JPH01114728A - 温度監視装置 - Google Patents
温度監視装置Info
- Publication number
- JPH01114728A JPH01114728A JP62272201A JP27220187A JPH01114728A JP H01114728 A JPH01114728 A JP H01114728A JP 62272201 A JP62272201 A JP 62272201A JP 27220187 A JP27220187 A JP 27220187A JP H01114728 A JPH01114728 A JP H01114728A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- signal
- value
- becomes
- abnormal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 title description 11
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims abstract description 24
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims abstract description 6
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 abstract description 27
- 238000005070 sampling Methods 0.000 abstract description 11
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 abstract description 6
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 abstract description 5
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 3
- 238000004378 air conditioning Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は温度監視装置に関し、特にLSI(LarlJ
e 5cale InteQrated C1rcui
t)の内部の動作温度を監視する温度監視装置に関する
。
e 5cale InteQrated C1rcui
t)の内部の動作温度を監視する温度監視装置に関する
。
従来技術
従来、LSIを使用する装置においては、予め最悪環境
下で装置内の温度測定を行い、その結果に応じてLSI
を含む論理回路が正常に動作できる温度範囲となる様に
ファン等を用いて空調するという温度対策が行われてい
た。
下で装置内の温度測定を行い、その結果に応じてLSI
を含む論理回路が正常に動作できる温度範囲となる様に
ファン等を用いて空調するという温度対策が行われてい
た。
また、装置の内部に温度センサを設け、この温度センサ
の監視結果に応じて装置内を空調するということも行わ
れていた。
の監視結果に応じて装置内を空調するということも行わ
れていた。
しかしながら、上述した温度対策においては予め測定し
たデータをもとに空調するために、ファンの停止や部品
の故障による発熱等で装置内の状況が変化しても検出す
ることができないという欠点があった。
たデータをもとに空調するために、ファンの停止や部品
の故障による発熱等で装置内の状況が変化しても検出す
ることができないという欠点があった。
また、11センサを設けた場合でも、温度センサを取付
けた部分の温度しか監視していないため、ファンの停止
や実装部品の変更により温度センサへの風流が変化して
も検出することができないという欠点があった。
けた部分の温度しか監視していないため、ファンの停止
や実装部品の変更により温度センサへの風流が変化して
も検出することができないという欠点があった。
発明の目的
本発明の目的は、ファンの停止や部品の故障による発熱
等が生じても、LSIを含む装置の温度の異常を検出す
ることができる温度監視装置を提供することである。
等が生じても、LSIを含む装置の温度の異常を検出す
ることができる温度監視装置を提供することである。
発明の構成
本発明の温度監視装置は、温度の変化に応じて発振周波
数が変化する発振手段と、前記発振手段の発振周波数と
基準周波数とを比較する比較手段とを有し、この比較結
果を温度監視信号とすることを特徴とする。
数が変化する発振手段と、前記発振手段の発振周波数と
基準周波数とを比較する比較手段とを有し、この比較結
果を温度監視信号とすることを特徴とする。
実施例
以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明による温度監視装置の−¥施例の構成を
示す系統図である。図において本発明の一実施例による
温度監視装置は、外付けされるコンデンサ2と、LSl
lとから構成されている。
示す系統図である。図において本発明の一実施例による
