JP7509581B2 - 半導体加工用粘着シート - Google Patents
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Description
1つの実施形態において、上記基材の23℃における貯蔵弾性率は2×109Pa以上であり、かつ、180℃における貯蔵弾性率は2×108Pa以上である。
1つの実施形態において、上記基材の厚みは50μm~200μmである。
1つの実施形態において、上記半導体加工用粘着シートは、緩和層をさらに含む。
1つの実施形態において、上記緩和層は、(メタ)アクリル系ポリマーを架橋した架橋物を含む。
1つの実施形態において、上記(メタ)アクリル系ポリマーはモノマー成分として(メタ)アクリル酸を含まない。
1つの実施形態において、上記(メタ)アクリル系ポリマーは水酸基含有(メタ)アクリル系モノマーを0.1モル%~8モル%含む。
1つの実施形態において、上記(メタ)アクリル系ポリマーは炭素数4以下のアルキル基を有する(メタ)アクリル系モノマーを50モル%~99モル%含む。
1つの実施形態において、上記粘着剤層は紫外線硬化型粘着剤を含む。
1つの実施形態において、上記緩和層は紫外線硬化能を有さない。
図1は、本発明の1つの実施形態による半導体加工用粘着シートの概略断面図である。半導体加工用粘着シート100は、基材10と基材の一方の面に配置された粘着剤層20とを有する。半導体加工用粘着シートは任意の適切なその他の層を備え得る(図示せず)。例えば、基材と粘着剤層との間に、任意の適切な層が形成されていてもよい。図2は本発明の別の実施形態による半導体加工用粘着シートの概略断面図である。この実施形態においては、半導体加工用粘着シート100は、基材10と、緩和層30と、粘着剤層20と、をこの順に備える。図示例では基材10は単一の層であるが、半導体加工用粘着シートが2以上の基材を含んでいてもよい。2以上の基材は、基材同士が積層されていてもよく、基材と他の層が積層されていてもよい。例えば、半導体加工用粘着シートにおいて、第1の基材と、緩和層と、第2の基材と、粘着剤層と、がこの順に積層されていてもよい。半導体加工用粘着シートは、使用に供するまでの間、粘着剤層を保護する目的で、粘着剤層の外側にセパレーターが設けられていてもよい。
本発明の実施形態において、基材の23℃における貯蔵弾性率は好ましくは1×109Pa以上であり、より好ましくは2×109Pa以上であり、さらに好ましくは2.5×109Pa以上である。23℃における貯蔵弾性率が上記範囲であることにより、半導体ウエハを適切に支持し、たわみを抑制し得る。基材の23℃における貯蔵弾性率は高いほど好ましい。基材の23℃における貯蔵弾性率は、例えば、1×1010Pa以下である。本明細書において、基材の貯蔵弾性率は基材を形成する材料を用いて、フィルム厚み100μm、長さ25mm(測定長さ)、幅10mmのサンプルを作製し、該サンプルを用いて測定した貯蔵弾性率をいう。
粘着剤層は任意の適切な粘着剤層形成組成物を用いて形成される。1つの実施形態において、粘着剤層形成組成物(結果として形成される粘着剤層)は紫外線硬化型粘着剤を含む。紫外線硬化型粘着剤を含むことにより、紫外線照射前は被着体に対する優れた粘着力を、紫外線照射後には優れた剥離性を有する粘着シートを提供することができる。
紫外線硬化型粘着剤としては、任意の適切な粘着剤を用いることができる。例えば、アクリル系粘着剤、ゴム系粘着剤、シリコーン系粘着剤、ポリビニルエーテル系粘着剤等の任意の適切な粘着剤に紫外線硬化性のモノマーおよび/またはオリゴマーを添加した粘着剤であってもよく、ベースポリマーとして重合性炭素-炭素二重結合を側鎖または末端に有するポリマーを用いた粘着剤であってもよい。
