JPH02233590A - 単結晶ダイヤモンド層形成法 - Google Patents
単結晶ダイヤモンド層形成法Info
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- JPH02233590A JPH02233590A JP1054476A JP5447689A JPH02233590A JP H02233590 A JPH02233590 A JP H02233590A JP 1054476 A JP1054476 A JP 1054476A JP 5447689 A JP5447689 A JP 5447689A JP H02233590 A JPH02233590 A JP H02233590A
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- 239000010432 diamond Substances 0.000 title claims abstract description 52
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 48
- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims abstract description 47
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 title claims description 5
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 36
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 27
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims abstract description 24
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 21
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 20
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims abstract description 17
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 17
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims abstract description 15
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 14
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 24
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 abstract description 16
- 239000010439 graphite Substances 0.000 abstract description 16
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 14
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 abstract description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract description 6
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 3
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 abstract description 2
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 abstract description 2
- 229940125782 compound 2 Drugs 0.000 abstract 3
- ZOCHARZZJNPSEU-UHFFFAOYSA-N diboron Chemical compound B#B ZOCHARZZJNPSEU-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 239000007792 gaseous phase Substances 0.000 abstract 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 22
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 9
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 7
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 7
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 6
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 6
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 6
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 5
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 4
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 4
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 4
