JPH0259540B2

JPH0259540B2 -

Info

Publication number: JPH0259540B2
Application number: JP60167914A
Authority: JP
Inventors: Kanji Kubo; Hiroshi Taniguchi; Mitsunobu Furumoto; Naoji Usuki
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1985-07-30
Filing date: 1985-07-30
Publication date: 1990-12-12
Also published as: JPS6228955A

Description

【発明の詳細な説明】産業上の利用分野本発明は磁気記録再生装置（以下VTRと称す）
に関するものであり、特に、４種類のパイロツト
信号を用いてトラツキング制御を行なう時の、ト
ラツキングエラー信号の作成方法に関するもので
ある。

従来の技術従来用いられてきた、トラツキングエラー信号
の作成方法について説明する。

第１７図は４種類のパイロツト信号を記録した
磁化軌跡である。同図においてA₁，B₁，A₂，…
…は、互いにアジマス角の異なるＡヘツド及びＢ
ヘツドで記録した記録トラツクであり、f₁〜f₄は
パイロツト信号を示す。パイロツト信号の周波数
は、映像信号における水平同期信号周波数をf_Hと
した時、同図に示すように6.5f_H〜10.5f_Hの値をも
つ。パイロツト信号は１フイールド毎に順次サイ
クリツクに切換えられ、情報信号に重畳して記録
される。各トラツク上に記録されたパイロツト信
号の各トラツク間の周波数差は、f_Hと3f_Hである。
従つて、後述する方法でf_Hと3f_Hの周波数成分を
取り出し、そのレベルを比較すれば、比較後の信
号はトラツキングエラー信号として用いることが
できる。

第１７図において、１７０１は磁気ヘツドを示
し、矢印１７０２は磁気ヘツドの走査方向を、矢
印１７０３は磁気テープの移送方向を示す。

第１８図は、トラツキングエラー信号を得るた
めの処理回路を示した図である。同図において、
端子１８０１からは再生パイロツト信号が入力さ
れる。例えば、ヘツドの走査位置が第１７図に示
す位置の時、再生されるパイロツト信号はf₂，
f₃，f₄の合成信号である。回路１８０２は平衡変
調回路であり、端子１８０３から入力される参照
信号と再生パイロツト信号とを掛算する。参照信
号は、ヘツドが走査する主トラツク上に記録され
ているパイロツト信号と、同じ周波数成分を持つ
信号であり、第１７図に示すヘツド走査ではf₃の
信号である。回路１８０２の出力信号は、参照信
号と再生パイロツト信号との和、及び差の信号で
あり、その中の差の信号が、f_Hの同調回路１８０
４と3f_Hの同調回路１８０５によつて取り出され
る。回路１８０６及び１８０７は検波整流回路で
あり、回路１８０８はレベル比較回路である。回
路１８０８の出力レベルは、f_H及び3f_Hの信号の
レベル差に応じて増減するため、トラツキングエ
ラー信号として用いることができる。回路１８０
９はアナログ反転回路であり、回路１８１０はア
ナログスイツチである。回路１８１０は端子１８
１１から入力されるヘツドスイツチング信号（以
下Ｈ・SW信号と書く）により切換えられ、反転
及び非反転信号を出力する。Ｈ・SW信号は、磁
気ヘツドの回転位相に同期したフレーム周期
（NTSC方式では30Hz）の矩形波信号である。反
転及び非反転信号をフイールド毎に切換えて取り
出す理由は、磁気ヘツドのトラツクずれ方向とト
ラツキングエラー信号の増減方向とを、常に等し
くするためである。例えば、第１７図に示すよう
に、ヘツドがA_i（ｉ＝１，２，３，……）トラツ
クを走査する時と、B_iトラツクを走査する時とで
は、同一方向へのヘツドのずれに対するf_Hと3f_H
の信号の増減方向が異なるため、フイールド毎に
極性を反転する必要がある。

