JPH02236673A - 論理回路図検証装置 - Google Patents

論理回路図検証装置

Info

Publication number
JPH02236673A
JPH02236673A JP1058096A JP5809689A JPH02236673A JP H02236673 A JPH02236673 A JP H02236673A JP 1058096 A JP1058096 A JP 1058096A JP 5809689 A JP5809689 A JP 5809689A JP H02236673 A JPH02236673 A JP H02236673A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit diagram
verification
attributes
verified
fan
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1058096A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsuyuki Kitamura
勝之 北村
Shinichi Fujimoto
藤本 愼一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rohm Co Ltd filed Critical Rohm Co Ltd
Priority to JP1058096A priority Critical patent/JPH02236673A/ja
Publication of JPH02236673A publication Critical patent/JPH02236673A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ この発明は、C A E (Cosputer Aid
ed Englneer1ng)によって作製したLS
I等の論理回路図の検証装置、特に必要な項目を効率的
に検証するものに関する。
[従来の技術コ 近年の半導体技術の飛躍的な進歩に伴ない、凹路の大規
模化が進み、その回路設計もコンピュータを利用して行
われるようになってきている。このような回路設計は、
通常C A E (Cosputer A1ded E
ng1neer1ng)装置によって行われており、対
話形式でデータを入力しながら行われている。
そして、CAE装置によって作製された回路も作製後に
検証しなければならない。しかし、大規模な回路の検証
は人手で行っていたのでは、非常に効率が悪いため、こ
の検証もある程度コンピュータに行わせるようになって
きている。例えば、未接続の配線等のチェックは回路図
作製時においてCAE装置が指摘するようにブログラグ
が組まれている場合が多く、また各種回路動作のチェツ
クもCAE装置におけるシミュレーションによって行わ
れている。
〔発明が解決しようとする課題] しかし、素子の属性やファンイン(論理素子などに並列
接続できる入力信号線の数)、ファンアウト(論理素子
などに並列接続できる入力信号線の数)等回路特有の属
性のチェックは一般性がないため、コンピュータにて簡
単に行うことはできないという問題点があった。また、
これをチェックするためのプログラムを作製すれば、チ
ェックすることを可能であるが、このプログラムには汎
用性がなく、特定の回路図しかチェックできない等の問
題点があった。
また、大規模な回路の検証を行うことのできる検証装置
もある程度提案されてはいるが、特定の記述方式の回路
図しか検証できなかったり、他の装置による検証後であ
ってもチェック機能の選択ができないためにすでに検証
したことについてももう一度検証してしまう等の問題点
があった。
この発明は、上述のような問題点を解決することを課題
としてなされたものであり、必要な検証対象について適
確な検証を簡単に行える論理回路図検証装置を提供する
ことを1的とする。
[課題を解決するための手段] 上記目的を解決するために、この発明は、論理回路図作
製手段と、この論理回路図作製手段によって作製された
論理回路図の中から論理素子属性、各論理素子の入出力
端子の属性、各論理素子同士の接続関係等の検証の対象
となる回路情報を抽出する手段と、検証を行う対象を指
定するとともに、その対Iの属性についてのパラメータ
を供給するルール記憶手段と、ルール記憶手段に記憶さ
れている検証対象についての属性を抽出する手段と、抽
出した属性とパラメータを比較し、属性の適否を検出す
る手段と、を有し、検証対象毎に検証を行うことを特徴
とする。
[作用] この発明に係る論理回路図検証装置は、上述のような構
成を有しており、ルール記憶手段に検証を行う対象及び
その対象についての検証に必要な属性などを記憶する。
そして、ルール記憶手段において指定された検証対象に
ついての属性を抽出し、これをルール記憶手段に記憶さ
れているパラメータと比較する。
従って、ルール記憶手段に記憶する対象の内容を書換え
ることによって、検証対象の選択を行うことができる。
また、検証対象毎に属性を抽出し、検証を行うため、そ
の動作に汎用性があり、異なった記述方式の回路図の検
証も容品に行うことができる。
[実施例] 以下、この発明の一実施例に係る論理回路図検証装置に
ついて、図面に基づいて説明する。
第1図は、概略構成を示すブロックであり、回路図作製
部10及びこの回路図作製部で作製された回路図を記憶
する回路図データファイル12が通常のCAE装置に当
る。そして、この発明に係る回路図検証装置は、ハード
としては通常CAE装置に組み込まれており、CAE装
置(回路図作製部10)のCPUを利用することができ
るが、専用のプログラムによって動作する検証部分14
とこの検証部分14にルールを供給するルールファイル
16からなっている。
そして、検証部分14における検証の結果は、エラーテ
ーブル18に出力されるとともに、検証部分14は結果
に応じて修正用コマンドファイルにもアクセスする。す
なわち、検証部分l4は検証によって得られたエラーの
種類に応じて、修正用コマンドファイル20にアクセス
し、対応する修正コマンドを読出し、これを回路図作製
部10に供給する。そこで、回路図作製部10において
