JPH02183346A - 擬障発生方式 - Google Patents

擬障発生方式

Info

Publication number
JPH02183346A
JPH02183346A JP1001911A JP191189A JPH02183346A JP H02183346 A JPH02183346 A JP H02183346A JP 1001911 A JP1001911 A JP 1001911A JP 191189 A JP191189 A JP 191189A JP H02183346 A JPH02183346 A JP H02183346A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fault
pseudo
address
signal
pseudo fault
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1001911A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoichi Sato
洋一 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP1001911A priority Critical patent/JPH02183346A/ja
Publication of JPH02183346A publication Critical patent/JPH02183346A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は障害処理を行なうデータ処理装置における擬障
発生方式に関し、特に時間軸上でランダムに擬障を発生
させる方式に関する。
[従来の技術] 従来、この種の方式としては、人手作業により任意のチ
ップのピンを零固定にする方法や、特定のソフトウェア
命令によって擬障を発生させる方法等が知られている。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、上述した従来の人手による方法は、効率
が悪いことや、再現性かない等の欠点かあり、また、ソ
フトウェア命令による方法は、再現性が完全だが、擬障
発生時間に自由度(ランダム性)がないという欠点があ
った。
特に近年のデータ処理装置では、障害処理機能か充実し
つつあり、その検査手段が重要となっている。その検査
手段の中でも時間軸上の不規則に対する動作確認を行な
うための容易な手段が不足している。
そこで、本発明の技術的課題は、上記欠点に鑑み、障害
処理のデバッグを容易に行える擬障発生方式を提供する
ことである。
[課題を解決するための手段] 本発明によれば、擬障条件を規定するアドレスを保持す
る擬障アドレスレジスタと、他装置から実行されるメモ
リ書込みアドレスと前記擬障アドレスレジスタの内容と
が一致しているか否か検出する比較器と、擬障発生を許
可する許可フラグとを有し、前記擬障アドレスレジスタ
に所望のアドレスをセットするとともに、前記許可フラ
グをオンとしておくことにより、他装置が前記所望のア
ドレスに対してメモリ書込みを実行した際、前記比較器
で一致を検出して擬障を発生させることを特徴とする擬
障発生方式が得られる。
[実施例コ 次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例のブロック図である。
擬障アドレスレジスタ10は擬障発生を起動する条件と
してのアドレス値を保持し、その出力(結線101)は
比較器30で結線701で供給される他装置からのメモ
リ書込みアドレス値と比較される。比較した結果、一致
が検出されれば結線301上にアドレス一致信号を“1
”として通知する。アドレス一致信号は擬障発生の許可
状態であるか否かを表示する許可フラグ20の値が“1
“すなわち擬障発生許可状態の場合、AND回路31を
通過し結線311へ送られる。デコーダ50は発生させ
るべき擬障の種類を指定するコードを保持する擬障コー
ドレジスタ40に格納されている擬障コードを解読する
回路である。具体的に演算処理装置においてはキャッシ
ュ・メモリの擬障、ソフトウェア用レジスタ(汎用レジ
スタ等)の擬障、ハードウェアレジスタの擬障等、アー
キテクチャに依存した擬障コードを準備している。実施
例では、結線501としてハードウェアレジスタの擬障
信号を示している。
この(i号はOR回路51で実際のハードウェアレジス
タの故障検出信号(結線905)と論理和がとられ故障
検出フラグ60を“1″にセットする。故障検出フラグ
60出力はエラー通知信号(結線601)として障害処
理装置に通知される。
本実施例では記載していないが、障害処理は診断装置や
サービス・プロセッサ等が主力となって実行する。
次に擬障アドレスレジスタ10等の設定について説明す
る。
擬障アドレスレジスタ10.許nJフラグ20゜擬障コ
ードレジスタ40のセットはマイクロ・プログラムから
実行l′+1能となっており、ソフトウェア命令からセ
ットすることも可能である。また、サービス・プロセッ
サを通じてマイクロ・プログラムを制御しセットするこ
とも可能であり、サービス・プロセッサにはオペレータ
(人間)の指示をマイクロプログラムに通知する手段を
有しているので人手でコンソールからセットする方法も
可能である。マイクロプログラムで許可フラグ20が“
1“にセットされると擬障発生機構が有効となる。ただ
し、本実施例においては擬障コードレジスタ40の値に
よっては、結線311がl“とならなくても擬障の発生
を有効とすることもある。
第2図は他装置からのメモリ書込みアドレス(結線70
1)の生成部のブロック図である。自装置900は第1
図のブロック図を含む演算処理装置であり、メモリ92
0は主記憶部であり、システムバス・930を介して各
装置からアクセスされるようになっている。他装置91
0は自装置と同一の演算処理装置あるいは転送装置ある
いは診断装置を示している。転送装置を介して入出力装
置に接続され、診断装置を介してサービスプロセッサに
接続している。
地袋M910からメモリ書込みが実行されると書込みを
示すコマンドとメモリ書込みアドレスがシステムバス9
30上に出力される。自装置900はシステムバスを監
視していることにより他装置910がメモリ920へ書
込みを実行していることをデコーダ71で書込みを示す
コマンドを解読することで知りその書込みアドレスをア
ドレスレジスタ70ヘセツトする。このアドレスレジス
タ70の内容が結線701を介して第1図の比較器30
へ接続される。
本図で示したデコード71およびアドレスレジスタ70
は、自装置のキャッシュメモリの無効化処理を実行する
ために必要な回路であり、特に本発明を実現するために
追加する必要はない。
次に第3図のタイムチャートを用いて説明する。
前述のようにマイクロプログラムによってtl(タイミ
ング)で擬障アドレスレジスター0のセットが指示され
t2でN’がセットされる。
t2ではさらに擬障コードレジスタ40のセットか指示
されt3で“9”がセットされる。t3ではさらに許r
11フラグ20のセットが指示され、t4で許口Jフラ
グが“1”となりt4以降アドレス一致信号(第1図の
結線301)が有効となる。
以上のようにして擬障発生の準備が終るとマイクロプロ
グラムは、プログラムの開始あるいは再開を指示する。
t4以降は他装置のメモリ書込み毎に書込みアドレスが
チエツクされる。t で実行する他装置のメモリ書込み
アドレスが“N”の場合、(でアドレスレジスタ70に
“N”がセn+] ツトされると比較器30で一致され前述のようにして検
出フラグ60がt  で“1″となりエラn+2 一通知を行なう。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明は他装置がメモリ書込みを
実行したとき、そのアドレスがあらかじめ設定された擬
障アドレスと一致したときに擬障を発生することにより
、自装置と非同期に擬障を発生させることが可能となり
、障害処理機能のデバッグを人手によらずに十分評価す
るようにできる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図は本発明のブロック図、第3図は本発明
のタイムチャートである。 10.40.70・・・レジスタ、20.60・・・フ
リップ・フロップ、30・・・比較器、50.71・・
デコーダ、31・・・AND回路、51・・・OR回路

