つで
ある。
このパイルアップ現象例を第４図に示した。第４図（イ
）は、パイルアップ発生しない例であって、２つのパル
スＡ、Ｂがそれぞれ識別可能な異なる時間帯で発生して
いる例である。第４図（ロ）〜（へ）は、パイルアップ
発生例であり、（ロ）→（ハ）に向うに従って、パイル
アップ度は高くなる例を示した。（ロ）では、未だＡと
Ｂとの波高ｈ１とｈ２とは、どうにか識別可能であるが
、（ハ）以下ではもはやＡとＢとの識別は困難である。
）は、パイルアップ発生しない例であって、２つのパル
スＡ、Ｂがそれぞれ識別可能な異なる時間帯で発生して
いる例である。第４図（ロ）〜（へ）は、パイルアップ
発生例であり、（ロ）→（ハ）に向うに従って、パイル
アップ度は高くなる例を示した。（ロ）では、未だＡと
Ｂとの波高ｈ１とｈ２とは、どうにか識別可能であるが
、（ハ）以下ではもはやＡとＢとの識別は困難である。
以上の如く、パイルアップにより２つ以上のパルスが重
なった場合の波高値ｈ３は、重なり前の各波高ｈｌｔ
ｈ２と異なる。Ｋｌｙ ｈ２ｔ ｈ３の間の関係は（１
）式か（２）式かのいずれかになると思われる。
なった場合の波高値ｈ３は、重なり前の各波高ｈｌｔ
ｈ２と異なる。Ｋｌｙ ｈ２ｔ ｈ３の間の関係は（１
）式か（２）式かのいずれかになると思われる。
ｈ□＜ｈ、＜ｈ工＋ｈ、・・・・・・（１）ｈ、＜ｈ、
＜ｈ工＋ｈ、 ・・・・・・（２）このように、パイル
アップパルスの波高は、元のパルスより高くなることは
明らかであるが、重なり具合や重なり合う相手のパルス
が任意であるため、実際にパイルアップした波高がいか
なる値になるかは全くわからない。
＜ｈ工＋ｈ、 ・・・・・・（２）このように、パイル
アップパルスの波高は、元のパルスより高くなることは
明らかであるが、重なり具合や重なり合う相手のパルス
が任意であるため、実際にパイルアップした波高がいか
なる値になるかは全くわからない。
この様子を第５図、第６図で説明する。横軸にチャネル
（エネルギー）、縦軸に計数値を示した。
（エネルギー）、縦軸に計数値を示した。
第５図はパイルアップが生じなかった場合のγ線スペク
トル図、第６図はパイルアップが生じた場合のγ線スペ
クトル図である。第６図に示すように、パイルアップが
生ずると、２つ以上の任意のチャネルに収納されるべき
パルスの計数値が、パイルアップした波高位置に１カウ
ントとして収納される。然るに、核種の定量を行う場合
、第５図、第６図の斜線部分に示すように、ピークの面
積である斜線部分から算出するので、パイルアップする
と面積の減少（計数損失）が生じ定量が不正確になる。
トル図、第６図はパイルアップが生じた場合のγ線スペ
クトル図である。第６図に示すように、パイルアップが
生ずると、２つ以上の任意のチャネルに収納されるべき
パルスの計数値が、パイルアップした波高位置に１カウ
ントとして収納される。然るに、核種の定量を行う場合
、第５図、第６図の斜線部分に示すように、ピークの面
積である斜線部分から算出するので、パイルアップする
と面積の減少（計数損失）が生じ定量が不正確になる。
この対策として、使用条件として高計数率にならないよ
うに線源強度を小さくしたり、遮へいやコリメータを設
けたり、線源と検出器の距離を変化させる等、検出器へ
入射するγ線量を制限する工夫がされてきた。
うに線源強度を小さくしたり、遮へいやコリメータを設
けたり、線源と検出器の距離を変化させる等、検出器へ
入射するγ線量を制限する工夫がされてきた。
パイルアップに対する電子回路の改善の従来例には、特
開昭６０−１６４２８７号、特開昭６０−１８７８７５
号があり、パイルアップパルスを識別する回路やパルス
整形を短かい時間幅にする回路を設けて、計数損失を少
なくしている。
開昭６０−１６４２８７号、特開昭６０−１８７８７５
号があり、パイルアップパルスを識別する回路やパルス
整形を短かい時間幅にする回路を設けて、計数損失を少
なくしている。
また、パイルアップによる計数損失を測定する従来例に