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N Triethylamine Chemical compound CCN(CC)CC ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 3
- -1 brobane Chemical compound 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 3
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KAKZBPTYRLMSJV-UHFFFAOYSA-N Butadiene Chemical compound C=CC=C KAKZBPTYRLMSJV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 2
- UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N Carbon monoxide Chemical compound [O+]#[C-] UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N Naphthalene Chemical compound C1=CC=CC2=CC=CC=C21 UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 2
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 2
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 2
- 229910002091 carbon monoxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 2
- 125000004430 oxygen atom Chemical group O* 0.000 description 2
- FDPIMTJIUBPUKL-UHFFFAOYSA-N pentan-3-one Chemical compound CCC(=O)CC FDPIMTJIUBPUKL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GETQZCLCWQTVFV-UHFFFAOYSA-N trimethylamine Chemical compound CN(C)C GETQZCLCWQTVFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910001868 water Inorganic materials 0.000 description 2
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- PMPVIKIVABFJJI-UHFFFAOYSA-N Cyclobutane Chemical compound C1CCC1 PMPVIKIVABFJJI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N Cyclohexane Chemical compound C1CCCCC1 XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OTMSDBZUPAUEDD-UHFFFAOYSA-N Ethane Chemical compound CC OTMSDBZUPAUEDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 1
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 1
- 229910021431 alpha silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 1
- 150000004945 aromatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000732 arylene group Chemical group 0.000 description 1
- 239000001273 butane Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 1
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003245 coal Substances 0.000 description 1
- 239000000571 coke Substances 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- HWEQKSVYKBUIIK-UHFFFAOYSA-N cyclobuta-1,3-diene Chemical compound C1=CC=C1 HWEQKSVYKBUIIK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000002003 electron diffraction Methods 0.000 description 1
- 125000002534 ethynyl group Chemical group [H]C#C* 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004050 hot filament vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 1
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 1
- 229910052743 krypton Inorganic materials 0.000 description 1
- DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N krypton atom Chemical compound [Kr] DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- IJDNQMDRQITEOD-UHFFFAOYSA-N n-butane Chemical compound CCCC IJDNQMDRQITEOD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N n-pentane Natural products CCCCC OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 1
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- QQONPFPTGQHPMA-UHFFFAOYSA-N propylene Natural products CC=C QQONPFPTGQHPMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004805 propylene group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([*:1])C([H])([H])[*:2] 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 229910052704 radon Inorganic materials 0.000 description 1
- SYUHGPGVQRZVTB-UHFFFAOYSA-N radon atom Chemical compound [Rn] SYUHGPGVQRZVTB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- 125000000383 tetramethylene group Chemical group [H]C([H])([*:1])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[*:2] 0.000 description 1
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 1
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B25/00—Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
- C30B25/02—Epitaxial-layer growth
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- Y10S117/918—Single-crystal waveguide
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、良好な結晶性、平坦な表面、良好な電気的特
性、及び良好な光学的特性を有する単結晶ダイヤモンド
層を形成する方法に関する。
性、及び良好な光学的特性を有する単結晶ダイヤモンド
層を形成する方法に関する。
[従来の技術]
ダイヤモンドは、大きい禁制帯幅、大きい電子移動度、
大きいホール移動度、大きい飽和電子移動度、高い熱伝
導度、低い誘電率及び高い透明度を持つ。したがって、
半導体の材料、例えば耐熱性及び耐放射線性を有する半
導体素子、及び高速高出力半導体素子等の材料、並びに
青色及び紫外光の発光素子として使用することが期待さ
れている。
大きいホール移動度、大きい飽和電子移動度、高い熱伝
導度、低い誘電率及び高い透明度を持つ。したがって、
半導体の材料、例えば耐熱性及び耐放射線性を有する半
導体素子、及び高速高出力半導体素子等の材料、並びに
青色及び紫外光の発光素子として使用することが期待さ
れている。
近年、メタン等の炭化水素ガスを原料として坩い、高周
波放電等の手段で原料ガスを分解励起し、気相中でダイ
ヤモンドを合成する方法が開発されている[メイニア(
R. Mania)等.クリスタル・リザーチ・アンド
・テクノロジー(C rystalResearch
and Technology), 1 6,
7 8 5(1981月。
波放電等の手段で原料ガスを分解励起し、気相中でダイ
ヤモンドを合成する方法が開発されている[メイニア(
R. Mania)等.クリスタル・リザーチ・アンド
・テクノロジー(C rystalResearch
and Technology), 1 6,
7 8 5(1981月。
半導体においては、高純度で結晶性のよいダイヤモンド
単結晶だけではなく、適当な不純物(ドーパント)を適
量含んだ価電子制御可能な結晶性のよいダイヤモンド単
結晶も必要である。
単結晶だけではなく、適当な不純物(ドーパント)を適
量含んだ価電子制御可能な結晶性のよいダイヤモンド単
結晶も必要である。
超高圧下で合成したダイヤモンド単結晶の上に単結晶ダ
イヤモンド層を成長させることができ、ホウ素等の不純
物をドーピングすることで単結晶ダイヤモンド層がP型
半導体の性質を示すことが確認されている[藤森(N
.pujimori)等.バキューム(Vacuum)
. 3 6 . 9 9(1 9
8 6)コ。
イヤモンド層を成長させることができ、ホウ素等の不純
物をドーピングすることで単結晶ダイヤモンド層がP型
半導体の性質を示すことが確認されている[藤森(N
.pujimori)等.バキューム(Vacuum)
. 3 6 . 9 9(1 9
8 6)コ。
しかし、従来の炭化水素ガス及び水素ガスを用いる単結
晶ダイヤモンド層成長法で、不純物ドーピングを行うと
、例えばctio)面では表面の凹凸が激しく、(10
0)面では、部分的な異常成長が発生する、という問題
かあった。また、半導体素子の電気的特性についても、
例えばショットキー・ダイオードを作製した場合、逆方
向リーク電流が大きいという問題があった。
晶ダイヤモンド層成長法で、不純物ドーピングを行うと
、例えばctio)面では表面の凹凸が激しく、(10
0)面では、部分的な異常成長が発生する、という問題
かあった。また、半導体素子の電気的特性についても、
