JPH02233590A - 単結晶ダイヤモンド層形成法 - Google Patents

単結晶ダイヤモンド層形成法

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JPH02233590A
JPH02233590A JP1054476A JP5447689A JPH02233590A JP H02233590 A JPH02233590 A JP H02233590A JP 1054476 A JP1054476 A JP 1054476A JP 5447689 A JP5447689 A JP 5447689A JP H02233590 A JPH02233590 A JP H02233590A
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弘 塩見
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貴浩 今井
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、良好な結晶性、平坦な表面、良好な電気的特
性、及び良好な光学的特性を有する単結晶ダイヤモンド
層を形成する方法に関する。
[従来の技術] ダイヤモンドは、大きい禁制帯幅、大きい電子移動度、
大きいホール移動度、大きい飽和電子移動度、高い熱伝
導度、低い誘電率及び高い透明度を持つ。したがって、
半導体の材料、例えば耐熱性及び耐放射線性を有する半
導体素子、及び高速高出力半導体素子等の材料、並びに
青色及び紫外光の発光素子として使用することが期待さ
れている。
近年、メタン等の炭化水素ガスを原料として坩い、高周
波放電等の手段で原料ガスを分解励起し、気相中でダイ
ヤモンドを合成する方法が開発されている[メイニア(
R. Mania)等.クリスタル・リザーチ・アンド
・テクノロジー(C rystalResearch 
 and  Technology),  1 6, 
7 8 5(1981月。
半導体においては、高純度で結晶性のよいダイヤモンド
単結晶だけではなく、適当な不純物(ドーパント)を適
量含んだ価電子制御可能な結晶性のよいダイヤモンド単
結晶も必要である。
超高圧下で合成したダイヤモンド単結晶の上に単結晶ダ
イヤモンド層を成長させることができ、ホウ素等の不純
物をドーピングすることで単結晶ダイヤモンド層がP型
半導体の性質を示すことが確認されている[藤森(N 
.pujimori)等.バキューム(Vacuum)
.   3  6  .   9  9(1  9  
8  6)コ。
しかし、従来の炭化水素ガス及び水素ガスを用いる単結
晶ダイヤモンド層成長法で、不純物ドーピングを行うと
、例えばctio)面では表面の凹凸が激しく、(10
0)面では、部分的な異常成長が発生する、という問題
かあった。また、半導体素子の電気的特性についても、
例えばショットキー・ダイオードを作製した場合、逆方
向リーク電流が大きいという問題があった。
[発明が解決しようとする課題] 本発明の目的は、表面が平坦であり、結晶性がすぐれて
おり、良好な電気的特性を示す単結晶ダイヤモンド層を
形成することにある。
[課題を解決するための手段] 本発明の要旨は、炭素含有化合物を含んで成る原科物質
を反応器に供給して反応させ、単結晶ダイヤモンド層を
気相中で単結晶基板上に成長させることから成り、原料
物質が酸素含有化合物を含有することを特徴とする単結
晶ダイヤモンド層形成法に存する。
本発明において、使用する原料物質は、水素ガス、炭素
含有化合物及び酸素含有化合物を含有して成り、ガス状
で反応器に供給される。本発明は、原料物質がドーバン
トを含有する場合に特に有効である。原料物質は、不活
性ガスを含有することか好ましい。
炭素含有化合物としては、たとえばメタン、エタン、ブ
ロバン、ブタン等のパラフィン系炭素水素:エチレン、
プロピレン、ブチレン等のオレフィン系炭化水素;アセ
チレン、アリレン等のアセチレン系炭化水素】ブタジエ
ン等のジオレフィン系炭化水素;シクロブロバン、シク
ロブタン、シクロベンタン、シクロヘキサン等の指環式
炭化水素:シクロブタジエン、ベンゼン、トルエン、キ
シレン、ナフタレン等の芳香族炭化水素;アセトン、ジ
エチルケトン、ペンゾフェノン等のケトン類;メタノー
ル、エタノール等のアルコール類: トリメチルアミン
、トリエチルアミンなどのアミン類,炭酸ガス、一酸化
炭素などを挙げることができる。これらは、1種を単独
で用いることしできるし、2種以上を併用することもで
きる。あるいは炭素含有化合物は、グラファイト、石炭
