JPH02266563A - ゲートアレイの基本セル - Google Patents
ゲートアレイの基本セルInfo
- Publication number
- JPH02266563A JPH02266563A JP8673689A JP8673689A JPH02266563A JP H02266563 A JPH02266563 A JP H02266563A JP 8673689 A JP8673689 A JP 8673689A JP 8673689 A JP8673689 A JP 8673689A JP H02266563 A JPH02266563 A JP H02266563A
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- Japan
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- gate electrode
- basic cell
- gate
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- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 3
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000001010 compromised effect Effects 0.000 description 1
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
この発明は、マスク・スライス方式を適用して製造され
るゲートアレイの基本セルに関する。
るゲートアレイの基本セルに関する。
従来のゲートアレイとしては、例えば第4図に示すごと
きものがある(例えば、特開昭57−100746号に
記載)。
きものがある(例えば、特開昭57−100746号に
記載)。
ゲートアレイICとは、第4図に示すごとく、一つの半
導体チップ1中に複数のトランジスタや抵抗から成る基
本セル4を予め大量に形成したゲートアレイを作製して
おき、必要品種に応じて配線マスクを作製し、これを用
いてトランジスタや抵抗間を接続する加工を施して所望
の動作をするrCを完成させるものである。
導体チップ1中に複数のトランジスタや抵抗から成る基
本セル4を予め大量に形成したゲートアレイを作製して
おき、必要品種に応じて配線マスクを作製し、これを用
いてトランジスタや抵抗間を接続する加工を施して所望
の動作をするrCを完成させるものである。
基本セル4は一方向に規則正しく基本セル列として複数
列数べられており、基本セル列間は配線領域としている
。
列数べられており、基本セル列間は配線領域としている
。
第5図は、従来の基本セルの構成を示す平面図である。
第5図において、5および6はポリシリコンのゲート電
極、7PはP形拡散領域、7NはD形拡散領域、8はP
形つェル領域であり、P工とP2の2個のp形トランジ
スタおよびN1とN2の2個のn形トランジスタがそれ
ぞれ形成されている。また、91.91’〜96.96
’はそれぞれソースまたはトレインのコンタクトである
。
極、7PはP形拡散領域、7NはD形拡散領域、8はP
形つェル領域であり、P工とP2の2個のp形トランジ
スタおよびN1とN2の2個のn形トランジスタがそれ
ぞれ形成されている。また、91.91’〜96.96
’はそれぞれソースまたはトレインのコンタクトである
。
第6図は上記の基本セルの等価回路図であり。
第5図と同符号は同一物を示す。
第6図から判るように、上記の基本セルは、4つのトラ
ンジスタで構成され、各コンタクトをアルミ配線で接続
することにより、所望の回路を形成することが出来る様
になっている。
ンジスタで構成され、各コンタクトをアルミ配線で接続
することにより、所望の回路を形成することが出来る様
になっている。
上記のごとき基本セルにおいては、汎用性を高めるため
に、あらゆる回路構成に対応することが出来る様にする
ため、そのトランジスタパターンとして、ゲート電極5
.6およびソース・ドレイン領域がストレートな形状を
採用しており、コンタクト9・1〜96の配設位置に自
由度をもたせている。
に、あらゆる回路構成に対応することが出来る様にする
ため、そのトランジスタパターンとして、ゲート電極5
.6およびソース・ドレイン領域がストレートな形状を
採用しており、コンタクト9・1〜96の配設位置に自
由度をもたせている。
そのため、基本セルの幅W□は、少なくともコンタクト
3個とゲート電極2本が形成出来る寸法で制限されるこ
とになる。
3個とゲート電極2本が形成出来る寸法で制限されるこ
とになる。
第7図は、上記のごとき基本セルを複数個使用して構成
したマクロセルのロジック回路の一例を示す図であり、
第8図は第7図のロジック回路を実現したマクロセルの
パターン図である。
したマクロセルのロジック回路の一例を示す図であり、