例えばショットキー・ダイオードを作製した場合、逆方
向リーク電流が大きいという問題があった。
[発明が解決しようとする課題]
本発明の目的は、表面が平坦であり、結晶性がすぐれて
おり、良好な電気的特性を示す単結晶ダイヤモンド層を
形成することにある。
おり、良好な電気的特性を示す単結晶ダイヤモンド層を
形成することにある。
[課題を解決するための手段]
本発明の要旨は、炭素含有化合物を含んで成る原科物質
を反応器に供給して反応させ、単結晶ダイヤモンド層を
気相中で単結晶基板上に成長させることから成り、原料
物質が酸素含有化合物を含有することを特徴とする単結
晶ダイヤモンド層形成法に存する。
を反応器に供給して反応させ、単結晶ダイヤモンド層を
気相中で単結晶基板上に成長させることから成り、原料
物質が酸素含有化合物を含有することを特徴とする単結
晶ダイヤモンド層形成法に存する。
本発明において、使用する原料物質は、水素ガス、炭素
含有化合物及び酸素含有化合物を含有して成り、ガス状
で反応器に供給される。本発明は、原料物質がドーバン
トを含有する場合に特に有効である。原料物質は、不活
性ガスを含有することか好ましい。
含有化合物及び酸素含有化合物を含有して成り、ガス状
で反応器に供給される。本発明は、原料物質がドーバン
トを含有する場合に特に有効である。原料物質は、不活
性ガスを含有することか好ましい。
炭素含有化合物としては、たとえばメタン、エタン、ブ
ロバン、ブタン等のパラフィン系炭素水素:エチレン、
プロピレン、ブチレン等のオレフィン系炭化水素;アセ
チレン、アリレン等のアセチレン系炭化水素】ブタジエ
ン等のジオレフィン系炭化水素;シクロブロバン、シク
ロブタン、シクロベンタン、シクロヘキサン等の指環式
炭化水素:シクロブタジエン、ベンゼン、トルエン、キ
シレン、ナフタレン等の芳香族炭化水素;アセトン、ジ
エチルケトン、ペンゾフェノン等のケトン類;メタノー
ル、エタノール等のアルコール類: トリメチルアミン
、トリエチルアミンなどのアミン類,炭酸ガス、一酸化
炭素などを挙げることができる。これらは、1種を単独
で用いることしできるし、2種以上を併用することもで
きる。あるいは炭素含有化合物は、グラファイト、石炭
、コークスなどの炭素原子のみから成る物質であっても
よい。
ロバン、ブタン等のパラフィン系炭素水素:エチレン、
プロピレン、ブチレン等のオレフィン系炭化水素;アセ
チレン、アリレン等のアセチレン系炭化水素】ブタジエ
ン等のジオレフィン系炭化水素;シクロブロバン、シク
ロブタン、シクロベンタン、シクロヘキサン等の指環式
炭化水素:シクロブタジエン、ベンゼン、トルエン、キ
シレン、ナフタレン等の芳香族炭化水素;アセトン、ジ
エチルケトン、ペンゾフェノン等のケトン類;メタノー
ル、エタノール等のアルコール類: トリメチルアミン
、トリエチルアミンなどのアミン類,炭酸ガス、一酸化
炭素などを挙げることができる。これらは、1種を単独
で用いることしできるし、2種以上を併用することもで
きる。あるいは炭素含有化合物は、グラファイト、石炭
、コークスなどの炭素原子のみから成る物質であっても
よい。
酸素含有化合物としては、酸素、水、一酸化炭素、二酸
化炭素、過酸化水素が容易に入手できるゆえ好ましい。
化炭素、過酸化水素が容易に入手できるゆえ好ましい。
不活性ガスは、例えば、アルゴン、ヘリウム、ネオン、
クリプトン、キセノン、ラドンである。
クリプトン、キセノン、ラドンである。
ドーバントとしては、例えば、ホウ素、リチウム、窒素
、リン、硫黄、塩素、ヒ素又はセレンなどを含む化合物
あるいは単体を用いる。
、リン、硫黄、塩素、ヒ素又はセレンなどを含む化合物
あるいは単体を用いる。
原料物質において、水素ガスのモル敗A1不活性ガスの
モル数81炭素含有化合物に含まれる炭素原子のモル数
C及び酸素含有化合物に含まれる酸素原子のモル数Dが
、式: 0.02≦X<0.5 及び o.o i≦y<i[
但し、 である。] を満足することが好ましい。X<0.02では表面の平
坦性か失われ、X≧0.5では、グラファイト成分が析
出する。また、Y<0.0 1ではダイヤモンド層の結
晶性が悪くなり、Y≧1ではダイヤモンド層の形成が阻
害される。
モル数81炭素含有化合物に含まれる炭素原子のモル数
C及び酸素含有化合物に含まれる酸素原子のモル数Dが
、式: 0.02≦X<0.5 及び o.o i≦y<i[
但し、 である。] を満足することが好ましい。X<0.02では表面の平
坦性か失われ、X≧0.5では、グラファイト成分が析
出する。また、Y<0.0 1ではダイヤモンド層の結
晶性が悪くなり、Y≧1ではダイヤモンド層の形成が阻
害される。
単結晶基板として、単結晶ダイヤモンドのほか、単結晶
ダイヤモンドの格子定数(ao:3 . 5 6 7人
)と基板の格子定数aとの差が、1− ]X 100≦
20a を満たす単結晶基板、例えば、酸化マグネシウム(a:
4.213人)、Ni(a:3.524人)、Cu(a
:3 .6 1 4 7人)、Ni/Cu合金、β一S
i−C(a:4.36人)、α−SiC(a:3.0
8 0 7人)、C−BN(a:3 .6 1 5人
)、A(lNca: 3 . 1 0 4人)、P’b
T io a(a: 3 . 9 0人)、Ba*Ti
O*(a+3.9 94人)、GaN(a:3 . 1
8 0人)、ZnO(a:3.2407人)、ZnS
(a:3.8 2 0人)、Z ro *(a: 3
−64人)、酸化物超電導体TQtBl1tCazCu
sO lo(a:3.85人)、YIBasCusOt
−x(a:3.8 9人)などを使用することができる
。
ダイヤモンドの格子定数(ao:3 . 5 6 7人
)と基板の格子定数aとの差が、1− ]X 100≦
20a を満たす単結晶基板、例えば、酸化マグネシウム(a:
4.213人)、Ni(a:3.524人)、Cu(a
:3 .6 1 4 7人)、Ni/Cu合金、β一S
i−C(a:4.36人)、α−SiC(a:3.0
8 0 7人)、C−BN(a:3 .6 1 5人
)、A(lNca: 3 . 1 0 4人)、P’b
T io a(a: 3 . 9 0人)、Ba*Ti
O*(a+3.9 94人)、GaN(a:3 . 1
8 0人)、ZnO(a:3.2407人)、ZnS