、コークスなどの炭素原子のみから成る物質であっても
よい。
酸素含有化合物としては、酸素、水、一酸化炭素、二酸
化炭素、過酸化水素が容易に入手できるゆえ好ましい。
不活性ガスは、例えば、アルゴン、ヘリウム、ネオン、
クリプトン、キセノン、ラドンである。
ドーバントとしては、例えば、ホウ素、リチウム、窒素
、リン、硫黄、塩素、ヒ素又はセレンなどを含む化合物
あるいは単体を用いる。
原料物質において、水素ガスのモル敗A1不活性ガスの
モル数81炭素含有化合物に含まれる炭素原子のモル数
C及び酸素含有化合物に含まれる酸素原子のモル数Dが
、式: 0.02≦X<0.5  及び o.o i≦y<i[
但し、 である。] を満足することが好ましい。X<0.02では表面の平
坦性か失われ、X≧0.5では、グラファイト成分が析
出する。また、Y<0.0 1ではダイヤモンド層の結
晶性が悪くなり、Y≧1ではダイヤモンド層の形成が阻
害される。
単結晶基板として、単結晶ダイヤモンドのほか、単結晶
ダイヤモンドの格子定数(ao:3 . 5 6 7人
)と基板の格子定数aとの差が、1− ]X 100≦
20a を満たす単結晶基板、例えば、酸化マグネシウム(a:
4.213人)、Ni(a:3.524人)、Cu(a
:3 .6 1 4 7人)、Ni/Cu合金、β一S
 i−C(a:4.36人)、α−SiC(a:3.0
 8 0 7人)、C−BN(a:3 .6 1 5人
)、A(lNca: 3 . 1 0 4人)、P’b
T io a(a: 3 . 9 0人)、Ba*Ti
O*(a+3.9 94人)、GaN(a:3 . 1
 8 0人)、ZnO(a:3.2407人)、ZnS
(a:3.8 2 0人)、Z ro *(a: 3 
−64人)、酸化物超電導体TQtBl1tCazCu
sO lo(a:3.85人)、YIBasCusOt
−x(a:3.8 9人)などを使用することができる
ダイヤモンドの気相成長法にはマイクロ波ブラズマCV
D法、熱フィラメントCVD法、RFプラズマCVD法
、DCプラズマCVD法、プラズマジェット法、化学輸
送法等があるが、本発明の効果は、形成法の如何によら
ず、いずれの方法においても発揮される。lKHz以上
の交流電界を用いたプラズマCVD法、特にマイクロ波
プラズマCVD法が、反応器等からの形成ダイヤモンド
層への汚染が少ないので好ましい。反応器内の圧力は、
通常、lO″″4〜lo3Torrである。基板の温度
は、基板の種類に応じて異なるが、700℃〜tooo
℃に保つことが好ましい。
平坦でかつ良好な電気的特性を有する単結晶ダイヤモン
ド層を合成するためには、気相中での炭素成分の過飽和
度が高く熱力学的に平衡に近い状態で安定してエビタキ
シャル成長する必要がある。
しかし、過飽和度を高めるために炭素含有化合物の供給
櫃を高めると層の平坦性は良くなるものの、層中にグラ
ファイト成分の混入、及び反応管内のグラファイトの析
出による条件の変化といった問題が生じる。炭素含有化
合物に酸素含有化合物を微量添加した場合に、酸素含有
化合物が分解され、活性な酸素ラジカル又は水酸基ラジ
カルが生成する。このラジカルは炭素含有化合物の分解
を促進し、かつ副生グラファイトと選択的に反応し、こ
れを除去する。このため気相中での炭素成分の過飽和状
態の中で安定したダイヤモンドの単結晶形成が可能にな
り、平坦な表面を有しかつ良好な電気的特性及び光学的
特性をもつ単結晶ダイヤモンド層が得られる。
以下、本発明の好ましい態様を第1図及び第2図を参照
して説明する。
第1図は、本発明で使用する装置の好ましい態様を示す
概略図である。水素ガス1、メタンガス(炭素含有化合
物)2、ジボラン(Ber−io)ガス3が質量流量計
5で計量されたのち混合され反応器6に供給される。酸
素ガス(酸素含有化合物)4が質量流量計5で計量され
たのち、ジボランガス3と反応するので、ジボランガス
と別の供給ラインから反応器6に供給される。反応器6
に入った混合ガスは、マイクロ波7により分解される。
メタンの分解より生成した炭素は数百度に加熱された単
結晶基仮8に到達し、単結晶基板上でダイヤモンド層及
びグラファイト層が生成する゛。グラファイトは水素の
分解で生成した水素原子又は酸素の分解で生成した酸素
原子と反応して除去される。反応器6は真空ボンブ9に
より減圧される。
第2図は、液状物をガス状で反応器に供給する器具を示
す断面図である。水素ガス!lが質量流量計12を通過
して、ガラス容器l3内の液状物l4を通過して、反応
器に入る。こうして水素ガスとともに、水又はメタノー
ルなどの液状物がガス状で反応器に導入される。液状物