第8図は第7図のロジック回路を実現したマクロセルの
パターン図である。
上記のロジック回路は、2つの基本セルを用いて楕成し
、各コンタクトをアルミ配線10で結線することによっ
て構成されている。
、各コンタクトをアルミ配線10で結線することによっ
て構成されている。
なお、基本セルの各トランジスタ(PL、P2、N1、
N2)の幅は、高速動作を確保するため、成る程度広く
設計されており(例えば、設計における寸法規定の2μ
ルールでは、W/L=40μ/2μ程度)、マクロセル
内の配線スペースは充分な余裕が設けられている。
N2)の幅は、高速動作を確保するため、成る程度広く
設計されており(例えば、設計における寸法規定の2μ
ルールでは、W/L=40μ/2μ程度)、マクロセル
内の配線スペースは充分な余裕が設けられている。
上記のように、従来の基本セルにおいては、基本セルの
幅W、すなわち基本セル列の並び方向の寸法(ゲート電
極の長さ方向と直角の方向)が。
幅W、すなわち基本セル列の並び方向の寸法(ゲート電
極の長さ方向と直角の方向)が。
少なくともコンタクト3個とゲート電極2本が形成出来
るだけの寸法ルールによって制限される構成となってい
たため、基本セルのサイズを小型化することが困難であ
り、そのためゲートアレイICのチップサイズの小型化
や高集積化およびコストダウンが困難である、という問
題、−気があった。
るだけの寸法ルールによって制限される構成となってい
たため、基本セルのサイズを小型化することが困難であ
り、そのためゲートアレイICのチップサイズの小型化
や高集積化およびコストダウンが困難である、という問
題、−気があった。
本発明は、上記のごとき従来技術の問題を解決するため
になされたものであり、ゲートアレイICのチップサイ
ズの小型化や高集積化が可能であり、かつそれによって
コストダウンも可能なケートアレイの基本セルを提供す
ることを目的とする。
になされたものであり、ゲートアレイICのチップサイ
ズの小型化や高集積化が可能であり、かつそれによって
コストダウンも可能なケートアレイの基本セルを提供す
ることを目的とする。
上記の目的を達成するため、本発明においては、特許請
求の範囲に記載するように構成している。
求の範囲に記載するように構成している。
すなわち、本発明は、ゲート電極を屈曲して凸部を設け
、それぞれのソース・ドレインのコンタクトをゲート電
極の長さ方向(基本セルの幅方向と直角方向)に配列す
るように構成することにより、基本セルの幅Wを従来よ
りもコンタクト2個の形成寸法骨だけ縮めることが出来
るようにしたものである。
、それぞれのソース・ドレインのコンタクトをゲート電
極の長さ方向(基本セルの幅方向と直角方向)に配列す
るように構成することにより、基本セルの幅Wを従来よ
りもコンタクト2個の形成寸法骨だけ縮めることが出来
るようにしたものである。
第1図は、本発明の一実施例の平面図であり、第2図は
その等価回路である。
その等価回路である。
第1図において、7pはP形拡散領域、7Nはn形拡散
領域、8はP形つェル領域である。また。
領域、8はP形つェル領域である。また。
51および61はポリシリコンのゲート電極であり、1
01〜108はそれぞれソース又はドレインのコンタク
トである。
01〜108はそれぞれソース又はドレインのコンタク
トである。
ゲート電極51および61は、図示のごとく。
直線状ではなく、途中が屈曲して各々2個の凸部を有し
た形状をしている。そしてゲート電極61の凸部はゲー
ト電極51の凸部の内側に一部が入る位置に形成されて
いる。
た形状をしている。そしてゲート電極61の凸部はゲー
ト電極51の凸部の内側に一部が入る位置に形成されて
いる。
また、上記の各ゲート電極の凸部の内側および外側には
ソース領域またはドレイン領域が設けられ、それらのコ
ンタクト101〜108が形成されている。そしてゲー
ト電極51の凸部の内側にはコンタクト103と107
が、外側にはコンタクト101.102.105および
106が形成され5それらはゲート電極の長さ方向に配
列されている。また、ゲート電極61の凸部には、その
内側にのみコンタクト104および108が形成されて
いる。
ソース領域またはドレイン領域が設けられ、それらのコ
ンタクト101〜108が形成されている。そしてゲー
ト電極51の凸部の内側にはコンタクト103と107
が、外側にはコンタクト101.102.105および
106が形成され5それらはゲート電極の長さ方向に配
列されている。また、ゲート電極61の凸部には、その
内側にのみコンタクト104および108が形成されて
いる。
また、ゲート電極5]−の一部がフィールド酸化膜」二
に出ているため、この基本セルにおいては、p形トラン
ジスタがP□0、P1□およびP2□の3個、n形トラ
ンジスタがN、i、N工2およびN2□の3個と合計6
個のトランジスタが形成されており1等価回路は第2図
に示すようになる。第2図において、破線で示した部分