は、「Ｙ線スペクトロメトｌ１ｌ（１９８０年。
は、「Ｙ線スペクトロメトｌ１ｌ（１９８０年。
野口正安著。１８３頁〜１８４頁）があり、パルサ、−
（パルス発振器）を用いた例が示されている。
（パルス発振器）を用いた例が示されている。
更に、基準放射線源を設けた放射線測定装置としては、
特開昭５５−４４９４２号がある。
特開昭５５−４４９４２号がある。
上記従来技術で検出器に入射するγ線量を制限する方法
は、測定対象や測定条件が多様化し従来技術では対応し
きれない問題があった。
は、測定対象や測定条件が多様化し従来技術では対応し
きれない問題があった。
また、電子回路による方法は、第４図に示す様にパルス
幅はあくまで有限の幅を持ち、また、パルス間隔／パル
ス幅が小さくなるとパイルアップパルスか、正常パルス
かの識別が困難になり完全なパイルアップ対策はなかっ
た。
幅はあくまで有限の幅を持ち、また、パルス間隔／パル
ス幅が小さくなるとパイルアップパルスか、正常パルス
かの識別が困難になり完全なパイルアップ対策はなかっ
た。
パルサーによる計数損失を測定する方法を応用して核種
のピーク計数率を補正する場合、パルサパルスとγ線パ
ルスの形が異なるのでパルス整形がうまくいかず十分な
補正ができない問題があった。
のピーク計数率を補正する場合、パルサパルスとγ線パ
ルスの形が異なるのでパルス整形がうまくいかず十分な
補正ができない問題があった。
基準放射線源を設けた放射線測定装置（特開昭５５−４
４９４２号）は、パイルアップについての配慮がされて
おらず高計数率時に信頼性が悪くなる問題点があった。
４９４２号）は、パイルアップについての配慮がされて
おらず高計数率時に信頼性が悪くなる問題点があった。
本発明の目的は、高計数率下でパイルアップによる計数
損失が生じても正確な計数率が得られるγ線核種分析方
法及び装置を提供することにある。
損失が生じても正確な計数率が得られるγ線核種分析方
法及び装置を提供することにある。
本発明は、半導体γ線検出器の近傍に基準放射線源を設
け、測定対象物と同時に基準放射線源からのγ線を測定
し、基準放射線源のスペクトルピーク計数率の変化から
パイルアップによる計数損失の割合を求め、測定対象物
のスペクトルピーク計数率を補正することとした。
け、測定対象物と同時に基準放射線源からのγ線を測定
し、基準放射線源のスペクトルピーク計数率の変化から
パイルアップによる計数損失の割合を求め、測定対象物
のスペクトルピーク計数率を補正することとした。
本発明によれば、測定対象物と同時に基準放射線源から
のγ線を測定し、基準放射線源のスペクトルピーク計数
率の変化からパイルアップによる計数損失の割合を求め
、測定対象物のスペクトルピーク計数率を補正する。
のγ線を測定し、基準放射線源のスペクトルピーク計数
率の変化からパイルアップによる計数損失の割合を求め
、測定対象物のスペクトルピーク計数率を補正する。
先ず、本発明の詳細な説明する。
ゲルマニュームγ線検出器へ入射するγ線のタイミング
はランダムなのでγ線が多くなるとパルスがパイルアッ
プする確率が高くなることが容易に想像できる。
はランダムなのでγ線が多くなるとパルスがパイルアッ
プする確率が高くなることが容易に想像できる。
本発明者は、パイルアップの性質について１ｓｔＥｕと
５ｏＣＯの放射線源をＪ’［Ｎテ、” ” Ｅ ｕ （
７） 計数損失を調査した。その結果、第１表に示すよ
うに１ｓ” Ｅ ｕ単独に比べて１″′ＣＯと同時測定
した場合の方が” Ｅ ｕの各γ線ピークがほぼ一様に
減少していることがわかる。この性質は、５ａＣｏにか
ぎらず他の核種で測定してもスペクトル全体の全計数率
が多くなる程減少率は大きくなることがわかった。また
、第１表に示すように計数損失（％）自体もエネルギー
依存性がないこともわかる。このため、核種やγ線エネ
ルギーが異なっても同時測定した場合、同じ割合で計数
損失すると考えられる。
５ｏＣＯの放射線源をＪ’［Ｎテ、” ” Ｅ ｕ （