(a:3.8 2 0人)、Z ro *(a: 3
−64人)、酸化物超電導体TQtBl1tCazCu
sO lo(a:3.85人)、YIBasCusOt
−x(a:3.8 9人)などを使用することができる
。
ダイヤモンドの気相成長法にはマイクロ波ブラズマCV
D法、熱フィラメントCVD法、RFプラズマCVD法
、DCプラズマCVD法、プラズマジェット法、化学輸
送法等があるが、本発明の効果は、形成法の如何によら
ず、いずれの方法においても発揮される。lKHz以上
の交流電界を用いたプラズマCVD法、特にマイクロ波
プラズマCVD法が、反応器等からの形成ダイヤモンド
層への汚染が少ないので好ましい。反応器内の圧力は、
通常、lO″″4〜lo3Torrである。基板の温度
は、基板の種類に応じて異なるが、700℃〜tooo
℃に保つことが好ましい。
D法、熱フィラメントCVD法、RFプラズマCVD法
、DCプラズマCVD法、プラズマジェット法、化学輸
送法等があるが、本発明の効果は、形成法の如何によら
ず、いずれの方法においても発揮される。lKHz以上
の交流電界を用いたプラズマCVD法、特にマイクロ波
プラズマCVD法が、反応器等からの形成ダイヤモンド
層への汚染が少ないので好ましい。反応器内の圧力は、
通常、lO″″4〜lo3Torrである。基板の温度
は、基板の種類に応じて異なるが、700℃〜tooo
℃に保つことが好ましい。
平坦でかつ良好な電気的特性を有する単結晶ダイヤモン
ド層を合成するためには、気相中での炭素成分の過飽和
度が高く熱力学的に平衡に近い状態で安定してエビタキ
シャル成長する必要がある。
ド層を合成するためには、気相中での炭素成分の過飽和
度が高く熱力学的に平衡に近い状態で安定してエビタキ
シャル成長する必要がある。
しかし、過飽和度を高めるために炭素含有化合物の供給
櫃を高めると層の平坦性は良くなるものの、層中にグラ
ファイト成分の混入、及び反応管内のグラファイトの析
出による条件の変化といった問題が生じる。炭素含有化
合物に酸素含有化合物を微量添加した場合に、酸素含有
化合物が分解され、活性な酸素ラジカル又は水酸基ラジ
カルが生成する。このラジカルは炭素含有化合物の分解
を促進し、かつ副生グラファイトと選択的に反応し、こ
れを除去する。このため気相中での炭素成分の過飽和状
態の中で安定したダイヤモンドの単結晶形成が可能にな
り、平坦な表面を有しかつ良好な電気的特性及び光学的
特性をもつ単結晶ダイヤモンド層が得られる。
櫃を高めると層の平坦性は良くなるものの、層中にグラ
ファイト成分の混入、及び反応管内のグラファイトの析
出による条件の変化といった問題が生じる。炭素含有化
合物に酸素含有化合物を微量添加した場合に、酸素含有
化合物が分解され、活性な酸素ラジカル又は水酸基ラジ
カルが生成する。このラジカルは炭素含有化合物の分解
を促進し、かつ副生グラファイトと選択的に反応し、こ
れを除去する。このため気相中での炭素成分の過飽和状
態の中で安定したダイヤモンドの単結晶形成が可能にな
り、平坦な表面を有しかつ良好な電気的特性及び光学的
特性をもつ単結晶ダイヤモンド層が得られる。
以下、本発明の好ましい態様を第1図及び第2図を参照
して説明する。
して説明する。
第1図は、本発明で使用する装置の好ましい態様を示す
概略図である。水素ガス1、メタンガス(炭素含有化合
物)2、ジボラン(Ber−io)ガス3が質量流量計
5で計量されたのち混合され反応器6に供給される。酸
素ガス(酸素含有化合物)4が質量流量計5で計量され
たのち、ジボランガス3と反応するので、ジボランガス
と別の供給ラインから反応器6に供給される。反応器6
に入った混合ガスは、マイクロ波7により分解される。
概略図である。水素ガス1、メタンガス(炭素含有化合
物)2、ジボラン(Ber−io)ガス3が質量流量計
5で計量されたのち混合され反応器6に供給される。酸
素ガス(酸素含有化合物)4が質量流量計5で計量され
たのち、ジボランガス3と反応するので、ジボランガス
と別の供給ラインから反応器6に供給される。反応器6
に入った混合ガスは、マイクロ波7により分解される。
メタンの分解より生成した炭素は数百度に加熱された単
結晶基仮8に到達し、単結晶基板上でダイヤモンド層及
びグラファイト層が生成する゛。グラファイトは水素の
分解で生成した水素原子又は酸素の分解で生成した酸素
原子と反応して除去される。反応器6は真空ボンブ9に
より減圧される。
結晶基仮8に到達し、単結晶基板上でダイヤモンド層及
びグラファイト層が生成する゛。グラファイトは水素の
分解で生成した水素原子又は酸素の分解で生成した酸素
原子と反応して除去される。反応器6は真空ボンブ9に
より減圧される。
第2図は、液状物をガス状で反応器に供給する器具を示
す断面図である。水素ガス!lが質量流量計12を通過
して、ガラス容器l3内の液状物l4を通過して、反応
器に入る。こうして水素ガスとともに、水又はメタノー
ルなどの液状物がガス状で反応器に導入される。液状物
の温度を上昇し、反応器への液状物の導入量を増加する
ために、加熱用ヒーターl5が備えられている。
す断面図である。水素ガス!lが質量流量計12を通過
して、ガラス容器l3内の液状物l4を通過して、反応
器に入る。こうして水素ガスとともに、水又はメタノー
ルなどの液状物がガス状で反応器に導入される。液状物
の温度を上昇し、反応器への液状物の導入量を増加する
ために、加熱用ヒーターl5が備えられている。
[実施例コ
以下、実施例及び比較例を示し、さらに具体的に本発明
を説明する。
を説明する。
実施例l並びに比較例1及び2
第1図に示す装置を用いて単結晶ダイヤモンド層を形成
した。反応器は内径44I1長さ600amの石英ガラ
ス製であった。基板として1.5mmx2.0im(厚
さ0 . 3 mm)のダイヤモンド単結晶の(100
)面を用いた。原料ガスとしてメタンー水素−ジボラン
混合ガス(比較例l及び比較例2)、゛あるいはメタン
ー水素一ジボランー酸素混合ガス(実施例l)を用いた
。原料ガス総流量は、lOOscanであった。マイク
ロ波の周波数は2.45Hz,マイクロ波のパワーは3
00Wであった。反応条件を第1表に示す。
した。反応器は内径44I1長さ600amの石英ガラ
ス製であった。基板として1.5mmx2.0im(厚
