JPH01238939A - 画像記録装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は画像記録装置に係り、特に高エネルギビームが
照射されることにより熱的変形を生じるヒートモード記
録材料の画像記録装置に関する。

［従来の技術］ 画像記録装置の１つとしては、例えば、計算機の出力を
マイクロフィルム等の記録媒体に直接記録するコンピュ
ータアウトプットマイクロフィルマー（以下コムという
）がある。前記コムは非常に高速な出力装置であるが、
記録媒体としてハロゲン化銀感光材料などを使用した場
合、記録された状態を検査するにはその記録材料を現像
処理して拡大投影装置などによって観察する必要があり
、そのため少なくとも数分はかかるという不便さがあっ
た。

一方レーザビームのごとき高エネルギ密度のビームが照
射されると、被照射部の記録層が例えば融解または蒸発
して被照射部の光の透過率が変化する記録材料（以下ヒ
ートモード記録材料という）があり、このヒートモード
記録材料を使用した場合にはハロゲン化銀感光材料の場
合とは異なり、感光性を有するわけでないので書き込み
と同時に記録されている状態をスクリーン等に投影して
観察することができる。従って、前記コムの記録材料と
して上記の如きヒートモード記録材料を用い、記録用の
高エネルギビームとしてレーザビームを用いた装置（以
下、レーザコムという）では、記録後に現像処理を行な
い記録された状態を確認するのではなく、記録と同時に
スクリーン等にて記録状態を目視できるので、高速処理
が可能しかしながら、前記レーザコムにおいて、ヒート
モード記録材料が書き込み用レンズの適切な焦点深度位
置に置かれていないときに書き込みが行われた場合、書
き込み不良（ボケ等）が発生するという問題がある。

本発明は上記問題点を解決すべく成されたもので、書き
込み用レンズの適切な焦点深度位置（以下、基準位置と
いう）からのヒートモード記録材料の変位を検出できる
画像記録装置を得ることを目的とする。

［課題を解決するための手段］ 上記目的を達成するために本発明は、高エネルギビーム
が照射されることにより熱的変形を生じるヒートモード
記録材料に画像信号で変調された前記高エネルギビーム
を２次元的に走査することにより画像を記録する画像記
録装置において、２次元的に走査される高エネルギビー
ムの光軸近傍に、前記ヒートモード記録材料に変位検出
用光ビームを投光する投光手段と、前記ヒートモード記
録材料で反射された変位検出用光ビームを受光して前記
ヒートモード記録材料の基準位置からの変位を検出する
変位検出手段と、を含んで構成したものである。

［作用コ 上記構成の本発明では、前記投光手段より変位検出用光
ビームをヒートモード記録材料上の高エネルギビームの
光軸近傍に照射する。変位検出手段では、ヒートモード
記録材料からの反射光を受光するが、この場合、ヒート
モード記録材料の肉厚方向のずれに応じて受光位置が異
なることになる。従って、変位検出手段から出力される
受光位置に対応した電流に基づいてヒートモード記録材
料の基準位置からの変位を検出する。

［発明の効果コ 以上説明した如く、本発明に係る画像記録装置によれば
、ヒートモード記録材料の基準位置からの変位が検出で
きるという優れた効果が得られる。

［実施例］ 以下図面を参照して本発明の一実施例を詳細に説明する
。

第２図に示すように、レーザコム１６は、その下部にレ
ーザ光学系１１が配置され、上部に記録材料保持板４４
が配置されている。記録材料保持板４４には、そのレー
ザ光学系１１との対向面にヒートモード記録材料１０が
記録材料保持板４４へ吸引されることよりセットされて
おり、レーザ光学系１１から出射されるレーザビーム２
４によりヒートモード記録材料１０上に文字等の情報が
記録されるようになっている。

このように、レーザ光学系１１をレーザコム１６の下部
に配２することによって図示しない投影スクリーンを作
業者が操作し易い高さに設計し得る。また、比較的重量
の大音なレーザ光学系１１を下部に配置したことにより
、設置時の安定性も向上されることになる。

レーザ光学系１１は、レーザ光源２０と回転多面鏡２８
とを備えており、レーザ光源２ｏの発射側には発射され
た記録用レーザビーム２４を変調する音響光学変調器２
２が配置されている。音響光学変調器２２の射出側には
前記回転多面鏡２８が配置されており、この回転多面鏡
２８の回転により前記レーザビーム２４は主走査される
ようになっている。回転多面鏡２８によって反射された
レーザビーム２４は走査レンズ３２を介して振動鏡４０
に入射されるようになっている。振動鏡４０の射出側に
は振動鏡４０によって副走査されたレーザビーム２４を
記録材料１０の記録層１２に微小な光点として照射する
結像レンズ４２が配置されている。さらに結像レンズ４
２と記録材料保持板４４の間には、投光装置４６と変位
検出装置４８とが配置されている。ここで、第１図にて
、投光装置４６と変位検出装置４８とを説明する。