光重合開始剤としては、任意の適切な開始剤を用いることができる。光重合開始剤としては、例えば、エチル2,4,6-トリメチルベンジルフェニルホスフィネート、(2,4,6-トリメチルベンゾイル)-フェニルホスフィンオキシド等のアシルホスフィンオキシド系光重合開始剤;4-(2-ヒドロキシエトキシ)フェニル(2-ヒドロキシ-2-プロピル)ケトン、α-ヒドロキシ-α,α’-ジメチルアセトフェノン、2-メチル-2-ヒドロキシプロピオフェノン、1-ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン等のα-ケトール系化合物;メトキシアセトフェノン、2,2-ジメトキシ-2-フェニルアセトフェノン、2,2-ジエトキシアセトフェノン、2-メチル-1-[4-(メチルチオ)-フェニル]-2-モルホリノプロパン-1等のアセトフェノン系化合物;ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル、アニソインメチルエーテル等のベンゾインエーテル系化合物;ベンジルジメチルケタール等のケタール系化合物;2-ナフタレンスルホニルクロリド等の芳香族スルホニルクロリド系化合物;1-フェノン-1,1-プロパンジオン-2-(o-エトキシカルボニル)オキシム等の光活性オキシム系化合物;ベンゾフェノン、ベンゾイル安息香酸、3,3’-ジメチル-4-メトキシベンゾフェノン等のベンゾフェノン系化合物;チオキサンソン、2-クロロチオキサンソン、2-メチルチオキサンソン、2,4-ジメチルチオキサンソン、イソプロピルチオキサンソン、2,4-ジクロロチオキサンソン、2,4-ジエチルチオキサンソン、2,4-ジイソプロピルチオキサンソン等のチオキサンソン系化合物;カンファーキノン;ハロゲン化ケトン;アシルホスフォナート、2-ヒドロキシ-1-(4-(4-(2-ヒドロキシ-2-メチルプロピオニル)ベンジル)フェニル-2-メチルプロパン-1等のα―ヒドロキシアセトフェノン等が挙げられる。好ましくは、アセトフェノン系化合物を用いることができる。光重合開始剤は1種のみを用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
上記粘着剤層形成組成物は、必要に応じて、任意の適切な添加剤を含み得る。該添加剤としては、例えば、架橋剤、触媒(例えば、白金触媒)、粘着付与剤、可塑剤、顔料、染料、充填剤、老化防止剤、導電材、紫外線吸収剤、光安定剤、剥離調整剤、軟化剤、界面活性剤、難燃剤、溶剤等が挙げられる。
本発明の実施形態においては、半導体ウエハ加工用粘着シートは緩和層をさらに含む。緩和層をさらに含むことにより、加熱工程に供された場合であっても反りの発生をより抑制することができ、半導体ウエハをより良好に支持することができる。緩和層は任意の適切な位置に配置され得る。例えば、基材と粘着剤層との間に配置され得る。緩和層は1層のみであってもよく、2層以上形成されていてもよい。
(メタ)アクリル系ポリマーを構成するアクリル系モノマーとしては任意の適切な(メタ)アクリル系モノマーを用いることができる。1つの実施形態において、(メタ)アクリル系ポリマーはモノマー成分として(メタ)アクリル酸を含まない。モノマー成分として(メタ)アクリル酸を含まないことにより、緩和層の吸水を抑制することができ、半導体加工用粘着シートの耐熱性が向上し得る。
