JPH022547B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH022547B2
JPH022547B2 JP56162128A JP16212881A JPH022547B2 JP H022547 B2 JPH022547 B2 JP H022547B2 JP 56162128 A JP56162128 A JP 56162128A JP 16212881 A JP16212881 A JP 16212881A JP H022547 B2 JPH022547 B2 JP H022547B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
needle
contact
carrier plate
intermediate plate
inspection device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP56162128A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5790170A (en
Inventor
Baruto Hansu
Purokotsupu Manfureeto
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
RIBAAPURYUUFUTEHINIKU GmbH
Original Assignee
RIBAAPURYUUFUTEHINIKU GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=6114292&utm_source=***_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JPH022547(B2) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by RIBAAPURYUUFUTEHINIKU GmbH filed Critical RIBAAPURYUUFUTEHINIKU GmbH
Publication of JPS5790170A publication Critical patent/JPS5790170A/ja
Publication of JPH022547B2 publication Critical patent/JPH022547B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07364Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
    • G01R1/07378Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate adapter, e.g. space transformers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2805Bare printed circuit boards

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、プリント回路板の導体路の端部がニ
ードル状接触ピンの端部ないしニードルの一方の
端部と接触接続されており、該ニードルは他方の
端部に電気測定装置またはその類似装置へ導びか
れる電気導線を有しており、この場合該検査装置
は例えば導体路端部の位置に合うように網目状に
設けられるニードル面を有するニードル担体を備
えているプリント回路板の検査装置に関する。
プリント回路板検査のアダプタ接続のため、例
えば2000〜20000の接点個所を有することのでき
るこの種の検査装置は既に公知である。この場合
ニードル面には、検査に応じてニードルが相応の
位置に取り付けられるか、または所定の網目面の
領域ないに全部のニードルが取り付けられてい
る。後者の場合、接触接続させる必要のないニー
ドルは、孔閉成片によりおおうことができる。前
者の実施例は、所定のその都度のプリント回路板
の大量生産に対してだけしか特別に用いられない
欠点を有し、そのため例えば比較的少量生産の場
合はコストが著しく高くなる。他方の実施例の場
合は特にニードルを全部取り付けるため高い組み
立てコストが必要とされる。さらに両実施例の場
合それぞれ、網目点に対してだけ即ち網目面の領
域内にあるプリント回路板の検査点(導体路端
部)が接触接続される。
本発明の課題は、コストが著しく低くて、種々
の検査に対して簡単に例えば短時間に組み替えの
できる検査装置を提供することである。さらにこ
の検査装置により、網目点の近傍におよび/また
は端子網目面の外側に位置するような検出すべき
プリントの回路板の検査個所も接触接続できるよ
うにする。
この課題は本発明により、ニードルの、プリン
ト回路板とは反対側の端子と、導線の、測定装置
とは反対側の端部との間に、導線の端部またはそ
の類似の導線の端部とニードルとを接続するため
の接点を有する交換可能な中間板が少なくとも1
つ設けられており、この場合少なくともニードル
に対する各接点が小板状接触面として構成されて
いることにより解決されている。
中間板を用いることにより、ニードルの接続設
定の場合に、従来の配線と比較して、迅速に組み
替え可能で種々の接続ができるようになる。その
結果一方では例えば電気測定装置からの案内線路
の数により著しく複雑にされる、別の検査への組
み替え過程の配線が、手を触れなくてすむように
なる;他方では中間板の交換により種々のプリン
ト回路板へ適応できるようになる。さらに中間板
を交換できるようにしたため、摩耗の場合も、コ
スト的に有利な予備部品が検査装置の個別部品の
使用を可能とする。
好適には電気導線の端子が基本網目面を有する
基板において平面を形成するように取り付けられ
ており、電気導線と中間板の接触個所との間の接
続のためにプラグイン部材が用いられるようにさ
れている。このプラグイン接続部材により、中間
板が簡単に交換できるようになる。他方このプラ
グイン接続部材は同時に中間板に対する保持作用
も有する。