端子１８１２に取り出されるトラツキングエラ
ー信号はキヤプスタン制御系に送られる。キヤプ
スタン制御系は、磁気ヘツドが記録トラツク上を
オントラツクして再生走査するように、トラツキ
ングエラー信号を用いて磁気テープの送り位相を
制御する。

次に、第１８図に示す回路ブロツクの各部の波
形について説明する。

第１５図はＡヘツド１５０１とＢヘツド１５０
２とが、記録トラツク上をオントラツクして再生
走査した時の、磁気ヘツドと記録トラツクとの相
対位置を示した図であり、第１６図はこの時に得
られる各信号波形を示した図である。

第１６図においてａはＨ・SW信号であり、ａ
図におけるA₁，B₁，……は、第１５図に示す
A₁，B₁，……の各トラツク上を再生走査する時
間を示す。第１６図ｂはf_Hの同調回路１８０４の
出力信号であり、ｃは3f_Hの同調回路１８０５の
出力信号である。オントラツク時には、f_H及び
3f_Hの各再生レベルは等しい。ｄにはレベル比較
回路１８０８の出力レベルを示す。オントラツク
時には、例えば1/2Vcc（Vccは電源電圧）の値で
ある。ｅには端子１８１２に得られるトラツキン
グエラー信号を示す。反転回路１８０９は1/2
Vccに対するレベル差を反転する回路であるた
め、オントラツク時にはｄとｅの信号は等しくな
る。

第１３図は、各ヘツドが記録トラツクに対して
紙面上で左にトラツクずれをおこした時の図を示
してあり、第１４図はこの時の各部の波形であ
る。第１４図に示すように、Ａヘツドが走査する
期間ではf_Hの信号成分が3f_Hに比べて少なく、Ｂ
ヘツドが走査する期間では逆の関係になる。その
結果、レベル比較回路の出力ｄは、1/2Vccを中
心として図に示すような矩形波になる。なお、こ
こではf_Hのレベルが3f_Hのレベルに対して大きい
時に、レベル比較回路の出力が高くなるものとし
て描いてある。Ｂヘツドが走査する期間に得られ
るレベル比較回路の出力を、1/2Vccを中心に反
転するものとすれば、トラツキングエラー信号は
ｅ図に示すようになり、1/2Vccからのレベル差
１４０１がトラツクずれ量に相当する。

次に、ＡヘツドとＢヘツドとのヘツド高さが異
なつている時の各部の波形について説明する。

Ａ，Ｂ各ヘツドのヘツド高さは、回転軸に垂直
な基準面から等しくなるように調整するが、実際
には調整誤差が生じる。ヘツド高さの調整誤差
は、一方のヘツドを基準にして他方のヘツドが、
記録トラツクの幅方向に相対的にずれたことと等
価になる。このようなヘツド高さ差をもつたヘツ
ドで、ヘツド高さ差をもたないヘツドで記録した
正規の記録トラツクを再生した時の相対位置関係
を、第１１図に示す。詳細な説明は後述するが、
ヘツド高さ差をもつたヘツドでは、第１１図に示
す位置で制御系は安定する。

第１２図は、第１１図に示すヘツド位置におけ
る各信号を示した図である。同図において、実線
で示す各信号は第１１図に示すヘツド位置での各
信号を示し、破線で示す各信号は第１１図に示す
ヘツド位置から、矢印１１０１及び１１０２で示
す方向にミストラツクした時の各信号を示してあ
る。

実線で示す各信号について、まず説明する。

第１１図に示すヘツド位置の時、f_Hの周波数成
分をもつ信号はＡ，Ｂの各ヘツドの走査期間にお
いて常に小レベルであり、3f_H成分は常に大レベ
ルとなる。その結果、レベル比較回路の出力は第
１３図ｄに実線で示す変化を示し、Ｂヘツド走査
期間で反転したトラツキングエラー信号は、ｅに
実線で示す信号となる。トラツキングエラー信号
はローパスフイルターを通してキヤプスタン制御
系に送られるため、その平均レベルは1/2Vccと
なり、制御系はこの状態で安定する。従つて、第
１１図に示すヘツド位置が安定位置と言うことに
なる。