(メタ)アクリル系ポリマーを架橋するために用いる架橋剤としては、任意の適切な架橋剤を用いることができる。例えば、上記C項で例示した架橋剤を用いることができる。1つの実施形態においては、イソシアネート系架橋剤が好ましく用いられる。イソシアネート系架橋剤は、多種の官能基と反応し得る点で好ましい。特に好ましくは、イソシアネート基を3個以上有する架橋剤が用いられる。架橋剤は任意の適切な量で用いることができる。架橋剤の含有量は、(メタ)アクリル系ポリマー100重量部に対して、好ましくは0.01重量部~10重量部であり、より好ましくは0.02重量部~5重量部であり、さらに好ましくは0.025重量部~0.5重量部である。架橋剤の含有量が0.01重量部未満である場合、緩和層の状態がゾルに近くなり、半導体加工用粘着シートの加工性が低下し得る。さらに、加熱工程に供される場合、緩和層としての形状を維持することが困難となり、加熱装置を汚染する場合がある。架橋剤の含有量が10重量部を超える場合、緩和層がゲルに近くなるため、緩和層のゴム弾性が増加し、加熱工程において基材の収縮を緩和する緩和層としての機能が十分に発揮できないおそれがある。その結果、反りの発生を抑制する効果が低下し得る。
緩和層は、必要に応じて、任意の適切な添加剤を含み得る。該添加剤としては、例えば、触媒(例えば、白金触媒)、粘着付与剤、可塑剤、顔料、染料、充填剤、老化防止剤、導電材、紫外線吸収剤、光安定剤、剥離調整剤、軟化剤、界面活性剤、難燃剤、溶剤等が挙げられる。
半導体加工用粘着シートは、任意の適切な方法により製造され得る。例えば、セパレーターに粘着剤溶液(紫外線硬化型粘着剤)を塗布し、乾燥して、セパレーター上に粘着剤層を形成した後、それを基材に貼り合せる方法により得られ得る。また、基材上に、粘着剤層形成組成物を塗布し、乾燥して、半導体加工用粘着シートを得てもよい。粘着剤層形成組成物の塗布方法としては、バーコーター塗布、エアナイフ塗布、グラビア塗布、グラビアリバース塗布、リバースロール塗布、リップ塗布、ダイ塗布、ディップ塗布、オフセット印刷、フレキソ印刷、スクリーン印刷など種々の方法を採用することができる。乾燥方法としては、任意の適切な方法が採用され得る。
半導体加工用粘着シートは半導体製造プロセスに好適に用いることができる。上記のとおり、半導体加工用粘着シートは加熱工程に供された場合であっても反りの発生を抑制し、歩留まりの低下を防止し得る。そのため、加熱工程に供される半導体ウエハの保護に好適に用いることができる。
アクリル酸ブチル(BA)167.17重量部、アクリル酸2-ヒドロキシエチル(HEA)12.11重量部、アゾビスイソブチロニトリル(AIBN)0.54重量部および酢酸エチル414.98重量部を混合し組成物を調製した。得られた組成物を、1L丸底セパラブルフラスコに、セパラブルカバー、分液ロート、温度計、窒素導入管、リービッヒ冷却器、バキュームシール、攪拌棒、攪拌羽が装備された重合用実験装置に投入し、撹拌しながら、常温で6時間、窒素置換した。その後、窒素流入下、攪拌しながら、65℃で4時間、次いで75℃で2時間保持して重合し、樹脂溶液を得た。
得られた樹脂溶液の入ったフラスコを室温まで冷却した。その後、該樹脂溶液に、重合性炭素-炭素二重結合を有する化合物として、2-イソシアナトエチルメタクリレート(昭和電工社製、商品名「カレンズMOI」)8.09重量部およびジラウリン酸ジブチルスズIV(和光純薬工業社製)0.04重量部を添加し、空気雰囲気下、50℃で24時間攪拌し、ベースポリマーを得た。
得られたベースポリマーの固形分100重量部に対し、ポリイソシアネート架橋剤(日本ポリウレタン工業社製、商品名「コロネートL」)0.4重量部および光重合開始剤(IGM Resins B.V.社製、商品名「Omnirad369」)0.5重量部を添加し、混合した。次いで、酢酸エチルを希釈溶剤として用いて粘度を調整し、粘着剤層形成組成物を得た。