７） 計数損失を調査した。その結果、第１表に示すよ
うに１ｓ” Ｅ ｕ単独に比べて１″′ＣＯと同時測定
した場合の方が” Ｅ ｕの各γ線ピークがほぼ一様に
減少していることがわかる。この性質は、５ａＣｏにか
ぎらず他の核種で測定してもスペクトル全体の全計数率
が多くなる程減少率は大きくなることがわかった。また
、第１表に示すように計数損失（％）自体もエネルギー
依存性がないこともわかる。このため、核種やγ線エネ
ルギーが異なっても同時測定した場合、同じ割合で計数
損失すると考えられる。
以下余白
第
１
表
に放射線１１＠Ａ、 Ｂをいっしょに並べた状態でパイ
ルアップが有意に観察できる程度までスペクトルの全計
数率が上がるように線源強度の強い放射線源Ｃを加えて
測定し、放射線源Ａ、Ｈのそれぞれのスペクトルピーク
計数率を求めた。
ルアップが有意に観察できる程度までスペクトルの全計
数率が上がるように線源強度の強い放射線源Ｃを加えて
測定し、放射線源Ａ、Ｈのそれぞれのスペクトルピーク
計数率を求めた。
第 ２ 表
そこで、ゲルマニュームγ線検出器に対して３種類の放
射線源を用意した。まず、放射線源Ａ。
射線源を用意した。まず、放射線源Ａ。
Ｂはパイルアップが無視できる程度の弱い強度の放射線
源で且つ核種が異なる放射線源とし、それぞれ別々にス
ペクトルピーク計数率を求めた。次測定結果を第２表に
示す。第２表から放射線源Ａ、Ｂそれぞれのスペクトル
ピーク計数率は、次の様な関係であることがわかる。
源で且つ核種が異なる放射線源とし、それぞれ別々にス
ペクトルピーク計数率を求めた。次測定結果を第２表に
示す。第２表から放射線源Ａ、Ｂそれぞれのスペクトル
ピーク計数率は、次の様な関係であることがわかる。
Ｎ工、：Ｎ、、＝Ｎ１．：Ｎ−・・・・・・（３）（１
，４８： １．７５＝ １．２７ ： １．５１）ここ
で Ｎ１□：放射線源Ａ単独でのスペクトルピーク計数
率 Ｎ１、：放射線源Ｂ単独でのスペクト ルピーク計数率 Ｎｉパ放射線源Ａ、Ｂ、Ｃ同時測定 時の放射線源Ａのスペクトル ピーク計数率 Ｎ２２：放射線源Ａ、Ｂ、Ｃ同時測定 時の放射線源Ｂのスペクトル ピーク計数率 従って、実測定ではパイルアップによる計数損失の割合
を放射線源Ａ又はＢで測定することにより、他の未知核
種のγ線スペクトルピーク計数率を補正し真の計数率を
求めることができる。
，４８： １．７５＝ １．２７ ： １．５１）ここ
で Ｎ１□：放射線源Ａ単独でのスペクトルピーク計数
率 Ｎ１、：放射線源Ｂ単独でのスペクト ルピーク計数率 Ｎｉパ放射線源Ａ、Ｂ、Ｃ同時測定 時の放射線源Ａのスペクトル ピーク計数率 Ｎ２２：放射線源Ａ、Ｂ、Ｃ同時測定 時の放射線源Ｂのスペクトル ピーク計数率 従って、実測定ではパイルアップによる計数損失の割合
を放射線源Ａ又はＢで測定することにより、他の未知核
種のγ線スペクトルピーク計数率を補正し真の計数率を
求めることができる。
Ｎ、。＝ ｆ −Ｎ、、 ・・・・・・・・・（５
）ここで ｆ ：計数損失補正係数 Ｎ＋、、：未知核種の真のγ線スペクトルピーク計数率 Ｎ＋、：未知核種のγ線スペクトルピーク計数率の測定
値 基準放射線源は、測定対象核種や妨害核種のγ線エネル
ギーと一致したり、スペクトルピークの範囲内で重なら
ない核種を選定する必要がある。
）ここで ｆ ：計数損失補正係数 Ｎ＋、、：未知核種の真のγ線スペクトルピーク計数率 Ｎ＋、：未知核種のγ線スペクトルピーク計数率の測定
値 基準放射線源は、測定対象核種や妨害核種のγ線エネル
ギーと一致したり、スペクトルピークの範囲内で重なら
ない核種を選定する必要がある。
特に、”Ｋは、単一エネルギーのγ線しかださないので
測定対象核種や妨害核種のγ線と一致する確率が少ない
、また、半減期が１．２８ Ｘ １０’年と非常に長く
半減期の補正が無視できる。自然界のカリウムに均一に
分布しているのでカリウムを含む物質を使用すれば線源
として利用できる利点がある。しかし、自然界に分布し
ているがゆえにゲルマニュームγ線検出器のバックグラ