の温度を上昇し、反応器への液状物の導入量を増加する
ために、加熱用ヒーターl5が備えられている。
[実施例コ 以下、実施例及び比較例を示し、さらに具体的に本発明
を説明する。
実施例l並びに比較例1及び2 第1図に示す装置を用いて単結晶ダイヤモンド層を形成
した。反応器は内径44I1長さ600amの石英ガラ
ス製であった。基板として1.5mmx2.0im(厚
さ0 . 3 mm)のダイヤモンド単結晶の(100
)面を用いた。原料ガスとしてメタンー水素−ジボラン
混合ガス(比較例l及び比較例2)、゛あるいはメタン
ー水素一ジボランー酸素混合ガス(実施例l)を用いた
。原料ガス総流量は、lOOscanであった。マイク
ロ波の周波数は2.45Hz,マイクロ波のパワーは3
00Wであった。反応条件を第1表に示す。
第  1  表 得られた層の厚さは、約1μであった。
比較例lでは、グラファイト成分のない良質なダイヤモ
ンド層が得られるものの、層の表面粗さが2000人程
度であった。比較例2のようにメタン濃度を増加させる
と、表面粗さがL00人以下で平坦なダイヤモンド層が
得られるが、電子線回折によればアモルファス成分の存
在が確認された。
一方、実施例!では、表面粗さが100人以下で平坦性
をもつ層が形成し、層の電子線回折によれば原子レベル
で平坦な単結晶であることを示すストリークパターンが
得られた。
ダイヤモンド層の上に電極を形成し、ショットキーダイ
オードを試作した。ダイオードの順方向電流N’と逆方
向漏れ電流1rからダイオード特性の評価を行った。比
較例l及び比較例2で得られたダイオードは逆方向漏れ
電流が順方向電流の10分の1以上で良好な整流性が得
られなかった。
比較例l及び比較例2におけるダイオード特性を第3図
及び第4図に示す。一方、実施例1で得られたダイオー
ドは逆方向漏れ電流が順方向電流のtooo分の!以下
である良好な整流性が得られた。実施例lにおけるダイ
オード特性を第5図に示す。
得られた層の性質の結果を第2表に示す。
第2表 実施例2及び比較例3 実施例lと同様の手順で、水素1 0 0 sccm,
メタンl Osccm, B*Ha(Ht希釈L 0 
1)H) l O scclI1,Cow 2secm
を反応器に供給し、圧力4 0 Torr,基板温度8
30℃で2時間反応し、厚さ1.2μのダイヤモンド層
を形成した(実施例2)。得られた層は、表面粗さが1
00人以下で良好な結品性を有する単結晶であり、高い
ホール移動度(約1 0 0 0cm”/V・秒)を示
した。これから作製したショットキーダイオードは良好
な整流性を示した。
一方、Cotを添加しない以外は同様の条件でダイヤモ
ンド層を形成した(比較例3)。得られた層にはグラフ
ァイト成分が混入し、良好な結晶性、電気的特性が得ら
れなかった。
実施例3及び比較例4 実施例lと同様の手順で、水素1 0 0sccl1、
メタンl OsccI1+, B*Ha(Hm希釈1 
0 ppm) l O seam,C 0  3 se
cIllを反応器に供給し、圧力4 0 Torr,基
板温度830℃で2時間反応し、厚さ1.5μのダイヤ
モンド層を形成した(実施例3)。得られた層は、表面
粗さだ100人以下で良好な結晶性を有する単結晶であ
り、高いホール移動度(約1 0 0 0cm”/V・
秒)を示した。これから作製したショットキーダイオー
ドは良好な整流性を示した。
一方、COを供給しない以外は同様の条件でダイヤモン
ド層を形成した(比較例4)。得られた層にはグラファ
イト成分が混入し、良好な結晶性、電気的特性が得られ
なかった。
実施例4及び比較例5 実施例Lと同様の手順で、水素1 0 0 secm,
アルゴン5 0 sccm,メタン+5sccn、B 
21{−(H 2希釈1 0 ppm) 1 0 sc
cn, 0 * 2 sccmを反応器に供給し、圧力
8 0 Torr,基板温度850℃で2時間反応し、
厚さ2μのダイヤモンド層を形成した(実施例4)。得
られた層は、表面粗さカ月00人以下で良好な結晶性を
有する単結晶であり、高いホール移動度(約L O O
 Oca”/V・秒)を示した。
これから作製したショットキーダイオードは良好な整流
性を示した。
一方、0,を供給しない以外は同様の条件でダイヤモン
ド層を形成した(比較例5)。得られた層にはグラファ
イト成分か混入し、良好な結晶性、電気的特性が得られ
なかった。
不活性ガスの反応系への供給は、気相中での炭素成分の
過飽和状態を安定させる働きがあるので、供給しない場
合の2倍以上の形成速度で高品質ダイヤモンドのエビタ
キシャル成長が可能となることがわかる。