本発明の有利な実施例によれば、中間板が、互
いに独立に挿入ないし取り出し可能な複数個の部
分中間板から組み立てられるようにされている。
これにより、検査プリント回路板の接触接続すべ
き導体路端部の位置に応じて、この個所に適合す
る部分中間板が基板へ使用できるようになる。摩
耗の場合、個々の部分中間板も交換できるように
なる。
本発明の有利な実施例によれば中間板が、基本
網目面の領域内の1つまたは複数個の接触面また
はその類似の面から、基本網目面の領域外の接触
面へ伸ばされる接続部材たとえば導体路を有する
ようにされている。これにより基本網目面の領域
内に設けられている接触個所と、この基本網目面
の領域外に設けられている、同じく領域外の相応
の導体路との接触接続用ニードルとの接続が可能
になる。この場合好適に、担体板が所属のニード
ル面と共に、少なくとも1つの側面において、基
板の所属の基本網目面を越えてまたは基板を越え
て突出するように構成されている。
有利に、ニードルが、下側のストツパに対して
上方へ抜き取れるように、ゆるく担体板の収容孔
に支承されている。これにより担体板が、接触す
べき導体路端部の位置に応じて、ニードルを取り
去ることができるようになる。
本発明の変形実施例によれば、少なくとも基本
網目面の領域内に設けられるニードルが、担体板
において、接触接続部材と同心の接触端を有する
貫通ニードルとして構成されており、該基本網目
面の領域外にある接触接続すべき導体路端部と接
続するために、担体板はこの個所で相応に拡大さ
れており該拡大領域において前記導体路端部を接
触接続するための短かいニードルを有し、該短か
いニードルは担体板の内部で別の短かいニードル
と電気接続されるようにし、該別の短かいニード
ルが前記短かいニードルとは反対の方向に伸びて
基本網目面の領域内の、中間板の接触面と接触接
続するようにされている。この実施例の場合、基
本網目面からの接触個所の横方向の引出し案内
が、担体板の内部で行われるようになる。
接触すべき導体路が網目面の領域内にあるがし
かし網目点の近傍にある場合は、好適に、中間板
の接触面の寸法が、ニードルのこの種の横方向の
位置ずれを考慮して定められる。これにより一定
の限界内で、網目点の多少外側の接触個所が、検
査装置を変更することなしに検査できるようにな
る。
接触接続すべき導体路端部が網目点から著しく
外れて2つの網目点の中間に位置する場合は、こ
こに位置するニードルはその他端が中間板の2つ
の接触面の間に位置してしまうことがある。しか
しこの場合は本発明の実施例によれば、ニードル
担体板がその板平面の方向に、中間板ないし基板
またはその類似の板に対して変位可能にないし調
整可能であるようにされている。これにより全部
の針の、その接触面に対する位置ずれが生じる
が、しかしこの位置ずれは、この接触面の領域内
だけである。しかしこの場合それまでの接触面の
間の中間位置におかれていたニードルが、1つま
たは複数個のその所属の接触面を有する接触位置
へ変位されるようになる。
次に本発明の実施例につき図面を用いて説明す
る。
1で示されている検査装置全体が、導体路2を
有するプリント回路板3の検査のために用いられ
る。この場合この導体路4はニードル状の接触ピ
ンないしニードル5の一端と接触接続される。第
1図において検査装置全体は、上下に展開されて
示される。この場合プリント回路板3も、ニード
ル5を保持する担体板6から離れた位置に、示さ
れている。検査装置1はさらに基板7ならびに中
間板8を有する。
検査過程の場合、導体路4は電気線路ないし導
線を介して電気測定装置10と接続される。この
測定装置により導体路の絶縁または導通が検査さ
れる。電気線路9は、第1図に部分的に示されて
いるように、基板の領域内でプラグイン接続部材
と接続されている。この実施例においてはプラグ
イン接続部材として、基板7における挿入孔が設
けられており、他方対応の部材として挿入ピン1
2が設けられている。このピンは中間板8に取り
付けられており、ここでは中間板8の他方の側の
所属の接触面13と接続されている。基板7の挿
入孔11も所属の挿入ピン12を有する接触面1
3も、基本網目面の領域内に設けられている。こ
の基本網目面は例えば2.5mmの網目間隔を有して
いる。第1図および例えば第4図に示されている
様に、挿入ピン12は中間板8を貫通しており、
挿入ピンの他端は所属の接触面13のぼぼ中心と
接続されている。
動作位置においては中間板8は、基板7の挿入
孔11へ差し込まれた挿入ピン12により接続さ
れ、基板上にほぼ平らに載置される。ニードル5
を保持する担体板6も、例えばその外枠が中間板
上に置かれることにより、中間板8に平行に載置
される。その結果ピン5はニードル体14と固定
結合されている接触ピン15により、中間板8の
接触面13へ当接される(第3図)。
第3図に示されているように、ニードル担体板
6は互いに平行に設けられ共通の枠16において
保持されている2つの絶縁体6aないし6bを有
している。この場合ニードル5は担体板におい
て、ほぼ軸方向に変位可能に支承されている。担
体板6を取り外す場合ニードル5は、接触ピン1
5とニードル体14との間のその段状部分が、ス
トツパとしての下側の板6bに係止される。ニー
ドルは緩挿されており上方へ引き抜くことができ
る。第3図に示されているように、ニードル5は
中間板8へ当接する場合は、前記の係止装置から
多少持ち上げられる。このことは、ニードルを上
下に変位可能に支承することにより可能となる。
担体板6は実質的にニードル5を側面で保持する
ために用いられる。他方ニードルは導体路2と接
触接続される場合は、接触面13ないし中間板8
の上で支持される。ニードル5はさらに、ばね力
に抗してニードル体14の中へ挿入されるばねピ
ストン17を有している。このばねピストンはそ
の端部に、それぞれ接触接続用尖端を有する。
本発明による中間板8を有する検査装置1によ
り、検査すべき別のプリント回路板3へ切換接続
する場合も、電気測定装置10は、その電気線路
9が基本網目面19に即ち挿入孔11に接続した
ままにすることができる。多数の例えば1000〜
20000もの導線を考慮した場合、このことは構成
を著しく簡単にする。