次に、第１１図に示す各ヘツドが矢印１１０１
及び１１０２方向にミストラツクした時の各信号
について説明する。この時の各信号は、第１２図
に破線で示す信号である。すなわち、Ａヘツド走
査期間においてはf_H成分の信号がさらに小さくな
り、3f_H成分の信号が逆に大きくなる。Ｂヘツド
走査期間においては、反対にf_H成分の信号が大き
くなり、3f_H成分の信号が小さくなる。その結果、
レベル比較回路の出力は、同図ｄに破線で示す信
号となる。また、Ｂヘツド走査期間において、1/
２Vccレベルを中心に反転して得られるトラツキ
ングエラー信号は、同図ｅに破線で示す信号とな
る。

以上の説明から明らかなように、トラツクずれ
量に相当する電圧変化は、レベル比較回路の出力
においては、各ヘツド走査期間に出力される信号
のレベル差１２０１として現われ、トラツキング
エラー信号においては、トラツキングエラー信号
のレベル変化の平均DC電位と、1/2Vcc電位との
差電圧１２０２として現われる。一方、ヘツド高
さ差による電圧変化は、レベル比較回路の出力に
おいては、出力信号の平均DC電位と1/2Vcc電位
との差電圧１２０３として現われ、トラツキング
エラー信号においては、トラツキングエラー信号
のレベル変化１２０４として現われる。

発明が解決しようとする問題点第１２図ｅに示すレベル差１２０４は、ローパ
スフイルタを通過させても完全に除去することは
できず、Ｈ・SW周期の変動成分が残る。このた
めキヤプスタンモータの回転数が変動し、画像揺
れなどの問題を発生させる。従つて、ヘツド高さ
差のあるヘツドを用いた時にも、レベル差のない
トラツキングエラー信号を得る必要がある。

問題点を解決するための手段本発明では、ヘツドが走査するトラツクの各隣
接トラツクに記録されているパイロツト信号を、
f_Hと3f_Hの周波数成分に分離し、分離された各信
号を検波整流し、検波整流した各信号に所定のバ
イアス電圧を与え、バイアス電圧付加後の各信号
のレベルを比較し、Ａ，Ｂ各ヘツドの走査期間内
における前記レベル比較後の信号を時分割して抜
き出し、この抜き出した各信号の平均DC電圧を
用いて、前記バイアス電圧を可変する構成をと
る。

作用上記の構成を用いれば、ヘツド高さ差によるト
ラツキングエラー信号の変動成分を取り除くこと
ができるため、不用なキヤプスタンモータの回転
変動をおさえることができ、正確なテープ送りを
実現することができる。

実施例本発明の具体実施例を説明する前に、本発明の
原理についてまず説明する。

第９図及び第１０図は、検波整流後の信号レベ
ルを示した図である。両図において、ｆ及びｊは
Ｈ・SW信号である。ｇ及びｋは、第１２図に示
すｂ及びｃの各波形を検波整流した信号である。
ｇ及びｋの信号は、同一電位（例えば零クロス電
位）で検波し、整流した波形を示す。この時、９
０１で示す各検波整流信号の差電位はヘツド高さ
差によるものであり、第１２図ｄに１２０３で示
す値に相当する。第９図ｈに示す信号は、ｇに示
す検波整流信号に９０２で示すバイアス電位を付
加した時の波形である。バイアス電位を付加すれ
ば、ｈ及び１で示す各波形より明らかなようにヘ
ツド高さ差によるレベル差は解消され、９０３で
示す電位からの各検波整流信号の変化量だけを取
り出すことができる。第１２図ｄを用いて既に説
明したように、ヘツド高さ差は１２０３で示す各
フイールド間のレベル比較回路出力の平均値とし
て現われ、トラツキングずれ量は、１２０１で示
す各フイールド間のレベル比較回路出力信号のレ
ベル差として取り出すことができる。すなわち、
１２０１と１２０３の各量は、それぞれ独立して
取り出すことができる。従つて、ヘツド高さ差に
相当する量１２０３が零になるように、前記バイ
アス電位９０２（第９図）を調整することが可能
である。なお、第９図及び第１０図に示す各検波
整流信号のヘツド高さ差によるレベル差は、Ａ，
Ｂ各ヘツドの相対的なずれ量及びずれ方向によつ
て決まる。このため、ヘツド高さのずれにより、
ｇで示す信号レベルがｋで示す信号レベルよりも
大きくなることもある。この時の状態をｉ及びｍ
に示す。この時には、９０２とは逆方向のバイア
ス電位９０４を付加することで、ヘツド高さ差に
よるレベル差を解消することができる。すなわ
ち、f_Hもしくは3f_Hのいずれか一方の検波整流信
号にバイアス電位を付加することにより、ヘツド
高さ差の問題が解決できることになる。