実施例5及び比較例6 実施例1と同様の手順で、水素がトータルでlO Q 
scan,メタン1 0sccm,IBtHa(He希
釈lOppm)l Osccm, HtO  2scc
II1(飽和蒸気圧換算)を反応器に供給し、圧力4 
0 Torr.基板温度830℃で2時間反応し、厚さ
L」μのダイヤモンド層を形成した(実施例5)。なお
、 H t Oを供給するために第2図の器具を使用した。
得られた層は、表面粗さが100人以下で良好な結晶性
を有する単結晶であり、高いホール移動度(約l000
cIlt/V・秒)を示し、これから作製したショット
キーダイオードは良好な整流性を示した。
一方、F!,0を供給しない以外は同様の条件でダイヤ
モンド層を形成した(比較例6)。得られた層にはグラ
ファイト成分が混入し、良好な結晶性、電気的特性が得
られなかった。
実施例6及び比較例7 実施例1と同様の手順で、水素がトータルで10 0 
seca,メタノールe sccm(飽和蒸気圧換算)
、B!He(Hz希釈1 0 ppn) l O sc
cra, O t  l sccmを反応器に供給し、
圧力4 0 Torr,基板温度830°Cで2時曲反
応し、厚さ1.5μのダイヤモンド層を形成した(実施
例6)。なお、メタノールを供給するために第2図の器
具を使用した。得られた層は、表面粗さかI00人以下
で良好な結晶性を有する単結晶であり、高いホール移動
度(約1 0 0 0cm”/V・秒)を示した。これ
から作製したンヨットキーダイオードは良好な整流性を
示した。
一方、0,を添加しない以外は同様の条件でダイヤモン
ド層を形成した(比較例7)。得られた層にはグラファ
イト成分が混入し、良好な結晶性、電気的特性が得られ
なかった。
炭素成分の供給源としてアルコールを用いる場合に、低
コストで高品質ダイヤモンドのエビタキシャル成長が可
能であることがわかる。
実施例7及び比較例8 実施例lと同様の手順で、単結晶基板として酸化マグネ
シウム(MgO)の(100)面を用い、水素5 0 
scan,アルゴン5 0 scan,メタン1 0s
ccm,B * H s ( H t希釈1 0 pp
m) l O sccm, O t 2 secmを反
応器に供給し、圧力40Torr、基板温度800℃で
、2時間反応し、厚さ0 9μのダイヤモンド層を形成
した(実施例7)。得られた層は、表面粗さが100人
以下の良好な結晶性を有する単結晶であった。これから
作製したショットキーダイオードは良好な整胤性を示し
た。
一方、0,を供給しない以外は同様の条件でダイヤモン
ド層を形成した。MgO基板が一郎還元されるとともに
、層にグラファイト成分が混入し、良好な結晶性の層が
得られなかった。
[発明の効果] 本発明によれば、良好な結晶性及び平坦な表面を有する
単結晶ダイヤモンド層を単結晶基板上にエビタキシャル
成長できる。従来は天然又は高圧法によってのみ得られ
ていた高品質の単結晶ダ忙ヤモンドが気相合成で容易に
得られる。この層を用いて作製した電気デバイスは良好
な特性を示し、耐環境デバイスとして用いることができ
る。
厚いダイヤモンド層を形成することによって、ダイヤモ
ンド単結晶光学部品、あるいはヒートノンクにも用いる
ことができる。さらに、良好な結晶性を維持したまま単
結晶ダイヤモンド粒子を巨大化できるので、砥粒及び宝
石を製造することができる。
【図面の簡単な説明】
第l図は、本発明で使用する装置の好ましい態様を示す
概略図である。 1・・・水素ガス、2・・・メタンガス、3・・・ジボ
ランガス、4・・・酸素ガス、5・・・質量計量計、6
・・・皮応器、7・・・マイクロ波、8−単結晶基仮、
9・・・真空ボンブ。 第2図は、液状物をガス状で供給する器具を示す断面図
である。 Iト・・水素ガス、L2・・・質量流量計、13・・・
ガラス容器、l4・・・液状物、l5・・・加熱用ヒー
ター 第3図、第4図及び第5図は、比較例l1比較例2及び
実施例lのそれぞれで得られたダイヤモンド層のダイオ
ード特性を示す図である。 特許出顆人住友電気工業株式会社 代理 人 弁理士 青山 葆 はかl名第1図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、炭素含有化合物を含んで成る原料物質を反応器に供
    給して反応させ、単結晶ダイヤモンド層を気相中で単結
    晶基板上に成長させることから成り、原料物質が酸素含
    有化合物を含有することを特徴とする単結晶ダイヤモン
    ド層形成法。
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