プリント回路板3上の接触接続すべき導体路4
の配置の形および本数に応じて、これに相応する
中間板8を設けることもできる。しかし他方すべ
ての接触面13が取り付けられている中間板を設
けて、担体板6には実際に必要とされるニードル
5だけを取り付けることもできる。このことは実
際にはニードル取り付け用自動装置により、また
は型板によつても実施することができる。さらに
もう1つの利点は、中間板が消耗した場合に簡単
に交換することが出来る。この場合も同様に電気
線路の接続に手を触れなくてよい利点を有する。
担体板6が所属のニードル面と共に、少なくと
も1つの側面において、基板7の所属の基本網目
面19を越えてまたは該基板を越えて突出するよ
うに構成されている。
本発明による中間板8の使用により著しく有利
に、所定の基本網目の場合に、横方向に位置のず
れている導体路端部を次のようにして検査するこ
とができる。即ちこの場合、中間板8は、基本網
目面の領域内の1つまたは複数個の接触面から、
接続線20(第1図および第2図参照)たとえば
導体路を、基本網目面19の領域の外側に設けら
れている接触面13aへ、伸ばすようにするので
ある。
通常は必ずしも基本網目面19の全部の網目点
がプリント回路板測定点4と接続されないため、
比較的小さい基本網目面により比較的大きいフオ
ーマツトのプリント回路板を検査することができ
る。この場合基本網目面19の領域外に横にある
プリント回路板測定点4は、電気接続導体路を介
して基本網目面へ案内することができる。基本網
目面19の領域外にあるプリント回路板測定点を
接触接続するために、相応に配置されているニー
ドル5a(第1図)も、担体板6の、基本網目面
から横方向へ突出する部分に設けられている。
さらに、基板7の基本網目面19は、プリント
回路板3における測定接触個所の最大数に相応す
る個数の端子個所を有する。しかしこの場合中間
板8の接触面の数および、例えば担体板6のニー
ドル5ないし5aの数が、検査すべきプリント回
路板3に相応するようにそれぞれ調整される。
接触面から、基本網目面19の領域外の接触接
続個所への前述の引き出し案内は、次の場合は、
担体板6の領域内で行なうこともできる。即ち前
述のように、まず担体板6を横方向に相応に拡大
し、この拡大部分に領域外の導体路端部を接触接
続するための短かいニードルを有するようにし、
次にこのニードルが担体板6の内部で別の短かい
ニードルと電気接続されるようにし、次にこの別
の短かいニードルが前記ニードルとは反対の方向
に伸びて基本網目面の領域内の中間板の接触面1
3を接触接続する場合である。そのためこれらの
ニードルは担体板6を貫通するように構成される
のではなく、担体板6から下方へまたは上方へ突
出する、それぞれ接触尖端18を有するばねピス
トン17だけを有するようにされる。これらの
“半貫通”ニードル間の電気接続は、電気線路を
介して、または場合により接続路を有するプリン
ト回路板を介して行われる。
後者の実施例の場合、即ち基本網目面の領域外
の接触個所への横方向の引き出し案内が担体板6
の内部に設けられる場合は、接触面13を有する
中間板8は、ほぼ基本網目面19に相応する寸法
を有することができる。
要約すると基本網目面の領域外の導体路測定点
の接触接続のために、本発明による次の2つの構
成が用いられる。即ち第1は、プリント回路板3
の相応の導体路4aが基本網目板の領域外にある
個所で、中間板8が基本網目面を越えて突出する
ように構成される。貫通ニードル5aにより、引
き出し案内された接触面13aが、導体路4aと
接触される。
第2の解決手段の場合は中間板8はその外周が
基本網目面19の領域内に保たれるようにされ
る。この場合横方向に外側へ設けられる、導体路
4aへの接続は、担体板6の内部で行なわれる。
さらに前述の本発明の両実施例は、まず第1に
基本網目面の領域外の幾つかの導体路4aの検査
のために設けられている。しかしこの方式により
所定の基本網目面を用いても、例えば基本網目面
を越えて四方にも突出することのある比較的大き
いフオーマツトのプリント回路板検査することが
できる。
本発明のもう1つの有利な実施例が第2図に示
されている。この場合中間板8は、互いに独立に
挿入ないし引き抜き可能な複数個の部分中間板8
aから構成される。この部分中間板は、必要に応
じて組合わせて使用できる、または個々に使用す
ることもできる。これにより、プリント回路板の
測定点が存在している個所にだけ、部分中間板8
aを基本網目面へセツトすることもできる。その
ため検査装置全体が、検査すべきプリント回路板
に応じて組み立てユニツト式にまとめられる。こ
の場合中間板の接触面13の数および位置もニー
ドル5,5aの位置および数も、担体板6の領域
内で可変でありさらに広い範囲にわたり任意に変
化することができる。この装置により、基本網目
面19により測定点の数が前もつて与えられてい
る場合、基本網目面に相応する最大数の測定点を
有するほとんど任意のプリント板を検査すること
ができるようになる。電気線路端子を有する基板
7は、異なるプリント回路板に対応させる場合
も、変化させることがない。
基本網目面19は例えば2.5mmの網目間隔を有
することが出来る、即ち基板7の各端子の間は例
えば2.5mmの間隔を有することができる。この場
合、中間板8の接触面13,13aの間の間隔
は、約0.1mm〜0.4mmであり例えば0.2mmである。網
目間隔が前もつて与えられている場合はこの間隔
よりも大きい面に接触面を構成することにより、
網目点の多少外側にあるニードル5も接触接続さ
れる。プリント回路板3の上での部品の配置によ
りより制限れる場合は、個々の導体路端部4,4
aを網目の多少外側に設け相応に位置調整された
ニードルにより接触させなければならない。接触
面13,13aを例えば相互に僅かな間の間隔を
有する正方形の小区画として形成することによ
り、網目からのこの種の横方向のずれが補償され
る。第4図は接触面13の部分切欠図を示す。こ
の場合一方のニードル5はその接触ピン15によ
り所属の接触面13の中心に接触されており、他
方のニードル5はこれに所属の接触面13と横方
向に多少ずれた位置に接触されている。図から明
