JPH01114728A

JPH01114728A - 温度監視装置

Info

Publication number: JPH01114728A
Application number: JP62272201A
Authority: JP
Inventors: Yuji Takeya; 竹谷　有二
Original assignee: NEC Corp
Current assignee: NEC Corp
Priority date: 1987-10-28
Filing date: 1987-10-28
Publication date: 1989-05-08

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】技術分野本発明は温度監視装置に関し、特にＬＳＩ（ＬａｒｌＪ
ｅ　５ｃａｌｅ　ＩｎｔｅＱｒａｔｅｄ　Ｃ１ｒｃｕｉ
ｔ）の内部の動作温度を監視する温度監視装置に関する
。

従来技術従来、ＬＳＩを使用する装置においては、予め最悪環境
下で装置内の温度測定を行い、その結果に応じてＬＳＩ
を含む論理回路が正常に動作できる温度範囲となる様に
ファン等を用いて空調するという温度対策が行われてい
た。

また、装置の内部に温度センサを設け、この温度センサ
の監視結果に応じて装置内を空調するということも行わ
れていた。

しかしながら、上述した温度対策においては予め測定し
たデータをもとに空調するために、ファンの停止や部品
の故障による発熱等で装置内の状況が変化しても検出す
ることができないという欠点があった。

また、１１センサを設けた場合でも、温度センサを取付
けた部分の温度しか監視していないため、ファンの停止
や実装部品の変更により温度センサへの風流が変化して
も検出することができないという欠点があった。

発明の目的本発明の目的は、ファンの停止や部品の故障による発熱
等が生じても、ＬＳＩを含む装置の温度の異常を検出す
ることができる温度監視装置を提供することである。

発明の構成本発明の温度監視装置は、温度の変化に応じて発振周波
数が変化する発振手段と、前記発振手段の発振周波数と
基準周波数とを比較する比較手段とを有し、この比較結
果を温度監視信号とすることを特徴とする。

実施例以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。

第１図は本発明による温度監視装置の−￥施例の構成を
示す系統図である。図において本発明の一実施例による
温度監視装置は、外付けされるコンデンサ２と、ＬＳｌ
ｌとから構成されている。

ＬＳｌｌは、コンデンサ２が接続されている８０発振器
３と、カウンタ５と、分周回路７と、基準値レジスタ１
１と、比較器１４と、微分回路１６と、フリップフロッ
プ１８及び２０とを含んで構成されている。

端子６にはクロックパルス信号６０が与えられ、分周回
路７、微分回路１６及びフリップフロップ２０の夫々の
クロック端子Ｃ［にに入力される。分周回路７はクロッ
クパルス信＠６０を３２分周して、１６クロツク分論理
１ａｒ１ｊで次の１６りＤツク分論理値「０」を繰返す
ゲート信号８を送出する。ゲート信号８はカウンタ５の
ゲート端子Ｇに入力される他に微分回路１６に入力され
る。

８０発振器３は内部の抵抗とコンデンサ２とを含んで構
成されており、その発振出力４はカウンタ５に入力され
る。１６進のカウンタ５はゲート信号８が論理値「１」
の間のみＲＣ発振鼎３からの発振出力４をカウント動作
をしてカウント値１２を出力し、端子Ｃにクリア信号２
１が入力されると、カウント値をクリアするものである
。

微分回路１６はゲート信号８の立下りをクロックパルス
信号６０のタイミングで微分することにより、クロック
パルス信号６０の１クロック分のパルス１発の異常サン
プリング信号１７を出力するものである。異常サンプリ
ング信号１７はフリップフロップ２０に入力される他に
フリップフロップ１８のクロック端子ＣＬにに入力され
る。

フリップフロップ２０はクロックパルス信号６０のタイ
ミングで異常サンプル信号１７を取込み、異常サンプル
信号１７より１クロック分遅れたカウンタクリア信号２
１を出力するものである。

基準値レジスタ１１は図示せぬ外部装置からのＩｆカウ
ント値データ９を外部入力データサンプリング信＠１０
のタイミングで取込み、カウント設定値１３を出力する
ものである。カウント設定値１３は比較器１４に送られ
、比較器１４はカウンタ５のカウント値１２とカウント
設定値１３とを比較し、差が１３」以上となったときに
、比較信号１５を論理値「１」として出力するものであ
る。

フリップフロップ１８は異常サンプリング信号１７のタ
イミングで比較信号１５を取込んで保持し、異常信号１
９として図示せぬ外部装置に通知するものである。

次に第２図、第３図及び第４図を用いて本実施例の温度
監視装置の各部の動作について時間の経過を追って説明
する。第２図はクロックパルス信号６と、ゲート信号８
と、異常サンプリング信号１７と、カウンタクリア信号
２１との関係を示すタイムチャートである。図において
、クロックパルス信号６は分周回路７により３２分周さ
れ、ゲート信号８となる。つまり、ゲート信号８は１６
クロツク分論理値「１」となり、次の１６クロツク分論
理値ｒＯＪとなる動作を繰返す。

また、ゲート信号８の立下りから１クロック分遅れて、
異常サンプリング信号１７が出力され、さらに１クロッ
ク分遅れて、カウンタクリア信号２１が出力される。こ
の第２図に示す動作はＬＳｌｌの温度変化に関係なく常
に一定の周期で繰返される。

次に、第３図はＬＳＩＩの温度が正常な温度の時の各部
の動作を示すタイムチャートである。図においてはゲー
ト信号８と、発振出力４と、カウント値１２と、異常サ
ンプリング信号１７と、カウンタクリア信号２１と、比
較信号１５と、異常信号１９とを示している。