さ0 . 3 mm)のダイヤモンド単結晶の(100
)面を用いた。原料ガスとしてメタンー水素−ジボラン
混合ガス(比較例l及び比較例2)、゛あるいはメタン
ー水素一ジボランー酸素混合ガス(実施例l)を用いた
。原料ガス総流量は、lOOscanであった。マイク
ロ波の周波数は2.45Hz,マイクロ波のパワーは3
00Wであった。反応条件を第1表に示す。
第 1 表
得られた層の厚さは、約1μであった。
比較例lでは、グラファイト成分のない良質なダイヤモ
ンド層が得られるものの、層の表面粗さが2000人程
度であった。比較例2のようにメタン濃度を増加させる
と、表面粗さがL00人以下で平坦なダイヤモンド層が
得られるが、電子線回折によればアモルファス成分の存
在が確認された。
ンド層が得られるものの、層の表面粗さが2000人程
度であった。比較例2のようにメタン濃度を増加させる
と、表面粗さがL00人以下で平坦なダイヤモンド層が
得られるが、電子線回折によればアモルファス成分の存
在が確認された。
一方、実施例!では、表面粗さが100人以下で平坦性
をもつ層が形成し、層の電子線回折によれば原子レベル
で平坦な単結晶であることを示すストリークパターンが
得られた。
をもつ層が形成し、層の電子線回折によれば原子レベル
で平坦な単結晶であることを示すストリークパターンが
得られた。
ダイヤモンド層の上に電極を形成し、ショットキーダイ
オードを試作した。ダイオードの順方向電流N’と逆方
向漏れ電流1rからダイオード特性の評価を行った。比
較例l及び比較例2で得られたダイオードは逆方向漏れ
電流が順方向電流の10分の1以上で良好な整流性が得
られなかった。
オードを試作した。ダイオードの順方向電流N’と逆方
向漏れ電流1rからダイオード特性の評価を行った。比
較例l及び比較例2で得られたダイオードは逆方向漏れ
電流が順方向電流の10分の1以上で良好な整流性が得
られなかった。
比較例l及び比較例2におけるダイオード特性を第3図
及び第4図に示す。一方、実施例1で得られたダイオー
ドは逆方向漏れ電流が順方向電流のtooo分の!以下
である良好な整流性が得られた。実施例lにおけるダイ
オード特性を第5図に示す。
及び第4図に示す。一方、実施例1で得られたダイオー
ドは逆方向漏れ電流が順方向電流のtooo分の!以下
である良好な整流性が得られた。実施例lにおけるダイ
オード特性を第5図に示す。
得られた層の性質の結果を第2表に示す。
第2表
実施例2及び比較例3
実施例lと同様の手順で、水素1 0 0 sccm,
メタンl Osccm, B*Ha(Ht希釈L 0
1)H) l O scclI1,Cow 2secm
を反応器に供給し、圧力4 0 Torr,基板温度8
30℃で2時間反応し、厚さ1.2μのダイヤモンド層
を形成した(実施例2)。得られた層は、表面粗さが1
00人以下で良好な結品性を有する単結晶であり、高い
ホール移動度(約1 0 0 0cm”/V・秒)を示
した。これから作製したショットキーダイオードは良好
な整流性を示した。
メタンl Osccm, B*Ha(Ht希釈L 0
1)H) l O scclI1,Cow 2secm
を反応器に供給し、圧力4 0 Torr,基板温度8
30℃で2時間反応し、厚さ1.2μのダイヤモンド層
を形成した(実施例2)。得られた層は、表面粗さが1
00人以下で良好な結品性を有する単結晶であり、高い
ホール移動度(約1 0 0 0cm”/V・秒)を示
した。これから作製したショットキーダイオードは良好
な整流性を示した。
一方、Cotを添加しない以外は同様の条件でダイヤモ
ンド層を形成した(比較例3)。得られた層にはグラフ
ァイト成分が混入し、良好な結晶性、電気的特性が得ら
れなかった。
ンド層を形成した(比較例3)。得られた層にはグラフ
ァイト成分が混入し、良好な結晶性、電気的特性が得ら
れなかった。
実施例3及び比較例4
実施例lと同様の手順で、水素1 0 0sccl1、
メタンl OsccI1+, B*Ha(Hm希釈1
0 ppm) l O seam,C 0 3 se
cIllを反応器に供給し、圧力4 0 Torr,基
板温度830℃で2時間反応し、厚さ1.5μのダイヤ
モンド層を形成した(実施例3)。得られた層は、表面
粗さだ100人以下で良好な結晶性を有する単結晶であ
り、高いホール移動度(約1 0 0 0cm”/V・
秒)を示した。これから作製したショットキーダイオー
ドは良好な整流性を示した。
メタンl OsccI1+, B*Ha(Hm希釈1
0 ppm) l O seam,C 0 3 se
cIllを反応器に供給し、圧力4 0 Torr,基
板温度830℃で2時間反応し、厚さ1.5μのダイヤ
モンド層を形成した(実施例3)。得られた層は、表面
粗さだ100人以下で良好な結晶性を有する単結晶であ
り、高いホール移動度(約1 0 0 0cm”/V・
秒)を示した。これから作製したショットキーダイオー
ドは良好な整流性を示した。
一方、COを供給しない以外は同様の条件でダイヤモン
ド層を形成した(比較例4)。得られた層にはグラファ
イト成分が混入し、良好な結晶性、電気的特性が得られ
なかった。
ド層を形成した(比較例4)。得られた層にはグラファ
イト成分が混入し、良好な結晶性、電気的特性が得られ
なかった。
実施例4及び比較例5
実施例Lと同様の手順で、水素1 0 0 secm,
アルゴン5 0 sccm,メタン+5sccn、B
21{−(H 2希釈1 0 ppm) 1 0 sc
cn, 0 * 2 sccmを反応器に供給し、圧力
8 0 Torr,基板温度850℃で2時間反応し、
厚さ2μのダイヤモンド層を形成した(実施例4)。得
られた層は、表面粗さカ月00人以下で良好な結晶性を
有する単結晶であり、高いホール移動度(約L O O
Oca”/V・秒)を示した。
アルゴン5 0 sccm,メタン+5sccn、B
21{−(H 2希釈1 0 ppm) 1 0 sc
cn, 0 * 2 sccmを反応器に供給し、圧力
8 0 Torr,基板温度850℃で2時間反応し、
厚さ2μのダイヤモンド層を形成した(実施例4)。得
られた層は、表面粗さカ月00人以下で良好な結晶性を
有する単結晶であり、高いホール移動度(約L O O
Oca”/V・秒)を示した。