らかなように、接触面13と接続されている挿入
ピンにも、プラグイン接続部材を構成する。この
場合は接触面13と接続され中間板8を貫通して
いる挿入ピン12と、基板7に設けられている挿
入孔11とが、プラグイン接続部材を構成する。
プリント回路板の測定点4が網目から横方向に
ずれて、その結果所属のニードル5が2つの接触
面13の間に位置する場合は、本発明の構成(第
5図)により、ニードル担体板6をその板面に平
行に、中間板8に対してないし基板7に対しても
変位ないし位置調整させることができる。これに
より全部の接触面をニードル5に対して横方向に
変位することができる。その結果それまで接触面
の間に位置していたニードルが再びその所属の接
触面上に位置するようになる。この目的のために
必要とされる横方向変位は、その他の接触面ない
し所属のニードルにも横方向の変位を生じさせ
る。しかしこの横方向変位は接触面を比較的大き
い面に構成することにより、許容範囲内におさま
る。この横方向調整に対して担体板6は、21で
全体の示されている位置調整装置の内部に支承さ
れている。この位置調整装置は有利に担体板6を
囲む外枠22ならびにその間に設けられる位置調
整部材たとえば調整ねじ23ならびに戻り調整部
材としてのばね24を有する。
例えば担体板6ならびに基板7、場合により中
間板8の正しい位置合わせの目的で、止めピン2
5および相応の案内孔26が設けられる。動作位
置においては中間板8は挿入ピン12により基板
の相応の孔11へ挿入され、これにより中間板8
が通常は機械的にも十分にこの基板と固定的に結
合される。さらにこの場合、中間板を部分中間板
8aに“分割”することにより、これらの中間板
の取り外しの場合も利点が得られる、何故ならば
そのため引つ張り力がそれほど大きくないため、
補助工具等が必要とされないからである。担体板
6は、基板7と結合されている中間板8の上に置
かれ、この場合止めピン25ならびに案内孔26
が横方向の位置調整を行なう。個々の板7,8,
6は動作位置においては上下にほぼ平らになる。
さらに検査装置全体は強固な架に支承される。相
応のピン数の場合たとえば約3000本のニードルが
それぞれ100Pの押圧力を必要とする場合は
300KPにもなる。
前述の請求の範囲および図面に示された構成
は、単独にまたは相互に任意に組み合わせること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は検査装置を上下に分解して示した構成
図、第2図は挿入される異なる中間板を有する基
板の斜視図、第3図はニードル担体板およびその
下側に設けられる中間板の一部の断面図、第4図
は基板に置かれ中間板およびニードルの部分斜視
図、第5図は位置調整装置を有するニードル−担
体板の平面図を示す。 1……検査装置、2……導体路、3……プリン
ト回路板、4,4a……導体路端部、5,5a…
…ニードル、6……担体板、7……基板、8……
中間板、9……電気線路、10……電気測定装
置、11……挿入孔、12……挿入ピン、13…
…接触面、14……ニードル体、15……接触ピ
ン、16……枠、17……ばねピストン、19…
…基本網目面、20……接続部材、21……位置
調整装置、22……外枠、23,24……ばね。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 プリント回路板の導体路の端部がニードル状
    接触ピンの端部ないしニードルの一方の端部と接
    触接続されており、該ニードルは他方の端部に電
    気測定装置またはその類似装置へ導びかれる電気
    導線を有しており、この場合該検査装置はニード
    ル面を有するニードル担体を備えているプリント
    回路板の検査装置において、ニードル5,5a
    の、プリント回路板3とは反対側の端子と、導線
    9の、測定装置10とは反対側の端部との間に、
    導線9の端部またはその類似の導線の端部とニー
    ドル5,5aとを接続するための接点を有する交
    換可能な中間板8が少なくとも1つの設けられて
    おり、この場合少なくともニードル5,5aに対
    する各接点が小板状接触面13,13aとして構
    成されていることを特徴とするプリント回路板の
    検査装置。 2 電気導線9の端子が基本網目面19を有する
    基板7において平面を形成するように取り付けら
    れており、電気導線9と中間板8の接触個所との
    間の接続のためにプラグイン部材が用いられるよ
    うにした特許請求の範囲第1項記載の検査装置。 3 プラグイン部材が、導線9と接続されてい
    る、基板7における挿入孔11および、接触面1
    3と接続されている挿入ピン12をそれぞれ有し
    ており、この場合接触面13は中間板8の一方の
    側に設けられ、挿入ピン12は他方の側に例えば
    所属の接触面13のほぼ中心に設けられている特
    許請求の範囲第2項記載の検査装置。 4 基板7の基本網目面19が、測定−接触個所
    の最大数に相応する数の端子を有するようにし、
    中間板8の接触面13およびその類似の面の数な
    らびに担体板6のニードル5,5aの数が、検査
    すべきプリント回路板3に対応するようにその都
    度合わされているようにした特許請求の範囲第1
    項記載の検査装置。 5 中間板8が、互いに独立に挿入ないし取り出
    し可能な複数個の部分中間板から、組み立てられ
    るようにした特許請求の範囲第1項記載の検査装
    置。 6 中間板8,8aが、基本網目面19の領域内
    の1つまたは複数個の接触面13またはその類似
    の面から、基本網目面19の領域外の接触面13
    aへ伸ばされる接続部材20たとえば導体路を有
    するようにした特許請求の範囲第1項記載の検査
    装置。 7 ニードル5が担体板6においてほぼ軸方向に
    変位可能に支承されるようにし、さらにニードル
    は、接触尖頭18またはその類似の部材を有す
    る、ニードル体14の中へ伸縮可能に挿入される
    ばね力の加えられるピストン17と、他端がニー