投光装置４６と変位検出装置４８とは記録用レーザビー
ムの光軸（矢印Ａ）を間に挟んだ状態で配置されており
、かつ光軸Ａとは干渉されないように配置されている。

投光装置４６のケース５０の内部の一方の端部にはヒー
トモード記録材料１００基準位置からの変位を検出する
ための変位検出用光ビームを光軸Ａに対して略直角に光
軸Ａに向けて発射するレーザダイオード５４が配置され
ており、前記レーザダイオード５４の発射側には前記変
位検出用光ビーム（矢印Ｂ）を記録材料上に集光させる
投光レンズ５６及び前記光ビームをヒートモード記録材
料１０の光軸Ａ近傍方向に反射させる第１ミラー５８が
順に配置されている。この投光レンズ５６と第１ミラー
５８とで第１の光学系を構成している。

一方、変位検出装置４８のケース５２の光軸Δ側端部に
は、ヒートモード記録材料１０からの反射光を集束させ
る受光レンズ６０が配置されている。受光レンズ６０の
射出側には、受光レンズ６０からの変位検出用光ビーム
を光軸Ａに対して略直角に光軸Ａと反対方向に反射させ
る、第２ミラー６２と第３ミラー６４とが、配置されて
いる。この第２ミラー６２、第３ミラー６４は前記受光
レンズ６０と共に第２の光学系を構成している。第３ミ
ラー６４の反射側には変位検出用の特開昭５４−１５３
０２５号、特開昭５８−１５１５０７号、特開昭５８−
１５１５１１号公報等で公知の半導体装置検出素子（Ｐ
ｏｓｉｔｉｏｎＳｅｎｓｉｔｉｖ　　Ｄｅｖｉｃｅ：以
下ＰＳＤという）６６が配置されている。このＰＳＤ６
６は入射される光ビームの受光位置に対応して異なる電
流が出力されるようになっている。

ＰＳＤ６６からの出力電流は信号線を介して制御回路６
７へと供給されている。制御回路６７には、表示手段６
９が接続されており、制御回路６７へ供給される出力電
流値が所定のレベルを越えた時点で、表示手段６９へ信
号を出力し、作業者へ報知するようになっている。

以下実施例の作用を第３図のタイムチャートに従い説明
する。

ヒートモード記録材料１０が所定時間Ｔ、移動され、記
録位置にセットされる。次に、前記移動に伴う振動が減
衰し、安定した記録が可能な所定のインタバル下２後に
、記録用レーザビームの走査を開始する。前記制御回路
６７では前記記録用レーザビームの走査開始と同時に、
ヒートモード記録材料１０の変位検出が開始される。記
録用レーザビームの走査により、ヒートモード記録材料
１０上には、情報が古き込まれ、１繭分の情報のほぼ中
央の位首を記録するとき、変位検出の測定が完了するよ
うに制御する。変位検出ビームの決す定時間Ｔ、は、書
き込みビームの記録時間Ｔ、のほぼ半分となるように決
める。ｌｋ分の情報の書き込みが終了すると、次の鉤の
書き込み位置までヒートモード記録材料１０が移動され
上記工程を繰り返す。レーザコムの場合極めて高速で１
鉤分の記録を行うのでこの記録時間Ｔ４は数十μｓｅｃ
〜ｌ　ｓｅｃ程度である。

次に、ヒートモード記録材料ＩＯの変位検出についてさ
らに詳しく説明する。

第１図に示すように、半導体レーザ５４から記録用レー
ザビームの光軸Ａに対して略直角に光軸Ａに向けて発射
された光ビームは投光レンズ５６により収束され第１ミ
ラー５８に照射される。前記光ビームは第１ミラー５８
によりヒートモード記録材料１０の光軸Ａ近傍方向に反
射され、ヒートモード記録材料ｌＯ上に照射される。

ヒートモード記録材料ｌＯに照射された光ビームは、ヒ
ートモード記録材料１０の記録層１２により反射され、
受光レンズ６０に入射され、集束される。受光レンズ６
０から射出された変位検出用光ビームは第２ミラー６２
と第３ミラー６４とによって、光軸Ａに対して略直角に
反射され、ＰＳＤ６６の光検知面に照射される。このよ
うな構成とすることにより、投光装置４６と変位検出装
置４８とを比較的スペースのない結像レンズ４２とヒー
トモード記録材料１０との間に配置させることができる
。