を接続すれば、P形l−ランジスタP1□とPI3とが
並列接続、n形トランジスタN工、とN1□とが並列接
続され、前記第6図に示した従来の等価回路と同一にな
る。
に出ているため、この基本セルにおいては、p形トラン
ジスタがP□0、P1□およびP2□の3個、n形トラ
ンジスタがN、i、N工2およびN2□の3個と合計6
個のトランジスタが形成されており1等価回路は第2図
に示すようになる。第2図において、破線で示した部分
を接続すれば、P形l−ランジスタP1□とPI3とが
並列接続、n形トランジスタN工、とN1□とが並列接
続され、前記第6図に示した従来の等価回路と同一にな
る。
なお、製造技術等、その他の点は従来と同様である。
次に作用を説明する。
第1図に示すごとく、本実施例においては、ゲート電極
51と61を屈曲させて、ソースおよびドレインのコン
タクトの配設位置を、ゲート電極の長さ方向(基本セル
の長さ方向)に配列するように形成している。このため
、基本セルの幅W2は、ゲート電極51および61の幅
と、コンタクト1個分の寸法およびソース・トレイン幅
のみで決まるため、従来に比べてコンタクト領域2個分
だけ短縮することが出来、大幅に小型化することが可能
となる。例えば、3μルールの場合であれば、従来33
μ程度必要であった幅が本実施例によれば23μとなり
、30%小型化することが出来る。
51と61を屈曲させて、ソースおよびドレインのコン
タクトの配設位置を、ゲート電極の長さ方向(基本セル
の長さ方向)に配列するように形成している。このため
、基本セルの幅W2は、ゲート電極51および61の幅
と、コンタクト1個分の寸法およびソース・トレイン幅
のみで決まるため、従来に比べてコンタクト領域2個分
だけ短縮することが出来、大幅に小型化することが可能
となる。例えば、3μルールの場合であれば、従来33
μ程度必要であった幅が本実施例によれば23μとなり
、30%小型化することが出来る。
なお、トランジスタサイズは従来と同等に保つことが出
来るので、ICの動作スピードの低下等の悪影響が生じ
るおそれはない。
来るので、ICの動作スピードの低下等の悪影響が生じ
るおそれはない。
第3図は、第1図の基本セルを用いて前記第7図のロジ
ック回路を実現したマクロセルのパターン例を示す図で
ある。
ック回路を実現したマクロセルのパターン例を示す図で
ある。
第3図から判るように、本実施例においては。
汎用性も損なわれることがない。
なお1本実施例においては、前記第2図の等価回路で示
したように、ゲート電極51で形成されているトランジ
スタが従来より1組多いため、マクロセル作成時に独立
して利用することも出来る。
したように、ゲート電極51で形成されているトランジ
スタが従来より1組多いため、マクロセル作成時に独立
して利用することも出来る。
そのためゲート使用率の向上を図ることも出来るという
利点がある。
利点がある。
以上説明してきたように、この発明によれば、ゲート電
極を屈曲させて、ソースおよびドレインのコンタクトの
配設位置を基本セルの長さ方向に配列するように構成し
たことにより、従来に比へ店番セルの幅を大幅に縮小す
ることが可能となり、そのためゲートアレイICの大幅
な小型化と高集積化が容易に実現出来る、という優れた
効果が得られる。
極を屈曲させて、ソースおよびドレインのコンタクトの
配設位置を基本セルの長さ方向に配列するように構成し
たことにより、従来に比へ店番セルの幅を大幅に縮小す
ることが可能となり、そのためゲートアレイICの大幅
な小型化と高集積化が容易に実現出来る、という優れた
効果が得られる。
第1図は本発明の一実施例の平面図、第2図は第1図の
等価回路図、第3図は第1図の基本セルを用いて構成し
たマクロセルの一実施例の平面図、第4図は従来のゲー
トアレイICの一例の平面図、第5図は従来の基本セル
の一例の平面図、第6図は第5図の等価回路図、第7図
は基本セルで構成するロジック回路の一例図、第8図は
第7図のロジック回路を構成したマクロセルの一例の平
面図である。 〈符号の説明〉 7P・・・P形拡散領域 7N・・・n形拡散領域 8・・・P形つェル領域 10・・・アルミ配線 51.61・・・ポリシリコンのゲート電極io1〜1
08・・・ソースまたはドレインのコンタクト
等価回路図、第3図は第1図の基本セルを用いて構成し
たマクロセルの一実施例の平面図、第4図は従来のゲー
トアレイICの一例の平面図、第5図は従来の基本セル
の一例の平面図、第6図は第5図の等価回路図、第7図
は基本セルで構成するロジック回路の一例図、第8図は
第7図のロジック回路を構成したマクロセルの一例の平
面図である。 〈符号の説明〉 7P・・・P形拡散領域 7N・・・n形拡散領域 8・・・P形つェル領域 10・・・アルミ配線 51.61・・・ポリシリコンのゲート電極io1〜1
08・・・ソースまたはドレインのコンタクト
Claims (1)
- 第1のゲート電極と第2のゲート電極とが平行に配設さ
れ、ソース或いはドレインを共有する複数のトランジス