    ドル体14から突出する、該ニードル体と固定的
    に結合されている接触ピン15とを有するように
    した特許請求の範囲第7項記載の検査装置。 8 担体板6が所属のニードル面と共に、少なく
    とも1つの側面において、基板7の所属の基本網
    目面19を越えてまたは該基板を越えて突出する
    ように構成されている特許請求の範囲第1項記載
    の検査装置。 9 ニードル5が、下側のストツパに対して、上
    方へ抜き取れるように、ゆるく担体板6の収容孔
    に支承される特許請求の範囲第1項記載の検査装
    置。 10 少なくとも基本網目面19の領域内に設け
    られるニードル5が、担体板6において、接触接
    続部材と同心の接触端を有する貫通ニードルとし
    て構成されており、該基本網目面の領域外にある
    接触接続すべき導体路端部4aと接続するため
    に、担体板はこの個所で相応に拡大されており該
    拡大領域において前記導体路端部4aを接触接続
    するための短かいニードルを有し、該短かいニー
    ドルは担体板の内部で別の短かいニードルと電気
    接続されるようにし、該別の短かいニードルが前
    記短かいニードルとは反対の方向に伸びて基本網
    目面の領域内の、中間板8,8aの接触面13と
    接触接続するようにした特許請求の範囲第1項記
    載の検査装置。 11 基板7の端子の間が例えば2.5mmの間隔を
    有するようにし、中間板8の接触面13の間の間
    隔が約0.1mm〜0.4mmたとえば0.2mmであるようにし
    た特許請求の範囲第1項記載の検査装置。 12 基板7ならびにニードル−担体板6が、場
    合により中間板8も、それぞれの板を動作位置に
    上下に配置する場合の位置設定のために、案内部
    材たとえば取り付けピン25および孔26を有す
    るようにした特許請求の範囲第1項記載の検査装
    置。 13 例えば基本網目面19の領域内の担体板6
    の内部の各ニードル5が網目点から外れて位置
    し、中間板8の接触面13の寸法が、ニードル5
    のこの種の横方向の位置ずれを考慮して定められ
    ている特許請求の範囲第1項記載の検査装置。 14 ニードル担体板6がその板平面の方向に、
    中間板8ないし基板7またはその類似の板に対し
    て変位可能にないし調節可能であるようにした特
    許請求の範囲第1項記載の検査装置。 15 担体板6が位置調整装置21の内部に支承
    されており、該位置調整装置は例えば担体板6を
    囲む外枠22ならびに担体板と外枠との間に設け
    られる位置調整部材たとえば調整ねじ23および
    その対応する部材を有するようにした特許請求の
    範囲第14項記載の検査装置。 16 ニードル−担体板6が、共通の枠16の中
    に保持されている互いに平行な2つの絶縁材料の
    板6a,6bを有するようにした特許請求の範囲
    第1項記載の検査装置。
JP56162128A 1980-10-13 1981-10-13 Inspecter for printed circuit board Granted JPS5790170A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3038665A DE3038665C2 (de) 1980-10-13 1980-10-13 Prüfeinrichtung zum Überprüfen von mit Leiterbahnen versehenen Leiterplatten

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5790170A JPS5790170A (en) 1982-06-04
JPH022547B2 true JPH022547B2 (ja) 1990-01-18

Family

ID=6114292

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56162128A Granted JPS5790170A (en) 1980-10-13 1981-10-13 Inspecter for printed circuit board

Country Status (8)

Country Link
US (1) US4551673A (ja)
JP (1) JPS5790170A (ja)
CA (1) CA1195386A (ja)
CH (1) CH653514A5 (ja)
DE (1) DE3038665C2 (ja)
FR (1) FR2492214A1 (ja)
GB (1) GB2085673B (ja)
SE (1) SE452543B (ja)

Families Citing this family (48)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3045882A1 (de) * 1980-12-05 1982-07-08 Ingun Prüfmittelbau GmbH & Co KG Elektronik, 7750 Konstanz Vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte oder einer entsprechenden elektronischen baugruppe mit kontaktstiften sowie kontaktstift dafuer
US4465972A (en) * 1982-04-05 1984-08-14 Allied Corporation Connection arrangement for printed circuit board testing apparatus
FR2533403A1 (fr) * 1982-09-17 1984-03-23 Orion Electronic Sarl Procede de controle de circuits electriques et installation pour la mise en oeuvre de ce procede