表1に記載の材料をそれぞれ混合し、組成物を得た。得られた組成物を、1L丸底セパラブルフラスコに、セパラブルカバー、分液ロート、温度計、窒素導入管、リービッヒ冷却器、バキュームシール、攪拌棒、攪拌羽が装備された重合用実験装置に投入し、撹拌しながら、常温で6時間、窒素置換した。その後、窒素流入下、攪拌しながら、65℃で4時間、次いで75℃で2時間保持して重合し、樹脂溶液(緩和層ポリマー1~6)を得た。
得られた樹脂溶液の固形分100重量部に対し、ポリイソシアネート架橋剤(日本ポリウレタン工業社製、商品名「コロネートL」)0.2重量部を添加し、混合した。次いで、酢酸エチルを希釈溶剤として用いて粘度を調整し、緩和層形成組成物1~6を得た。
一方の面にコロナ処理を施した厚み50μmのポリエチレンナフタレートフィルム(帝人フィルムソリューション社製、商品名「テオネックス(登録商標)フィルムQ51」)のコロナ処理面に、緩和層形成組成物1を塗布し、120℃で3分間、乾燥機で乾燥させ、厚み40μmの緩和層を形成した。
別途、ポリエチレンテレフタレート(PET)セパレーター(三菱ケミカル社製、商品名「ダイアホイルMRF38」)の離型処理面側に粘着剤層形成組成物を塗布し、120℃で3分間、乾燥機で乾燥させ、厚み10μmの粘着剤層を形成した。
次いで、緩和層と粘着剤層とを気泡が入らぬようにハンドローラーで貼り合せた。次いで、遮光した状態で、50℃に設定した乾燥機内で48時間放置後、乾燥機から取り出し、粘着シートを得た。
基材の厚みを100μmとしたこと以外は実施例1と同様にして、粘着シートを得た。
基材の厚みを188μmとしたこと以外は実施例1と同様にして、粘着シートを得た。
緩和層形成組成物1に代えて、緩和層形成組成物2を用いたこと以外は実施例2と同様にして、粘着シートを得た。
緩和層形成組成物1に代えて、緩和層形成組成物3を用いたこと以外は実施例2と同様にして、粘着シートを得た。
一方の面にコロナ処理を施した厚み125μmのポリエチレンナフタレートフィルム(帝人フィルムソリューション社製、商品名「テオネックス(登録商標)フィルムQ51」)のコロナ処理面に、緩和層形成組成物1を塗布し、120℃で3分間、乾燥機で乾燥させ、厚み40μmの緩和層を形成した。次いで、緩和層に、一方の面にコロナ処理を施した厚み25μmのポリエチレンナフタレートフィルム(帝人フィルムソリューション社製、商品名「テオネックス(登録商標)フィルムQ51」)のコロナ処理されていない面をハンドローラーで気泡が入らぬように貼り合せた。
別途、ポリエチレンテレフタレート(PET)セパレーター(三菱ケミカル社製、商品名「ダイアホイルMRF38」)の離型処理面側に粘着剤層形成組成物を塗布し、120℃で3分間、乾燥機で乾燥させ、厚み10μmの粘着剤層を形成した。
次いで、厚み25μmのポチエチレンナフタレートフィルムのコロナ処理面と粘着剤層とを気泡が入らぬようにハンドローラーで貼り合せた。次いで、遮光した状態で、50℃に設定した乾燥機内で48時間放置後、乾燥機から取り出し、粘着シートを得た。
緩和層形成組成物1に代えて、緩和層形成組成物4を用いたこと以外は実施例2と同様にして、粘着シートを得た。
緩和層形成組成物1に代えて、緩和層形成組成物5を用いたこと以外は実施例2と同様にして、粘着シートを得た。
緩和層形成組成物1に代えて、緩和層形成組成物6を用いたこと以外は実施例2と同様にして、粘着シートを得た。
基材の厚みを25μmとしたこと以外は実施例1と同様にして、粘着シートを得た。
基材の厚みを250μmとしたこと以外は実施例1と同様にして、粘着シートを得た。