温度監視装置は、外付けされるコンデンサ2と、LSl
lとから構成されている。
LSllは、コンデンサ2が接続されている80発振器
3と、カウンタ5と、分周回路7と、基準値レジスタ1
1と、比較器14と、微分回路16と、フリップフロッ
プ18及び20とを含んで構成されている。
3と、カウンタ5と、分周回路7と、基準値レジスタ1
1と、比較器14と、微分回路16と、フリップフロッ
プ18及び20とを含んで構成されている。
端子6にはクロックパルス信号60が与えられ、分周回
路7、微分回路16及びフリップフロップ20の夫々の
クロック端子C[にに入力される。分周回路7はクロッ
クパルス信@60を32分周して、16クロツク分論理
1ar1jで次の16りDツク分論理値「0」を繰返す
ゲート信号8を送出する。ゲート信号8はカウンタ5の
ゲート端子Gに入力される他に微分回路16に入力され
る。
路7、微分回路16及びフリップフロップ20の夫々の
クロック端子C[にに入力される。分周回路7はクロッ
クパルス信@60を32分周して、16クロツク分論理
1ar1jで次の16りDツク分論理値「0」を繰返す
ゲート信号8を送出する。ゲート信号8はカウンタ5の
ゲート端子Gに入力される他に微分回路16に入力され
る。
80発振器3は内部の抵抗とコンデンサ2とを含んで構
成されており、その発振出力4はカウンタ5に入力され
る。16進のカウンタ5はゲート信号8が論理値「1」
の間のみRC発振鼎3からの発振出力4をカウント動作
をしてカウント値12を出力し、端子Cにクリア信号2
1が入力されると、カウント値をクリアするものである
。
成されており、その発振出力4はカウンタ5に入力され
る。16進のカウンタ5はゲート信号8が論理値「1」
の間のみRC発振鼎3からの発振出力4をカウント動作
をしてカウント値12を出力し、端子Cにクリア信号2
1が入力されると、カウント値をクリアするものである
。
微分回路16はゲート信号8の立下りをクロックパルス
信号60のタイミングで微分することにより、クロック
パルス信号60の1クロック分のパルス1発の異常サン
プリング信号17を出力するものである。異常サンプリ
ング信号17はフリップフロップ20に入力される他に
フリップフロップ18のクロック端子CLにに入力され
る。
信号60のタイミングで微分することにより、クロック
パルス信号60の1クロック分のパルス1発の異常サン
プリング信号17を出力するものである。異常サンプリ
ング信号17はフリップフロップ20に入力される他に
フリップフロップ18のクロック端子CLにに入力され
る。
フリップフロップ20はクロックパルス信号60のタイ
ミングで異常サンプル信号17を取込み、異常サンプル
信号17より1クロック分遅れたカウンタクリア信号2
1を出力するものである。
ミングで異常サンプル信号17を取込み、異常サンプル
信号17より1クロック分遅れたカウンタクリア信号2
1を出力するものである。
基準値レジスタ11は図示せぬ外部装置からのIfカウ
ント値データ9を外部入力データサンプリング信@10
のタイミングで取込み、カウント設定値13を出力する
ものである。カウント設定値13は比較器14に送られ
、比較器14はカウンタ5のカウント値12とカウント
設定値13とを比較し、差が13」以上となったときに
、比較信号15を論理値「1」として出力するものであ
る。
ント値データ9を外部入力データサンプリング信@10
のタイミングで取込み、カウント設定値13を出力する
ものである。カウント設定値13は比較器14に送られ
、比較器14はカウンタ5のカウント値12とカウント
設定値13とを比較し、差が13」以上となったときに
、比較信号15を論理値「1」として出力するものであ
る。
フリップフロップ18は異常サンプリング信号17のタ
イミングで比較信号15を取込んで保持し、異常信号1
9として図示せぬ外部装置に通知するものである。
イミングで比較信号15を取込んで保持し、異常信号1
9として図示せぬ外部装置に通知するものである。
次に第2図、第3図及び第4図を用いて本実施例の温度
監視装置の各部の動作について時間の経過を追って説明
する。第2図はクロックパルス信号6と、ゲート信号8
と、異常サンプリング信号17と、カウンタクリア信号
21との関係を示すタイムチャートである。図において
、クロックパルス信号6は分周回路7により32分周さ
れ、ゲート信号8となる。つまり、ゲート信号8は16
クロツク分論理値「1」となり、次の16クロツク分論
理値rOJとなる動作を繰返す。
監視装置の各部の動作について時間の経過を追って説明
する。第2図はクロックパルス信号6と、ゲート信号8
と、異常サンプリング信号17と、カウンタクリア信号
21との関係を示すタイムチャートである。図において
、クロックパルス信号6は分周回路7により32分周さ
れ、ゲート信号8となる。つまり、ゲート信号8は16
クロツク分論理値「1」となり、次の16クロツク分論
理値rOJとなる動作を繰返す。
また、ゲート信号8の立下りから1クロック分遅れて、
異常サンプリング信号17が出力され、さらに1クロッ
ク分遅れて、カウンタクリア信号21が出力される。こ
の第2図に示す動作はLSllの温度変化に関係なく常
に一定の周期で繰返される。
異常サンプリング信号17が出力され、さらに1クロッ