次に、本発明の具体実施例について説明する。

第１図は、本発明の具体実施例を示す図であ
る。同図において、端子１０１からは再生パイロ
ツト信号が入力され、端子１０３からは参照信号
が入力される。回路１０２は平衡変調回路、回路
１０４はf_Hの同調回路、回路１０５は3f_Hの同調
回路、回路１０６及び１０７は検波整流回路であ
る。１０１〜１０７の各信号及び回路動作は、既
に第１８図を用いて説明したものと同じ動作を示
す。回路１０８及び１０９はバイアス電位を付加
する回路である。その構成は、例えば演算増幅回
路の正、負いずれか一方の端子に入力信号を供給
し、他方の端子に印加する電位を可変することに
よつて、可変のバイアス回路を簡単に構成するこ
とができる。第１図において、１０８は固定のバ
イアス回路を示し、１０９は可変のバイアス回路
を示す。ヘツド高さ差のない装置では、両回路の
バイアス値は等しい。回路１１０はレベル比較回
路であり、回路１０８及び１０９の出力信号のレ
ベル差に応じた信号を出力する。両出力信号レベ
ルが等しい時には、例えば1/2Vccの電位を回路
１１０は出力する。回路１１１はＡ／Ｄ変換回
路、１１３及び１１４はＤ／Ａ変換回路、回路１
１２は演算回路である。演算回路１１２は、各ヘ
ツド走査期間におけるレベル比較回路１１０の出
力信号を時分割に抜き出し、抜き出した少なくと
も２つの信号のレベル差を演算してＤ／Ａ変換１
１４し、トラツキングエラー信号を作成する演算
を行なうと共に、前記抜き出した少なくとも２つ
の信号の平均DC値と、基準電位（例えば1/2
Vcc）とのずれ量を演算する。このずれ量は、
Ｄ／Ａ変換回路１１３を経てバイアス回路１０９
に供給される。バイアス回路１０９は、既に本発
明の原理を説明する箇所で述べたように、検波整
流後の信号に付加するバイアス値を前記ずれ量に
応じて可変し、ヘツド高さ差に起因する検波整流
信号のレベル差を解消する働きをする。破線で囲
むブロツク１１６はマイクロコンピユータを用い
て構成することができるため、１１２で示す演算
回路の処理もソフトによつて処理することができ
る。

次に、ブロツク１１２で示す演算処理の具体実
施例について説明する。

第２図は後述するソフト処理の説明の補助図で
あり、ｎはＨ・SW信号、ｏはタイマ割込みのタ
イミング及び割込み回数を示す図、ｐはマルチト
ラツクPCMとして使用する際の第３トラツクを
再生した時の信号を示した図である。