ランド測定を行なうとしばしば４ａＫが検出される。し
かし、自然界のバックグラウンド中の”Ｋは、本発明で
問題としている高計数率状態に対してはるかに計数率が
低いので、基準放射線源の”Ｋの計数効率を高くすれば
バックグラウンド中の”Ｋは無視できる。
測定対象核種や妨害核種のγ線と一致する確率が少ない
、また、半減期が１．２８ Ｘ １０’年と非常に長く
半減期の補正が無視できる。自然界のカリウムに均一に
分布しているのでカリウムを含む物質を使用すれば線源
として利用できる利点がある。しかし、自然界に分布し
ているがゆえにゲルマニュームγ線検出器のバックグラ
ランド測定を行なうとしばしば４ａＫが検出される。し
かし、自然界のバックグラウンド中の”Ｋは、本発明で
問題としている高計数率状態に対してはるかに計数率が
低いので、基準放射線源の”Ｋの計数効率を高くすれば
バックグラウンド中の”Ｋは無視できる。
カリウムを含む物質としては、第３表に示すカリウム化
合物が基準放射線源として有力である。
合物が基準放射線源として有力である。
特にフッ化カリウムはカリウム含有率が高く、計数率を
上げることができる。しかし、融点が高いので加工性が
悪く、空隙率が下げられない欠点がある。水酸化カリウ
ムは融点が低く、空隙を無くすことができ、密封容器に
入れて使用すれば、基準放射線源として好適である。
上げることができる。しかし、融点が高いので加工性が
悪く、空隙率が下げられない欠点がある。水酸化カリウ
ムは融点が低く、空隙を無くすことができ、密封容器に
入れて使用すれば、基準放射線源として好適である。
第
表
第１図は本発明の実施例図である。第１図（イ）で、ゲ
ルマニュームγ線検出器１１は遮へい体３中に設置され
、この検出器１１へは、被測定物から通路（コリメータ
）１６を通して測定γ線が入射する。
ルマニュームγ線検出器１１は遮へい体３中に設置され
、この検出器１１へは、被測定物から通路（コリメータ
）１６を通して測定γ線が入射する。
更に、γ線検出器１１の通路１６と直角方向であって、
且つ、検出器１１に接した状態で基準放射線源１２をｆ
ｆｌ置しである。基準放射線源１２のγ線源としては、
ＫＯＨを使用した。
且つ、検出器１１に接した状態で基準放射線源１２をｆ
ｆｌ置しである。基準放射線源１２のγ線源としては、
ＫＯＨを使用した。
更に、検出器１１の検出信号を増幅する前置増幅器１４
．デユワビン１５が外部に設定されている。
．デユワビン１５が外部に設定されている。
第１図（ロ）は、第１図（イ）のＡ−Ａ矢視図を示す。
遮へい体１３は円形であり、検出器１１の囲りに基準放
射線源１２が設けられていることが示されている。
射線源１２が設けられていることが示されている。
この放射性核種測定装置は、例えば原子炉配管近゛傍に
取りつけられ、配管内の各種γ線の検出に供される。
取りつけられ、配管内の各種γ線の検出に供される。
この実施例によれば、ゲルマニュームγ線検出器１１は
、コリメータ１６を入射してくるγ線と、基準放射線源
１２から放出したγ線とを同時計測する。
、コリメータ１６を入射してくるγ線と、基準放射線源
１２から放出したγ線とを同時計測する。
これにより、本実施例でも第２図の如きシステム構成を
とれば、マルチチャネル波高分析器５では。
とれば、マルチチャネル波高分析器５では。
コリメータ１６から入射するγ線スペクトルと基準放射
線源１２のγ線スペクトルとを合成したスペクトルが得
られる。
線源１２のγ線スペクトルとを合成したスペクトルが得
られる。
得られたスペクトルデータをコンピュータ６に送り、ス
ペクトル解析を行ない各γ線スペクトルピーク毎の計数
率を求める。ピークの中には基準放射線源のγ線スペク
トルピークも含まれているのでこのピークの計数率とあ
らかじめ求めである基準放射線源単独で測定した計数率
から第（６）式により計数損失補正係数を求める。
ペクトル解析を行ない各γ線スペクトルピーク毎の計数
率を求める。ピークの中には基準放射線源のγ線スペク