一方の面にコロナ処理を施した厚み100μmのポリエチレンナフタレートフィルム(帝人フィルムソリューション社製、商品名「テオネックス(登録商標)フィルムQ51」)のコロナ処理面に、粘着剤層形成組成物を塗布し、120℃で3分間、乾燥機で乾燥させ、厚み50μmの粘着剤層を形成した。次いで、粘着剤層に、ポリエチレンテレフタレート(PET)セパレーター(三菱ケミカル社製、商品名「ダイアホイルMRF38」)の離型処理面を気泡が入らぬようにハンドローラーで貼り合せた。次いで、遮光した状態で、50℃に設定した乾燥機内で48時間放置後、乾燥機から取り出し、粘着シートを得た。
基材として、厚み100μmのPETフィルム(東レ社製、商品名「ルミラー#100ES10」)を用いたこと以外は実施例1と同様にして粘着シートを得た。
実施例および比較例で得られた粘着シート、基材形成材料、緩和層形成組成物1~6および粘着剤層形成組成物を用いて下記評価を行った。結果を表2に示す。
1.基材の貯蔵弾性率E’
フィルム厚み100μm、長さ25mm(測定長さ)、幅10mmの短冊状にカッターナイフで切り出し、評価サンプルとした。固体粘弾性測定装置(レオメトリックサイエンティフィック(株)社製、商品名「RSAIII」)を用いて、評価サンプルの0℃~250℃における貯蔵弾性率E’を測定した。測定条件は、周波数1Hz、昇温速度10℃/分とし、22℃における貯蔵弾性率E’を各サンプルの貯蔵弾性率E’とした。
得られた粘着シートを以下の条件で貼付し、カット試験を行った。なお、貼付するテープまたはウエハを交換するごとにカッター刃を新品に交換した。
貼付装置:DR 3000III(日東精機製)
貼付設定:12インチ
調布ウエハ:12インチSiウエハ(未研削)
貼付テーブル:23℃
貼付圧力:0.4MPa
貼付速度:3mm/秒
カッター温度:180℃
カット速度:200mm/秒
カッター刃:アートナイフ替え刃 XB10(オルファ製)
(1)サンプルの作製
12インチSiミラーを準備し、貼付装置(日東精機製、製品名:DR 3000III)を用いて加工用粘着テープ(日東電工社製、商品名:UB-3083D)を貼付し、カットした。次いで、Siウエハを、外周リブを2mm幅(未研削、スロープ加工なし)とし、リブ以外の部分を厚み75μmまで薄化加工した。次いで、加工用粘着テープの基材側からUV光を高圧水銀灯を用いて500mJ/cm2以上の光量で照射して粘着剤層を硬化させて加工用粘着テープを剥離し、外周リブウエハを得た。
実施例または比較例で得られた粘着シートを400mm×400mmのサイズにカットした。各粘着シートの基材面を床に置き、セパレーターを剥離した。次いで、粘着剤層に12インチ用ダイシングリングを粘着シートに張力がかからない状態で貼り合わせた。次いで、外周リブウエハと粘着シートとを、貼り付け装置(日東精機社製、製品名:MV 3000)を用いて貼り合わせた(テーブル:ウエハ裏面非接触テーブル、貼付温度:23℃、貼付時の真空度:50Pa)なお、外周リブウエハの平坦な面と粘着剤層とを貼り合わせた。その後、ウエハリブ面からカッターナイフの刃を入れ、ウエハ外周に沿って粘着シートを切断し評価サンプルを作製した。得られたサンプルを用いてたわみ評価および加熱反り評価を行った。
外周リブウエハ評価サンプルを図3に示すように凹部が下向きとなるように、外周リブのみを支持体に置き、たわみ量(mm)を測定した。なお、支持体が水平となるよう配置した状態で評価し、最もたわみ量が大きくなった部分でのたわみ量を半導体加工用粘着シートのたわみ量とした。