ソフトによる処理は、第３図及び第４図を用い
て説明することができる。

第３図はメインルーチンの処理を示すフローチ
ヤートである。同図において、処理３０１は初期
設定を行なう処理であり、RAMのクリアやトラ
ツキングエラー信号の初期値、バイアス電位の初
期値などを設定する。処理３０２は、Ｈ・SW信
号がＡヘツド走査期間であれば処理３０３以降を
実行し、そうでなければ時間待ちを行なう処理で
ある。処理３０３は、実際にはＨ・SW信号がＢ
ヘツド走査期間からＡヘツド走査期間に変化した
時点で実行される。処理３０３は内部タイマをス
タートさせる処理である。タイマ時間は任意に選
択して良いが、例えば第２図ｏに示すように、１
フレームを20分割する値に選んでおく。処理３０
４はCTで示すRAMをクリアする。処理３０５
では、Ｈ・SW信号がＢヘツドの走査期間になる
までの間時間待ちし、Ｂヘツド走査期間になれば
処理３０２を実行する。以上がメインルーチンの
処理である。

メインルーチンの処理を実行中にタイマ割込み
がかかれば、第４図に示す割込み処理を実行す
る。第４図において、処理４０１はCTで示す
RAMの内容を＋１する。タイマ割込みが発生す
る度にCTの値が＋１されるため、CTはタイマ割
込みの回数を記憶することになる。処理４０２に
より、CTの値が５になれば処理４０３を実行し、
そうでなければ処理４０６を実行する。処理４０
３はその時間におけるレベル比較回路の出力を読
み、E₁で示すRAMに格納する。処理４０４はト
ラツキングエラー信号の値を記憶している
RAM、Ｅの値を出力し、処理４０５はバイアス
電位の値を記憶しているRAM、VSの値を出力
する。電源投入時などの初期には、処理３０１
（第３図）で設定したＥ及びVSの初期値を出力す
る。CTの値が５でない時には処理４０６を実行
し、CTの値が15であれば、処理４０７以降を実
行する。CTの値が15でなければ、処理４０４を
実行する。処理４０７は、その時間におけるレベ
ル比較回路の出力を読み、E2で示すRAMに格納
する。処理４０８は、記録時のテープ速度と再生
時のそれとが等しい通常再生時か、両テープ速度
が異なる特殊再生時（トリツク）かを判別する処
理である。通常再生時であれば処理４０９以降を
実行し、特殊再生時であれば処理４１１を実行す
る。処理４０９では、Ｅ１とＥ２との各値の差に
１／２Vccの値を加算し、Ｅで示すRAMに格納す
る。すなわち、処理４０９を実行することによ
り、トラツキングエラー信号の値が新たに書き変
えられることになる。処理４１０は、バイアス電
位の値を演算し、VSで示すRAMに新たなバイ
アス電位を記憶させる。バイアス電位は、処理４
１０に示すように、E1とE2の値を加算した半分
の値であり、ヘツド高さ差をもたない時には1/2
Vccの値になる。なおバイアス電位を付加する回
路１０９（第１図）の構成によつては、バイアス
電位VSの値として変化分だけを出力しても良い。
この時のVSの値は、Ｅ１とＥ２の値を加算した
半分の値から基準電位（例えば1/2Vcc）を減算
した値になる。処理４１０の実行後は、処理４０
４以降を実行する。特殊再生時には処理４１１を
実行するが、その意味するところの詳細な説明は
後述する。

処理４０２及び４０６で示したCTの値５及び
15は、サンプリング位置を示す。第２図から明ら
かなように、CTの値が５及び15の位置は、各ヘ
ツド走査期間の中央に選んであり、映像信号を記
録再生する通常のVTRでは、CTの値は上記の値
で良い。しかし、８mmビデオでは映像信号の記録
トラツク領域を５分割し、時間圧縮したPCM音
声信号だけを記録再生することが考えられてい
る。この時の再生PCM信号は、例えば第２図ｐ
に示す２０１〜２０４の部分でしか得られない。
従つて、レベル比較回路の出力信号も上記の再生
部分でしか正規の値が得られないことになる。こ
のようなPCM信号だけを記録再生するVTRにお
いても、本発明では処理４０２と４０６での条件
値５及び15の値を変更するだけで良い。例えば第
２図に示す例では、３と13の値を選べば良いこと
になる。

次に、特殊再生時の処理について説明する。

まず最初に、特殊再生時におけるレベル比較回
路出力の変化について説明する。

第７図は記録磁化軌跡を示し、矢印７０１は５
倍速再生時のヘツド走査軌跡を示す。第８図はヘ
ツド走査位置とレベル比較回路の出力変化との関
係を示した図である。第８図に示すヘツド走査位
置は、第７図に示す磁化軌跡上をヘツドが走査す
る時の位置に対応するように、目盛を合わせて描
いてある。第８図に示すＱ，Ｒ，Ｓ，Ｔの各波形
は、前述の平衡変調回路に入力する参照信号をそ
れぞれf₁，f₂，f₃，f₄に固定した時のレベル変化
である。レベル比較回路に入力される、f_H及び
3f_Hを検波整流した信号のトラツクずれに対する
変化は、一方が大きくなれば他方は小さくなる。
従つて、いずれか一方の信号の増減を考察すれ
ば、レベル比較回路の出力の増減を知ることがで
きる。本例では、f_H成分の信号の増減を例にとり
説明する。

参照信号がf₁の時のレベル比較回路の出力変
化、すなわち第８図Ｑに示す信号８０１について
第７図及び第８図を用いて説明する。ヘツドが
A₁トラツクの中央に位置する時、すなわち８０
３で示す位置の電位８０２は、オントラツク時の
電位（f_Hの再生レベルに対応）である。ヘツドが
B₁トラツクの中央に位置する時f_Hの再生レベルは
最も大きく、ヘツドがB₂トラツクの中央に位置
する時f_Hの再生レベルは最も小さくなる。従つ
て、参照信号がf₁の時のヘツド走査位置に対する
レベル比較回路の出力変化は、Ｑに示す変化とな
る。

同様に、参照信号がf₂の時には、ヘツドがトラ
ツクA₁の中央に位置する時f_Hの再生レベルは最も
大きく、トラツクA₂の中央に位置する時は最も
小さくなるため、Ｒに示す信号となることがわか
る。同様の考え方で、参照信号がf₃及びf₄の時に
は、Ｓ及びＴで示す信号の得られることがわか
る。

５倍速再生時のヘツド走査は、例えば７０１で
示す走査軌跡となる。ヘツドがA₁トラツクから
A₃トラツクを走査し終わるまでの時間は、１フ
イールド周期（NTSCでは1/60秒）である。この
時、参照信号がf₁であれば、レベル比較回路の出
力は８０３と８０４との間のレベル変化を示す。
参照信号がf₂であれば、８０５と８０６との間の
レベル変化を示す。以上のことから、任意のＮ倍
速時のレベル比較回路の出力変化を推察すること
ができる。

第５図には、ヘツド高さ差をもつヘツドで５倍
速再生をした時のヘツド走査軌跡を示す。同図に
おいて、５０１及び５０２はＡヘツド及びＢヘツ
ドであり、第１１図を用いて既に説明した各ヘツ
ドと、同様のヘツド高さ差をもつものとして描い
てある。すなわち、Ａヘツドの幅方向の中心５０
３が、記録トラツクの中心５０５から紙面上で左
にずれている時、Ｂヘツドの幅方向の中心５０４
が記録トラツクの中心５０６から紙面上で右にず
れている状態を示してある。５０７及び５０８
は、５倍速再生時の各ヘツドの中心点の走査軌跡
である。

第５図に示す条件でのレベル比較回路出力、及
び従来の方法によるトラツキングエラー信号を第
６図ｖ，ｗに示す。同図において、ｕはＨ・SW
信号、ｖはレベル比較回路の出力信号、ｗはＢへ
ツド走査期間に得られるレベル比較回路の出力を
１／２Vccレベルに対して反転した、従来の方法に
よるトラツキングエラー信号である。ｘ及びｙの
信号は、ヘツド高さ差をもたないヘツドで５倍速
再生を行なつた時の、レベル比較回路出力及びト
ラツキングエラー信号である。なお、ｕに示す
Ｈ・SW信号に記したf₁，f₂，f₃は、各ヘツド走査
時における参照信号を示し、Ａ及びＢは走査ヘツ
ドを示す。

第６図ｖに示すＡヘツド走査期間の信号６０１
は、参照信号がf₁であり、走査開始時のトラツク
上に記録されているパイロツト信号がf₁であるた
め、第８図Ｑに示す信号をもとに描くことができ
る。この場合、Ａヘツドの中心が紙面上で左にず
れているため、第８図に示す走査位置８０３と８
０４をその分だけ左にずらした時の信号波形にな
る。同様にして、Ｂヘツド走査期間の信号６０２
を描くことができる。ｗで示す信号は、Ｂヘツド
走査期間における信号を1/2Vccに対して反転し
た信号である。

５倍速再生等の高速再生の時、走査ヘツドと異
なるアジマス角を持つヘツドで録録されたトラツ
ク上を走査する時には再生信号が得られず、その
結果ノイズバーが画面に現われる。高速再生時に
は、前記ノイズバーを画面上で静止させ、画像を
見易くする方法がとられる。その方法は、例えば
第６図ｗ及びｙに示すトラツキングエラー信号が
１／２Vccと交差する点の数が、一定時間内（例え
ば１フレーム時間）において定まつた数になるよ
うに制御する方法がある。しかし、第６図ｗとｙ
の波形から明らかなように、前述の交差する点の
数は、ヘツド高さ差がある時とない時とでは異な
るため、前述の制御方法を用いることはできな
い。高速再生時にノイズバーを静止させる方法は
他にも考えられるが、スローモーシヨン再生や、
他のトラツキングエラー信号を用いた処理を考え
ればいずれにしてもヘツド高さ差の影響がトラツ
キングエラー信号に現われるのは好ましくない。
従つて、高速再生時にもヘツド高さ差によるレベ
ル変化を取り除くことが必要になる。

ところが、既に説明した方法、すなわち、各ヘ
ツド走査期間におけるレベル比較回路の出力値を
それぞれ抜き取り、抜き取つた各値の平均値に応
じてバイアス電位を変化させる方法は、高速再生
時には適用できない。以下、この点について説明
する。

第６図ｖに示す時間t₁及びt₂は、Ｈ・SW信号
の各エツジからの一定時間を示す。時刻t₁におけ
るレベル比較回路の出力、６０３及び６０４の平
均DC電位は、同図から明らかなように、1/2Vcc
電位よりも低い（紙面上で下方）値になる。一
方、時刻t₂におけるレベル比較回路の出力、６０
５及び６０６の平均DC電位は、1/2Vcc電位より
も高い値になる。すなわち、レベル比較回路の出
力値を抜き取る位置によつて、その平均DCレベ
ルが変化するため、この時に得られる平均DCレ
ベルを用いてバイアス電位を変化させることは望
ましくない。従つて、特殊再生時には、通常再生
時のバイアス電位の補正値を保持する必要があ
る。

第４図に示す処理４０８及び４１１には、特殊
再生時の処理を示す。処理４０８にて通常再生か
特殊再生かを判別し、特殊再生時であれば処理４
１１を実行する。処理４１１は、Ａヘツド走査期
間におけるレベル比較回路出力を、Ｈ・SW信号
のエツジから一定の時間経たところで抜き取つた
電位E1を、トラツキングエラー信号を記憶させ
るRAM、Ｅに格納する処理である。この方法
は、第６図に示す例えばt₂時間後の電位６０５
を、トラツキングエラー信号として用いる方法で
ある。再生画像におけるノイズバーの位置が静止
しない時には、第６図に示すｕの信号とｖの信号
との相対的な時間位置が変化する。このため、一
定時間t₂後の位置で抜き取るレベル比較回路の出
力レベルも、ノイズバーの位置によつて変化す
る。従つて、t₂時間後で抜き取つた電位を一定に
すれば、ノイズバーの位置を画面上で静止させる
ことができる。

特殊再生時には、第４図に示す処理４１０を実
行しない。すなわち、特殊再生前に得られたバイ
アス電位の補正量VSの値が、処理４０５で出力
されることになる。

なおこれまでの説明では、バイアス電位はいず
れか一方のバイアス値を可変する方法について説
明してきたが、必要に応じて両バイアス電位を可
変しても良い。

発明の効果以上の説明から明らかなように、本発明によれ
ば、各ヘツド走査期間において抜き出したレベル
比較回路出力の平均DC電位を用いて、レベル比
較回路に入力する一方のバイアス電位を可変する
ことにより、ヘツド高さ差によるトラツキングエ
ラー信号のレベル変化を解消することができるた
め、ヘツド高さ差によるキヤプスタンモータの不
用な回転変動を取り除くことができる効果を有す
る。また、通常再生時における補正値を用いて、
特殊再生時における前記ヘツド高さ差による悪影
響を取り除くことにより、トラツクのずれ量にの
み対応したトラツキングエラー信号を得ることが
できる利点を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明方法を実施する一具体回路構成
例を示すブロツク図、第２図はタイマ割込みのタ
イミング図、第３図は本発明の一実施例を示すメ
インルーチンのフローチヤート、第４図は本発明
の一実施例を示すタイマ割込み時の処理を示すフ
ローチヤート、第５図はヘツド高さ差をもつヘツ
ドで５倍速再生を行なつた時のヘツド走査軌跡
図、第６図は第５図に示す条件下での各部の波形
図、第７図は記録トラツクと５倍速再生時のヘツ
ド走査軌跡図、第８図は参照信号を固定した時の
ヘツド走査位置とレベル比較回路出力との関係
図、第９図及び第１０図は検波整流信号の相対レ
ベルを示す信号図、第１１図はヘツド高さ差をも
つヘツドと記録トラツク位置の関係図、第１２図
は第１１図に示す条件下での各部の信号図、第１
３図はミストラツク時のヘツド位置を示す説明
図、第１４図は第１３図に示す条件下での各部の
信号図、第１５図はオントラツク時のヘツド配置
図、第１６図は第１５図に示す条件下での各部の
波形図、第１７図はパイロツト信号の記録磁化軌
跡図、第１８図は従来のトラツキングエラー信号
の作成回路図である。１０２……平衡変調回路、１０４，１０５……
f_H及び3f_Hの同調回路、f_H……水平同期信号周波
数、１０６，１０７……検波整流回路、１０８，
１０９……バイアス付加回路、１１０……レベル
比較回路、Vcc……電源電圧。

Claims

【特許請求の範囲】１情報信号と、トラツキング制御用の４種類の
パイロツト信号とが記録されている磁気テープを
再生し、前記パイロツト信号から、磁気ヘツドと
記録トラツクとの相対的な位置ずれを示すトラツ
キングエラー信号を作成するに際し、再生される
パイロツト信号と参照信号とを乗算し、乗算後の
信号から異なる周波数成分をもつ第１及び第２の
信号を取り出し、各信号を検波整流し、検波整流
後の各信号に個々にバイアス電位を付加し、バイ
アス電位付加後の各信号のレベル比較を行い、レ
ベル比較後の信号レベルを、異なるパイロツト信
号が記録されている期間においてサンプリング
し、前記サンプリングしたデータを平均し、前記
バイアス電位を付加する各信号のいずれか一方の
バイアス電位を、前記平均したデータに応じて可
変することを特徴とするトラツキングエラー信号
の作成方法。２記録時と再生時とのテープ速度が異なる特殊
再生時には、通常再生時に決定したバイアス値を
保持することを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載のトラツキングエラー信号の作成方法。