DE3312436A1 (de) * 1982-10-29 1984-05-03 Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg Kontaktiervorrichtung
DE3240415A1 (de) * 1982-11-02 1984-05-03 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Nadelfelder fuer pruefautomaten
EP0115135A1 (en) * 1982-12-27 1984-08-08 Genrad, Inc. Electrical test fixture for printed circuit boards and the like
GB2139019A (en) * 1983-04-29 1984-10-31 Gen Electric Co Plc Printed circuit board testers
DE3316103C2 (de) * 1983-05-03 1991-12-12 Nixdorf Computer Ag, 4790 Paderborn Prüfnadel für ein Prüfgerät zum Prüfen von Leiterplatten
GB2146849B (en) * 1983-09-17 1987-08-05 Marconi Instruments Ltd Electrical test probe head assembly
DE3334000A1 (de) * 1983-09-21 1985-04-04 Riba-Prüftechnik GmbH, 7801 Schallstadt Verfahren zum pruefen von leiterplatten sowie pruefvorrichtung
US4774462A (en) * 1984-06-11 1988-09-27 Black Thomas J Automatic test system
DK291184D0 (da) * 1984-06-13 1984-06-13 Boeegh Petersen Allan Fremgangsmaade og indretning til test af kredsloebsplader
US4694245A (en) * 1984-09-07 1987-09-15 Precision Drilling, Inc. Vacuum-actuated top access test probe fixture
US4724383A (en) * 1985-05-03 1988-02-09 Testsystems, Inc. PC board test fixture
JPS61202083U (ja) * 1985-06-06 1986-12-18
US4884024A (en) * 1985-11-19 1989-11-28 Teradyne, Inc. Test pin assembly for circuit board tester
EP0242542A1 (de) * 1986-03-26 1987-10-28 Feinmetall Gesellschaft mit beschrÀ¤nkter Haftung Prüfadapter
DE3630548A1 (de) * 1986-09-08 1988-03-10 Mania Gmbh Vorrichtung zum elektronischen pruefen von leiterplatten mit kontaktpunkten im 1/20 zoll-raster
JPH06784Y2 (ja) * 1986-10-17 1994-01-05 理化電子株式会社 電子部品の検査用治具
DE3638372A1 (de) * 1986-11-11 1988-05-26 Lang Dahlke Helmut Vorrichtung zum pruefen von elektrischen leiterplatten
DE3639361A1 (de) * 1986-11-18 1988-05-19 Luther Erich Geraet zum pruefen von leiterplatten
JPS63149576A (ja) * 1986-12-12 1988-06-22 Mitsubishi Electric Corp 基板検査装置
US4943768A (en) * 1986-12-12 1990-07-24 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Testing device for electrical circuit boards
ATE92191T1 (de) * 1987-03-31 1993-08-15 Siemens Ag Vorrichtung fuer die elektrische funktionspruefung von verdrahtungsfeldern, insbesondere von leiterplatten.
US4862077A (en) * 1987-04-29 1989-08-29 International Business Machines Corporation Probe card apparatus and method of providing same with reconfigurable probe card circuitry
DE3722485A1 (de) * 1987-07-03 1989-01-12 Deutsche Telephonwerk Kabel Federnde kontaktnadel und kontaktiereinrichtung
SE458005B (sv) * 1987-11-16 1989-02-13 Reinhold Strandberg Foerfarande foer provning av kretskort samt apparat foer utfoerande av provningen