トルピークも含まれているのでこのピークの計数率とあ
らかじめ求めである基準放射線源単独で測定した計数率
から第（６）式により計数損失補正係数を求める。
ｆ＝＝ Ｃｏ ・・・・・・・・・（６）
ｓ ここで ＣＯ：基準放射線源単独でのスペクトルピーク
計数率 Ｃ５：測定時の基準放射線源スペク トルピーク計数率 次に測定対象核種のスペクトルピークに計数損失補正係
数を剰じて真の計数率を求める。
ｓ ここで ＣＯ：基準放射線源単独でのスペクトルピーク
計数率 Ｃ５：測定時の基準放射線源スペク トルピーク計数率 次に測定対象核種のスペクトルピークに計数損失補正係
数を剰じて真の計数率を求める。
Ｃ＋＝ｆ −Ｃｉｌ ・・・・・・・・・（７）こ
こで Ｃｉ：測定対象核種の真のスペクトルピーク計数
率 Ｃ１□：測定対象核種のスペクトルピ ーク計数率の測定値 以上の計数損失補正を行なうことでゲルマニューム検出
器１１に入射するγ線量が変化し、計数損失割合が変っ
ても精度良い測定ができる。
こで Ｃｉ：測定対象核種の真のスペクトルピーク計数
率 Ｃ１□：測定対象核種のスペクトルピ ーク計数率の測定値 以上の計数損失補正を行なうことでゲルマニューム検出
器１１に入射するγ線量が変化し、計数損失割合が変っ
ても精度良い測定ができる。
また、基準放射線源として水酸化カリウムを用いている
ので基準放射線源自体の計数率が高くなく（１，７５Ｃ
ＰＳ）自己計数損失割合が低い利点がある。
ので基準放射線源自体の計数率が高くなく（１，７５Ｃ
ＰＳ）自己計数損失割合が低い利点がある。
水酸化カリウム中の４０Ｋが基準放射線源なので半減期
が極めて長く半減期補正の必要がない利点がある。
が極めて長く半減期補正の必要がない利点がある。
パルサー等の電子機器ではないので故障の心配がなく、
パルス波形も測定対象核種と類似なので波形整形も同じ
ように行なわれる利点がある。
パルス波形も測定対象核種と類似なので波形整形も同じ
ように行なわれる利点がある。
尚、ゲルマニューム以外の半導体γ線検出器にも適用で
きる。更に、コリメータ１６を通じて外部からのγ線を
受は入れたが、遮へい体１３の内部にサンプル室を設け
てこの中に測定対象物を挿入する例もありうる。ＫＯＨ
は最適例であり、その他のカリウム化合物、カリウム単
体、又はカリウム以外の適用例もありうる。
きる。更に、コリメータ１６を通じて外部からのγ線を
受は入れたが、遮へい体１３の内部にサンプル室を設け
てこの中に測定対象物を挿入する例もありうる。ＫＯＨ
は最適例であり、その他のカリウム化合物、カリウム単
体、又はカリウム以外の適用例もありうる。
本発明によれば、基準放射線源のγ線スペクトルピーク
の計数損失を求め、他の測定対象核種のγ線スペクトル
ピークの計数損失を補正できるので測定対象核種の計数
率を精度良く測定できる効果がある。
の計数損失を求め、他の測定対象核種のγ線スペクトル
ピークの計数損失を補正できるので測定対象核種の計数
率を精度良く測定できる効果がある。
第１図は本発明のγ線核種分析装置におけるγ線検出部
の実施例図、第２図は従来のγ線核種分析装置を示す図
、第３図は各種γ線のエネルギースペクトルを示す図、
第４図はパイルアップの説明図、第５図及び第６図はパ
イルアップの有無による計測例の説明図である。 １１・・・ゲルマニュームγ線検出器、１２・・・基準
放射線源、１６・・・コリメータ。
の実施例図、第２図は従来のγ線核種分析装置を示す図
、第３図は各種γ線のエネルギースペクトルを示す図、
第４図はパイルアップの説明図、第５図及び第６図はパ
イルアップの有無による計測例の説明図である。 １１・・・ゲルマニュームγ線検出器、１２・・・基準
放射線源、１６・・・コリメータ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、測定対象物からのγ線を検出する半導体γ線検出器
と、この検出信号を増幅整形する増幅手段と、該手段の
出力を取込みγ線波高分析を行いγ線スペクトルを抽出