ク分遅れて、カウンタクリア信号21が出力される。こ
の第2図に示す動作はLSllの温度変化に関係なく常
に一定の周期で繰返される。
次に、第3図はLSIIの温度が正常な温度の時の各部
の動作を示すタイムチャートである。図においてはゲー
ト信号8と、発振出力4と、カウント値12と、異常サ
ンプリング信号17と、カウンタクリア信号21と、比
較信号15と、異常信号19とを示している。
の動作を示すタイムチャートである。図においてはゲー
ト信号8と、発振出力4と、カウント値12と、異常サ
ンプリング信号17と、カウンタクリア信号21と、比
較信号15と、異常信号19とを示している。
ゲート信号8が論理値「1」の間はカウンタ5はRC発
撮器3の発振出力4をカウントするため、カウント値は
16進法でO→1→2→・・・・・・と上昇していく。
撮器3の発振出力4をカウントするため、カウント値は
16進法でO→1→2→・・・・・・と上昇していく。
ここで予めカウント設定#113をrDJとして基準値
レジスタ11に設定しておけば、カウント値12との差
が「3」以上のとき、すなわち、カウント値12がrO
J〜rAJまでの間は比較器14からの比較信号15は
論理値「1」となる。次に、カウント値12がrBJに
なると、比較信号15は論理値rOJに変わる。そして
ゲート信号8が立下り、異常サンプリング信号17が出
力されると、フリップフロップ18は比較信号15を取
込んで保持する。このとき、カウント値12はrEJで
あり、カウント設定値13との差はl E−D I =
1となるため、フリップフロップ18からの異常信号1
9は論理値「0」のままであり、正常温度として外部装
置に通知される。
レジスタ11に設定しておけば、カウント値12との差
が「3」以上のとき、すなわち、カウント値12がrO
J〜rAJまでの間は比較器14からの比較信号15は
論理値「1」となる。次に、カウント値12がrBJに
なると、比較信号15は論理値rOJに変わる。そして
ゲート信号8が立下り、異常サンプリング信号17が出
力されると、フリップフロップ18は比較信号15を取
込んで保持する。このとき、カウント値12はrEJで
あり、カウント設定値13との差はl E−D I =
1となるため、フリップフロップ18からの異常信号1
9は論理値「0」のままであり、正常温度として外部装
置に通知される。
さらに、第4図はLSllの温度が異常高温となったと
きの各部の動作を示すタイムチャートであり、第3図と
同等部分は同一符号により示す。
きの各部の動作を示すタイムチャートであり、第3図と
同等部分は同一符号により示す。
図において、ゲート信号8が論理値「1」の間はカウン
タ5は発振出力4をカウントするため、カウント値は第
3図の場合と同様にO→1→2→・・・・・・と上昇し
ていく。ところが、高温であるために、RC発撮回路3
の内部の抵抗の抵抗値が大となり、発振出力4の周波数
は第3図のそれより低くなる。
タ5は発振出力4をカウントするため、カウント値は第
3図の場合と同様にO→1→2→・・・・・・と上昇し
ていく。ところが、高温であるために、RC発撮回路3
の内部の抵抗の抵抗値が大となり、発振出力4の周波数
は第3図のそれより低くなる。
したがって、ゲート信号8の立下りで異常サンプリング
信号17が出力される時点においてはカウント値12は
rAJであり、カウント設定値13との差はl A−D
I =3となる。よって、比較信号15は論理値「1
」となり、フリップフロップ18からの異常信号19は
論理値「1」に変わり、異常温度として外部装置に通知
されるのである。
信号17が出力される時点においてはカウント値12は
rAJであり、カウント設定値13との差はl A−D
I =3となる。よって、比較信号15は論理値「1
」となり、フリップフロップ18からの異常信号19は
論理値「1」に変わり、異常温度として外部装置に通知
されるのである。
また、LS I 1の温度が異常低温となったときには
、RC発振器3の内部の抵抗の抵抗値が小となり、発振
出力4の周波数は第3図のそれより高くなる(図示せず
)。したがって、異常サンプリング信号17が出力され
る時点においては、カウント値12は大となってしまう
。仮にカウント値12を「10」とすると、カウント設
定値との差は+1O−DI=3となり、比較信号15は
論理値「1」となるため、フリップフロップ18からの
異常信号19は論理値「1」となって、異常温度として
外部g置に通知されるのである。
、RC発振器3の内部の抵抗の抵抗値が小となり、発振
出力4の周波数は第3図のそれより高くなる(図示せず
)。したがって、異常サンプリング信号17が出力され
る時点においては、カウント値12は大となってしまう
。仮にカウント値12を「10」とすると、カウント設
定値との差は+1O−DI=3となり、比較信号15は
論理値「1」となるため、フリップフロップ18からの
異常信号19は論理値「1」となって、異常温度として
外部g置に通知されるのである。
次に第5図を用いてカウント値12とカウント設定値1
3との関係を説明する。第5図はLSllの内部湿度と
、カウンタ5のカウント値12と、!;S準値レジスタ
11のカウント設定値13と、異常信号1つの論理値と