ゲート信号８が論理値「１」の間はカウンタ５はＲＣ発
撮器３の発振出力４をカウントするため、カウント値は
１６進法でＯ→１→２→・・・・・・と上昇していく。

ここで予めカウント設定＃１１３をｒＤＪとして基準値
レジスタ１１に設定しておけば、カウント値１２との差
が「３」以上のとき、すなわち、カウント値１２がｒＯ
Ｊ〜ｒＡＪまでの間は比較器１４からの比較信号１５は
論理値「１」となる。次に、カウント値１２がｒＢＪに
なると、比較信号１５は論理値ｒＯＪに変わる。そして
ゲート信号８が立下り、異常サンプリング信号１７が出
力されると、フリップフロップ１８は比較信号１５を取
込んで保持する。このとき、カウント値１２はｒＥＪで
あり、カウント設定値１３との差はｌ　Ｅ−Ｄ　Ｉ　＝
１となるため、フリップフロップ１８からの異常信号１
９は論理値「０」のままであり、正常温度として外部装
置に通知される。

さらに、第４図はＬＳｌｌの温度が異常高温となったと
きの各部の動作を示すタイムチャートであり、第３図と
同等部分は同一符号により示す。

図において、ゲート信号８が論理値「１」の間はカウン
タ５は発振出力４をカウントするため、カウント値は第
３図の場合と同様にＯ→１→２→・・・・・・と上昇し
ていく。ところが、高温であるために、ＲＣ発撮回路３
の内部の抵抗の抵抗値が大となり、発振出力４の周波数
は第３図のそれより低くなる。

したがって、ゲート信号８の立下りで異常サンプリング
信号１７が出力される時点においてはカウント値１２は
ｒＡＪであり、カウント設定値１３との差はｌ　Ａ−Ｄ
　Ｉ　＝３となる。よって、比較信号１５は論理値「１
」となり、フリップフロップ１８からの異常信号１９は
論理値「１」に変わり、異常温度として外部装置に通知
されるのである。

また、ＬＳ　Ｉ　１の温度が異常低温となったときには
、ＲＣ発振器３の内部の抵抗の抵抗値が小となり、発振
出力４の周波数は第３図のそれより高くなる（図示せず
）。したがって、異常サンプリング信号１７が出力され
る時点においては、カウント値１２は大となってしまう
。仮にカウント値１２を「１０」とすると、カウント設
定値との差は＋１Ｏ−ＤＩ＝３となり、比較信号１５は
論理値「１」となるため、フリップフロップ１８からの
異常信号１９は論理値「１」となって、異常温度として
外部ｇ置に通知されるのである。

次に第５図を用いてカウント値１２とカウント設定値１
３との関係を説明する。第５図はＬＳｌｌの内部湿度と
、カウンタ５のカウント値１２と、！；Ｓ準値レジスタ
１１のカウント設定値１３と、異常信号１つの論理値と
、判定結果との関係を示した表である。図においては、
基準値レジスタ１１のカウント設定値１３をｒＤＪとし
ておく。まず、Ｌ　Ｓ　Ｉ　１の内部温度が通常温度の
場合に、カウンタ５のカウント値１２がｒＥＪとなった
とすると、差が「１」であるため、異常信号１９の論理
値はｒＯＪとなり、判定結果は正常となる。

また、Ｌ　Ｓ　Ｉ　１の内部温度が異常高温の場合に、
カウンタ５のカウント値１２がｒＡＪとなったとすると
、差が「３」であるため、異常信号１つの論理値は「１
」となり、判定結果は異常となる。

さらにまた、ＬＳＴｌの内部温度が異常低温の場合に、
カウンタ５のカウント値１２が「１０」となったとする
と、差が「３」であるため、これまた異常信号１つの論
理値は「１」となり、判定結果は異常となる。

以上のように本発明はＲＣ発振回路を用いて、温度変化
による発振周波数の変化から温度の異常を検出するもの
である。

なお、本実施例においては、異常高温と異常低温とを同
一の異常信号による外部装置に通知しているが、比較器
１４の出力を異常高温用と異常低温用と２種類設け、こ
れら夫々にフリップフロップを設けることにより、外部
装置に異常高温と異常低温とを別々に通知することも可
能である。

また、カウント設定値１３を変えたり、３４用と低温用
と２つ設けることにより、通常温度の設定値を変えたり
、範囲を広くすることも可能である。

さらにまた、本実施例では、ＬＳＩの温度を監視する場
合について説明したが、他の装置や回路の温度を監視す
ることもできることは明らかである。

発明の詳細な説明したように本発明は、温度変化によるＲＣ発振回
路の発成周波数を予め設定した値と比較することにより
、ファンの停止、部品故障による発熱、実装部品の変更
による空調状況の変化等が生じても装置内の異常温度を
検出することができるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例による温度監視装置の構成を示
す系統図、第２図、第３図及び第４図は本発明の実施例
による温度監視装置の各部の動作を示すタイムチャート
、第５図は本発明の実施例による温度監視装置のカウン
ト値１２とカウント設定値１３との関係を示す判定表で
ある主要部分の符号の説明１・・・・・・ＬＳＩ　　　　　　　２・・・・・・コ
ンデンサ３・・・・・・ＲＣ発振回路　　５・・・・・
・カウンタ１４・・・・・・比較器

Claims

【特許請求の範囲】

　温度の変化に応じて発振周波数が変化する発振手段と
、前記発振手段の発振周波数と基準周波数とを比較する
比較手段とを有し、この比較結果を温度監視信号とする
ことを特徴とする温度監視装置。