ここで、ＰＳＤ６６による変位検出用光ビームの検出は
制御回路６７により書き込み開始時から書き込みの中間
地点（第４図Ｐ点）までの間に行うように制御する。こ
れにより書き込み前の平坦なヒートモード記録材料１０
の変位を確実に検出することができ、書き込み後のヒー
トモード記録材料１０の凹凸によって、変位を誤検出す
ることが防止される。

前記変位検出において、前記ヒートモード記録材料１０
が記録材料保持板４４に密着していない（第１図の破線
の位置にある）場合は、ヒートモード記録材料ｌＯの記
録層１２により反射された変位検出用光ビームの光路が
第１図の破線のようになり、ＰＳＤ６６上の照射位置が
第１図に示す点Ｐ２となってＰＳＤ６６から点Ｐ２に対
応した電流Ｉ２が発生する。この電流Ｉ２とヒートモー
ド記録材料１０が記録材料支持板４４に密着している場
合の電流（基準電流）　　■＋　との差より、前記ヒー
トモード記録材料１０の変位ＩＬが算出される。前記変
位ＩＬが書き込み深度内に入っていない場合には、ヒー
トモード記録材料ＩＯの位置が不良で有ることを表示手
段６９に表示する。レーザコムの場合、変位ＪｉＬの許
容値は１０〜５０μｍ以内であり、基準位置からの変位
ＩＬがこの許容値を越えたとき、作業者はいち早くヒー
トモード記録材料１０の変位を認識することができ、書
き込み不良のまま記録を継続する等無駄な記録作業を続
けることがなくなり、ヒートモード記録材料ｌＯを他の
ヒートモード記録材料と入れ換えることができる。

このように、上記実施例においては、ヒートモード記録
材料の変位が検出でき、書き込み不良が防止できるとい
う、優れた効果が得られる。

さらに、本実施例ではヒートモード記録材料１０の記録
面上にガラス板等の支持物を配置して、ヒートモード記
録材料１０の肉厚方向のずれを矯正する必要がなく、直
接記録層１２に照射することができるので、記録層１２
に付与されるエネルギ損失を抑制することができる。

なお、前記実施例ではヒートモード記録材料１０が書き
込み深度内に入っていない場合には、ヒートモード記録
材料１０の位置が不良でをることを表示するようにした
が、記録材料保持板４４の位置を制御し、ヒートモード
記録材料１ｏを書き込み深度内に入れるように補正して
もよい。また、変位検出は書き込み開始と終了のほぼ中
間地点（第４図Ｐ点）である必要はなく、任意の地点で
よいことは云うまでもない。さらに、書き込みとは別に
単独で変位検出を行ってもよい。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の画像記録装置の投光装置と変位検出装
置の概略図、第２図はレーザコムの光学系の概略図、第
３図は変位検出のタイミングチャート図、第４図はマイ
クロフィシュの概略図。 ４８・・・変位検出装置、 ５４・・・レーザダイオード、 ５６・・・投光レンズ、 ５８・・・第１ミラー、 ６０・・・受光レンズ、 ６２・・・第２ミラー、 ６４・・・第３ミラー、 ６６・・・Ｐ　Ｓ　Ｄｏ

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）高エネルギビームが照射されることにより熱的変
   形を生じるヒートモード記録材料に画像信号で変調され
   た前記高エネルギビームを２次元的に走査することによ
   り画像を記録する画像記録装置において、２次元的に走
   査される高エネルギビームの光軸近傍に、前記ヒートモ
   ード記録材料に変位検出用光ビームを投光する投光手段
   と、前記ヒートモード記録材料で反射された変位検出用
   光ビームを受光して前記ヒートモード記録材料の基準位
   置からの変位を検出する変位検出手段と、を設けたこと
   を特徴とする画像記録装置。
2. （２）前記投光手段は前記変位検出用光ビームを照射す
   る発光部と、発光部から照射された変位検出用光ビーム
   を前記ヒートモード記録材料方向へ反射させる第１の光
   学系と、で構成されたことを特徴とした特許請求の範囲
   第（１）項記載の画像記録装置。
3. （３）前記変位検出手段はヒートモード記録材料から反
   射された変位検出用光ビームを集光させる第２の光学系
   と、第２の光学系から射出された変位検出用光ビームを
   受光する変位検出素子と、で構成されたことを特徴とし
   た特許請求の範囲第（１）項記載の画像記録装置。