SE457315B (sv) * 1987-11-16 1988-12-12 Reinhold Strandberg Apparat foer provning av kretskort
GB8810093D0 (en) * 1988-04-28 1988-06-02 Mpl Precision Ltd Interface for testing printed circuits
WO1990006518A1 (en) * 1988-11-28 1990-06-14 Cimm, Inc. Wireless test fixture
GB2237939B (en) * 1989-09-22 1994-03-23 Multiprobe Limited Testing apparatus
US5068602A (en) * 1990-09-07 1991-11-26 Tektronix, Inc. DUT board for a semiconductor device tester having a reconfigurable coaxial interconnect grid and method of using same
US5157325A (en) * 1991-02-15 1992-10-20 Compaq Computer Corporation Compact, wireless apparatus for electrically testing printed circuit boards
SE504286C2 (sv) * 1994-06-17 1996-12-23 Reinhold Strandberg Adapter för användning vid en apparat för testning av kretskort
FR2725030A1 (fr) * 1994-09-26 1996-03-29 Tests Electr Electromecaniques Dispositif interface entre un appareil testeur et une carte de circuit imprime
US5904627A (en) * 1996-05-01 1999-05-18 Kasco Corporation Golf club shaft
JP3080595B2 (ja) * 1997-02-28 2000-08-28 日本電産リード株式会社 基板検査装置および基板検査方法
US6211690B1 (en) * 1997-10-15 2001-04-03 Tessera, Inc. Apparatus for electrically testing bare printed circuits
US6310398B1 (en) 1998-12-03 2001-10-30 Walter M. Katz Routable high-density interfaces for integrated circuit devices
JP2001091540A (ja) * 1999-09-27 2001-04-06 Hitachi Ltd プローブ構造体
JP2001153921A (ja) * 1999-11-29 2001-06-08 Ando Electric Co Ltd 波形観測治具および波形観測装置
US7750446B2 (en) 2002-04-29 2010-07-06 Interconnect Portfolio Llc IC package structures having separate circuit interconnection structures and assemblies constructed thereof
CN1659810B (zh) * 2002-04-29 2012-04-25 三星电子株式会社 直接连接信号传送***
US6891272B1 (en) 2002-07-31 2005-05-10 Silicon Pipe, Inc. Multi-path via interconnection structures and methods for manufacturing the same
US7014472B2 (en) * 2003-01-13 2006-03-21 Siliconpipe, Inc. System for making high-speed connections to board-mounted modules
US8907694B2 (en) * 2009-12-17 2014-12-09 Xcerra Corporation Wiring board for testing loaded printed circuit board
DE102015111972A1 (de) * 2015-07-23 2017-01-26 Abb Schweiz Ag Schaltung auf Platinen in mehreren Ebenen mit Schnittstelle für Steckkarte
CN116963386B (zh) * 2023-09-21 2024-01-05 成都光创联科技有限公司 柔性电路板、光器件的测试***、光器件的测试方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3584300A (en) * 1968-07-31 1971-06-08 Bendix Corp Platen-patch board assembly with spring biased electrical contact means to effect electrical test on an electrical circuit card
US3654585A (en) * 1970-03-11 1972-04-04 Brooks Research And Mfg Inc Coordinate conversion for the testing of printed circuit boards
DE7031415U (de) * 1970-08-21 1971-01-07 Siemens Ag Vorrichtung zur elektrischen pruefung von gedruckten schaltungsplatten.