するマルチャネル波高分析手段と、このγ線スペクトル
を解析しスペクトルピーク計数率を求める処理手段と、
より成るγ線核種分析装置において、 上記γ線検出器へ、上記測定対象物からのγ線と併せて
基準γ線を放射する基準放射線源を設け、該基準放射線
源の測定値から基準放射線源のスペクトルピーク計数率
の変化による、計数損失の割合たる計数損失補正係数を
求め、この係数で上記処理手段での被測定対象物による
スペクトルピーク計数率を補正する、 γ線核種分析方法。 ２、上記基準放射線源は、天然の＾４＾０Ｋを含むＫＯ
Ｈを線源とした請求項１のγ線核種分析方法。 ３、測定対象物からのγ線を検出する半導体γ線検出器
と、この検出信号を増幅整形する増幅手段と、該手段の
出力を取込みγ線波高分析を行いγ線スペクトルを抽出
するマルチチャネル波高分析手段と、このγ線スペクト
ルを解析しスペクトルピーク計数率を求める処理手段と
、より成るγ線核種分析装置において、 上記γ線検出器へ、上記測定対象物からのγ線と併せて
基準γ線を放射する基準放射線源と、上記基準放射線源
からの測定値から、計数補正係数ｆ＝Ｃｏ／Ｃｓ（Ｃｏ
・・・基準放射線源単独でのスペクトルピーク計数率、
Ｃｓ・・・測定時の基準放射線源スペクトルピーク計数
率）を求める手段と、 該計数補正係数ｆを上記処理手段による測定対象物核種
のスペクトルピーク計数率Ｃ＿ｉ＿１に乗算して、Ｃ＿
ｉ＝ｆ・Ｃ＿ｉ＿１を求め、該Ｃ＿ｉを測定対象物の真
のスペクトルピーク計数率とする手段と、 より成るγ線核種分析装置。 ４、上記γ線検出器は、ゲルマニュームγ線検出器とし
、基準放射線源は天然の＾４＾０Ｋを含むＫＯＨを線源
とした請求項３のγ線核種分析装置。 ５、上記γ線検出器は遮へい体中に設けられ、且つ遮へ
い体中に設けたコリメータを介して被測定対象物からの
γ線を入射し、基準放射線源はγ線検出器に近接して遮
へい体中に設けてなる請求項３又は４のγ線核種分析装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1260299A JPH0820517B2 (ja) | 1989-10-06 | 1989-10-06 | γ線核種分析方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1260299A JPH0820517B2 (ja) | 1989-10-06 | 1989-10-06 | γ線核種分析方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03123881A true JPH03123881A (ja) | 1991-05-27 |
| JPH0820517B2 JPH0820517B2 (ja) | 1996-03-04 |
Family
ID=17346115
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1260299A Expired - Fee Related JPH0820517B2 (ja) | 1989-10-06 | 1989-10-06 | γ線核種分析方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0820517B2 (ja) |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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-
1989
- 1989-10-06 JP JP1260299A patent/JPH0820517B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0820517B2 (ja) | 1996-03-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |