JPH0259540B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0259540B2 JPH0259540B2 JP60167914A JP16791485A JPH0259540B2 JP H0259540 B2 JPH0259540 B2 JP H0259540B2 JP 60167914 A JP60167914 A JP 60167914A JP 16791485 A JP16791485 A JP 16791485A JP H0259540 B2 JPH0259540 B2 JP H0259540B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- head
- level
- circuit
- tracking error
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 43
- 238000005513 bias potential Methods 0.000 claims description 24
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 26
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 230000005236 sound signal Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は磁気記録再生装置(以下VTRと称す)
に関するものであり、特に、4種類のパイロツト
信号を用いてトラツキング制御を行なう時の、ト
ラツキングエラー信号の作成方法に関するもので
ある。
に関するものであり、特に、4種類のパイロツト
信号を用いてトラツキング制御を行なう時の、ト
ラツキングエラー信号の作成方法に関するもので
ある。
従来の技術
従来用いられてきた、トラツキングエラー信号
の作成方法について説明する。
の作成方法について説明する。
第17図は4種類のパイロツト信号を記録した
磁化軌跡である。同図においてA1,B1,A2,…
…は、互いにアジマス角の異なるAヘツド及びB
ヘツドで記録した記録トラツクであり、f1〜f4は
パイロツト信号を示す。パイロツト信号の周波数
は、映像信号における水平同期信号周波数をfHと
した時、同図に示すように6.5fH〜10.5fHの値をも
つ。パイロツト信号は1フイールド毎に順次サイ
クリツクに切換えられ、情報信号に重畳して記録
される。各トラツク上に記録されたパイロツト信
号の各トラツク間の周波数差は、fHと3fHである。
従つて、後述する方法でfHと3fHの周波数成分を
取り出し、そのレベルを比較すれば、比較後の信
号はトラツキングエラー信号として用いることが
できる。
磁化軌跡である。同図においてA1,B1,A2,…
…は、互いにアジマス角の異なるAヘツド及びB
ヘツドで記録した記録トラツクであり、f1〜f4は
パイロツト信号を示す。パイロツト信号の周波数
は、映像信号における水平同期信号周波数をfHと
した時、同図に示すように6.5fH〜10.5fHの値をも
つ。パイロツト信号は1フイールド毎に順次サイ
クリツクに切換えられ、情報信号に重畳して記録
される。各トラツク上に記録されたパイロツト信
号の各トラツク間の周波数差は、fHと3fHである。
従つて、後述する方法でfHと3fHの周波数成分を
取り出し、そのレベルを比較すれば、比較後の信
号はトラツキングエラー信号として用いることが
できる。
第17図において、1701は磁気ヘツドを示
し、矢印1702は磁気ヘツドの走査方向を、矢
印1703は磁気テープの移送方向を示す。
し、矢印1702は磁気ヘツドの走査方向を、矢
印1703は磁気テープの移送方向を示す。
第18図は、トラツキングエラー信号を得るた
めの処理回路を示した図である。同図において、
端子1801からは再生パイロツト信号が入力さ
れる。例えば、ヘツドの走査位置が第17図に示
す位置の時、再生されるパイロツト信号はf2,
f3,f4の合成信号である。回路1802は平衡変
調回路であり、端子1803から入力される参照
信号と再生パイロツト信号とを掛算する。参照信
号は、ヘツドが走査する主トラツク上に記録され
ているパイロツト信号と、同じ周波数成分を持つ
信号であり、第17図に示すヘツド走査ではf3の
信号である。回路1802の出力信号は、参照信
号と再生パイロツト信号との和、及び差の信号で
あり、その中の差の信号が、fHの同調回路180
4と3fHの同調回路1805によつて取り出され
る。回路1806及び1807は検波整流回路で
あり、回路1808はレベル比較回路である。回
路1808の出力レベルは、fH及び3fHの信号の
レベル差に応じて増減するため、トラツキングエ
ラー信号として用いることができる。回路180
9はアナログ反転回路であり、回路1810はア
ナログスイツチである。回路1810は端子18
11から入力されるヘツドスイツチング信号(以
下H・SW信号と書く)により切換えられ、反転
及び非反転信号を出力する。H・SW信号は、磁
気ヘツドの回転位相に同期したフレーム周期
(NTSC方式では30Hz)の矩形波信号である。反
転及び非反転信号をフイールド毎に切換えて取り
出す理由は、磁気ヘツドのトラツクずれ方向とト
ラツキングエラー信号の増減方向とを、常に等し
くするためである。例えば、第17図に示すよう
に、ヘツドがAi(i=1,2,3,……)トラツ
クを走査する時と、Biトラツクを走査する時とで
は、同一方向へのヘツドのずれに対するfHと3fH
の信号の増減方向が異なるため、フイールド毎に
極性を反転する必要がある。
めの処理回路を示した図である。同図において、
端子1801からは再生パイロツト信号が入力さ
れる。例えば、ヘツドの走査位置が第17図に示
す位置の時、再生されるパイロツト信号はf2,
f3,f4の合成信号である。回路1802は平衡変
調回路であり、端子1803から入力される参照
信号と再生パイロツト信号とを掛算する。参照信
号は、ヘツドが走査する主トラツク上に記録され
ているパイロツト信号と、同じ周波数成分を持つ
信号であり、第17図に示すヘツド走査ではf3の
信号である。回路1802の出力信号は、参照信
号と再生パイロツト信号との和、及び差の信号で
あり、その中の差の信号が、fHの同調回路180
4と3fHの同調回路1805によつて取り出され
る。回路1806及び1807は検波整流回路で
あり、回路1808はレベル比較回路である。回
路1808の出力レベルは、fH及び3fHの信号の
レベル差に応じて増減するため、トラツキングエ
ラー信号として用いることができる。回路180
9はアナログ反転回路であり、回路1810はア
ナログスイツチである。回路1810は端子18
11から入力されるヘツドスイツチング信号(以
下H・SW信号と書く)により切換えられ、反転
及び非反転信号を出力する。H・SW信号は、磁
気ヘツドの回転位相に同期したフレーム周期
(NTSC方式では30Hz)の矩形波信号である。反
転及び非反転信号をフイールド毎に切換えて取り
出す理由は、磁気ヘツドのトラツクずれ方向とト
ラツキングエラー信号の増減方向とを、常に等し
くするためである。例えば、第17図に示すよう
に、ヘツドがAi(i=1,2,3,……)トラツ
クを走査する時と、Biトラツクを走査する時とで
は、同一方向へのヘツドのずれに対するfHと3fH
の信号の増減方向が異なるため、フイールド毎に
極性を反転する必要がある。
端子1812に取り出されるトラツキングエラ
ー信号はキヤプスタン制御系に送られる。キヤプ
スタン制御系は、磁気ヘツドが記録トラツク上を
オントラツクして再生走査するように、トラツキ
ングエラー信号を用いて磁気テープの送り位相を
制御する。
ー信号はキヤプスタン制御系に送られる。キヤプ
スタン制御系は、磁気ヘツドが記録トラツク上を
オントラツクして再生走査するように、トラツキ
ングエラー信号を用いて磁気テープの送り位相を
制御する。
次に、第18図に示す回路ブロツクの各部の波
形について説明する。
形について説明する。
第15図はAヘツド1501とBヘツド150
2とが、記録トラツク上をオントラツクして再生
走査した時の、磁気ヘツドと記録トラツクとの相
対位置を示した図であり、第16図はこの時に得
られる各信号波形を示した図である。
2とが、記録トラツク上をオントラツクして再生
走査した時の、磁気ヘツドと記録トラツクとの相
対位置を示した図であり、第16図はこの時に得
られる各信号波形を示した図である。
第16図においてaはH・SW信号であり、a
図におけるA1,B1,……は、第15図に示す
A1,B1,……の各トラツク上を再生走査する時
間を示す。第16図bはfHの同調回路1804の
出力信号であり、cは3fHの同調回路1805の
出力信号である。オントラツク時には、fH及び
3fHの各再生レベルは等しい。dにはレベル比較
回路1808の出力レベルを示す。オントラツク
時には、例えば1/2Vcc(Vccは電源電圧)の値で
ある。eには端子1812に得られるトラツキン
グエラー信号を示す。反転回路1809は1/2
Vccに対するレベル差を反転する回路であるた
め、オントラツク時にはdとeの信号は等しくな
る。
図におけるA1,B1,……は、第15図に示す
A1,B1,……の各トラツク上を再生走査する時
間を示す。第16図bはfHの同調回路1804の
出力信号であり、cは3fHの同調回路1805の
出力信号である。オントラツク時には、fH及び
3fHの各再生レベルは等しい。dにはレベル比較
回路1808の出力レベルを示す。オントラツク
時には、例えば1/2Vcc(Vccは電源電圧)の値で
ある。eには端子1812に得られるトラツキン
グエラー信号を示す。反転回路1809は1/2
Vccに対するレベル差を反転する回路であるた
め、オントラツク時にはdとeの信号は等しくな
る。
第13図は、各ヘツドが記録トラツクに対して
紙面上で左にトラツクずれをおこした時の図を示
してあり、第14図はこの時の各部の波形であ
る。第14図に示すように、Aヘツドが走査する
期間ではfHの信号成分が3fHに比べて少なく、B
ヘツドが走査する期間では逆の関係になる。その
結果、レベル比較回路の出力dは、1/2Vccを中
心として図に示すような矩形波になる。なお、こ
こではfHのレベルが3fHのレベルに対して大きい
時に、レベル比較回路の出力が高くなるものとし
て描いてある。Bヘツドが走査する期間に得られ
るレベル比較回路の出力を、1/2Vccを中心に反
転するものとすれば、トラツキングエラー信号は
e図に示すようになり、1/2Vccからのレベル差
1401がトラツクずれ量に相当する。
紙面上で左にトラツクずれをおこした時の図を示
してあり、第14図はこの時の各部の波形であ
る。第14図に示すように、Aヘツドが走査する
期間ではfHの信号成分が3fHに比べて少なく、B
ヘツドが走査する期間では逆の関係になる。その
結果、レベル比較回路の出力dは、1/2Vccを中
心として図に示すような矩形波になる。なお、こ
こではfHのレベルが3fHのレベルに対して大きい
時に、レベル比較回路の出力が高くなるものとし
て描いてある。Bヘツドが走査する期間に得られ
るレベル比較回路の出力を、1/2Vccを中心に反
転するものとすれば、トラツキングエラー信号は
e図に示すようになり、1/2Vccからのレベル差
1401がトラツクずれ量に相当する。
次に、AヘツドとBヘツドとのヘツド高さが異
なつている時の各部の波形について説明する。
なつている時の各部の波形について説明する。
A,B各ヘツドのヘツド高さは、回転軸に垂直
な基準面から等しくなるように調整するが、実際
には調整誤差が生じる。ヘツド高さの調整誤差
は、一方のヘツドを基準にして他方のヘツドが、
記録トラツクの幅方向に相対的にずれたことと等
価になる。このようなヘツド高さ差をもつたヘツ
ドで、ヘツド高さ差をもたないヘツドで記録した
正規の記録トラツクを再生した時の相対位置関係
を、第11図に示す。詳細な説明は後述するが、
ヘツド高さ差をもつたヘツドでは、第11図に示
す位置で制御系は安定する。
な基準面から等しくなるように調整するが、実際
には調整誤差が生じる。ヘツド高さの調整誤差
は、一方のヘツドを基準にして他方のヘツドが、
記録トラツクの幅方向に相対的にずれたことと等
価になる。このようなヘツド高さ差をもつたヘツ
ドで、ヘツド高さ差をもたないヘツドで記録した
正規の記録トラツクを再生した時の相対位置関係
を、第11図に示す。詳細な説明は後述するが、
ヘツド高さ差をもつたヘツドでは、第11図に示
す位置で制御系は安定する。
第12図は、第11図に示すヘツド位置におけ
る各信号を示した図である。同図において、実線
で示す各信号は第11図に示すヘツド位置での各
信号を示し、破線で示す各信号は第11図に示す
ヘツド位置から、矢印1101及び1102で示
す方向にミストラツクした時の各信号を示してあ
る。
る各信号を示した図である。同図において、実線
で示す各信号は第11図に示すヘツド位置での各
信号を示し、破線で示す各信号は第11図に示す
ヘツド位置から、矢印1101及び1102で示
す方向にミストラツクした時の各信号を示してあ
る。
実線で示す各信号について、まず説明する。
第11図に示すヘツド位置の時、fHの周波数成
分をもつ信号はA,Bの各ヘツドの走査期間にお
いて常に小レベルであり、3fH成分は常に大レベ
ルとなる。その結果、レベル比較回路の出力は第
13図dに実線で示す変化を示し、Bヘツド走査
期間で反転したトラツキングエラー信号は、eに
実線で示す信号となる。トラツキングエラー信号
はローパスフイルターを通してキヤプスタン制御
系に送られるため、その平均レベルは1/2Vccと
なり、制御系はこの状態で安定する。従つて、第
11図に示すヘツド位置が安定位置と言うことに
なる。
分をもつ信号はA,Bの各ヘツドの走査期間にお
いて常に小レベルであり、3fH成分は常に大レベ
ルとなる。その結果、レベル比較回路の出力は第
13図dに実線で示す変化を示し、Bヘツド走査
期間で反転したトラツキングエラー信号は、eに
実線で示す信号となる。トラツキングエラー信号
はローパスフイルターを通してキヤプスタン制御
系に送られるため、その平均レベルは1/2Vccと
なり、制御系はこの状態で安定する。従つて、第
11図に示すヘツド位置が安定位置と言うことに
なる。
次に、第11図に示す各ヘツドが矢印1101
及び1102方向にミストラツクした時の各信号
について説明する。この時の各信号は、第12図
に破線で示す信号である。すなわち、Aヘツド走
査期間においてはfH成分の信号がさらに小さくな
り、3fH成分の信号が逆に大きくなる。Bヘツド
走査期間においては、反対にfH成分の信号が大き
くなり、3fH成分の信号が小さくなる。その結果、
レベル比較回路の出力は、同図dに破線で示す信
号となる。また、Bヘツド走査期間において、1/
2Vccレベルを中心に反転して得られるトラツキ
ングエラー信号は、同図eに破線で示す信号とな
る。
及び1102方向にミストラツクした時の各信号
について説明する。この時の各信号は、第12図
に破線で示す信号である。すなわち、Aヘツド走
査期間においてはfH成分の信号がさらに小さくな
り、3fH成分の信号が逆に大きくなる。Bヘツド
走査期間においては、反対にfH成分の信号が大き
くなり、3fH成分の信号が小さくなる。その結果、
レベル比較回路の出力は、同図dに破線で示す信
号となる。また、Bヘツド走査期間において、1/
2Vccレベルを中心に反転して得られるトラツキ
ングエラー信号は、同図eに破線で示す信号とな
る。
以上の説明から明らかなように、トラツクずれ
量に相当する電圧変化は、レベル比較回路の出力
においては、各ヘツド走査期間に出力される信号
のレベル差1201として現われ、トラツキング
エラー信号においては、トラツキングエラー信号
のレベル変化の平均DC電位と、1/2Vcc電位との
差電圧1202として現われる。一方、ヘツド高
さ差による電圧変化は、レベル比較回路の出力に
おいては、出力信号の平均DC電位と1/2Vcc電位
との差電圧1203として現われ、トラツキング
エラー信号においては、トラツキングエラー信号
のレベル変化1204として現われる。
量に相当する電圧変化は、レベル比較回路の出力
においては、各ヘツド走査期間に出力される信号
のレベル差1201として現われ、トラツキング
エラー信号においては、トラツキングエラー信号
のレベル変化の平均DC電位と、1/2Vcc電位との
差電圧1202として現われる。一方、ヘツド高
さ差による電圧変化は、レベル比較回路の出力に
おいては、出力信号の平均DC電位と1/2Vcc電位
との差電圧1203として現われ、トラツキング
エラー信号においては、トラツキングエラー信号
のレベル変化1204として現われる。
発明が解決しようとする問題点
第12図eに示すレベル差1204は、ローパ
スフイルタを通過させても完全に除去することは
できず、H・SW周期の変動成分が残る。このた
めキヤプスタンモータの回転数が変動し、画像揺
れなどの問題を発生させる。従つて、ヘツド高さ
差のあるヘツドを用いた時にも、レベル差のない
トラツキングエラー信号を得る必要がある。
スフイルタを通過させても完全に除去することは
できず、H・SW周期の変動成分が残る。このた
めキヤプスタンモータの回転数が変動し、画像揺
れなどの問題を発生させる。従つて、ヘツド高さ
差のあるヘツドを用いた時にも、レベル差のない
トラツキングエラー信号を得る必要がある。
問題点を解決するための手段
本発明では、ヘツドが走査するトラツクの各隣
接トラツクに記録されているパイロツト信号を、
fHと3fHの周波数成分に分離し、分離された各信
号を検波整流し、検波整流した各信号に所定のバ
イアス電圧を与え、バイアス電圧付加後の各信号
のレベルを比較し、A,B各ヘツドの走査期間内
における前記レベル比較後の信号を時分割して抜
き出し、この抜き出した各信号の平均DC電圧を
用いて、前記バイアス電圧を可変する構成をと
る。
接トラツクに記録されているパイロツト信号を、
fHと3fHの周波数成分に分離し、分離された各信
号を検波整流し、検波整流した各信号に所定のバ
イアス電圧を与え、バイアス電圧付加後の各信号
のレベルを比較し、A,B各ヘツドの走査期間内
における前記レベル比較後の信号を時分割して抜
き出し、この抜き出した各信号の平均DC電圧を
用いて、前記バイアス電圧を可変する構成をと
る。
作 用
上記の構成を用いれば、ヘツド高さ差によるト
ラツキングエラー信号の変動成分を取り除くこと
ができるため、不用なキヤプスタンモータの回転
変動をおさえることができ、正確なテープ送りを
実現することができる。
ラツキングエラー信号の変動成分を取り除くこと
ができるため、不用なキヤプスタンモータの回転
変動をおさえることができ、正確なテープ送りを
実現することができる。
実施例
本発明の具体実施例を説明する前に、本発明の
原理についてまず説明する。
原理についてまず説明する。
第9図及び第10図は、検波整流後の信号レベ
ルを示した図である。両図において、f及びjは
H・SW信号である。g及びkは、第12図に示
すb及びcの各波形を検波整流した信号である。
g及びkの信号は、同一電位(例えば零クロス電
位)で検波し、整流した波形を示す。この時、9
01で示す各検波整流信号の差電位はヘツド高さ
差によるものであり、第12図dに1203で示
す値に相当する。第9図hに示す信号は、gに示
す検波整流信号に902で示すバイアス電位を付
加した時の波形である。バイアス電位を付加すれ
ば、h及び1で示す各波形より明らかなようにヘ
ツド高さ差によるレベル差は解消され、903で
示す電位からの各検波整流信号の変化量だけを取
り出すことができる。第12図dを用いて既に説
明したように、ヘツド高さ差は1203で示す各
フイールド間のレベル比較回路出力の平均値とし
て現われ、トラツキングずれ量は、1201で示
す各フイールド間のレベル比較回路出力信号のレ
ベル差として取り出すことができる。すなわち、
1201と1203の各量は、それぞれ独立して
取り出すことができる。従つて、ヘツド高さ差に
相当する量1203が零になるように、前記バイ
アス電位902(第9図)を調整することが可能
である。なお、第9図及び第10図に示す各検波
整流信号のヘツド高さ差によるレベル差は、A,
B各ヘツドの相対的なずれ量及びずれ方向によつ
て決まる。このため、ヘツド高さのずれにより、
gで示す信号レベルがkで示す信号レベルよりも
大きくなることもある。この時の状態をi及びm
に示す。この時には、902とは逆方向のバイア
ス電位904を付加することで、ヘツド高さ差に
よるレベル差を解消することができる。すなわ
ち、fHもしくは3fHのいずれか一方の検波整流信
号にバイアス電位を付加することにより、ヘツド
高さ差の問題が解決できることになる。
ルを示した図である。両図において、f及びjは
H・SW信号である。g及びkは、第12図に示
すb及びcの各波形を検波整流した信号である。
g及びkの信号は、同一電位(例えば零クロス電
位)で検波し、整流した波形を示す。この時、9
01で示す各検波整流信号の差電位はヘツド高さ
差によるものであり、第12図dに1203で示
す値に相当する。第9図hに示す信号は、gに示
す検波整流信号に902で示すバイアス電位を付
加した時の波形である。バイアス電位を付加すれ
ば、h及び1で示す各波形より明らかなようにヘ
ツド高さ差によるレベル差は解消され、903で
示す電位からの各検波整流信号の変化量だけを取
り出すことができる。第12図dを用いて既に説
明したように、ヘツド高さ差は1203で示す各
フイールド間のレベル比較回路出力の平均値とし
て現われ、トラツキングずれ量は、1201で示
す各フイールド間のレベル比較回路出力信号のレ
ベル差として取り出すことができる。すなわち、
1201と1203の各量は、それぞれ独立して
取り出すことができる。従つて、ヘツド高さ差に
相当する量1203が零になるように、前記バイ
アス電位902(第9図)を調整することが可能
である。なお、第9図及び第10図に示す各検波
整流信号のヘツド高さ差によるレベル差は、A,
B各ヘツドの相対的なずれ量及びずれ方向によつ
て決まる。このため、ヘツド高さのずれにより、
gで示す信号レベルがkで示す信号レベルよりも
大きくなることもある。この時の状態をi及びm
に示す。この時には、902とは逆方向のバイア
ス電位904を付加することで、ヘツド高さ差に
よるレベル差を解消することができる。すなわ
ち、fHもしくは3fHのいずれか一方の検波整流信
号にバイアス電位を付加することにより、ヘツド
高さ差の問題が解決できることになる。
次に、本発明の具体実施例について説明する。
第1図は、本発明の具体実施例を示す図であ
る。同図において、端子101からは再生パイロ
ツト信号が入力され、端子103からは参照信号
が入力される。回路102は平衡変調回路、回路
104はfHの同調回路、回路105は3fHの同調
回路、回路106及び107は検波整流回路であ
る。101〜107の各信号及び回路動作は、既
に第18図を用いて説明したものと同じ動作を示
す。回路108及び109はバイアス電位を付加
する回路である。その構成は、例えば演算増幅回
路の正、負いずれか一方の端子に入力信号を供給
し、他方の端子に印加する電位を可変することに
よつて、可変のバイアス回路を簡単に構成するこ
とができる。第1図において、108は固定のバ
イアス回路を示し、109は可変のバイアス回路
を示す。ヘツド高さ差のない装置では、両回路の
バイアス値は等しい。回路110はレベル比較回
路であり、回路108及び109の出力信号のレ
ベル差に応じた信号を出力する。両出力信号レベ
ルが等しい時には、例えば1/2Vccの電位を回路
110は出力する。回路111はA/D変換回
路、113及び114はD/A変換回路、回路1
12は演算回路である。演算回路112は、各ヘ
ツド走査期間におけるレベル比較回路110の出
力信号を時分割に抜き出し、抜き出した少なくと
も2つの信号のレベル差を演算してD/A変換1
14し、トラツキングエラー信号を作成する演算
を行なうと共に、前記抜き出した少なくとも2つ
の信号の平均DC値と、基準電位(例えば1/2
Vcc)とのずれ量を演算する。このずれ量は、
D/A変換回路113を経てバイアス回路109
に供給される。バイアス回路109は、既に本発
明の原理を説明する箇所で述べたように、検波整
流後の信号に付加するバイアス値を前記ずれ量に
応じて可変し、ヘツド高さ差に起因する検波整流
信号のレベル差を解消する働きをする。破線で囲
むブロツク116はマイクロコンピユータを用い
て構成することができるため、112で示す演算
回路の処理もソフトによつて処理することができ
る。
る。同図において、端子101からは再生パイロ
ツト信号が入力され、端子103からは参照信号
が入力される。回路102は平衡変調回路、回路
104はfHの同調回路、回路105は3fHの同調
回路、回路106及び107は検波整流回路であ
る。101〜107の各信号及び回路動作は、既
に第18図を用いて説明したものと同じ動作を示
す。回路108及び109はバイアス電位を付加
する回路である。その構成は、例えば演算増幅回
路の正、負いずれか一方の端子に入力信号を供給
し、他方の端子に印加する電位を可変することに
よつて、可変のバイアス回路を簡単に構成するこ
とができる。第1図において、108は固定のバ
イアス回路を示し、109は可変のバイアス回路
を示す。ヘツド高さ差のない装置では、両回路の
バイアス値は等しい。回路110はレベル比較回
路であり、回路108及び109の出力信号のレ
ベル差に応じた信号を出力する。両出力信号レベ
ルが等しい時には、例えば1/2Vccの電位を回路
110は出力する。回路111はA/D変換回
路、113及び114はD/A変換回路、回路1
12は演算回路である。演算回路112は、各ヘ
ツド走査期間におけるレベル比較回路110の出
力信号を時分割に抜き出し、抜き出した少なくと
も2つの信号のレベル差を演算してD/A変換1
14し、トラツキングエラー信号を作成する演算
を行なうと共に、前記抜き出した少なくとも2つ
の信号の平均DC値と、基準電位(例えば1/2
Vcc)とのずれ量を演算する。このずれ量は、
D/A変換回路113を経てバイアス回路109
に供給される。バイアス回路109は、既に本発
明の原理を説明する箇所で述べたように、検波整
流後の信号に付加するバイアス値を前記ずれ量に
応じて可変し、ヘツド高さ差に起因する検波整流
信号のレベル差を解消する働きをする。破線で囲
むブロツク116はマイクロコンピユータを用い
て構成することができるため、112で示す演算
回路の処理もソフトによつて処理することができ
る。
次に、ブロツク112で示す演算処理の具体実
施例について説明する。
施例について説明する。
第2図は後述するソフト処理の説明の補助図で
あり、nはH・SW信号、oはタイマ割込みのタ
イミング及び割込み回数を示す図、pはマルチト
ラツクPCMとして使用する際の第3トラツクを
再生した時の信号を示した図である。
あり、nはH・SW信号、oはタイマ割込みのタ
イミング及び割込み回数を示す図、pはマルチト
ラツクPCMとして使用する際の第3トラツクを
再生した時の信号を示した図である。
ソフトによる処理は、第3図及び第4図を用い
て説明することができる。
て説明することができる。
第3図はメインルーチンの処理を示すフローチ
ヤートである。同図において、処理301は初期
設定を行なう処理であり、RAMのクリアやトラ
ツキングエラー信号の初期値、バイアス電位の初
期値などを設定する。処理302は、H・SW信
号がAヘツド走査期間であれば処理303以降を
実行し、そうでなければ時間待ちを行なう処理で
ある。処理303は、実際にはH・SW信号がB
ヘツド走査期間からAヘツド走査期間に変化した
時点で実行される。処理303は内部タイマをス
タートさせる処理である。タイマ時間は任意に選
択して良いが、例えば第2図oに示すように、1
フレームを20分割する値に選んでおく。処理30
4はCTで示すRAMをクリアする。処理305
では、H・SW信号がBヘツドの走査期間になる
までの間時間待ちし、Bヘツド走査期間になれば
処理302を実行する。以上がメインルーチンの
処理である。
ヤートである。同図において、処理301は初期
設定を行なう処理であり、RAMのクリアやトラ
ツキングエラー信号の初期値、バイアス電位の初
期値などを設定する。処理302は、H・SW信
号がAヘツド走査期間であれば処理303以降を
実行し、そうでなければ時間待ちを行なう処理で
ある。処理303は、実際にはH・SW信号がB
ヘツド走査期間からAヘツド走査期間に変化した
時点で実行される。処理303は内部タイマをス
タートさせる処理である。タイマ時間は任意に選
択して良いが、例えば第2図oに示すように、1
フレームを20分割する値に選んでおく。処理30
4はCTで示すRAMをクリアする。処理305
では、H・SW信号がBヘツドの走査期間になる
までの間時間待ちし、Bヘツド走査期間になれば
処理302を実行する。以上がメインルーチンの
処理である。
メインルーチンの処理を実行中にタイマ割込み
がかかれば、第4図に示す割込み処理を実行す
る。第4図において、処理401はCTで示す
RAMの内容を+1する。タイマ割込みが発生す
る度にCTの値が+1されるため、CTはタイマ割
込みの回数を記憶することになる。処理402に
より、CTの値が5になれば処理403を実行し、
そうでなければ処理406を実行する。処理40
3はその時間におけるレベル比較回路の出力を読
み、E1で示すRAMに格納する。処理404はト
ラツキングエラー信号の値を記憶している
RAM、Eの値を出力し、処理405はバイアス
電位の値を記憶しているRAM、VSの値を出力
する。電源投入時などの初期には、処理301
(第3図)で設定したE及びVSの初期値を出力す
る。CTの値が5でない時には処理406を実行
し、CTの値が15であれば、処理407以降を実
行する。CTの値が15でなければ、処理404を
実行する。処理407は、その時間におけるレベ
ル比較回路の出力を読み、E2で示すRAMに格納
する。処理408は、記録時のテープ速度と再生
時のそれとが等しい通常再生時か、両テープ速度
が異なる特殊再生時(トリツク)かを判別する処
理である。通常再生時であれば処理409以降を
実行し、特殊再生時であれば処理411を実行す
る。処理409では、E1とE2との各値の差に
1/2Vccの値を加算し、Eで示すRAMに格納す
る。すなわち、処理409を実行することによ
り、トラツキングエラー信号の値が新たに書き変
えられることになる。処理410は、バイアス電
位の値を演算し、VSで示すRAMに新たなバイ
アス電位を記憶させる。バイアス電位は、処理4
10に示すように、E1とE2の値を加算した半分
の値であり、ヘツド高さ差をもたない時には1/2
Vccの値になる。なおバイアス電位を付加する回
路109(第1図)の構成によつては、バイアス
電位VSの値として変化分だけを出力しても良い。
この時のVSの値は、E1とE2の値を加算した
半分の値から基準電位(例えば1/2Vcc)を減算
した値になる。処理410の実行後は、処理40
4以降を実行する。特殊再生時には処理411を
実行するが、その意味するところの詳細な説明は
後述する。
がかかれば、第4図に示す割込み処理を実行す
る。第4図において、処理401はCTで示す
RAMの内容を+1する。タイマ割込みが発生す
る度にCTの値が+1されるため、CTはタイマ割
込みの回数を記憶することになる。処理402に
より、CTの値が5になれば処理403を実行し、
そうでなければ処理406を実行する。処理40
3はその時間におけるレベル比較回路の出力を読
み、E1で示すRAMに格納する。処理404はト
ラツキングエラー信号の値を記憶している
RAM、Eの値を出力し、処理405はバイアス
電位の値を記憶しているRAM、VSの値を出力
する。電源投入時などの初期には、処理301
(第3図)で設定したE及びVSの初期値を出力す
る。CTの値が5でない時には処理406を実行
し、CTの値が15であれば、処理407以降を実
行する。CTの値が15でなければ、処理404を
実行する。処理407は、その時間におけるレベ
ル比較回路の出力を読み、E2で示すRAMに格納
する。処理408は、記録時のテープ速度と再生
時のそれとが等しい通常再生時か、両テープ速度
が異なる特殊再生時(トリツク)かを判別する処
理である。通常再生時であれば処理409以降を
実行し、特殊再生時であれば処理411を実行す
る。処理409では、E1とE2との各値の差に
1/2Vccの値を加算し、Eで示すRAMに格納す
る。すなわち、処理409を実行することによ
り、トラツキングエラー信号の値が新たに書き変
えられることになる。処理410は、バイアス電
位の値を演算し、VSで示すRAMに新たなバイ
アス電位を記憶させる。バイアス電位は、処理4
10に示すように、E1とE2の値を加算した半分
の値であり、ヘツド高さ差をもたない時には1/2
Vccの値になる。なおバイアス電位を付加する回
路109(第1図)の構成によつては、バイアス
電位VSの値として変化分だけを出力しても良い。
この時のVSの値は、E1とE2の値を加算した
半分の値から基準電位(例えば1/2Vcc)を減算
した値になる。処理410の実行後は、処理40
4以降を実行する。特殊再生時には処理411を
実行するが、その意味するところの詳細な説明は
後述する。
処理402及び406で示したCTの値5及び
15は、サンプリング位置を示す。第2図から明ら
かなように、CTの値が5及び15の位置は、各ヘ
ツド走査期間の中央に選んであり、映像信号を記
録再生する通常のVTRでは、CTの値は上記の値
で良い。しかし、8mmビデオでは映像信号の記録
トラツク領域を5分割し、時間圧縮したPCM音
声信号だけを記録再生することが考えられてい
る。この時の再生PCM信号は、例えば第2図p
に示す201〜204の部分でしか得られない。
従つて、レベル比較回路の出力信号も上記の再生
部分でしか正規の値が得られないことになる。こ
のようなPCM信号だけを記録再生するVTRにお
いても、本発明では処理402と406での条件
値5及び15の値を変更するだけで良い。例えば第
2図に示す例では、3と13の値を選べば良いこと
になる。
15は、サンプリング位置を示す。第2図から明ら
かなように、CTの値が5及び15の位置は、各ヘ
ツド走査期間の中央に選んであり、映像信号を記
録再生する通常のVTRでは、CTの値は上記の値
で良い。しかし、8mmビデオでは映像信号の記録
トラツク領域を5分割し、時間圧縮したPCM音
声信号だけを記録再生することが考えられてい
る。この時の再生PCM信号は、例えば第2図p
に示す201〜204の部分でしか得られない。
従つて、レベル比較回路の出力信号も上記の再生
部分でしか正規の値が得られないことになる。こ
のようなPCM信号だけを記録再生するVTRにお
いても、本発明では処理402と406での条件
値5及び15の値を変更するだけで良い。例えば第
2図に示す例では、3と13の値を選べば良いこと
になる。
次に、特殊再生時の処理について説明する。
まず最初に、特殊再生時におけるレベル比較回
路出力の変化について説明する。
路出力の変化について説明する。
第7図は記録磁化軌跡を示し、矢印701は5
倍速再生時のヘツド走査軌跡を示す。第8図はヘ
ツド走査位置とレベル比較回路の出力変化との関
係を示した図である。第8図に示すヘツド走査位
置は、第7図に示す磁化軌跡上をヘツドが走査す
る時の位置に対応するように、目盛を合わせて描
いてある。第8図に示すQ,R,S,Tの各波形
は、前述の平衡変調回路に入力する参照信号をそ
れぞれf1,f2,f3,f4に固定した時のレベル変化
である。レベル比較回路に入力される、fH及び
3fHを検波整流した信号のトラツクずれに対する
変化は、一方が大きくなれば他方は小さくなる。
従つて、いずれか一方の信号の増減を考察すれ
ば、レベル比較回路の出力の増減を知ることがで
きる。本例では、fH成分の信号の増減を例にとり
説明する。
倍速再生時のヘツド走査軌跡を示す。第8図はヘ
ツド走査位置とレベル比較回路の出力変化との関
係を示した図である。第8図に示すヘツド走査位
置は、第7図に示す磁化軌跡上をヘツドが走査す
る時の位置に対応するように、目盛を合わせて描
いてある。第8図に示すQ,R,S,Tの各波形
は、前述の平衡変調回路に入力する参照信号をそ
れぞれf1,f2,f3,f4に固定した時のレベル変化
である。レベル比較回路に入力される、fH及び
3fHを検波整流した信号のトラツクずれに対する
変化は、一方が大きくなれば他方は小さくなる。
従つて、いずれか一方の信号の増減を考察すれ
ば、レベル比較回路の出力の増減を知ることがで
きる。本例では、fH成分の信号の増減を例にとり
説明する。
参照信号がf1の時のレベル比較回路の出力変
化、すなわち第8図Qに示す信号801について
第7図及び第8図を用いて説明する。ヘツドが
A1トラツクの中央に位置する時、すなわち80
3で示す位置の電位802は、オントラツク時の
電位(fHの再生レベルに対応)である。ヘツドが
B1トラツクの中央に位置する時fHの再生レベルは
最も大きく、ヘツドがB2トラツクの中央に位置
する時fHの再生レベルは最も小さくなる。従つ
て、参照信号がf1の時のヘツド走査位置に対する
レベル比較回路の出力変化は、Qに示す変化とな
る。
化、すなわち第8図Qに示す信号801について
第7図及び第8図を用いて説明する。ヘツドが
A1トラツクの中央に位置する時、すなわち80
3で示す位置の電位802は、オントラツク時の
電位(fHの再生レベルに対応)である。ヘツドが
B1トラツクの中央に位置する時fHの再生レベルは
最も大きく、ヘツドがB2トラツクの中央に位置
する時fHの再生レベルは最も小さくなる。従つ
て、参照信号がf1の時のヘツド走査位置に対する
レベル比較回路の出力変化は、Qに示す変化とな
る。
同様に、参照信号がf2の時には、ヘツドがトラ
ツクA1の中央に位置する時fHの再生レベルは最も
大きく、トラツクA2の中央に位置する時は最も
小さくなるため、Rに示す信号となることがわか
る。同様の考え方で、参照信号がf3及びf4の時に
は、S及びTで示す信号の得られることがわか
る。
ツクA1の中央に位置する時fHの再生レベルは最も
大きく、トラツクA2の中央に位置する時は最も
小さくなるため、Rに示す信号となることがわか
る。同様の考え方で、参照信号がf3及びf4の時に
は、S及びTで示す信号の得られることがわか
る。
5倍速再生時のヘツド走査は、例えば701で
示す走査軌跡となる。ヘツドがA1トラツクから
A3トラツクを走査し終わるまでの時間は、1フ
イールド周期(NTSCでは1/60秒)である。この
時、参照信号がf1であれば、レベル比較回路の出
力は803と804との間のレベル変化を示す。
参照信号がf2であれば、805と806との間の
レベル変化を示す。以上のことから、任意のN倍
速時のレベル比較回路の出力変化を推察すること
ができる。
示す走査軌跡となる。ヘツドがA1トラツクから
A3トラツクを走査し終わるまでの時間は、1フ
イールド周期(NTSCでは1/60秒)である。この
時、参照信号がf1であれば、レベル比較回路の出
力は803と804との間のレベル変化を示す。
参照信号がf2であれば、805と806との間の
レベル変化を示す。以上のことから、任意のN倍
速時のレベル比較回路の出力変化を推察すること
ができる。
第5図には、ヘツド高さ差をもつヘツドで5倍
速再生をした時のヘツド走査軌跡を示す。同図に
おいて、501及び502はAヘツド及びBヘツ
ドであり、第11図を用いて既に説明した各ヘツ
ドと、同様のヘツド高さ差をもつものとして描い
てある。すなわち、Aヘツドの幅方向の中心50
3が、記録トラツクの中心505から紙面上で左
にずれている時、Bヘツドの幅方向の中心504
が記録トラツクの中心506から紙面上で右にず
れている状態を示してある。507及び508
は、5倍速再生時の各ヘツドの中心点の走査軌跡
である。
速再生をした時のヘツド走査軌跡を示す。同図に
おいて、501及び502はAヘツド及びBヘツ
ドであり、第11図を用いて既に説明した各ヘツ
ドと、同様のヘツド高さ差をもつものとして描い
てある。すなわち、Aヘツドの幅方向の中心50
3が、記録トラツクの中心505から紙面上で左
にずれている時、Bヘツドの幅方向の中心504
が記録トラツクの中心506から紙面上で右にず
れている状態を示してある。507及び508
は、5倍速再生時の各ヘツドの中心点の走査軌跡
である。
第5図に示す条件でのレベル比較回路出力、及
び従来の方法によるトラツキングエラー信号を第
6図v,wに示す。同図において、uはH・SW
信号、vはレベル比較回路の出力信号、wはBへ
ツド走査期間に得られるレベル比較回路の出力を
1/2Vccレベルに対して反転した、従来の方法に
よるトラツキングエラー信号である。x及びyの
信号は、ヘツド高さ差をもたないヘツドで5倍速
再生を行なつた時の、レベル比較回路出力及びト
ラツキングエラー信号である。なお、uに示す
H・SW信号に記したf1,f2,f3は、各ヘツド走査
時における参照信号を示し、A及びBは走査ヘツ
ドを示す。
び従来の方法によるトラツキングエラー信号を第
6図v,wに示す。同図において、uはH・SW
信号、vはレベル比較回路の出力信号、wはBへ
ツド走査期間に得られるレベル比較回路の出力を
1/2Vccレベルに対して反転した、従来の方法に
よるトラツキングエラー信号である。x及びyの
信号は、ヘツド高さ差をもたないヘツドで5倍速
再生を行なつた時の、レベル比較回路出力及びト
ラツキングエラー信号である。なお、uに示す
H・SW信号に記したf1,f2,f3は、各ヘツド走査
時における参照信号を示し、A及びBは走査ヘツ
ドを示す。
第6図vに示すAヘツド走査期間の信号601
は、参照信号がf1であり、走査開始時のトラツク
上に記録されているパイロツト信号がf1であるた
め、第8図Qに示す信号をもとに描くことができ
る。この場合、Aヘツドの中心が紙面上で左にず
れているため、第8図に示す走査位置803と8
04をその分だけ左にずらした時の信号波形にな
る。同様にして、Bヘツド走査期間の信号602
を描くことができる。wで示す信号は、Bヘツド
走査期間における信号を1/2Vccに対して反転し
た信号である。
は、参照信号がf1であり、走査開始時のトラツク
上に記録されているパイロツト信号がf1であるた
め、第8図Qに示す信号をもとに描くことができ
る。この場合、Aヘツドの中心が紙面上で左にず
れているため、第8図に示す走査位置803と8
04をその分だけ左にずらした時の信号波形にな
る。同様にして、Bヘツド走査期間の信号602
を描くことができる。wで示す信号は、Bヘツド
走査期間における信号を1/2Vccに対して反転し
た信号である。
5倍速再生等の高速再生の時、走査ヘツドと異
なるアジマス角を持つヘツドで録録されたトラツ
ク上を走査する時には再生信号が得られず、その
結果ノイズバーが画面に現われる。高速再生時に
は、前記ノイズバーを画面上で静止させ、画像を
見易くする方法がとられる。その方法は、例えば
第6図w及びyに示すトラツキングエラー信号が
1/2Vccと交差する点の数が、一定時間内(例え
ば1フレーム時間)において定まつた数になるよ
うに制御する方法がある。しかし、第6図wとy
の波形から明らかなように、前述の交差する点の
数は、ヘツド高さ差がある時とない時とでは異な
るため、前述の制御方法を用いることはできな
い。高速再生時にノイズバーを静止させる方法は
他にも考えられるが、スローモーシヨン再生や、
他のトラツキングエラー信号を用いた処理を考え
ればいずれにしてもヘツド高さ差の影響がトラツ
キングエラー信号に現われるのは好ましくない。
従つて、高速再生時にもヘツド高さ差によるレベ
ル変化を取り除くことが必要になる。
なるアジマス角を持つヘツドで録録されたトラツ
ク上を走査する時には再生信号が得られず、その
結果ノイズバーが画面に現われる。高速再生時に
は、前記ノイズバーを画面上で静止させ、画像を
見易くする方法がとられる。その方法は、例えば
第6図w及びyに示すトラツキングエラー信号が
1/2Vccと交差する点の数が、一定時間内(例え
ば1フレーム時間)において定まつた数になるよ
うに制御する方法がある。しかし、第6図wとy
の波形から明らかなように、前述の交差する点の
数は、ヘツド高さ差がある時とない時とでは異な
るため、前述の制御方法を用いることはできな
い。高速再生時にノイズバーを静止させる方法は
他にも考えられるが、スローモーシヨン再生や、
他のトラツキングエラー信号を用いた処理を考え
ればいずれにしてもヘツド高さ差の影響がトラツ
キングエラー信号に現われるのは好ましくない。
従つて、高速再生時にもヘツド高さ差によるレベ
ル変化を取り除くことが必要になる。
ところが、既に説明した方法、すなわち、各ヘ
ツド走査期間におけるレベル比較回路の出力値を
それぞれ抜き取り、抜き取つた各値の平均値に応
じてバイアス電位を変化させる方法は、高速再生
時には適用できない。以下、この点について説明
する。
ツド走査期間におけるレベル比較回路の出力値を
それぞれ抜き取り、抜き取つた各値の平均値に応
じてバイアス電位を変化させる方法は、高速再生
時には適用できない。以下、この点について説明
する。
第6図vに示す時間t1及びt2は、H・SW信号
の各エツジからの一定時間を示す。時刻t1におけ
るレベル比較回路の出力、603及び604の平
均DC電位は、同図から明らかなように、1/2Vcc
電位よりも低い(紙面上で下方)値になる。一
方、時刻t2におけるレベル比較回路の出力、60
5及び606の平均DC電位は、1/2Vcc電位より
も高い値になる。すなわち、レベル比較回路の出
力値を抜き取る位置によつて、その平均DCレベ
ルが変化するため、この時に得られる平均DCレ
ベルを用いてバイアス電位を変化させることは望
ましくない。従つて、特殊再生時には、通常再生
時のバイアス電位の補正値を保持する必要があ
る。
の各エツジからの一定時間を示す。時刻t1におけ
るレベル比較回路の出力、603及び604の平
均DC電位は、同図から明らかなように、1/2Vcc
電位よりも低い(紙面上で下方)値になる。一
方、時刻t2におけるレベル比較回路の出力、60
5及び606の平均DC電位は、1/2Vcc電位より
も高い値になる。すなわち、レベル比較回路の出
力値を抜き取る位置によつて、その平均DCレベ
ルが変化するため、この時に得られる平均DCレ
ベルを用いてバイアス電位を変化させることは望
ましくない。従つて、特殊再生時には、通常再生
時のバイアス電位の補正値を保持する必要があ
る。
第4図に示す処理408及び411には、特殊
再生時の処理を示す。処理408にて通常再生か
特殊再生かを判別し、特殊再生時であれば処理4
11を実行する。処理411は、Aヘツド走査期
間におけるレベル比較回路出力を、H・SW信号
のエツジから一定の時間経たところで抜き取つた
電位E1を、トラツキングエラー信号を記憶させ
るRAM、Eに格納する処理である。この方法
は、第6図に示す例えばt2時間後の電位605
を、トラツキングエラー信号として用いる方法で
ある。再生画像におけるノイズバーの位置が静止
しない時には、第6図に示すuの信号とvの信号
との相対的な時間位置が変化する。このため、一
定時間t2後の位置で抜き取るレベル比較回路の出
力レベルも、ノイズバーの位置によつて変化す
る。従つて、t2時間後で抜き取つた電位を一定に
すれば、ノイズバーの位置を画面上で静止させる
ことができる。
再生時の処理を示す。処理408にて通常再生か
特殊再生かを判別し、特殊再生時であれば処理4
11を実行する。処理411は、Aヘツド走査期
間におけるレベル比較回路出力を、H・SW信号
のエツジから一定の時間経たところで抜き取つた
電位E1を、トラツキングエラー信号を記憶させ
るRAM、Eに格納する処理である。この方法
は、第6図に示す例えばt2時間後の電位605
を、トラツキングエラー信号として用いる方法で
ある。再生画像におけるノイズバーの位置が静止
しない時には、第6図に示すuの信号とvの信号
との相対的な時間位置が変化する。このため、一
定時間t2後の位置で抜き取るレベル比較回路の出
力レベルも、ノイズバーの位置によつて変化す
る。従つて、t2時間後で抜き取つた電位を一定に
すれば、ノイズバーの位置を画面上で静止させる
ことができる。
特殊再生時には、第4図に示す処理410を実
行しない。すなわち、特殊再生前に得られたバイ
アス電位の補正量VSの値が、処理405で出力
されることになる。
行しない。すなわち、特殊再生前に得られたバイ
アス電位の補正量VSの値が、処理405で出力
されることになる。
なおこれまでの説明では、バイアス電位はいず
れか一方のバイアス値を可変する方法について説
明してきたが、必要に応じて両バイアス電位を可
変しても良い。
れか一方のバイアス値を可変する方法について説
明してきたが、必要に応じて両バイアス電位を可
変しても良い。
発明の効果
以上の説明から明らかなように、本発明によれ
ば、各ヘツド走査期間において抜き出したレベル
比較回路出力の平均DC電位を用いて、レベル比
較回路に入力する一方のバイアス電位を可変する
ことにより、ヘツド高さ差によるトラツキングエ
ラー信号のレベル変化を解消することができるた
め、ヘツド高さ差によるキヤプスタンモータの不
用な回転変動を取り除くことができる効果を有す
る。また、通常再生時における補正値を用いて、
特殊再生時における前記ヘツド高さ差による悪影
響を取り除くことにより、トラツクのずれ量にの
み対応したトラツキングエラー信号を得ることが
できる利点を有する。
ば、各ヘツド走査期間において抜き出したレベル
比較回路出力の平均DC電位を用いて、レベル比
較回路に入力する一方のバイアス電位を可変する
ことにより、ヘツド高さ差によるトラツキングエ
ラー信号のレベル変化を解消することができるた
め、ヘツド高さ差によるキヤプスタンモータの不
用な回転変動を取り除くことができる効果を有す
る。また、通常再生時における補正値を用いて、
特殊再生時における前記ヘツド高さ差による悪影
響を取り除くことにより、トラツクのずれ量にの
み対応したトラツキングエラー信号を得ることが
できる利点を有する。
第1図は本発明方法を実施する一具体回路構成
例を示すブロツク図、第2図はタイマ割込みのタ
イミング図、第3図は本発明の一実施例を示すメ
インルーチンのフローチヤート、第4図は本発明
の一実施例を示すタイマ割込み時の処理を示すフ
ローチヤート、第5図はヘツド高さ差をもつヘツ
ドで5倍速再生を行なつた時のヘツド走査軌跡
図、第6図は第5図に示す条件下での各部の波形
図、第7図は記録トラツクと5倍速再生時のヘツ
ド走査軌跡図、第8図は参照信号を固定した時の
ヘツド走査位置とレベル比較回路出力との関係
図、第9図及び第10図は検波整流信号の相対レ
ベルを示す信号図、第11図はヘツド高さ差をも
つヘツドと記録トラツク位置の関係図、第12図
は第11図に示す条件下での各部の信号図、第1
3図はミストラツク時のヘツド位置を示す説明
図、第14図は第13図に示す条件下での各部の
信号図、第15図はオントラツク時のヘツド配置
図、第16図は第15図に示す条件下での各部の
波形図、第17図はパイロツト信号の記録磁化軌
跡図、第18図は従来のトラツキングエラー信号
の作成回路図である。 102……平衡変調回路、104,105……
fH及び3fHの同調回路、fH……水平同期信号周波
数、106,107……検波整流回路、108,
109……バイアス付加回路、110……レベル
比較回路、Vcc……電源電圧。
例を示すブロツク図、第2図はタイマ割込みのタ
イミング図、第3図は本発明の一実施例を示すメ
インルーチンのフローチヤート、第4図は本発明
の一実施例を示すタイマ割込み時の処理を示すフ
ローチヤート、第5図はヘツド高さ差をもつヘツ
ドで5倍速再生を行なつた時のヘツド走査軌跡
図、第6図は第5図に示す条件下での各部の波形
図、第7図は記録トラツクと5倍速再生時のヘツ
ド走査軌跡図、第8図は参照信号を固定した時の
ヘツド走査位置とレベル比較回路出力との関係
図、第9図及び第10図は検波整流信号の相対レ
ベルを示す信号図、第11図はヘツド高さ差をも
つヘツドと記録トラツク位置の関係図、第12図
は第11図に示す条件下での各部の信号図、第1
3図はミストラツク時のヘツド位置を示す説明
図、第14図は第13図に示す条件下での各部の
信号図、第15図はオントラツク時のヘツド配置
図、第16図は第15図に示す条件下での各部の
波形図、第17図はパイロツト信号の記録磁化軌
跡図、第18図は従来のトラツキングエラー信号
の作成回路図である。 102……平衡変調回路、104,105……
fH及び3fHの同調回路、fH……水平同期信号周波
数、106,107……検波整流回路、108,
109……バイアス付加回路、110……レベル
比較回路、Vcc……電源電圧。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 情報信号と、トラツキング制御用の4種類の
パイロツト信号とが記録されている磁気テープを
再生し、前記パイロツト信号から、磁気ヘツドと
記録トラツクとの相対的な位置ずれを示すトラツ
キングエラー信号を作成するに際し、再生される
パイロツト信号と参照信号とを乗算し、乗算後の
信号から異なる周波数成分をもつ第1及び第2の
信号を取り出し、各信号を検波整流し、検波整流
後の各信号に個々にバイアス電位を付加し、バイ
アス電位付加後の各信号のレベル比較を行い、レ
ベル比較後の信号レベルを、異なるパイロツト信
号が記録されている期間においてサンプリング
し、前記サンプリングしたデータを平均し、前記
バイアス電位を付加する各信号のいずれか一方の
バイアス電位を、前記平均したデータに応じて可
変することを特徴とするトラツキングエラー信号
の作成方法。 2 記録時と再生時とのテープ速度が異なる特殊
再生時には、通常再生時に決定したバイアス値を
保持することを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載のトラツキングエラー信号の作成方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60167914A JPS6228955A (ja) | 1985-07-30 | 1985-07-30 | トラツキングエラ−信号の作成方法 |
KR1019860006025A KR910000569B1 (ko) | 1985-07-30 | 1986-07-24 | 트래킹에러신호의 작성회로 |
US06/889,926 US4816930A (en) | 1985-07-30 | 1986-07-28 | Tracking control for a tape using pilot signals |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60167914A JPS6228955A (ja) | 1985-07-30 | 1985-07-30 | トラツキングエラ−信号の作成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6228955A JPS6228955A (ja) | 1987-02-06 |
JPH0259540B2 true JPH0259540B2 (ja) | 1990-12-12 |
Family
ID=15858387
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60167914A Granted JPS6228955A (ja) | 1985-07-30 | 1985-07-30 | トラツキングエラ−信号の作成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6228955A (ja) |
-
1985
- 1985-07-30 JP JP60167914A patent/JPS6228955A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6228955A (ja) | 1987-02-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0570219B2 (ja) | ||
US5680499A (en) | Time-lapse video cassette recorder | |
US4599660A (en) | Video signal reproducing apparatus | |
JPH0259540B2 (ja) | ||
US4816930A (en) | Tracking control for a tape using pilot signals | |
JPS61114673A (ja) | 信号記録再生方式 | |
JPH0259541B2 (ja) | ||
JPH0315270B2 (ja) | ||
EP0357352B1 (en) | Video signal recording/reproducing apparatus | |
JPS5936358A (ja) | 磁気記録再生装置のトラツキング方式 | |
JPH0138761Y2 (ja) | ||
JP2751803B2 (ja) | 信号再生装置 | |
JPS6130338B2 (ja) | ||
JPH06338106A (ja) | トラッキング制御装置 | |
JPH03168957A (ja) | 4周波パイロット方式のトラッキング回路 | |
JPS6214154B2 (ja) | ||
JPS62110658A (ja) | トラツキングエラ−信号の作成方法 | |
JPH0243880A (ja) | 磁気録画再生装置のスチル再生方法 | |
JPS62248155A (ja) | トラツキング制御方法 | |
JPH0259534B2 (ja) | ||
JPH0311596B2 (ja) | ||
JPS61145752A (ja) | トラツキング制御装置 | |
JPS63107384A (ja) | 回転ヘツド型vtr | |
JPS6228485B2 (ja) | ||
JPH02274078A (ja) | 磁気記録再生装置 |