これから作製したショットキーダイオードは良好な整流
性を示した。
性を示した。
一方、0,を供給しない以外は同様の条件でダイヤモン
ド層を形成した(比較例5)。得られた層にはグラファ
イト成分か混入し、良好な結晶性、電気的特性が得られ
なかった。
ド層を形成した(比較例5)。得られた層にはグラファ
イト成分か混入し、良好な結晶性、電気的特性が得られ
なかった。
不活性ガスの反応系への供給は、気相中での炭素成分の
過飽和状態を安定させる働きがあるので、供給しない場
合の2倍以上の形成速度で高品質ダイヤモンドのエビタ
キシャル成長が可能となることがわかる。
過飽和状態を安定させる働きがあるので、供給しない場
合の2倍以上の形成速度で高品質ダイヤモンドのエビタ
キシャル成長が可能となることがわかる。
実施例5及び比較例6
実施例1と同様の手順で、水素がトータルでlO Q
scan,メタン1 0sccm,IBtHa(He希
釈lOppm)l Osccm, HtO 2scc
II1(飽和蒸気圧換算)を反応器に供給し、圧力4
0 Torr.基板温度830℃で2時間反応し、厚さ
L」μのダイヤモンド層を形成した(実施例5)。なお
、 H t Oを供給するために第2図の器具を使用した。
scan,メタン1 0sccm,IBtHa(He希
釈lOppm)l Osccm, HtO 2scc
II1(飽和蒸気圧換算)を反応器に供給し、圧力4
0 Torr.基板温度830℃で2時間反応し、厚さ
L」μのダイヤモンド層を形成した(実施例5)。なお
、 H t Oを供給するために第2図の器具を使用した。
得られた層は、表面粗さが100人以下で良好な結晶性
を有する単結晶であり、高いホール移動度(約l000
cIlt/V・秒)を示し、これから作製したショット
キーダイオードは良好な整流性を示した。
を有する単結晶であり、高いホール移動度(約l000
cIlt/V・秒)を示し、これから作製したショット
キーダイオードは良好な整流性を示した。
一方、F!,0を供給しない以外は同様の条件でダイヤ
モンド層を形成した(比較例6)。得られた層にはグラ
ファイト成分が混入し、良好な結晶性、電気的特性が得
られなかった。
モンド層を形成した(比較例6)。得られた層にはグラ
ファイト成分が混入し、良好な結晶性、電気的特性が得
られなかった。
実施例6及び比較例7
実施例1と同様の手順で、水素がトータルで10 0
seca,メタノールe sccm(飽和蒸気圧換算)
、B!He(Hz希釈1 0 ppn) l O sc
cra, O t l sccmを反応器に供給し、
圧力4 0 Torr,基板温度830°Cで2時曲反
応し、厚さ1.5μのダイヤモンド層を形成した(実施
例6)。なお、メタノールを供給するために第2図の器
具を使用した。得られた層は、表面粗さかI00人以下
で良好な結晶性を有する単結晶であり、高いホール移動
度(約1 0 0 0cm”/V・秒)を示した。これ
から作製したンヨットキーダイオードは良好な整流性を
示した。
seca,メタノールe sccm(飽和蒸気圧換算)
、B!He(Hz希釈1 0 ppn) l O sc
cra, O t l sccmを反応器に供給し、
圧力4 0 Torr,基板温度830°Cで2時曲反
応し、厚さ1.5μのダイヤモンド層を形成した(実施
例6)。なお、メタノールを供給するために第2図の器
具を使用した。得られた層は、表面粗さかI00人以下
で良好な結晶性を有する単結晶であり、高いホール移動
度(約1 0 0 0cm”/V・秒)を示した。これ
から作製したンヨットキーダイオードは良好な整流性を
示した。
一方、0,を添加しない以外は同様の条件でダイヤモン
ド層を形成した(比較例7)。得られた層にはグラファ
イト成分が混入し、良好な結晶性、電気的特性が得られ
なかった。
ド層を形成した(比較例7)。得られた層にはグラファ
イト成分が混入し、良好な結晶性、電気的特性が得られ
なかった。
炭素成分の供給源としてアルコールを用いる場合に、低
コストで高品質ダイヤモンドのエビタキシャル成長が可
能であることがわかる。
コストで高品質ダイヤモンドのエビタキシャル成長が可
能であることがわかる。
実施例7及び比較例8
実施例lと同様の手順で、単結晶基板として酸化マグネ
シウム(MgO)の(100)面を用い、水素5 0
scan,アルゴン5 0 scan,メタン1 0s
ccm,B * H s ( H t希釈1 0 pp
m) l O sccm, O t 2 secmを反
応器に供給し、圧力40Torr、基板温度800℃で
、2時間反応し、厚さ0 9μのダイヤモンド層を形成
した(実施例7)。得られた層は、表面粗さが100人
以下の良好な結晶性を有する単結晶であった。これから
作製したショットキーダイオードは良好な整胤性を示し
た。
シウム(MgO)の(100)面を用い、水素5 0
scan,アルゴン5 0 scan,メタン1 0s
ccm,B * H s ( H t希釈1 0 pp
m) l O sccm, O t 2 secmを反
応器に供給し、圧力40Torr、基板温度800℃で
、2時間反応し、厚さ0 9μのダイヤモンド層を形成
した(実施例7)。得られた層は、表面粗さが100人
以下の良好な結晶性を有する単結晶であった。これから
作製したショットキーダイオードは良好な整胤性を示し
た。
一方、0,を供給しない以外は同様の条件でダイヤモン
ド層を形成した。MgO基板が一郎還元されるとともに
、層にグラファイト成分が混入し、良好な結晶性の層が
得られなかった。
ド層を形成した。MgO基板が一郎還元されるとともに
、層にグラファイト成分が混入し、良好な結晶性の層が
得られなかった。
[発明の効果]
本発明によれば、良好な結晶性及び平坦な表面を有する
単結晶ダイヤモンド層を単結晶基板上にエビタキシャル
成長できる。従来は天然又は高圧法によってのみ得られ
ていた高品質の単結晶ダ忙ヤモンドが気相合成で容易に
得られる。この層を用いて作製した電気デバイスは良好
な特性を示し、耐環境デバイスとして用いることができ
る。
単結晶ダイヤモンド層を単結晶基板上にエビタキシャル
成長できる。従来は天然又は高圧法によってのみ得られ
ていた高品質の単結晶ダ忙ヤモンドが気相合成で容易に
得られる。この層を用いて作製した電気デバイスは良好