DE2051052A1 (de) * 1970-10-17 1972-04-20 Licentia Gmbh Prüfvorrichtung zum Prüfen von geätzten Schaltungsplatten
US3963986A (en) * 1975-02-10 1976-06-15 International Business Machines Corporation Programmable interface contactor structure
US4099120A (en) * 1976-04-19 1978-07-04 Akin Aksu Probe head for testing printed circuit boards
DE2707900C3 (de) * 1977-02-24 1980-09-04 Ante 6980 Wertheim Milkovic Universal-Adaptiervorrichtung für Geräte zur elektrischen Prüfung unterschiedlicher gedruckter Schaltungen
DE2954194C2 (de) * 1979-05-18 1986-07-17 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Adapter zum Anschluß von eine Vielzahl von rasterartig verteilten Anschlußpunkten aufweisenden Prüflingen
US4352061A (en) * 1979-05-24 1982-09-28 Fairchild Camera & Instrument Corp. Universal test fixture employing interchangeable wired personalizers
DE2933862A1 (de) * 1979-08-21 1981-03-12 Paul Mang Vorrichtung zur elektronischen pruefung von leiterplatten.
GB2061630A (en) * 1979-10-17 1981-05-13 Standard Telephones Cables Ltd Apparatus for testing printed circuit boards
CN1031540C (zh) * 1990-09-19 1996-04-10 菲利浦光灯制造公司 记录载体、主数据和控制文件的记录方法和装置及读出装置

Also Published As

Publication number Publication date
US4551673A (en) 1985-11-05
DE3038665A1 (de) 1982-06-16
FR2492214B3 (ja) 1983-08-05
FR2492214A1 (fr) 1982-04-16
SE452543B (sv) 1987-11-30
CH653514A5 (de) 1985-12-31
SE8106000L (sv) 1982-04-14
DE3038665C2 (de) 1990-03-29
JPS5790170A (en) 1982-06-04
GB2085673A (en) 1982-04-28
GB2085673B (en) 1984-10-03
CA1195386A (en) 1985-10-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH022547B2 (ja)
US5818248A (en) Loaded board test fixture with integral translator fixture for testing closely spaced test sites
US6160412A (en) Impedance-matched interconnection device for connecting a vertical-pin integrated circuit probing device to integrated circuit test equipment
US6414502B1 (en) Loaded-board, guided-probe test fixture
JP3505495B2 (ja) 基板検査用検査治具、該検査治具を備えた基板検査装置および基板検査用検査治具の組立方法
US5945838A (en) Apparatus for testing circuit boards
EP0840130B1 (en) Standard- and limited-access hybrid test fixture
JPS63304180A (ja) 印刷回路板テスト装置
US4568879A (en) Marking apparatus
US6191601B1 (en) Test fixture for matched impedance testing
CN212749137U (zh) 具有可配置探头固定装置的测试设备
DE10220884A1 (de) Drahtlose Testhalterung für Testsysteme für gedruckte Schaltungsplatinen
US11067601B2 (en) High accuracy electrical test interconnection device and method for electrical circuit board testing
US6784675B2 (en) Wireless test fixture adapter for printed circuit assembly tester
TW381180B (en) Scan test machine for densely spaced test sites
JPS612338A (ja) 検査装置
KR200247134Y1 (ko) 인쇄회로기판검사장치
US20050083071A1 (en) Electronic circuit assembly test apparatus
JPH07229949A (ja) Ic測定治具
JP2965174B2 (ja) 半導体素子検査装置
JPS58155374A (ja) プリント基板のテスト装置
EP4375677A1 (en) Compact test fixture
JPH0438299Y2 (ja)
JP2759451B2 (ja) プリント基板検査治具
JPH0441342Y2 (ja)