は、供給された修正コマンドに応じて回路図の修正が行
える。
次に、第2図に基づいて検証部分14の動作について説
明する。
検証部分14は、回路図データファイル12に記憶され
ている回路図データの中から検証に必要な接続情報を抽
出し、これを読み込む(S1)。
ここで、この接続情報は、素子の名称、素子の属性、素
子の入出力端に接続されるネットの名称、ネットの接続
先、素子の入力端のファンイン値、素子の出力端のファ
ンアウト値等である。
次に検証部分14は、ルールファイル16から検証項目
(チェック項目及びそのチェック項目における属性値等
のパラメータ)を読み込む。ここで、このノレーノレフ
ァイル16には、チェック項目、パラメータを予め書き
込んでおく必要がある。通常の場合は、CAE装置にお
けるキーボード等を利用して書き込む。そして、このル
ールファイル16への書込みの際にチェック項目を自由
に選択できるため、必要な項目のみを指定することがで
きる。例えば、素子の属性のチェックだけを行いたい場
合であれば、これのみを記載すればよい。
第2図の例では素子の属性のチェックとファンイン、フ
ァンアウト等のネットの付いている端子の属性のチェッ
クを行っている。
そして、この例では、最初に素子の属性のチェックを行
うため、接続情報の中から素子の属性を抽出する(S3
)。すなわち、素子の名称(素子名)、その素子がどの
ライブラリに属するか等の素子についての属性を抽出す
る。
次に、この抽出した属性とルールファイル16から読み
込んだ素子の属性についてのバラメーZと抽出した属性
を比較する(S4)。ここで、この属性は、例えば素子
の名称であり、第3図に示す論理回路図の例によれば、
ND1〜ND4がその属性となる。
そして、属性が正しくなかった場合には、その属性につ
いてエラーがあったことについてエラーテーブル18に
出力するとともに、修正コマンドを回路図作製部10に
供給する(S5)。
このエラーについての出力をした後、又は素子名等の属
性が正しかった場合には、属性のチェックを全素子につ
いて行ったかを検証(チェック)する(S6)。そして
、全素子チェックしていない場合は、素子の属性抽出(
S3)に戻るため、全素子についての属性のチェックが
行われることになる。
このようにして、全素子について素子の属性のチェック
を行い、エラーがあった時はそのことについての情報を
エラーテーブル18に出力され、また修正コマンドによ
って回路図の修正も行うことができる。
次に、他の検証対象についての検証を行うが、配線(ネ
ット)のついている端子の属性を抽出する(S7)。こ
こで、この端子の属性とは、第3図に示す論理素子の入
力端子におけるファンイン値、出力端子におけるファン
アウト値である。これらのファンイン、ファンアウ1・
値は素子の能力によって決定されるため、素子名によっ
て一義的に決まっている。
このように端子の属性を抽出した場合には、次にその属
性の検証(チェック)を行う(S8)。
すなわち、上述のように端子の属性は、素子によって決
定されるため、これが素子ごとにパラメータとしてルー
ルファイル1に記載されている。そこで、このパラメー
タと実際にその端子に接続されているネット数を比較し
て、ファンイン、ファンアウトの正否を判断することが
できる。従って、検証部分14は回路図において端子に
接続されているネットをカウントし、これをパラメータ
と比較することによって、属性(例えばファンイン、フ
ァンアウト)の検証を行う。
そして、エラー、例えば回路図における端子に接続され
たネット数がファンイン、ファンアウト値をこえている
場合には、エラーコマンド、修正コマンドを出力(S9
)Lた後、エラーがなかった場合にはそのまま全ネット
チェックしたかのチェック(S 1 0)に移る。そし
て、これを全ネ・ソトについて行うまで繰り返すため、
すべての端子の検証を行うことができる。
このようにして、ファンイン、ファンアウト等の検証を
行うことができるが、例えば、第4図に示すような論理
回路の場合には、素子SDIのファンアウト値は「2」
に設定されている。ところがこの素子NDIの出力端子
に接続されたネットN1は2つのナンド回路と1つのイ
ンバータに接続されており、この回路におけるファンア
ウト値は「3」である。従って、検証部分14は上述の
動作における属性チェック工程(S8)においてこれを
エラーとして検出し、エラーテーブル18に出力すると
ともに、修正コマンドを回路図作製部10に供給するこ
とができる(S9)。
このように、この実施例によれば、ルールに記載するチ
ェック項目によって、これが検証部分の動作におけるス
イッチとして働き、その項目の検証のみが行える。この
ため、ルールテーブル16の記載を変更することによっ
て、検証を行う項目を任意に設定することができる。従
って、不要な検証動作を省略することが可能となる。さ
らに、LSIの種別(テクノロジー)の変更や、後工程
であるC A D (CoIIputer Aided
 Dcslgn )の変更に対しても、ルールの記載の
変更により柔軟に対処できるという効果が得られる。
なお、検証項目としては、上述の例の他に、出力端子の
未接続を検出するオーブンピンチェック、入力端子の未
接続を検出するフローティングビンチェック、配線の未
接続を検出するフローティングネットチェック等がある
[発明の効果] 以上説明したように、この発明に係る論理回路図検証装
置によれば、ルール記憶手段に記憶する対象の内容を書
換えることによって、検証対象の選択を行うことができ
る等の効果が得られる。また、検証対象毎に属性を抽出
し、検証を行うため、その動作に汎用性があり、異なっ
た記述方式の回路図の検証も容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例に係る論理回路図検証装置
の概略構成を示すブロック図、第2図は同実施例におけ
る動作を説明するためのフローチャート図、 第3図は検証の対象となる論理回路図の一例を示す回路
図、 第4図は検証の対象となる論理回路図の他の一例を示す
回路図である。 10 ・・・ 回路図作製部 12 ・・・ 回路図データファイル 14 ・・・ 検証部分 16 ・・・ ルールファイル(ルール記憶手段)18
 ・・・ エラーテーブル