外周リブウエハ評価サンプルを防爆乾燥機(エスペック社製、製品名:SPH-201)に投入し、180℃で1時間の加熱処理を行った。次いで、評価サンプルのSi面を床に置き、サンプルの反り量(床面から外周リブウエハの端部までの距離)(mm)を定規で測定した。また、加熱後の緩和層の気泡の有無および基材の溶融の有無について目視で確認した。
(1)加熱前剥離強度
実施例または比較例で得られた粘着シートを長さ150mm×幅20mmの短冊状に切断した。23℃下、鏡面処理したシリコンウエハ(信越半導体社製、商品名「CZN<100>2.5-3.5」、直径4インチ)に、セパレーターを剥離した上記粘着シートを、2kgローラーを1往復させて貼り付けた。貼り付け部分は、長さ80mm×幅20mmとした。無荷重、23℃雰囲気下で30分静置した。次いで、JIS Z 0237に準拠して、下記の条件で90度引き剥がし試験を行い、粘着シートの粘着力を測定した。
<90度引き剥がし試験>
繰り返し試験数:3回
温度:23℃
剥離角度:90度
剥離速度:300mm/min
初期長さ(チャック間隔):150mm
実施例または比較例で得られた粘着シートを長さ150mm×幅20mmの短冊状に切断した。23℃下、鏡面処理したシリコンウエハ(信越半導体社製、商品名「CZN<100>2.5-3.5」、直径4インチ)に、セパレーターを剥離した上記粘着シートを、2kgローラーを1往復させて貼り付けた。貼り付け部分は、長さ80mm×幅20mmとした。無荷重、23℃雰囲気下で30分静置した。30分静置後、下記UV照射条件でテープ基材背面側からUVを照射した。その後、30分静置し、JIS Z 0237に準拠して、上記加熱前剥離強度評価と同様にして、90度引き剥がし試験を行った。
<紫外線照射条件>
紫外線照射装置:日東精機社製、商品名:UM810
光源:高圧水銀灯
照射強度:50mW/cm2(測定機器:ウシオ社製「紫外線照度計UT-101」)
照射時間:30秒
積算光量:1500mJ/cm2
実施例または比較例で得られた粘着シートを長さ150mm×幅20mmの短冊状に切断した。23℃下、鏡面処理したシリコンウエハ(信越半導体社製、商品名「CZN<100>2.5-3.5」、直径4インチ)に、セパレーターを剥離した上記粘着シートを、2kgローラーを1往復させて貼り付けた。貼り付け部分は、長さ80mm×幅20mmとした。無荷重、23℃雰囲気下で30分静置した。次いで、180℃設定の乾燥機の中で、1時間加温した。加温後、遮光した状態で、23℃、50%RHの環境に3時間放置した。次いで、下記UV照射条件でテープ基材背面側からUVを照射した。その後、30分静置し、JIS Z 0237に準拠して、上記加熱前剥離強度評価と同様にして、90度引き剥がし試験を行った。
<紫外線照射条件>
紫外線照射装置:日東精機社製、商品名:UM810
光源:高圧水銀灯
照射強度:50mW/cm2(測定機器:ウシオ社製「紫外線照度計UT-101」)
照射時間:30秒
積算光量:1500mJ/cm2
(1)サンプルの作製
PETセパレーター(三菱ケミカル社製、商品名「ダイアホイルMRA38」)の離型処理面に緩和層形成組成物1~6を塗布し、PETセパレーター上で、120℃で3分間、乾燥機で乾燥させ、厚み50μmの緩和層を得た。PETセパレーターと接していない面の緩和層に対して別のPETセパレーター(三菱ケミカル社製、商品名「ダイアホイルMRF38」)の離型処理面側を、気泡を噛ませず貼り合わせし、50℃に設定した乾燥機で48時間放置し、評価用サンプルを得た。
(2)カールフィッシャー