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)擬障条件を規定するアドレスを保持する擬障アドレ
    スレジスタと、他装置から実行されるメモリ書込みアド
    レスと前記擬障アドレスレジスタの内容とが一致してい
    るか否か検出する比較器と、擬障発生を許可する許可フ
    ラグとを有し、 前記擬障アドレスレジスタに所望のアドレスをセットす
    るとともに、前記許可フラグをオンとしておくことによ
    り、他装置が前記所望のアドレスに対してメモリ書込み
    を実行した際、前記比較器で一致を検出して擬障を発生
    させることを特徴とする擬障発生方式。
JP1001911A 1989-01-10 1989-01-10 擬障発生方式 Pending JPH02183346A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1001911A JPH02183346A (ja) 1989-01-10 1989-01-10 擬障発生方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1001911A JPH02183346A (ja) 1989-01-10 1989-01-10 擬障発生方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02183346A true JPH02183346A (ja) 1990-07-17

Family

ID=11514765

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1001911A Pending JPH02183346A (ja) 1989-01-10 1989-01-10 擬障発生方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02183346A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0535611A (ja) * 1991-07-29 1993-02-12 Nec Corp 情報処理装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0535611A (ja) * 1991-07-29 1993-02-12 Nec Corp 情報処理装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2005317023A (ja) データ処理装置のブレークポイント論理ユニット、デバッグ論理、およびブレークポイントの方法
EP0702297A1 (en) A data processor with breakpoint circuit and method therefor
EP0141744B1 (en) Method and apparatus for self-testing of floating point accelerator processors
JPH02183346A (ja) 擬障発生方式
JPH02113345A (ja) 擬障発生方式
JPS59183443A (ja) デバツグ装置
JPH06103110A (ja) ブレークポイント設定方式
JPH01231134A (ja) 情報処理装置の擬似障害発生方式
JPH0361211B2 (ja)
JPS6167146A (ja) 擬似障害発生方式
JPH0736735A (ja) デバッグ装置
JPH0322146A (ja) マイクロプログラム制御装置
JPH02120940A (ja) デバッグ支援回路
JP2004342001A (ja) 半導体集積回路装置
JPH038028A (ja) Rasチェック機能検査方式
JPH05241898A (ja) ハードブレーク方式
JPH11167500A (ja) エミュレータ装置のイベント回路及びデバッグシステム
JPS5938608B2 (ja) デ−タ転送制御方式
JPS63300330A (ja) ファ−ムウェアのデバッグ方法
JPH0675810A (ja) 入出力装置に対するアクセス処理関数の検証方法
JPH02190943A (ja) 擬似障害発生装置
JPH01184551A (ja) プログラムのデバッギング方式
JPS59206944A (ja) マイクロプログラム監視装置
JPS63111547A (ja) メモリ制御方式
JPS6276756A (ja) 自己検査回路を備えた半導体装置