、判定結果との関係を示した表である。図においては、
基準値レジスタ11のカウント設定値13をrDJとし
ておく。まず、L S I 1の内部温度が通常温度の
場合に、カウンタ5のカウント値12がrEJとなった
とすると、差が「1」であるため、異常信号19の論理
値はrOJとなり、判定結果は正常となる。
3との関係を説明する。第5図はLSllの内部湿度と
、カウンタ5のカウント値12と、!;S準値レジスタ
11のカウント設定値13と、異常信号1つの論理値と
、判定結果との関係を示した表である。図においては、
基準値レジスタ11のカウント設定値13をrDJとし
ておく。まず、L S I 1の内部温度が通常温度の
場合に、カウンタ5のカウント値12がrEJとなった
とすると、差が「1」であるため、異常信号19の論理
値はrOJとなり、判定結果は正常となる。
また、L S I 1の内部温度が異常高温の場合に、
カウンタ5のカウント値12がrAJとなったとすると
、差が「3」であるため、異常信号1つの論理値は「1
」となり、判定結果は異常となる。
カウンタ5のカウント値12がrAJとなったとすると
、差が「3」であるため、異常信号1つの論理値は「1
」となり、判定結果は異常となる。
さらにまた、LSTlの内部温度が異常低温の場合に、
カウンタ5のカウント値12が「10」となったとする
と、差が「3」であるため、これまた異常信号1つの論
理値は「1」となり、判定結果は異常となる。
カウンタ5のカウント値12が「10」となったとする
と、差が「3」であるため、これまた異常信号1つの論
理値は「1」となり、判定結果は異常となる。
以上のように本発明はRC発振回路を用いて、温度変化
による発振周波数の変化から温度の異常を検出するもの
である。
による発振周波数の変化から温度の異常を検出するもの
である。
なお、本実施例においては、異常高温と異常低温とを同
一の異常信号による外部装置に通知しているが、比較器
14の出力を異常高温用と異常低温用と2種類設け、こ
れら夫々にフリップフロップを設けることにより、外部
装置に異常高温と異常低温とを別々に通知することも可
能である。
一の異常信号による外部装置に通知しているが、比較器
14の出力を異常高温用と異常低温用と2種類設け、こ
れら夫々にフリップフロップを設けることにより、外部
装置に異常高温と異常低温とを別々に通知することも可
能である。
また、カウント設定値13を変えたり、34用と低温用
と2つ設けることにより、通常温度の設定値を変えたり
、範囲を広くすることも可能である。
と2つ設けることにより、通常温度の設定値を変えたり
、範囲を広くすることも可能である。
さらにまた、本実施例では、LSIの温度を監視する場
合について説明したが、他の装置や回路の温度を監視す
ることもできることは明らかである。
合について説明したが、他の装置や回路の温度を監視す
ることもできることは明らかである。
発明の詳細
な説明したように本発明は、温度変化によるRC発振回
路の発成周波数を予め設定した値と比較することにより
、ファンの停止、部品故障による発熱、実装部品の変更
による空調状況の変化等が生じても装置内の異常温度を
検出することができるという効果がある。
路の発成周波数を予め設定した値と比較することにより
、ファンの停止、部品故障による発熱、実装部品の変更
による空調状況の変化等が生じても装置内の異常温度を
検出することができるという効果がある。
第1図は本発明の実施例による温度監視装置の構成を示
す系統図、第2図、第3図及び第4図は本発明の実施例
による温度監視装置の各部の動作を示すタイムチャート
、第5図は本発明の実施例による温度監視装置のカウン
ト値12とカウント設定値13との関係を示す判定表で
ある主要部分の符号の説明 1・・・・・・LSI 2・・・・・・コ
ンデンサ3・・・・・・RC発振回路 5・・・・・
・カウンタ14・・・・・・比較器
す系統図、第2図、第3図及び第4図は本発明の実施例
による温度監視装置の各部の動作を示すタイムチャート
、第5図は本発明の実施例による温度監視装置のカウン
ト値12とカウント設定値13との関係を示す判定表で
ある主要部分の符号の説明 1・・・・・・LSI 2・・・・・・コ
ンデンサ3・・・・・・RC発振回路 5・・・・・
・カウンタ14・・・・・・比較器
Claims (1)
- 温度の変化に応じて発振周波数が変化する発振手段と
、前記発振手段の発振周波数と基準周波数とを比較する
比較手段とを有し、この比較結果を温度監視信号とする
ことを特徴とする温度監視装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62272201A JPH01114728A (ja) | 1987-10-28 | 1987-10-28 | 温度監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62272201A JPH01114728A (ja) | 1987-10-28 | 1987-10-28 | 温度監視装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01114728A true JPH01114728A (ja) | 1989-05-08 |