評価サンプルを1cm×5cmのサイズに2枚(計10cm2)切り出し、両面のセパレーターを剥がしアルミ箔に転写し、秤量した。秤量後の試料を加熱気化装置(三菱ケミカルアナリテック社製、製品名:VA-200型)に入れ、150℃で発生したガスを電量滴定式水分測定装置(三菱ケミカルアナリテック社製、製品名:CA-200型)の滴定セル内に導入し、水分量(μg/g)を測定した。
評価サンプルを60℃95%RHの恒温恒湿機に72時間投入した。次いで、評価サンプルを1cm×5cmのサイズに2枚(計10cm2)切り出し、両面のセパレーターを剥がしアルミ箔に転写し、秤量した。秤量後の試料を加熱気化装置(三菱ケミカルアナリテック社製、製品名:VA-200型)に入れ、150℃で発生したガスを電量滴定式水分測定装置(三菱ケミカルアナリテック社製、製品名:CA-200型)の滴定セル内に導入し、水分量(μg/g)を測定した。加熱気化装置に入れ, 測定を開始するまでに恒温恒湿機取り出しから1時間を要した。
評価サンプルから1cm×5cm(5cm2)を切り出し、セパレーターを剥離し、試料の秤量を行った。次いで、バイアル瓶に入れて密栓した。その後、試料を入れたバイアル瓶をヘッドスペースサンプラー(HSS、島津製作所製、製品名:HS-20)を用いて加熱し、加熱状態のガス1mLをガスクロマトグラフ (GC、島津製作所製、製品名:QP2010Ultra)に注入し、測定を行った。分析は以下の条件で行い、トータルのアウトガス量(μg/g)を求めた。
<HSS>
オーブン温度:200℃
加熱時間:15分
サンプルループ温度:240℃
トランスファーライン温度:250℃
加圧時間:0.50分
ループ充填時間:0.50分
ループ平衡時間:0.10分
注入時間:0.50分
<GC>
カラム:DB-17(0.250mmΦ×30m、df=0.5μm)
カラム温度:40℃(3分)→10℃/分→280℃(13分)
カラム圧力:49.7kPa(40℃)
キャリアーガス:He(1.0mL/分、40℃、定線速度モード)
線速度:36.1cm/s
注入口温度:250℃
注入方式:スプリット(20:1)
検出器:FID
検出器温度:250℃
20 粘着剤層
30 緩和層
100 半導体加工用粘着シート
Claims (8)
- 粘着剤層と、厚みが50μm~200μmであり、23℃における貯蔵弾性率が2×10 9 Pa以上であり、180℃における貯蔵弾性率が2×10 8 Pa以上である基材と、を含む、半導体加工用粘着シートであって、
該半導体加工用粘着シートの外周リブウエハ加熱反り評価における反り量が0mm~5mmであり、かつ、外周リブウエハたわみ評価におけるたわみ量が0mm~5mmである、半導体加工用粘着シート。 - 緩和層をさらに含む、請求項1に記載の半導体加工用粘着シート。
- 前記緩和層が、(メタ)アクリル系ポリマーを架橋した架橋物を含む、請求項2に記載の半導体加工用粘着シート。
- 前記(メタ)アクリル系ポリマーがモノマー成分として(メタ)アクリル酸を含まない、請求項3に記載の半導体加工用粘着シート。
- 前記(メタ)アクリル系ポリマーが水酸基含有(メタ)アクリル系モノマーを0.1モル%~8モル%含む、請求項3または4に記載の半導体加工用粘着シート。
- 前記(メタ)アクリル系ポリマーが炭素数4以下のアルキル基を有する(メタ)アクリル系モノマーを50モル%~99モル%含む、請求項3から5のいずれかに記載の半導体加工用粘着シート。
- 前記粘着剤層が紫外線硬化型粘着剤を含む、請求項1から6のいずれかに記載の半導体加工用粘着シート。
- 前記緩和層が紫外線硬化能を有さない、請求項2から7のいずれかに記載の半導体加工用粘着シート。
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