な特性を示し、耐環境デバイスとして用いることができ
る。
厚いダイヤモンド層を形成することによって、ダイヤモ
ンド単結晶光学部品、あるいはヒートノンクにも用いる
ことができる。さらに、良好な結晶性を維持したまま単
結晶ダイヤモンド粒子を巨大化できるので、砥粒及び宝
石を製造することができる。
ンド単結晶光学部品、あるいはヒートノンクにも用いる
ことができる。さらに、良好な結晶性を維持したまま単
結晶ダイヤモンド粒子を巨大化できるので、砥粒及び宝
石を製造することができる。
第l図は、本発明で使用する装置の好ましい態様を示す
概略図である。 1・・・水素ガス、2・・・メタンガス、3・・・ジボ
ランガス、4・・・酸素ガス、5・・・質量計量計、6
・・・皮応器、7・・・マイクロ波、8−単結晶基仮、
9・・・真空ボンブ。 第2図は、液状物をガス状で供給する器具を示す断面図
である。 Iト・・水素ガス、L2・・・質量流量計、13・・・
ガラス容器、l4・・・液状物、l5・・・加熱用ヒー
ター 第3図、第4図及び第5図は、比較例l1比較例2及び
実施例lのそれぞれで得られたダイヤモンド層のダイオ
ード特性を示す図である。 特許出顆人住友電気工業株式会社 代理 人 弁理士 青山 葆 はかl名第1図
概略図である。 1・・・水素ガス、2・・・メタンガス、3・・・ジボ
ランガス、4・・・酸素ガス、5・・・質量計量計、6
・・・皮応器、7・・・マイクロ波、8−単結晶基仮、
9・・・真空ボンブ。 第2図は、液状物をガス状で供給する器具を示す断面図
である。 Iト・・水素ガス、L2・・・質量流量計、13・・・
ガラス容器、l4・・・液状物、l5・・・加熱用ヒー
ター 第3図、第4図及び第5図は、比較例l1比較例2及び
実施例lのそれぞれで得られたダイヤモンド層のダイオ
ード特性を示す図である。 特許出顆人住友電気工業株式会社 代理 人 弁理士 青山 葆 はかl名第1図
Claims (1)
- 1、炭素含有化合物を含んで成る原料物質を反応器に供
給して反応させ、単結晶ダイヤモンド層を気相中で単結
晶基板上に成長させることから成り、原料物質が酸素含
有化合物を含有することを特徴とする単結晶ダイヤモン
ド層形成法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1054476A JP2730144B2 (ja) | 1989-03-07 | 1989-03-07 | 単結晶ダイヤモンド層形成法 |
EP90104346A EP0386727B1 (en) | 1989-03-07 | 1990-03-07 | Method for producing single crystal diamond film |
DE69009799T DE69009799T2 (de) | 1989-03-07 | 1990-03-07 | Verfahren zur Herstellung einer Einkristallschicht aus Diamant. |
US07/987,557 US5400738A (en) | 1989-03-07 | 1992-12-08 | Method for producing single crystal diamond film |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1054476A JP2730144B2 (ja) | 1989-03-07 | 1989-03-07 | 単結晶ダイヤモンド層形成法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02233590A true JPH02233590A (ja) | 1990-09-17 |
JP2730144B2 JP2730144B2 (ja) | 1998-03-25 |
Family
ID=12971723
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1054476A Expired - Fee Related JP2730144B2 (ja) | 1989-03-07 | 1989-03-07 | 単結晶ダイヤモンド層形成法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5400738A (ja) |
EP (1) | EP0386727B1 (ja) |
JP (1) | JP2730144B2 (ja) |
DE (1) | DE69009799T2 (ja) |
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1989
- 1989-03-07 JP JP1054476A patent/JP2730144B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-03-07 DE DE69009799T patent/DE69009799T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-03-07 EP EP90104346A patent/EP0386727B1/en not_active Expired - Lifetime
-
1992
- 1992-12-08 US US07/987,557 patent/US5400738A/en not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69009799T2 (de) | 1994-11-17 |
EP0386727A1 (en) | 1990-09-12 |
EP0386727B1 (en) | 1994-06-15 |
DE69009799D1 (de) | 1994-07-21 |
JP2730144B2 (ja) | 1998-03-25 |
US5400738A (en) | 1995-03-28 |
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---|---|---|---|
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