タが形成されたp形トランジスタ領域と、トランジスタ
の極性以外は上記p形トランジスタ領域と同じ構成のn
形トランジスタ領域とを備えたゲートアレイの基本セル
において、該第1および第2のゲート電極の一部を平面
上で屈曲させて凸部を形成し、かつ上記第2のゲート電
極の凸部は上記第1のゲート電極の凸部の内側に一部が
入る位置に形成し、また、上記第1のゲート電極の凸部
の内側および外側にソースまたはドレインのコンタクト
領域を設けることによって該複数のコンタクト領域をゲ
ート電極の長さ方向に配列し、かつ上記第2のゲート電
極の凸部の内側にソースまたはドレインのコンタクト領
域を設けたことを特徴とするゲートアレイの基本セル。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1086736A JP2800244B2 (ja) | 1989-04-07 | 1989-04-07 | ゲートアレイの基本セル |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1086736A JP2800244B2 (ja) | 1989-04-07 | 1989-04-07 | ゲートアレイの基本セル |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02266563A true JPH02266563A (ja) | 1990-10-31 |
JP2800244B2 JP2800244B2 (ja) | 1998-09-21 |
Family
ID=13895104
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1086736A Expired - Lifetime JP2800244B2 (ja) | 1989-04-07 | 1989-04-07 | ゲートアレイの基本セル |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2800244B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100228373B1 (ko) * | 1995-07-11 | 1999-11-01 | 김영환 | 모스 트랜지스터 |
KR100274441B1 (ko) * | 1991-04-08 | 2000-12-15 | 윌리엄 비. 켐플러 | 게이트 어레이 기부 셀 및 이의 형성 방법 |
DE102004007398A1 (de) * | 2004-02-16 | 2005-09-08 | Infineon Technologies Ag | Konfigurierbare Gate-Array-Zelle mit erweitertem Poly-Gate-Anschluss |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5866343A (ja) * | 1981-10-16 | 1983-04-20 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
-
1989
- 1989-04-07 JP JP1086736A patent/JP2800244B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5866343A (ja) * | 1981-10-16 | 1983-04-20 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100274441B1 (ko) * | 1991-04-08 | 2000-12-15 | 윌리엄 비. 켐플러 | 게이트 어레이 기부 셀 및 이의 형성 방법 |
KR100228373B1 (ko) * | 1995-07-11 | 1999-11-01 | 김영환 | 모스 트랜지스터 |
DE102004007398A1 (de) * | 2004-02-16 | 2005-09-08 | Infineon Technologies Ag | Konfigurierbare Gate-Array-Zelle mit erweitertem Poly-Gate-Anschluss |
US7183594B2 (en) | 2004-02-16 | 2007-02-27 | Infineon Technologies Ag | Configurable gate array cell with extended poly gate terminal |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2800244B2 (ja) | 1998-09-21 |
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