Family
ID=17510507
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62272201A Pending JPH01114728A (ja) | 1987-10-28 | 1987-10-28 | 温度監視装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01114728A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6653907B2 (en) * | 2001-01-17 | 2003-11-25 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Frequency-variable RC oscillator and microcomputer |
JP2010139241A (ja) * | 2008-12-09 | 2010-06-24 | Nec Corp | 温度測定回路、及び、方法 |
WO2011021276A1 (ja) * | 2009-08-18 | 2011-02-24 | 富士通株式会社 | 温度検出装置、情報処理装置および温度検出装置の制御方法 |
-
1987
- 1987-10-28 JP JP62272201A patent/JPH01114728A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6653907B2 (en) * | 2001-01-17 | 2003-11-25 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Frequency-variable RC oscillator and microcomputer |
JP2010139241A (ja) * | 2008-12-09 | 2010-06-24 | Nec Corp | 温度測定回路、及び、方法 |
WO2011021276A1 (ja) * | 2009-08-18 | 2011-02-24 | 富士通株式会社 | 温度検出装置、情報処理装置および温度検出装置の制御方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7924061B2 (en) | Apparatus for detecting clock failure and method therefor | |
US6665367B1 (en) | Embedded frequency counter with flexible configuration | |
US5157699A (en) | Watchdog timer employing plural counters and discriminator for determining normal operating frequency range of input | |
US5943206A (en) | Chip temperature protection using delay lines | |
TW201602531A (zh) | 判定在溫度測量中改變之速率 | |
US7197419B2 (en) | System and method for thermal monitoring of IC using sampling periods of invariant duration | |
CN108306638A (zh) | 一种适用于电荷泵锁相环的可配置锁定检测电路 | |
US6873926B1 (en) | Methods and apparatus for testing a clock signal | |
JPH01114728A (ja) | 温度監視装置 | |
JP2001227493A (ja) | ファン制御回路 | |
JP2021184219A (ja) | 半導体装置 | |
KR19990060348A (ko) | 자체클럭을 이용한 클럭 감시회로 | |
JPH0918306A (ja) | クロック異常検出回路 | |
JPH0823326A (ja) | クロック障害検出回路 | |
JP2002296309A (ja) | 周波数異常検出回路およびそれに用いる異常検出値設定回路 | |
JP5171379B2 (ja) | 周波数異常検出回路 | |
JPH04252898A (ja) | ファン回転監視回路 | |
KR100221496B1 (ko) | 동기상태 감시회로 | |
JPS6115017A (ja) | 燃焼制御装置における水量デ−タ及び風量デ−タ取込方法 | |
JPH05249155A (ja) | 周期監視装置 | |
JP2022110510A (ja) | ノイズ検出装置 | |
JPH0595650A (ja) | フアン回転数異常検出装置 | |
JPH04128599A (ja) | 空冷ファン異常監視装置 | |
JPH10322182A (ja) | クロック断検出回路 | |
KR100237543B1 (ko) | 통신 시스템의 시스템 클럭 감시장치 |