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)論理回路図作製手段と、 この論理回路図作製手段によって作製された論理回路図
    の中から論理素子属性、各論理素子の入出力端子の属性
    、各論理素子同士の接続関係等の検証の対象となる回路
    情報を抽出する手段と、検証を行う対象を指定するとと
    もに、その対象の属性についてのパラメータを供給する
    ルール記憶手段と、 ルール記憶手段に記憶されている検証対象についての属
    性を抽出する手段と、 抽出した属性とパラメータを比較し、属性の適否を検出
    する手段と、 を有し、 検証対象毎に検証を行うことを特徴とする論理回路図検
    証装置。
JP1058096A 1989-03-09 1989-03-09 論理回路図検証装置 Pending JPH02236673A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1058096A JPH02236673A (ja) 1989-03-09 1989-03-09 論理回路図検証装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1058096A JPH02236673A (ja) 1989-03-09 1989-03-09 論理回路図検証装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02236673A true JPH02236673A (ja) 1990-09-19

Family

ID=13074422

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1058096A Pending JPH02236673A (ja) 1989-03-09 1989-03-09 論理回路図検証装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02236673A (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63148373A (ja) * 1986-12-12 1988-06-21 Nec Corp 回路図デ−タの管理方式
JPH02204867A (ja) * 1989-02-02 1990-08-14 Fujitsu Ltd 回路チェック方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63148373A (ja) * 1986-12-12 1988-06-21 Nec Corp 回路図デ−タの管理方式
JPH02204867A (ja) * 1989-02-02 1990-08-14 Fujitsu Ltd 回路チェック方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7990375B2 (en) Virtual view schematic editor
US4635208A (en) Computer-aided design of systems
US6378110B1 (en) Layer-based rule checking for an integrated circuit layout
EP0404482B1 (en) Simulation of selected logic circuit designs
US6910200B1 (en) Method and apparatus for associating selected circuit instances and for performing a group operation thereon
US8037436B2 (en) Circuit verification apparatus, a method of circuit verification and circuit verification program
JPH05256901A (ja) 回路の論理機能の判定方法
US7076410B1 (en) Method and apparatus for efficiently viewing a number of selected components using a database editor tool
JPH02236673A (ja) 論理回路図検証装置
US9875329B1 (en) Method and system for import of mask layout data to a target system
US10783307B1 (en) System and method for power-grid aware simulation of an IC-package schematic
US20200192992A1 (en) Information processing apparatus and pull-up and pull-down resistor verification method
JPH04246778A (ja) 半導体集積回路の配置方式
JP2003233636A (ja) 回路検証装置
JP5033135B2 (ja) レイアウト後edaアプリケーションを開発するための方法およびシステム
US5245549A (en) Gate addressing system for logic simulation machine
JP2967174B2 (ja) 設計装置
JP3696302B2 (ja) テストベクトル生成方法及び生成装置
JPH10198708A (ja) 図面検証システム
JPH0778195A (ja) 回路設計cadにおけるデータ更新方式
JP2002056041A (ja) ハードウェア記述言語階層情報反映方法
JPH0778190A (ja) 回路設計支援装置
JPH07129375A (ja) システム状態遷移のプログラミング方法およびその装置
JPH10187791A (ja) テスト回路自動生成方法
JP2744461B2 (ja) 回路設計システム